仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
[0029]附图中，
[0030]图1为一种现有的AMOLED显不面板检测线路的不意图；
[0031]图2为本发明的AMOLED显示面板线缺陷的修复结构的示意图；
[0032]图3为本发明对AMOLED显示面板线缺陷进行修复的示意图。
【具体实施方式】
[0033]为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
[0034]请参阅图2，本发明首先提供一种AMOLED显示面板线缺陷的修复结构，包括:AMOLED显示面板检测线路、及直接嫁接在所述AMOLED显示面板检测线路上的修复线路。所谓“直接嫁接”是指修复线路仅占用AMOLED显示面板检测线路现有的布局空间，不再额外占用另外的布局空间，并且所述AMOLED显示面板检测线路复用于AMOLED显示面板线缺陷的修复。
[0035]具体地，如图2所示，所述AMOLED显示面板检测线路包括多条信号线100、与信号线100——对应相连的多条信号扇出线200、与信号线100——对应相连的多个测试TFT 310、与所有测试TFT 310相连的一测试控制线320、及数条测试线330。所述测试TFT 310包括栅极、源极312、有源层313、及漏极314。所有测试TFT 310的栅极由所述测试控制线320充当，一测试TFT 310的漏极314对应与一信号线100相连，一测试线330对应与部分测试TFT 310的源极312相连。
[0036]所述修复线路包括多块导电薄膜410、及数条修复导线420。所述导电薄膜410的数量与测试TFT 310的数量对等，一导电薄膜410对应层叠覆盖于一测试TFT 310上方并与该测试TFT 310绝缘;所述修复导线420的数量与测试线330的数量对等，一修复导线420与所有的信号扇出线200、及一对应的测试线330绝缘交叉。
[0037]进一步地，所述信号线100为显示面板的数据线或扫描线。
[0038]为便于制作，所述测试TFT310的源极312、及漏极314与信号线100位于同一层;所有的负责测试同一颜色像素的测试TFT 310的源极312对应与一测试线330相连，例如所有负责测试红色像素的测试TFT 310的源极312对应与第一条测试线330相连，所有负责测试绿色像素的测试TFT 310的源极312对应与第二条测试线330相连，所有负责测试蓝色像素的测试TFT 310的源极312对应与第三条测试线330相连。
[0039]所述测试控制线320、及测试线330均呈倒置的“L”形，均包括与信号线100平行的线段用于与修复导线420绝缘交叉、及与信号线100垂直的线段用于与测试TFT 310相连。所述修复导线420的延伸方向与信号扇出线200的延伸方向垂直，二者之间垂直绝缘交叉。[°04°] 所述导电薄膜410的材料优选透明的氧化铟锡(Indium Tin Oxid，ITO)，所述修复导线420的材料优选为导电金属，如钼、钛、铝、铜等。
[0041]当所述AMOLED显示面板检测线路进行检测工作时，测试控制线320接收面板测试端子提供的测试控制信号开启所有的测试TFT 310，同时测试线330接收面板测试端子提供的测试信号通过测试TFT 310传输至对应的信号线100上，从而测试出显示面板是否正常运行。检测结束后，面板测试端子停止提供测试控制信号及测试信号，测试控制线320无信号接收使得测试TFT 310关闭，信号线100传输显示信号，显示面板正常显示。
[0042]结合图3，当AMOLED显示面板在显示过程中某一信号线100产生线缺陷时:将该信号线100位于缺陷点两侧的部分进行激光切断(图3中的I处、2处)，该信号线100原本与对应的信号扇出线200相连的部分继续正常工作;将与该出现线缺陷的信号线100对应相连的测试TFT 310的源极312、漏极314分别和位于该测试TFT 310上方的导电薄膜410进行激光熔接(图3中的3处、4处)，将与该测试TFT 310的源极312相连的测试线330和对应与该测试线330绝缘交叉的修复导线420进行激光熔接(图3中的5处)，将该修复导线330和对应相连出现线缺陷的信号线100的信号扇出线200的绝缘交叉点进行激光熔接(图3中的6处)，显示信号经对应的信号扇出线200、测试线330、测试TFT 310的源极312、导电薄膜410、测试TFT310的漏极314传输到该信号线100原本与对应的测试TFT 310相连的部分，使其正常工作，即完成了对线缺陷的修复。
[0043]本发明的AMOLED显示面板线缺陷的修复结构，将修复线路直接嫁接在AMOLED显示面板检测线路上，能够利用现有的AMOLED显示面板检测线路布局，既引入了修复线路具有修复功能，又节省布局空间，且对控制IC没有额外要求，尤其适用于小尺寸、高解析度的AMOLED显示面板的线缺陷修复。
[0044]基于同一发明构思，本发明还提供一种AMOLED显示面板线缺陷的修复方法，包括以下步骤:
[0045]步骤1、提供一 AMOLED显示面板。
[0046]所述AMOLED显示面板包括= AMOLED显示面板检测线路、及直接嫁接在所述AMOLED显示面板检测线路上的修复线路。所谓直接嫁接是指修复线路仅占用AMOLED显示面板检测线路现有的布局空间，不再额外占用另外的布局空间，并且所述AMOLED显示面板检测线路复用于AMOLED显示面板线缺陷的修复。
[0047]具体地，如图2所示，所述AMOLED显示面板检测线路包括多条信号线100、与信号线100——对应相连的多条信号扇出线200、与信号线100——对应相连的多个测试TFT 310、与所有测试TFT 310相连的一测试控制线320、及数条测试线330。所述测试TFT 310包括栅极、源极312、有源层313、及漏极314。所有测试TFT 310的栅极由所述测试控制线320充当，一测试TFT 310的漏极314对应与一信号线100相连，一测试线330对应与部分测试TFT 310的源极312相连。
[0048]所述修复线路包括多块导电薄膜410、及数条修复导线420。所述导电薄膜410的数量与测试TFT 310的数量对等，一导电薄膜410对应层叠覆盖于一测试TFT 310上方并与该测试TFT 310绝缘;所述修复导线420的数量与测试线330的数量对等，一修复导线420与所有的信号扇出线200、及一对应的测试线330绝缘交叉。
[0049]进一步地，所述信号线100为显示面板的数据线或扫描线。
[0050]为便于制作，所述测试TFT310的源极312、及漏极314与信号线100位于同一层;所有的负责测试同一颜色像素的测试TFT 310的源极312对应与一测试线330相连，例如所有负责测试红色像素的测试TFT 310的源极312对应与第一条测试线330相连，所有负责测试绿色像素的测试TFT 310的源极312对应与第二条测试线330相连，所有负责测试蓝色像素的测试TFT 310的源极312对应与第三条测试线330相连。
[0051]所述测试控制线320、及测试线330均呈倒置的“L”形，均包括与信号线100平行的线段用于与修复导线420绝缘交叉、及与信号线100垂直的线段用于与测试TFT 310相连。所述修复导线420的延伸方向与信号扇出线200的延伸方向垂直，二者之间垂直绝缘交叉。
[0052]所述导电薄膜410的材料优选透明的ΙΤ0，所述修复导线420的材料优选为导电金属，如钥、钦、招、铜等。
[0053]步骤2、当某一信号线100产生线缺陷，将该信号线100位于缺陷点两侧的部分进行激光切断(图3中的I处、2处)，该信号线100原本与对应的信号扇出线200相连的部分继