用于液晶屏显示驱动芯片测试的色阶测试装置的制造方法

文档序号:10955747阅读:750来源:国知局
用于液晶屏显示驱动芯片测试的色阶测试装置的制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种用于液晶屏显示驱动芯片测试的色阶测试装置,包括用于检验IC驱动引脚输出电压的电压检测装置,所述检测装置入口端还连接有数字采样器;本实用新型的优点在于:能够满足显示色彩的深度比较高、驱动电压的测试精度比较高的测试,可以在很短的时间进行繁复的测试,提高了效率。
【专利说明】
用于液晶屏显示驱动芯片测试的色阶测试装置
技术领域
[0001]本发明涉及一种芯片测试装置,具体地说是一种用于液晶屏显示驱动芯片测试的色阶测试装置,属于芯片测试装置领域。
【背景技术】
[0002]IXD驱动控制芯片是典型的数-模混合SOC芯片,对于该类型芯片,芯片的管脚数目众多,且多为模拟管脚,如此大规模的输入、输出管脚对任何一个ATE设备来说都是一个不小的挑战,且模拟管脚测试时容易受到管脚寄生电容的影响,使得测试精度变差。其中,色阶测试是LCD Driver IC最重要的测试项目。由液晶器件的显示原理可知,IXD显示器件的色彩表现是通过向LCD面板加不同的电压来实现的,因此测试的方法就是在向IC输入不同RGB信号组合的同时,检验IC驱动引脚的输出电压是否是在预期的范围内来完成测试的。如果LCD Driver输出的驱动电压精度要求并不高,为了减少测试时间,通常只需要使用LCD-CP(电压比较部件)对所有的输出引脚同时进行测试。此项测试只比较电压高低,不需要测定具体的电压数值。假如显示色彩的深度比较高,那么驱动电压的测试精度要求就会比较高,那么IXD-CP已经无法满足测试的要求。

【发明内容】

[0003]为了解决上述问题,本发明设计了一种用于液晶屏显示驱动芯片测试的色阶测试装置,能够满足显示色彩的深度比较高、驱动电压的测试精度比较高的测试,可以在很短的时间进行繁复的测试,提高了效率。
[0004]本发明的技术方案为:
[0005]用于液晶屏显示驱动芯片测试的色阶测试装置,包括用于检验IC驱动引脚输出电压的电压检测装置,所述检测装置入口端还连接有数字采样器。
[0006]由于LCD显示器件的色彩表现是通过向LCD面板加不同的电压来实现的。因此,测试时在向芯片(IC)输入不同RGB信号组合的同时,检验IC驱动引脚的输出电压是否是在预期的范围内来完成测试的。
[0007]本实用新型通过数字采样器(Digitizer)来连续地进行电压采样,这样就可以在很短的时间进行此项繁复的测试了。在这种情况下,由于LCD输出引脚数量很大,可以同时进行电压采样的数字采样器的数量与所需的测试时间成反比,增加同步工作的数字采样器的数量将会节约测试时间,大幅降低IC的相对生产成本。
[0008]本发明的优点在于:能够满足显示色彩的深度比较高、驱动电压的测试精度比较高的测试,可以在很短的时间进行繁复的测试,提高了效率。
[0009]下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。
【附图说明】
[0010]图1为本发明实施例的结构示意图。
【具体实施方式】
[0011]以下对本发明的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本发明。
[0012]实施例1
[0013]如图1所示,一种用于液晶屏显示驱动芯片测试的色阶测试装置,包括用于检验IC驱动引脚输出电压的电压检测装置,所述检测装置入口端还连接有数字采样器。
[0014]由于LCD显示器件的色彩表现是通过向LCD面板加不同的电压来实现的。因此,测试时在向芯片(IC)输入不同RGB信号组合的同时,检验IC驱动引脚的输出电压是否是在预期的范围内来完成测试的。
[0015]本实用新型通过数字采样器(Digitizer)来连续地进行电压采样,这样就可以在很短的时间进行此项繁复的测试了。在这种情况下,由于LCD输出引脚数量很大,可以同时进行电压采样的数字采样器的数量与所需的测试时间成反比,增加同步工作的数字采样器的数量将会节约测试时间,大幅降低IC的相对生产成本。
[0016]最后应说明的是:以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,对于本领域的技术人员来说,其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.用于液晶屏显示驱动芯片测试的色阶测试装置,其特征在于:包括用于检验IC驱动引脚输出电压的电压检测装置,所述检测装置入口端还连接有数字采样器。
【文档编号】G09G3/00GK205645200SQ201520969253
【公开日】2016年10月12日
【申请日】2015年12月1日
【发明人】刘春来, 张东
【申请人】北京自动测试技术研究所
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