显示面板及其像素缺陷检查方法

专利名称：显示面板及其像素缺陷检查方法
技术领域：
本发明涉及一种电子装置及其缺陷检查方法，特别是一种显示 面板及其像素缺陷的检査方法。
背景技术：
请参考图1所示，为一种传统显示面板的像素阵列的俯视示意
图。显示面板108的像素阵列100由数个以阵列形式排列的像素 102所构成。在此传统显示面板108的像素阵列100中，每个像素 102具有相同的外观结构特征。
举例而言，在像素阵列100中，每个像素102均包含储存电容 104。而每个储存电容104均包含通孔(Via)106。其中，这些储存电 容104对应设置在像素102中，且通孔106对应设置在储存电容 104中。在此传统像素阵列100中，所有像素102所包含的储存电 容104在像素102中的位置均相同，且所有102所包含的储存电容 104的数量均相同。此外，所有储存电容104所包含的通孔106在 储存电容102中的位置均相同。
然而，传统的显示面板108的像素阵列100的设计并不利于缺 陷的异常因素分析。请参考图2所示，为一种传统像素缺陷检查的 流程图。目前，对于显示面板中的缺陷，例如点缺陷或线缺陷等的 常见检査方式，大都如步骤200所述，先点亮显示面板108，此时 失效分析(Failure Mold Analysis; FMA)工作人员即可检查显示面板 108，以找出显示面板108中的缺陷像素。
接着，如步骤202所述，在发现显示面板108中的缺陷后，失效分析工作人员一般以例如油性笔等标记工具，在显示面板108上 圈记出包含此缺陷像素的区域。所圈出的这个区域通常包含数十个
像素102。
接下来，如步骤204所述，在所圈出的区域内，利用光学显微 镜(Optical Microscope; OM)，来查找缺陷像素，并査验与分析此 缺陷像素的异常因素。
完成步骤204后，如步骤206所述，判断所找到的缺陷像素的 异常因素。在步骤206中，当线上工作人员可判断出此缺陷像素的 异常原因时，即完成显示面板108的像素102的失效分析。另一方 面，线上工作人员无法判断出此缺陷像素的异常因素时，即如步骤 208所述，拆解显示面板108，而将上下基板(未图示)，例如薄膜 电晶体(TFT)基板和彩色滤光片基板、薄膜电晶体基板和滤光片基 板、彩色滤光片薄膜电晶体(CF on TFT)基板和透明基板、有机发 光元件基板(OLED)和上基板，自显示面板108中分解。
然后，如步骤210所述，利用光学显微镜，检査自显示面板 108中拆解出的上下基板，以再次判断及分析缺陷像素的异常因素。 完成缺陷像素的异常因素的判断与分析后，即完成显示面板108的 像素102的失效分析。
然而，在此传统显示面板108中，所有像素102的外观结构特 征相同。再加上，在步骤202中所圈选出的区域范围较大。因此， 在光学显微镜下来寻找圈选区域内的缺陷像素时，工作人员相当容 易找错位置或是很难快速地在十几个被圈选的像素中找出异常因 素。特别是将光学显微镜设置成高放大倍数时，显微镜可以显示的 区域范围大幅縮减，此时更不利于工作人员查找缺陷像素。故传统 显示面板108的缺陷分析的错误率高、效率低。

发明内容
7因此，本发明的一个目的是提供一种显示面板，其可将像素 分成多个群组，且不同群组的像素具有不同的外观结构特征，但 具有相同开口率或/及电性。透过像素的外观结构特征的差异化设 计，可辅助线上的失效分析人员，精确且快速地找出缺陷像素， 进而可加快缺陷像素的异常因素的判断。
本发明的另一 目的是提供一种像素缺陷检査方法，其可大幅 縮短线上的失效分析人员找出缺陷像素的时间，而可提升缺陷像 素的异常因素的分析效率。
本发明的又一目的是提供一种像素缺陷检査方法，可提高缺 陷像素的异常因素的査验成功率，而有利于工艺或元件设计的改 善，进而可减少显示面板的产品失效分析所需的人力资源。
根据上述目的，本发明提出一种显示面板。此显示面板包含 上基板、下基板、以及液晶层。下基板设置于上基板的对侧。液 晶层设置于上基板与下基板之间。下基板包含若干个第一像素、 以及若干个第二像素。这些第二像素与第一像素混合排列成一阵 列。这些第一像素与第二像素具有相同的开口率或/及电性，且这 些第一像素与第二像素具有不同的外观结构特征。
在本发明的一个实施例中，上述每一第一像素与第二像素各 包含一储存电容。这些储存电容对应设置于第一像素与第二像素 中。所述的第一像素所包含的储存电容在第一像素中的位置不同 于第二像素所包含的储存电容在第二像素中的位置。
在本发明的另一实施例中，上述每一第一像素与第二像素各 包含一储存电容，且每一储存电容各包含一通孔。这些储存电容 对应设置于第一像素与第二像素中，且通孔对应设置于储存电容 中。其中，所述的第一像素所包含的通孔在储存电容中的位置不 同于第二像素所包含的通孔在储存电容中的位置。
在本发明之又一实施例中，上述每一第一像素与第二像素各包含一修补线路。这些修补线路对应设置于第一像素与第二像素 中。所述的第一像素所包含的修补线路在第一像素中的位置不同 于第二像素所包含的修补线路在第二像素中的位置。
根据上述目的，本发明提出一种像素缺陷检査方法。此像素 缺陷检查方法先提供一显示面板。再对显示面板进行一检查步骤。 当获得一缺陷像素时，在显示面板上标记出包含此缺陷像素的一 区域。接着，判断此缺陷像素的外观结构特征，以确认此外观结 构特征属于第一外观结构特征或第二外观结构特征，而获得一判 断结果。然后，根据所述的判断结果，于一显微镜下对此缺陷像 素的异常因素进行第一査验步骤。
在本发明的一实施例中，当上述的第一査验步骤无法判断缺 陷像素的异常因素时，更包含进行一拆解步骤，以将显示面板的 电晶体基板自显示面板拆出。
为让本发明内容能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图作详细 说明如下


图1为传统液晶显示面板的像素阵列的俯视示意图。
图2为传统像素缺陷检査的流程图。
图3为本发明的一个具体实施方式
中一种液晶显示面板剖面 示意图。
图4为本发明的一个具体实施方式
中一种液晶显示面板的像 素阵列的一部分的俯视示意图。
图5为本发明的一个具体实施方式
中一种像素缺陷检査的流 程图。
图中涉及的附图标记和组成部分如下所示像素阵列102:像素
104:储存电容106:通孔
108:显示面板200:步骤
202:步骤204:步骤
206:步骤208:步骤
210:步骤300:液晶显示面板
302:第一排304:第二排
306a:像素306b:像素
308a:像素308b:像素
310a:像素310b:像素
312a:储存电容312b:储存电容
314a:储存电容314b:储存电容
316a:储存电容316b:储存电容
318a:通孔318b:通孔
320a:通孔320b:通孔
322a:通孔322b:通孔
324a:修补线路324b:修补线路
326a:修补线路326b:修补线路
328a:修补线路328b:修补线路
330:阵列332:下基板
334:上基板336:液晶层
400:步骤402:步骤
404:步骤406:步骤
408:步骤410:步骤
412:步骤
具体实施例方式
以下结合附图，具体说明本发明的实施方式。
请参照图3，为本发明的一个具体实施方式
中一种液晶显示 面板剖面示意图。在本具体实施方式
中，以液晶显示面板做为本 实施例的显示面板，但本发明并不以此为限。液晶显示面板300 主要包含上基板334、下基板332与液晶层336。下基板332设置 在上基板334的对侧，而液晶层336则设置在上基板334与下基 板332之间。
在本实施例中，液晶显示面板300的上基板与下基板332分 别可以是彩色滤光片基板和薄膜电晶体基板、滤光片基板和薄膜 电晶体基板、透明基板和彩色滤光片薄膜电晶体基板。在另一实 施例中，显示面板并非液晶显示面板，且此显示面板的上下基板 分别可以为上基板和有机发光元件基板。
请参照图4，为本发明的一个具体实施方式
中一种液晶显示 面板的像素阵列的一部分的俯视示意图。在本具体实施方式
中， 液晶显示面板300的下基板332包含数个像素306a、 306b、 308a、 308b、 310a与310b。这些像素306a、 306b、 308a、 308b、 310a 与310b混合排列成一阵列330。其中，像素306a、 308a与310a 位于此阵列330的第一排302，而像素306b、 308b与310b则位 于此阵列330的第二排304。
在另一实施例中，像素306a、 306b、 308a、 308b、 310a与 310b可位于液晶显示面板300的上基板334中。
在一个实施例中，阵列330的第一排302包含数个像素306a、 数个像素308a与数个像素310a。其中，这些像素306a、 308a与 310a依序交错排列。例如，第一排302的像素的排列方式为，像 素308a紧邻在像素306a后，而像素310a紧邻于像素308a后，
ii接着另一像素306a则又紧邻在像素310a后，如此依序交错排列。
另一方面，阵列330的第二排304包含数个像素306b、数个 像素308b与数个像素310b。这些像素306b、 308b与310b依序 交错排列。举例而言，第二排304的像素的排列方式为，像素308b 紧邻在像素306b后，而像素310b紧邻于像素308b后，接着另一 像素306b则又紧邻在像素310b后，如此依序交错排列。
在一实施例中，像素306a与306b可为红色像素，像素308a 与308b可为绿色像素，像素310a与310b可为蓝色像素。在其他 实施例中，像素306a与306b可为不同颜色的像素，像素308a与 308b可为不同颜色的像素，像素310a与310b可为不同颜色的像 素。在本发明中，像素306a、 306b、 308a、 308b、 310a与310b 的颜色可依产品设计需求而加以设定。
在本实施方式中，所有像素306a、 306b、 308a、 308b、 310a 与310b均具有相同的开口率或/及电性，以避免影响液晶显示面 板300的显示品质。但是，像素306a、 306b、 308a、 308b、 310a 与310b具有不同的外观结构特征，以作为失效分析人员的定位参 考依据，进而可辅助失效分析人员进行缺陷像素的判别。因此， 本实施方式的目的为在不影响液晶显示面板300的显示参数设 计下，藉由对液晶显示面板300中的像素306a、 306b、 308a、 308b、 310a与310b的外观结构特征的差异化设计，来辅助失效分析人 员顺利找出所标记的缺陷像素。
举例而言，请再次参考图4，在像素阵列330的第一排302 中，像素306a包含储存电容312a，像素308a包含储存电容314a， 像素310a包含储存电容316a。其中，储存电容3 12a设置在像素 306a中，储存电容314a设置在像素308a中，而储存电容316a 设置在像素310a中。
另一方面，在像素阵列330的第二排304中，像素306b包含储存电容312b，像素308b包含储存电容314b，且像素310b包 含储存电容316b。其中，储存电容312b设置在像素306b中，储 存电容314b设置在像素308b中，而储存电容316b设置在像素 310b中。
在一实施例中，阵列330的第一排302的像素306a、 308a 与310a所分别包含的储存电容312a、 314a与316a在像素306a、 308a与310a中的位置实质相同。阵列330的第二排304的像素 306b、 308b与310b所分别包含的储存电容312b、 314b与316b 在像素306b、 308b与310b中的位置实质相同。但，阵列330的 第一排302的像素306a、 308a与310a所分别包含的储存电容 312a、 314a与316a在像素306a、 308a与310a中的位置，不同于 第二排304的像素306b、 308b与310b所分别包含的储存电容 312b、 314b与316b在像素306b、 308b与3 1 Ob中的位置。如此 一来，失效分析人员可根据第一排302与第二排304的像素所包 含的储存电容在像素中的位置的不同，轻易区分出第一排302的 像素与第二排304的像素。
请再次参考图4，在阵列330的第一排302中，像素306a的 储存电容312a包含通孔318a，像素308a的储存电容314a包含通 孔320a，且像素310a的储存电容316a包含通孔322a。其中，通 孔318a设置在储存电容312a中，通孔320a设置在储存电容314a 中，而通孔322a设置在储存电容316a中。
另外，在阵列330的第二排304中，像素306b的储存电容 312b包含通孑L 318b，像素308b的储存电容314b包含通孔320b， 且像素310b的储存电容316b包含通孔322b。其中，通孔318b 设置在储存电容312b中，通孔320b设置在储存电容314b中，而 通孔322b设置在储存电容316b中。
在本实施方式中，通孔318a、 318b、 320a、 320b、 322a与322b可为具有电性连接作用的连接元件；或者可为不具电性连接 作用，而仅为作为外观差异化设计以辅助辨识的虚设通孔(Dummy Via)。
在一实施例中，像素306a与306b可为相同颜色的像素，像 素308a与308b可为相同颜色的像素，像素3 10a与3 1 Ob可为相 同颜色的像素。此时，如图4所示，像素306a的通孔318a位于 储存电容312a的偏左侧，且像素306b的通孔3 18b也位于储存电 容312b的偏左侧。而像素308a的通孔320a位于储存电容314a 的中央区，像素308b的通孔320b也位于储存电容314b的中央区。 像素310a的通孔322a位于储存电容3 16a的偏右侧，像素310b 的通孔322b也位于储存电容316b的偏右侧。
藉由改变通孔在储存电容中的位置，失效分析人员可轻易区 分出不同群组的像素。
在液晶显示面板300中，像素306a与306b分别包含修补线 路324a与324b，像素308a与308b分另ij包含{彦补线路326a与326b， 像素310a与310b分别包含修补线路328a与328b。其中，修补 线足各324a、 324b、 326a、 326b、 328a与328b分另廿对应设置在{象 素306a、 306b、 308a、 308b、 310a与310b中。
在一实施例中，修补线路324a、 324b、 326a、 326b、 328a 与328b在像素306a、 306b、 308a、 308b、 3 10a与3 1 Ob中的位置 可不相同，以利区分像素群组。举例而言，如图4所示，修补线 路324a与324b在像素306a与306b中的位置可不同于修补线路 326a、 326b、 328a与328b在像素308a、 308b、 310a与310b中的 位置；修补线路326a与326b在像素308a与308b中的位置可不 同于修补线路328a与328b在像素310a与310b中的位置。
在另一实施例中，可利用在像素306a、 306b、 308a、 308b、 310a与310b中设置不同数量的修补线路的方式，来辅助失效分析人员区分像素。例如，像素306a与306b可各包含一个修补线 路，像素308a与308b可各包含二个修补线路，而像素310a与 310b可各包含三个修补线路。如此一来，线上失效分析人员即可 藉由像素306a与306b、像素308a与308b以及像素310a与310b 的此外观结构特征差异，轻易地区别出这三个像素群组。
在液晶显示面板300中，通过对像素的外观结构特征的差异 化设计，可用以辅助线上失效分析人员进行像素定位。请参照图 5，为本发明的一实施方式中一种像素缺陷检査的流程图。在本实 施方式中，失效分析人员即利用液晶显示面板300的像素外观的 差异化设计，来进行液晶显示面板300的像素缺陷检查。
首先，如步骤400所述，提供液晶显示面板，例如图3与图 4所示的液晶显示面板300。接下来，如步骤402所述，先将液晶 显示面板300点亮后，线上失效分析人员可对液晶显示面板300 进行检査，以检査液晶显示面板300的所有像素是否具有缺陷。 如步骤404所述，当线上失效分析人员査获液晶显示面板300的 缺陷像素时，可利用例如油性笔等在此液晶显示面板300上标记 出此缺陷像素。在标记此缺陷像素时，可以利用圈选方式将缺陷 像素利用油性笔圈选出来，因为像素的尺寸较圈选区域小，所以 区域除了包含缺陷像素外，也同时包含了其他正常像素。
接着，如步骤406所述，失效分析人员可利用例如高倍率目 镜判断所找出的缺陷像素的外观结构特征，以确认所找到的缺陷 像素的外观结构特征的类型究竟与像素306a、 306b、 308a、 308b、 310a与310b中何者所具有的外观结构特征相同。在下述实施例 中，假设所找到的缺陷像素的外观结构特征，经判断后属于像素 3 0 6 a所具有的外观结构特征。
接下来，如同步骤408所述，失效分析人员可根据步骤406 所获得的判断结果，在显微镜下，进行第一次的查验以查验缺陷像素的异常因素。步骤408所采用的显微镜可为光学显微镜。在 步骤408中，由于已从步骤406中获知，缺陷像素的外观结构特 征的类型属于像素306a的外观结构特征。因此，在光学显微镜下， 于步骤404中所圈选出的区域中寻找缺陷像素时，可先将其储存 电容312b、314b与316b在像素中的位置不同于储存电容312a在 像素306a中的位置的像素306b、 308b与310b先行排除。如此一 来，可先排除圈选区域中一半的像素。接着，可将其通孔320a与 322a在像素中的位置不同于通孔318a在像素306a中的位置的像 素308a与310a予以排除。如此，可再排除剩余像素中三分之二 的像素。
因此，藉由像素的外观差异化设计，可大大地缩减缺陷像素 的寻找查验时间，而可提高失效分析的效率，并可提高缺陷像素 的异常因素的查验成功率，更可大幅縮减失效分析所需的人力。
若在步骤408中，失效分析人员可判断出此缺陷像素的异常 因素，即完成液晶显示面板300的像素缺陷的检査。然后，可将 像素产生缺陷的原因提供给前段工艺人员或研发设计人员作为参 考，来进行工艺或设计的改善，以降低或消除缺陷形成的机率。
另一方面，若在步骤408中，失效分析人员无法判断出此缺 陷像素的异常因素时，如像素的缺陷部分为液晶显示面板300的 彩色滤光片的黑色矩阵(Black Matrix)层所遮蔽时，则须如同步骤 410所述，先将液晶显示面板300予以拆解，而将液晶显示面板 300的上下基板拆解，以供进行进一步的査验。
接着，如步骤412所述，失效分析人员可于显微镜下，进行 第二査验，以査验液晶显示面板300的上下基板，本实施例中失 效分析人员査验液晶显示面板300的上下基板，如一电晶体基板， 以判断缺陷像素的异常因素，而完成液晶显示面板300的像素缺 陷的检查。在步骤412中，同样可根据步骤406中所获得的判断结果，先行排除外观结构特征与缺陷像素的外观结构特征不同的 像素。因此，同样可大幅缩短缺陷像素的查找时间。
由上述本发明的实施方式可知，本发明的一优点就是因为在 液晶显示面板中，可将像素分成多个群组，且不同群组的像素具 有不同之外观结构特征，但具有相同开口率或/及电性。透过这样 的像素外观结构特征的差异化设计，可辅助线上的失效分析人员， 精确且快速地找出缺陷像素。因此，可加快缺陷像素之异常因素 的判断。
本发明的外观结构特征可以是在储存电容312a、 312b、 314a、 314b、 316a、 316b、通孑L 318a、 318b、 320a、 320b、 322a、 322b、 修补线路324a、 326a、 328a、 324b、 326b、 328b中设计不同的形 状、数量、设置在像素内的位置或其组合，只要在不影响像素的 开口率或/及电性的前提下，本领域普通技术人员可以根据实际需 求设计不同的外观结构特征。
由上述本发明的实施方式可知，本发明的另一优点在于，本 发明的像素缺陷检査方法可大幅縮短线上的失效分析人员找出缺 陷像素的时间，而可提升缺陷像素的异常因素的分析效率。
由上述本发明的实施方式可知，本发明的又一优点在于，本 发明的像素缺陷检查方法可提高缺陷像素的异常因素的査验成功 率，而有利于工艺或元件设计的改善，进而可减少液晶显示面板 的产品失效分析的人力资源。
虽然本发明已用较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本 发明，本发明所属技术领域中的技术人员，在不脱离本发明之精 神和范围内，当可作各种变动与润饰，因此本发明之保护范围当 以权利要求为准。
1权利要求
1.一种显示面板，其特征在于，包含一上基板；一下基板，设置于所述上基板的对侧；以及一液晶层，设置于所述上基板与所述下基板之间；其中，所述下基板包含若干个第一像素；以及若干个第二像素，与所述若干个第一像素混合排列成一阵列，且所述若干个第一像素与所述若干个第二像素具有相同的开口率或/及电性，且所述若干个第一像素与所述若干个第二像素具有不同的外观结构特征。
2. 根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，其中每一所 述第一像素与所述第二像素各包含一储存电容，所述储存电容对应设 置于所述第一像素与所述第二像素中，且所述第一像素所包含的所述 储存电容在所述第一像素中的位置不同于所述第二像素所包含的所 述储存电容在所述第二像素中的位置。
3. 根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，其中每一所 述第一像素与所述第二像素各包含一储存电容，且每一所述储存电容 各包含一通孔，所述储存电容对应设置于所述第一像素与所述第二像 素中，该些通孔对应设置于所述储存电容中，其中所述第一像素所包 含的所述通孔在所述储存电容中的位置不同于所述第二像素所包含 的所述通孔在所述储存电容中的位置。
4. 根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，其中每一所 述第一像素与所述第二像素各包含一修补线路，所述修补线路对应设置于所述第一像素与所述第二像素中，且所述第一像素所包含的所述 修补线路在所述第一像素中的位置不同于所述第二像素所包含的所 述修补线路在所述第二像素中的位置。
5. 根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，其中每一所 述第一像素与所述第二像素各包含至少一修补线路，所述修补线路对 应设置于所述第一像素与所述第二像素中，且每一所述第一像素所包 含的所述至少一修补线路的数量不同于每一所述第二像素所包含的 所述至少一修补线路的数量。
6. 根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，其中所述第 一像素与所述第二像素交错排列。
7. 根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，其中每一所 述第一像素与所述第二像素各包含一储存电容，所述储存电容对应设 置于所述第一像素与所述第二像素中，且在该阵列中相邻的一第一排 与一第二排中，位于该第一排的所述第一像素与所述第二像素所包含 的所述储存电容的位置不同于位于该第二排的所述第一像素与所述 第二像素所包含的所述储存电容的位置。
8. 根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，更包含若干 个第三像素，其中所述第三像素与所述第一像素、所述第二像素具有 相同的开口率或/及电性，且所述第三像素具有与所述第一像素与所 述第二像素不同的外观结构特征。
9. 根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，其中在所述 阵列的每一排中，所述第一像素、所述第二像素与所述第三像素依序 交错排列。
10. 根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，其中所述第一像素为红色像素，所述第二像素为绿色像素，所述第三像素为蓝色 像素。
11. 根据权利要求8所述的显示面板，其特征在于，其中每一所述第一像素、所述第二像素与所述第三像素各包含一储存电容，且每一所述储存电容各包含一通孔，所述储存电容对应设置于所述第一像素、所述第二像素与所述第三像素中，所述通孔对应设置于所述储存 电容中，其中所述第一像素所包含的所述通孔在所述储存电容中的位置、所述第二像素所包含的所述通孔在所述储存电容中的位置、以及 所述第三像素所包含的该些通孔在所述储存电容中的位置均不相同。
12. 根据权利要求11所述的显示面板，其特征在于，其中每一 所述第一像素、所述第二像素与所述第三像素各包含一储存电容，所 述储存电容对应设置于所述第一像素、所述第二像素与所述第三像素 中，且在所述阵列中相邻的一第一排与一第二排中，位于所述第一排 的所述第一像素、所述第二像素与所述第三像素所包含的所述储存电 容的位置不同于位于所述第二排的所述第一像素、所述第二像素与所 述第三像素所包含的所述储存电容的位置。
13. —种像素缺陷检査方法，其特征在于，包含 提供一显示面板，该显示面板包含一上基板；一下基板，设置于所述上基板的对侧；以及一液晶层，设置于所述上基板与所述下基板之间；其中， 所述下基板包含若干个第一像素；以及若干个第二像素，与所述第一像素混合排列成一阵列，且所述第一像素与所述第二像素具有相同的开口率或/及电性，且所述第一像素与所述第二像素具有不同的外观结构特征；对所述显示面板进行一检査步骤，当获得一缺陷像素时，在所述显示面板上标记出包含该缺陷像素的一区域；判断所述缺陷像素的外观结构特征，以确认该外观结构特征属于该第一外观结构特征或该第二外观结构特征，而获得一判断结果；以及根据所述判断结果，于一显微镜下对所述缺陷像素的一异常因素进行一第一査验步骤。
14. 根据权利要求13所述的像素缺陷检査方法，其特征在于，其中判断所述缺陷像素的外观结构特征利用一高倍率目镜。
15. 根据权利要求14所述的像素缺陷检査方法，其特征在于，其中所述 第一査验步骤包含排除与所述缺陷像素的外观结构特征不同的像素。
16. 根据权利要求13所述的像素缺陷检查方法，其特征在于，当所述第 一查验步骤无法判断所述缺陷像素的异常因素时，更包含进行一拆解步 骤，以拆解所述上基板与所述下基板。
17. 根据权利要求16所述的像素缺陷检査方法，其特征在于，于所述拆 解步骤后，更包含根据所述判断结果，于所述显微镜下对所述缺陷像素的 异常因素进行一第二査验步骤。
18. 根据权利要求16所述的像素缺陷检査方法，其特征在于，其中所述 第二査验步骤包含排除与所述缺陷像素的外观结构特征不同的像素。
全文摘要
一种显示面板及其像素缺陷检查方法。此显示面板包含若干个第一像素与若干个第二像素。这些第二像素与第一像素混合排列成一阵列。这些第一像素与第二像素具有相同的开口率或/及电性，且第一像素与第二像素具有不同的外观结构特征。
文档编号G02F1/1362GK101592812SQ20091005365
公开日2009年12月2日 申请日期2009年6月23日 优先权日2009年6月23日
发明者林昆标, 王孝林 申请人:友达光电(苏州)有限公司;友达光电股份有限公司