专利名称：用于激光打印机处理盒的缺陷测定仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及用于激光打印机处理盒的缺陷测定仪，特别是用来对处理盒各构 成部件可能存在的品质缺陷进行测试的测定仪。
背景技术：
以处理盒100为基本构成核心的激光打印机的成像过程是，见图1、2，感光鼓101 表面由充电辊102均勻地充电。激光扫描器103向感光鼓101发射含有图像信息并且经过 调制的激光束104，经激光束104照射后在感光鼓101表面形成其分布存有差异的静电荷分 布图，亦即与待复制的图像对应的静电潜像。之后，自显影辊105传来的碳粉106转而吸附 在感光鼓101的圆柱形表面上，将前述静电潜像覆盖后，把其转换成可以肉眼观察的可视 图像。随着感光鼓101的旋转，由碳粉106在感光鼓表面形成的可视图像换位至转印辊107 所在的位置。经转印辊107所携带的转印电压的作用，将可视图像形式的碳粉转印至纸张 等记录介质108的表面上，随后经加热辊111和加压辊112对记录介质108上的可视图像 形式的碳粉进行加热加压后，使碳粉渗入到记录介质108的表面纤维层中，将碳粉形成的 可视图像永久地固化于记录介质108上。前述感光鼓101上的可视图像在被转印辊107转 印之后，附着于其上的残留碳粉109由废粉刮片110刮除并送至废粉仓中。这样就完成了 一个基本的成像工作流程。该流程反复循环运转的结果，就可以得到打印者所需要的图像。参见图2，作为激光打印机的基本构成核心，上文涉及的处理盒100的主要构成部 件包括感光鼓101、充电辊102、显影辊105、送粉辊114。充电辊102和显影辊105分布在感 光鼓101周围沿圆周方向的不同区段，它们都以其中轴相互平行的方式被支撑于盒体117 上。盒体117中还分别设置有粉仓113和废粉仓115。粉仓113中容纳有全新的碳粉之类 的显影剂。充电辊102对感光鼓101的表面均勻地充电。送粉辊114将粉仓113中容纳的 碳粉输送至显影辊105附近，再经由显影辊105将碳粉传送至感光鼓101附近，碳粉进而吸 附于感光鼓101的圆柱形表面上，具体吸附过程参阅上文在图1基础上描述的内容。在上述图1、2所示激光打印机处理盒100的结构及其工作流程的基础上，经激光 打印得到的图像，只要其各个构成部件均能圆满完成对应功能的要求得到满足，通常就能 得到令人满意的打印文稿。然而，由于处理盒100的结构极为复杂，工作流程环节较多，任 何一个部件出现品质缺陷都将导致打印缺陷，甚至是打印失败，因而，在实际打印工作中于 打印文稿上就经常发生白线、黑线、色泽过浅、色泽过深等等缺陷。这些缺陷与上述图1描 述的工作流程的反复循环运转相对应，呈现出周期性的特点。根据这个特点，可以通过测量 打印文稿上缺陷的周期率来分析处理盒各构成部件与打印缺陷的对应关系，从而准确判定 处理盒各构成部件品质缺陷的所在位置。发明内容针对上述激光打印过程中，打印文稿上常出现周期性缺陷，却难于及时、准确地判 定处理盒各构成部件品质缺陷所在位置的问题，本实用新型目的在于提供一种用于判定处理盒各构成部件品质缺陷所在位置的缺陷测定仪。为实现上述目的，本实用新型采用具有以下特点的缺陷测定仪。它用于分析、测定 激光打印机处理盒各构成部件的品质缺陷。它包括具有可见光透光性的基板。在基板的一 个表面上设置有沿第一方向延伸的滑槽。第一滑块卡接于该滑槽中并可沿第一方向滑动。 第二滑块卡接于第一滑块上并可沿第二方向滑动。第二方向同第一方向相互交叉。第二滑 块上设置有朝向前述表面的指示器。前述用于激光打印机处理盒的缺陷测定仪，其第二方向同第一方向之间相互保持垂直。前述用于激光打印机处理盒的缺陷测定仪，还包括可用来观测上述表面的第一窗 口。指示器为可用来观测同一表面的第二窗口。第一窗口位于第一滑块上。第一窗口在第 二方向上的长度等于第二窗口在第二方向上滑动时形成的区间距离。第二窗口位于第二滑 块上。第二窗口叠置于第一窗口上。本实用新型用于激光打印机处理盒的缺陷测定仪，在基板上设置了沿相互交叉的 两个方向可以分别滑动的两个滑块，通过两个滑块上的观测窗口可以锁定打印文稿上的缺 陷，进而将该打印缺陷同基板表面上的特定区域对应起来，将此特定区域标识成代表激光 打印机处理盒相应构成部件的指数区，通过这些指数区即可判定处理盒各构成部件品质缺 陷的所在位置，从而为维护、检修处理盒提供准确的指向。
图1现有激光打印机成像过程示意图。图2现有激光打印机处理盒基本结构示意图。图3本实用新型用于激光打印机处理盒的缺陷测定仪实施方式一透视图一。图4本实用新型用于激光打印机处理盒的缺陷测定仪实施方式一透视图二。图5本实用新型用于激光打印机处理盒的缺陷测定仪实施方式二透视图。
具体实施方式
以下结合附图详细描述本实用新型用于激光打印机处理盒的缺陷测定仪。参见图3、4、5，分别示出了本实用新型用于激光打印机处理盒的缺陷测定仪的两 种实施方式的透视图。实施方式一见图3、4，该用于激光打印机处理盒的缺陷测定仪200的主要构成部件包括基板 201、第一滑块202、第二滑块203。基板201，呈矩形板状，它对于可见光具有良好的透光性。在基板201较宽的一个 表面204上，设置有沿第一方向χ延伸的滑槽205。第一方向χ平行于基板表面204的两个 矩形侧边。滑槽205的数量为两个，它们分别位于基板表面204的两个矩形侧边上。用以 相互夹持来构成滑槽205的两个槽壁中，其邻接基板表面204的槽壁206以平行移动的方 式朝着基板表面204的内部移动一段距离。槽壁206平移之后留下的平面207与基板表面 204重合。该平面207和位于两个槽壁206之间的表面204可用来分别标注不同类别的指 数。图4示例性地在基板表面204上标注了指数和刻度。[0020]第一滑块202呈长方条形，它的两端分别卡接于两个滑槽205中。第一滑块202 可沿着第一方向X滑动。在第一滑块202上，设置有第一窗口 208。透过第一窗口 208，可 以观测基板表面204。第一窗口 208沿着下文描述的第二方向y具有较长的长度，该长度等 于下文描述的第二窗口 209沿第二方向y滑动时形成的区间距离。在第一滑块202上，于 对应于平面207的区域设置有第三窗口 210。透过第三窗口 210，可以观测平面207。第二滑块203卡接于第一滑块202上，它可沿第二方向y滑动。第二方向y平行 于基板表面204的另外两个矩形侧边，它同第一方向χ之间呈相互垂直的状态。在第二滑 块203上，设置有第二窗口 209。第二窗口 209叠置于第一窗口 208上。透过第二窗口 209， 再透过第一窗口 208，可以观测基板表面204。应用缺陷测定仪200测量处理盒100的品质缺陷时，先将缺陷测定仪200压放于 由激光打印机打印得到的打印文稿表面上；然后根据所用处理盒100的型号，将第一滑块 202移动到标记有被测处理盒型号的位置，即平面207的指数区；再用第二滑块203确定打 印文稿的缺陷周期所在位置，即基板表面204的指数区；最后根据第一窗口 208和第二窗口 209交汇点所标注的零部件名称，就能直观地判定出处理盒100存在品质缺陷的构成部件。实施方式二参见图5，结合图3、4，在实施方式二中，缺陷测定仪300的主要结构同实施方式一 基本相同，其差别仅在于缺陷测定仪300之滑槽305的两个槽壁相互对齐，即其邻接基板表 面304的槽壁306不发生平行移动。因此，在缺陷测定仪300中不存在实施方式一中出现 的平面207。
权利要求1.用于激光打印机处理盒的缺陷测定仪，包括基板，其特征是，所述基板具有可见光 透光性，在所述基板的一个表面上设置有沿第一方向延伸的滑槽，第一滑块卡接于所述滑 槽中并可沿所述第一方向滑动，第二滑块卡接于所述第一滑块上并可沿第二方向滑动，所 述第二方向同所述第一方向相互交叉，所述第二滑块上设置有朝向所述表面的指示器。
2.根据权利要求1所述用于激光打印机处理盒的缺陷测定仪，其特征是，所述第二方 向同所述第一方向相互垂直。
3.根据权利要求1或2所述用于激光打印机处理盒的缺陷测定仪，其特征是，还包括 可用来观测所述表面的第一窗口，所述指示器为可用来观测所述表面的第二窗口，所述第 一窗口位于所述第一滑块上，所述第一窗口在所述第二方向上的长度等于所述第二窗口在 所述第二方向上滑动时形成的区间距离，所述第二窗口位于所述第二滑块上，所述第二窗 口叠置于所述第一窗口上。
专利摘要本实用新型涉及用于激光打印机处理盒的缺陷测定仪。它包括具有可见光透光性的基板。在基板的一个表面上设置有沿第一方向延伸的滑槽。第一滑块卡接于该滑槽中并可沿第一方向滑动。第二滑块卡接于第一滑块上并可沿第二方向滑动。第二方向同第一方向相互交叉。第二滑块上设置有朝向前述表面的指示器。该缺陷测定仪可以准确判定出激光打印机处理盒各构成部件品质缺陷的所在位置。
文档编号G03G21/18GK201837836SQ20102057423
公开日2011年5月18日 申请日期2010年10月23日 优先权日2010年10月23日
发明者姚和刚 申请人:珠海天威飞马打印耗材有限公司