技术总结
本发明涉及一种液晶指向矢快速测量装置及其实现方法，通过利用基于晶体劈的偏光干涉原理将外电压驱动下液晶中透射光的偏振态改变转换成干涉条纹的移动，并利用高速相机对干涉条纹的移动进行测量，根据液晶指向矢的倾斜角和扭转角和透射光偏振态的关系，来获得液晶分子平均指向矢的动态信息。该指向矢测量方法的测量光路结构简单紧凑，测量过程中无需光学器件的调节，测量结果不受光源波动性的影响，并可同步快速测量出液晶指向矢倾斜角和扭转角，属于高精度线性测量。该方法测量速度主要依赖于相机的采集频率，可达微秒量级。
技术研发人员：马靖;许灿华;吕佩伟
受保护的技术使用者：福州大学
文档号码：201611031573
技术研发日：2016.11.22
技术公布日：2017.05.31