技术特征：
技术总结
本发明提供的是一种基于同轴双波导光纤的光学纳米天线探测器。其特征是：所述的光学天线主要由一段同轴双波导光纤1组成，同轴双波导光纤1的一个纤端经过研磨形成纤端圆锥台2，而纤端圆锥台2的端面上沉积有二维阵列金属光学天线3；这里，同轴双波导光纤1包含包层4、中央纤芯5以及环形纤芯6，包层4、中央纤芯5和环形纤芯6三者的中心同轴；一方面，中央纤芯5(或环形纤芯6)传输的传导光波7直接(或经过纤端圆锥台2全内反射后)作用在二维阵列金属光学天线3上，两者相互作用后激发出光辐射场信号8；另一方面，光辐射场信号8作用于二维阵列金属光学天线3后形成信号光波9，然后直接被中央纤芯5接收或者经过纤端圆锥台2收集后被环形纤芯6接收。本发明可用于光电探测、传感、热传导、太阳能电池、以及光谱分析等领域。
技术研发人员：苑立波;邓洪昌;张文涛
受保护的技术使用者：桂林电子科技大学
技术研发日：2017.11.03
技术公布日：2019.05.14