一种液晶光学模组的配置方法及检测装置的制造方法
【专利摘要】本发明公开了一种液晶光学模组的配置方法及检测装置，所述方法包括建立用于存储液晶面板规格与穿透频谱的对应关系的数据库及背光源的发光光谱数据库；建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型；当配置液晶光学模组时，获取所述液晶光学模组的液晶面板规格及背光光源；根据液晶模组的亮度和色坐标光学要求，通过配置模型确定液晶面板与背光光源的配置。本发明预先建立液晶面板规格和发光光源的数据库，并构建液晶面板与发光光源的配置模型，通过配置模型确定液晶面板与发光光源的最佳配置方法，减少了产品设计阶段手工制作样品并测试的过程，缩短产品研发周期，降低产品设计成本。
【专利说明】
-种液晶光学模组的配置方法及检测装置
技术领域
[0001] 本发明设及液晶光学模组技术领域，特别设及一种液晶光学模组的配置方法及检 测装置。
【背景技术】
[0002] 随着电子显示技术的发展，液晶电视已在市场上普及。虽然有OLm)新技术的产生， 但液晶电视由于其细腻的解析度W及成熟的生产技术和普众的价格，目前W及W后几年也 仍然会是主流。随着技术的发展W及环保的需求，其背光源已从CC化切换到L抓光源。但作 为被动式发光的显示器件，不管是哪种光源都需要一个发光光源与液晶面板的彩色滤光膜 的配光配色过程。目前液晶面板尺寸及生产厂家众多，面板规格也包括标清、高清、超高清、 四像素超高清等各种规格，再加上模组光源本身还有各种不同光谱规格种类，光源和面板 具有的各项光电参数(亮度、色度及其发射光谱等)对模组设计、整机配屏至关重要，如相同 亮度、色块的光源由于存在同色异谱、和面板频谱匹配有差异等情况导致组装在模组上存 在亮度色度偏差等问题。
[0003] 目前现有的液晶光学模组的配置是通过经验，将各种光源、反射片、膜片等样品不 同的搭配组合方案组装成模组样机来进行交叉组装验证，对不同方案样机的测试结果进行 比较，来确定最终符合产品需求的方案。运种传统的验证方法，需要结构件制作手板件，各 种光源和光学膜片制作样品，并多次循环拆装样机组装测试，时间成本和打样成本耗费比 较大。
[0004] 因而现有技术还有待改进和提高。
【发明内容】
[0005] 本发明要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足，提供一种液晶光学模组的 配置方法及检测装置，W解决现有液晶模组的配置需要制作手板件，各种光源和光学膜片 制作样品，并多次循环拆装样机组装测试，时间成本和打样成本耗费大的问题。
[0006] 为了解决上述技术问题，本发明所采用的技术方案如下： 一种液晶光学模组的配置方法，其包括： 建立用于存储各种液晶面板规格的穿透频谱的数据库及背光源的发光光谱数据库，其 中，所述背光光源为LED单灯、LED灯条、CCFL单灯及CCFL灯条； 建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型； 当配置液晶光学模组时，获取所述液晶光学模组的液晶面板规格及背光光源； 根据液晶模组的亮度和色坐标光学要求，通过配置模型确定液晶面板与之配对的背光 光源的配置。
[0007] 所述液晶光学模组的配置方法，其中，所述建立用于存储各种液晶面板规格的穿 透频谱的数据库具体包括： 制作可见光范围为连续光谱标准光源的光源灯箱； 采用光学测试仪测试380nm-780nm均匀光强的连续光谱数据； 将不同规格的液晶面板放置于光源灯箱上，通过光学测试液晶面板的穿透频谱，并所 述穿透频率及与其对应的液晶面板规格存储于数据库内。
[0008] 所述液晶光学模组的配置方法，其中，所述建立背光源的发光光谱数据库，其中， 所述背光光源为LED单灯、LED灯条、CCFL单灯及CCFL灯条具体为： 通过积分球检测仪检测背光光源的发光光谱，并将所述发光光谱与背光光源的对应关 系存储于数据库内，其中，所述背光光源为LED单灯、LED灯条、CCFL单灯及CCFL灯条。
[0009] 所述液晶光学模组的配置方法，其中，所述建立液晶面板规格及背光源的发光光 谱的配置模型具体为： 根据液晶模组的光损经验值建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型。
[0010] 所述液晶光学模组的配置方法，其中，所述建立液晶面板规格及背光源的发光光 谱的配置模型具体为：
其中,?，为亮度，x，y为色坐标数值，n为灯颗数，k为光损系数，寒^为最大光谱光视效 能；巧獲为人眼的光谱光视效率;巧(麟为光源单位波长的福射能，可测；苗ZiX为CE化单位 波长相对穿透系数，可测；/批}为背光修正光谱，为测试经验值;为标准S色 光谱彩色刺激数值。
[0011] 所述液晶光学模组的配置方法，其中，其所述根据液晶模组的光损经验值建立液 晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型之前包括： 测试液晶模组的膜片、扩散板、导光板的穿透频谱W及反射片的反射频谱，其中，所述 液晶模组包括侧入式背光液晶模组及直下式背光液晶模组。
[0012] 所述液晶光学模组的配置方法，其中，所述穿透频率包括液晶面板的WRGB四场画 面穿透频谱。
[0013] -种用于测试液晶面板穿透频谱的装置，其包括:光源灯箱、光学测试仪W及光谱 收集处理系统，所说光学测试仪与所说光谱收集处理系统相连接； 所述光源灯箱用于放置待测液晶面板并为待测液晶面板提供连续光谱； 所述光学测试仪用于检测待测液晶面板的穿透频谱，并将所述穿透频谱传输运光谱收 集处理系统； 所述光谱收集处理系统用于接受所述穿透频谱，并将所说穿透频谱与液晶面板对应存 储。
[0014] 所述用于测试液晶面板穿透频谱的装置，其中，所述光源灯箱用于提供380nm- 780nm的均匀光强的连续光源。
[0015] 所述用于测试液晶面板穿透频率的装置，其中，所述光学测试仪为CS2000光学测 试仪。
[0016] 有益效果：与现有技术相比，本发明提供了一种液晶光学模组的配置方法，其包 括:建立用于存储各种液晶面板规格的穿透频谱的数据库及背光源的发光光谱数据库;建 立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型；当配置液晶光学模组时，获取所述液晶 模组的液晶面板规格及背光光源;根据液晶模组的亮度及色坐标光学要求，通过配置模型 确定液晶面板与背光光源的配置。本发明预先建立液晶面板规格和发光光源的数据库，并 构建液晶面板与发光光源的配置模型，通过配置模型确定液晶面板与发光光源的最佳配置 方法，减少了产品设计阶段手工制作样品并测试的过程，缩短产品研发周期，降低产品设计 成本。
【附图说明】
[0017] 图1为本发明提供的液晶光学模组的配置方法较佳实施的流程图。
[0018] 图2为本发明提供的用于测试液晶面板穿透频谱的装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0019] 本发明提供一种液晶光学模组的配置方法及检测装置，为使本发明的目的、技术 方案及效果更加清楚、明确，W下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理 解，此处所描述的具体实施例仅用W解释本发明，并不用于限定本发明。
[0020] 下面结合附图，通过对实施例的描述，对
【发明内容】
作进一步说明。
[0021] 请参见图1，图1为本发明提供一种液晶光学模组的配置方法的较佳实施例的流程 图。所述方法包括： 5100、 建立用于存储液晶面板规格与穿透频谱的对应关系的数据库及背光源的发光光 谱数据库，其中，所述背光光源为LED单灯、LED灯条、CCFL单灯及CCFL灯条。
[0022] 具体地，预先通过光学测试仪测试各种规格的液晶面板的穿透频谱，并将所述液 晶面板的规格和其对应的穿透频率对应存储与数据库内。所述液晶面板的穿透频谱可W通 过如下方法测得，其具体可W包括： 5101、 制作可见光范围为连续光谱标准光源的光源灯箱。
[0023] 具体地，所述光源灯箱可W产生连续光谱的光源，所述光源的波长为380nm到 780nm。
[0024] S102、采用光学测试仪测试380nm-780nm均匀光强的连续光谱数据。
[0025] 具体地，将所述光源灯箱通电点亮，通过CS2000等仪器测试出从380nm-780nm均有 均匀光强的连续光谱数据。
[0026] S103、将不同规格的液晶面板放置于光源灯箱上，通过光学测试液晶面板的穿透 频谱，并所述穿透频谱及与其对应的液晶面板规格存储于数据库内。
[0027]具体地，将液晶面板放置在标准光源灯箱上面，液晶面板加电路点亮，通过CS2000 等仪器测试各种规格液晶面板在白场画面、红场画面、绿场画面、蓝场画面的穿透频谱，建 立各液晶面板的WRGB四场画面穿透频谱数据库，其中，所述光源灯箱的波长处于380nm- 780nm 进一步，获取可W作为液晶模组背光光源的类型，如LED单灯、LED灯条、CC化单灯及 CCFL灯条等。采用积分球等仪器测出各规格LED或者CCFL的单灯或者灯条光源发光光谱，建 立光源发光光谱数据库。
[00%] S200、建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型。
[0029] 具体地，首先测试侧入式背光液晶模组的膜片、扩散板、导光板的穿透频率W及反 射片的反射频谱和直下式背光液晶模组的膜片、扩散板、导光板的穿透频率W及反射片的 反射频谱，分别根据侧入式背光液晶模组的光损经验值和直下式背光液晶模组光损经验值 建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型。
[0030] 所述配置模型是液晶面板规格的穿透频谱及背光光源的发光光谱及光损经验值 的关系导入编译软件生成的。所述配置模型的理论依据的公式为：
其中，为亮度，x，y为色坐标数值，n为灯颗数，k为光损系数，坚。为最大光谱光视效 能;巧錢为人眼的光谱光视效率;取;濟为光源单位波长的福射能，可测；W为CE化单位波 长相对穿透系数，可测；/(勾为背光修正光谱，为测试经验值；式石揉(刮Fu;为标准S色光 谱彩色刺激数值。
[0031] 根据上公式，利用EXC化或者VB编成配置模型。
[0032] 进一步，在根据所述配置模型计算液晶面板配置关系时，需要输入或调用的数据 为:光源发光光谱数据、光源数量、液晶面板WRGB四场的穿透频谱数据、面板尺寸。能够输出 的数据为:液晶模组的亮度、色坐标、色域覆盖率。
[0033] S300、当配置液晶光学模组时，获取所述液晶光学模组的液晶面板规格及背光光 源。
[0034] 具体地，当需要配置液晶光学模组时，确定需求单规格中的液晶面板型号、产品的 亮度、色溫、色域覆盖率或者色彩饱和度要求。再确定液晶模组采用的背光光源的发光光 谱。
[0035] S400、根据液晶光学模组的光谱要求，通过配置模型确定液晶面板与背光光源的 配置。
[0036] 具体地，将数据库中的光源与需求单规格指定的液晶面板光谱进行匹配，在模型 中输入光源规格和颗数，来完成亮度、色坐标、色域等光学参数的匹配，通过模型计算匹配， 最终选择匹配度最好的方案。
[0037] 本发明提供的一种液晶光学模组的配置方法，其包括:建立用于存储液晶面板规 格与穿透频谱的对应关系的数据库及背光源的发光光谱数据库;建立液晶面板规格及背光 源的发光光谱的配置模型；当配置液晶光学模组时，获取所述液晶光学模组的液晶面板规 格及背光光源;根据液晶光学模组的光谱要求，通过配置模型确定液晶面板与背光光源的 配置。本发明预先建立液晶面板规格和发光光源的数据库，并构建液晶面板与发光光源的 配置模型，通过配置模型确定液晶面板与发光光源的最佳配置方法，减少了产品设计阶段 手工制作样品并测试的过程，缩短产品研发周期，降低产品设计成本。
[0038] 本发明还提供了一种用于测试液晶面板穿透频谱的装置，如图2所示，其包括:光 源灯箱1、光学测试仪3W及光谱收集处理系统4,所说光学测试仪3与所说光谱收集处理系 统4相连接； 所述光源灯箱1用于放置待测液晶面板2并为待测液晶面板提供连续光谱； 所述光学测试仪3用于检测待测液晶面板2的穿透频谱，并将所述穿透频谱传输运光谱 收集处理系统4; 所述光谱收集处理系统4用于接受所述穿透频谱，并将所说穿透频谱与液晶面板对应 存储。
[0039] 所述用于测试液晶面板穿透频谱的装置，其中，所述光源灯箱用于提供380nm- 780nm的均匀光强的连续光源。
[0040] 所述用于测试液晶面板穿透频谱的装置，其中，所述光学测试仪为CS2000光学测 试仪。
[0041] 最后应说明的是：W上实施例仅用W说明本发明的技术方案，而非对其限制;尽管 参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解:其依然可 W对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换； 而运些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和 范围。
【主权项】
1. 一种液晶光学模组的配置方法，其特征在于，其包括： 建立用于存储各种液晶面板规格的穿透频谱的数据库及背光源的发光光谱数据库，其 中，所述背光光源为LED单灯、LED灯条、CCFL单灯及CCFL灯条； 建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型； 当配置液晶光学模组时，获取所述液晶光学模组的液晶面板规格及背光光源； 根据液晶模组的亮度和色坐标光学要求，通过配置模型确定液晶面板与之配对的背光 光源的配置。2. 根据权利要求1所述液晶光学模组的配置方法，其特征在于，所述建立用于存储各种 液晶面板规格的穿透频谱的数据库具体包括： 制作可见光范围为连续光谱标准光源的光源灯箱； 采用光学测试仪测试380nm-780nm均匀光强的连续光谱数据； 将不同规格的液晶面板放置于光源灯箱上，通过光学测试液晶面板的穿透频谱，并所 述穿透频谱及与其对应的液晶面板规格存储于数据库内。3. 根据权利要求1所述液晶光学模组的配置方法，其特征在于，所述建立背光源的发光 光谱数据库，其中，所述背光光源为LED单灯、LED灯条、CCFL单灯及CCFL灯条具体为： 通过积分球检测仪检测背光光源的发光光谱，并将所述发光光谱与背光光源的对应关 系存储于数据库内，其中，所述背光光源为LED单灯、LED灯条、CCFL单灯及CCFL灯条。4. 根据权利要求1所述液晶光学模组的配置方法，其特征在于，所述建立液晶面板规格 及背光源的发光光谱的配置模型具体为： 根据液晶模组的光损经验值建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型。5. 根据权利要求1所述液晶光学模组的配置方法，其特征在于，所述建立液晶面板规格 及背光源的发光光谱的配置模型具体为： 兵屮，％ .73凭反，X，称数俚，糊数，&73亢烦乐数，为最大光谱光视 效能；为人眼的光谱光视效率；为光源单位波长的辐射能，可测;:为CELL 单位波长相对穿透系数，可测；/μ)为背光修正光谱，为测试经验值；为 标准三色光谱彩色刺激数值。6. 根据权利要求4所述液晶光学模组的配置方法，其特征在于，其所述根据液晶模组的 光损经验值建立液晶面板规格及背光源的发光光谱的配置模型之前包括： 测试液晶模组的膜片、扩散板、导光板的穿透频率以及反射片的反射频谱，组合得出背 光修正光谱#_，其中，所述液晶模组包括侧入式背光液晶模组及直下式背光液晶模组。7. 根据权利要求1所述液晶光学模组的配置方法，其特征在于，所述穿透频谱包括液晶 面板的WRGB四场画面穿透频谱。8. -种用于测试液晶面板穿透频谱的装置，其特征在于，其包括:光源灯箱、光学测试 仪以及光谱收集处理系统，所说光学测试仪与所说光谱收集处理系统相连接； 所述光源灯箱用于放置待测液晶面板并为待测液晶面板提供连续光谱； 所述光学测试仪用于检测待测液晶面板的穿透频谱，并将所述穿透频率传输这光谱收 集处理系统； 所述光谱收集处理系统用于接受所述穿透频谱，并将所说穿透频谱与液晶面板对应存 储。9. 根据权利要求8所述用于测试液晶面板穿透频谱的装置，其特征在于，所述光源灯箱 用于提供380nm-780nm的均匀光强的连续光源。10. 根据权利要求8所述用于测试液晶面板穿透频谱的装置，其特征在于，所述光学测 试仪为CS2000光学测试仪。
【文档编号】G02F1/13GK105954893SQ201610377145
【公开日】2016年9月21日
【申请日】2016年5月30日
【发明人】杨梅慧
【申请人】康佳集团股份有限公司