液晶屏幕缺陷的检测方法及系统的制作方法
【专利摘要】本发明实施例提供一种液晶屏幕缺陷的检测方法和系统，其中，所述方法包括：测试板的主芯片接收来自图像采集设备的待测的液晶屏幕显示的画面；所述显示的画面为向所述待测的液晶屏幕输入预设画面后，所述待测的液晶屏幕显示的实际画面；所述测试板的主芯片判断所述显示的画面中是否存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，或，所述显示的画面中是否存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，所述第一阶亮度大于所述第二阶亮度；若存在，则所述测试板的主芯片通过指示灯指示所述待测的液晶屏幕存在缺陷。整个检测过程不需要人工参与，提高了检测的效率和可靠性，避免了出现漏检的问题。
【专利说明】
液晶屏幕缺陷的检测方法及系统
技术领域
[0001]本发明实施例涉及液晶屏幕技术领域，尤其涉及一种液晶屏幕缺陷的检测方法及系统。
【背景技术】
[0002]现如今多数显示设备采用液晶屏幕，但受制作工艺的限制，液晶屏幕往往存在缺陷，因此在液晶屏幕的生产过程中要对液晶屏幕进行检测，把存在缺陷的液晶屏幕检测出来以保证广品品质。
[0003]液晶屏幕的缺陷通常指液晶屏幕存在坏点、坏线及坏斑。具体分为存在常亮的坏点、坏线和坏斑，以及存在常暗的坏点、坏线和坏斑。
[0004]常亮缺陷的检测方法是给液晶屏幕输入一个黑画面，通过人工目检的方式检测液晶屏幕有没有亮点、亮线或者亮斑。如果有，则表示液晶屏幕存在缺陷。
[0005]常暗缺陷的检查方法与常亮缺陷的检测方法类似，给液晶屏幕输入一个白画面，通过人工目检的方式检测液晶屏幕有没有暗点、暗线或者暗斑。如果有，则表示液晶屏幕存在缺陷。
[0006]通过人工目检的方式检测液晶屏幕是否存在缺陷，效率低，且容易出现漏检的问题。
【发明内容】
[0007]本发明实施例提供一种液晶屏幕缺陷的检测方法及系统，用以解决现有的人工目检的方式效率低，且容易出现漏检的问题。
[0008]本发明实施例提供了一种液晶屏幕缺陷的检测方法，包括:
[0009]测试板的主芯片接收来自图像采集设备的待测的液晶屏幕显示的画面；所述显示的画面为向所述待测的液晶屏幕输入预设画面后，所述待测的液晶屏幕显示的实际画面；
[0010]所述测试板的主芯片判断所述显示的画面中是否存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，或，所述显示的画面中是否存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，所述第一阶亮度大于所述第二阶亮度；
[0011]若存在，则所述测试板的主芯片通过指示灯指示所述待测的液晶屏幕存在缺陷。
[0012]相应地，本发明实施例还提供了一种液晶屏幕缺陷的检测系统，包括:
[0013]图像采集设备，用于在向待测的液晶屏幕输入预设画面后，采集所述待测的液晶屏幕显示的实际画面；
[0014]测试板，包括主芯片，所述主芯片，包括:
[0015]画面接收模块，用于接收来自所述图像采集设备的待测的液晶屏幕显示的实际画面；
[0016]像素点判断模块，用于判断所述显示的实际画面中是否存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，或，所述显示的实际画面中是否存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，所述第一阶亮度大于所述第二阶亮度；
[0017]缺陷指示模块，用于若所述显示的实际画面中存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，或，所述显示的实际画面中存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则通过指示灯指示所述待测的液晶屏幕存在缺陷。本发明实施例提供的液晶屏幕缺陷的检测方法及系统，向待测的液晶屏幕输入预设画面，利用图像采集设备采集待测的液晶屏幕显示的实际画面，并将采集得到的实际画面传输至测试板，测试板的主芯片具有自动获取实际画面中各个像素点的像素亮度的功能，测试板的主芯片将实际画面中各个像素点的像素亮度与预设的第一阶亮度进行比较，或者将实际画面中各个像素点的像素亮度与预设的第二阶亮度进行比较，若实际画面中存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，或存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则测试板的主芯片确定待测的液晶屏幕存在缺陷，并通过指示灯指示。整个检测过程不需要人工参与，提高了检测的效率和可靠性，避免了出现漏检的问题。
【附图说明】
[0018]为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1为本发明实施例一中的一种液晶屏幕缺陷的检测方法的步骤流程图；
[0020]图2为本发明实施例二中的一种液晶屏幕缺陷的检测方法的步骤流程图；
[0021]图3为本发明实施例二中的一种液晶屏幕缺陷的检测方法的设计框架示意图；
[0022]图4为本发明实施例三中的一种液晶屏幕缺陷的检测系统的结构示意图；
[0023]图5为本发明实施例四中的一种液晶屏幕缺陷的检测系统的结构示意图。
【具体实施方式】
[0024]为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0025]实施例一
[0026]详细介绍本发明实施例一提出的一种液晶屏幕缺陷的检测方法。
[0027]本发明实施例中的液晶屏幕可以为电视或者显示器中的液晶屏幕，电视或者显示器的主芯片具有自动获取输入信号强度的功能，主芯片可以获取液晶屏幕指定区域内的信号的强度范围，包括最大亮度和最小亮度。例如，针对物理分辨率为1920X1080的液晶屏幕，可以针对整个液晶屏幕区域(1920X1080这个显示区域)输入特定的画面，通过读取此区域的最大亮度和最小亮度来判断液晶屏幕是否存在缺陷。而且，最大亮度和最小亮度的数据可以存储在主芯片的寄存器中。
[0028]参照图1，示出了本发明实施例一中的一种液晶屏幕缺陷的检测方法的步骤流程图。
[0029]步骤100，向待测的液晶屏幕输入预设画面。
[0030]由于检测液晶屏幕是否存在常亮缺陷或者常暗缺陷，所以预设画面可以为纯黑画面或者纯白画面。
[0031]步骤102，图像采集设备采集待测的液晶屏幕显示的实际画面。
[0032]图像采集设备可以为摄像机或者照相机等，本发明实施例对图像采集设备不做具体限制。
[0033]可以通过图像采集设备拍摄待测的液晶屏幕，采集得到待测的液晶屏幕显示的实际画面。其中，图像采集设备可以实时拍摄实际画面，也可以将实际画面拍摄成一张张照片。
[0034]步骤104，测试板的主芯片接收来自图像采集设备的待测的液晶屏幕显示的实际画面。
[0035]图像采集设备可以与测试板的主芯片相连接，图像采集设备将采集得到的待测的液晶屏幕显示的实际画面输出至测试板的主芯片。
[0036]测试板可以为用于检测待测的液晶屏幕而制作的电路板，其中，主芯片可以为电视或者显示器的主芯片。测试板的全部工作由主芯片控制程序控制。
[0037]步骤106，测试板的主芯片判断显示的实际画面中是否存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，或，显示的实际画面中是否存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，若存在，则执行步骤108 ;若不存在，则流程结束。
[0038]其中，第一阶亮度大于第二阶亮度。
[0039]目前的液晶屏幕通常是Sbit屏，像素点的亮度区间为O?255阶。O阶表示黑画面，255阶表示白画面，其它阶为灰画面。对于存在常亮缺陷的像素点，其亮度通常在150阶以上；对于存在常暗缺陷的像素点，其亮度通常在50阶以下。
[0040]本发明实施例中的第一阶亮度和第二阶亮度可以根据实际情况进行设定。
[0041]若存在，则执行步骤108，可以为:若显示的实际画面中存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，则执行步骤108 ;或者，若显示的实际画面中存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则执行步骤108。
[0042]步骤108，测试板的主芯片通过指示灯指示待测的液晶屏幕存在缺陷。
[0043]若显示的实际画面中存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，则测试板的主芯片可以通过一个指示灯指示待测的液晶屏幕存在某种缺陷；若显示的实际画面中存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则测试板的主芯片可以通过另一个指示灯指示待测的液晶屏幕存在另一种缺陷。
[0044]指示灯可以通过主芯片的通用输入输出(General Purpose Input Output,GP1)控制。
[0045]综上所述，本发明实施例提供的液晶屏幕缺陷的检测方法，向待测的液晶屏幕输入预设画面，利用图像采集设备采集待测的液晶屏幕显示的实际画面，并将采集得到的实际画面传输至测试板，测试板的主芯片具有自动获取实际画面中各个像素点的像素亮度的功能，测试板的主芯片将实际画面中各个像素点的像素亮度与预设的第一阶亮度进行比较，或者将实际画面中各个像素点的像素亮度与预设的第二阶亮度进行比较，若实际画面中存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，或存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则测试板的主芯片确定待测的液晶屏幕存在缺陷，并通过指示灯指示。整个检测过程不需要人工参与，提高了检测的效率和可靠性，避免了出现漏检的问题。
[0046]实施例二
[0047]详细介绍本发明实施例二提出的一种液晶屏幕缺陷的检测方法。
[0048]本发明实施例中的液晶屏幕可以为电视或者显示器中的液晶屏幕，电视或者显示器的主芯片具有自动获取输入信号强度的功能，主芯片可以获取液晶屏幕指定区域内的信号的强度范围，包括最大亮度和最小亮度。例如，针对物理分辨率为1920X1080的液晶屏幕，可以针对整个液晶屏幕区域(1920X1080这个显示区域)输入特定的画面，通过读取此区域的最大亮度和最小亮度来判断液晶屏幕是否存在缺陷。而且，最大亮度和最小亮度的数据可以存储在主芯片的寄存器中。
[0049]参照图2，示出了本发明实施例二中的一种液晶屏幕缺陷的检测方法的步骤流程图。
[0050]步骤200，向待测的液晶屏幕输入预设画面。
[0051]由于检测液晶屏幕是否存在常亮缺陷或者常暗缺陷，所以预设画面可以为纯黑画面或者纯白画面。
[0052]若检测液晶屏幕是否存在常亮缺陷，则向待测的液晶屏幕输入纯黑画面；若检测液晶屏幕是否存在常暗缺陷，则向待测的液晶屏幕输入纯白画面。
[0053]步骤202，图像采集设备采集待测的液晶屏幕显示的实际画面。
[0054]图像采集设备可以为摄像机或者照相机等，本发明实施例对图像采集设备不做具体限制。
[0055]可以通过图像采集设备拍摄待测的液晶屏幕，采集得到待测的液晶屏幕显示的实际画面。其中，图像采集设备可以实时拍摄实际画面，也可以将实际画面拍摄成一张张照片。
[0056]步骤204，测试板的主芯片接收来自图像采集设备的待测的液晶屏幕显示的实际画面。
[0057]图像采集设备可以与测试板的主芯片相连接，图像采集设备将采集得到的待测的液晶屏幕显示的实际画面输出至测试板的主芯片。
[0058]测试板可以为用于检测待测的液晶屏幕而制作的电路板，其中，主芯片可以为电视或者显示器的主芯片。测试板的全部工作由主芯片控制程序控制。
[0059]步骤206，测试板的主芯片判断显示的实际画面中是否存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，或，显示的实际画面中是否存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，若存在，则执行步骤208 ;若不存在，则执行步骤210。
[0060]其中，第一阶亮度大于第二阶亮度，第一阶亮度可以设置为200阶，第二阶亮度可以设置为50阶。本发明实施例中的第一阶亮度和第二阶亮度可以根据实际情况进行设定。
[0061]目前的液晶屏幕通常是Sbit屏，像素点的亮度区间为O?255阶。O阶表示黑画面，255阶表示白画面，其它阶为灰画面。对于存在常亮缺陷的像素点，其亮度通常在150阶以上；对于存在常暗缺陷的像素点，其亮度通常在50阶以下。
[0062]优选地，当预设画面为纯黑画面时，测试板的主芯片判断显示的实际画面中是否存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点；当预设画面为纯白画面时，测试板的主芯片判断显示的实际画面中是否存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点。
[0063]若存在，则执行步骤208，可以为:若显示的实际画面中存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，则执行步骤208 ;或者，若显示的实际画面中存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则执行步骤208。
[0064]若不存在，则执行步骤210，可以为:若显示的实际画面中不存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，且，显示的实际画面中不存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则执行步骤210。
[0065]步骤208，测试板的主芯片通过指示灯指示待测的液晶屏幕存在缺陷。
[0066]若显示的实际画面中存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，则测试板的主芯片可以通过第一指示灯指示待测的液晶屏幕存在常亮缺陷；若显示的实际画面中存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则测试板的主芯片可以通过第二指示灯指示待测的液晶屏幕存在常暗缺陷。
[0067]指示灯可以通过主芯片的通用输入输出(General Purpose Input Output,GP1)控制。
[0068]步骤210，测试板的主芯片通过第三指示灯指示待测的液晶屏幕不存在缺陷。
[0069]上述第一指示灯、第二指示灯和第三指示灯可以为三个发光二极管(LightEmitting D1de，LED)，分别为LEDU LED2和LED3。当LEDl亮时，表示待测的液晶屏幕存在常亮缺陷；当LED2亮时，表示待测的液晶屏幕存在常暗缺陷；当LED3亮时，表示待测的液晶屏幕不存在缺陷。
[0070]通过指示灯是否点亮可以直观地确定待测的液晶屏幕是否存在缺陷，以及存在的缺陷为常亮缺陷还是常暗缺陷。
[0071]优选地，可以在测试板上增加一个串口，通过增加的串口将测试数据上传到液晶屏幕生产系统的服务器，用于产品追踪及管理。
[0072]其中，测试数据包括待测的液晶屏幕是否存在缺陷的测试结果；当待测的液晶屏幕存在缺陷时，测试数据包括待测的液晶屏幕存在常亮缺陷或者常暗缺陷。
[0073]综上所述，本发明实施例提供的液晶屏幕缺陷的检测方法，其设计框架图如图3所示。向待测的液晶屏幕输入预设画面，利用图像采集设备采集待测的液晶屏幕显示的实际画面，并将采集得到的实际画面传输至测试板，测试板的主芯片具有自动获取实际画面中各个像素点的像素亮度的功能，测试板的主芯片将实际画面中各个像素点的像素亮度与预设的第一阶亮度进行比较，或者将实际画面中各个像素点的像素亮度与预设的第二阶亮度进行比较，若实际画面中存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，或存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则测试板的主芯片确定待测的液晶屏幕存在缺陷，并通过指示灯指示。当实际画面中存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点时，主芯片的GP1l控制LEDl点亮，表示待测的液晶屏幕存在常亮缺陷；当实际画面中存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点时，主芯片的GP102控制LED2点亮，表示待测的液晶屏幕存在常暗缺陷；当实际画面中既不存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，又不存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点时，主芯片的GP103控制LED3点亮，表示待测的液晶屏幕不存在常亮缺陷和常亮缺陷。并且可以通过测试板上的串口将待测的液晶屏幕的测试数据上传到生产系统的服务器，用于产品跟踪和管理。其中，主芯片的全部工作可以由主芯片控制程序进行控制。串口与主芯片之间，串口与服务器之间可以通过通用异步收发传输器(Universal AsynchronousReceiver/Transmitter,UART)连接。整个检测过程不需要人工参与，提高了检测的效率和可靠性，避免了出现漏检的问题。
[0074]实施例三
[0075]详细介绍本发明实施例三提出的一种液晶屏幕缺陷的检测系统。
[0076]参照图4，示出了本发明实施例三中的一种液晶屏幕缺陷的检测系统的结构示意图。
[0077]所述系统可以包括:图像采集设备30和测试板32。
[0078]其中，测试板32可以包括:主芯片321。主芯片321可以包括:画面接收模块3211，像素点判断模块3212，缺陷指示模块3213。
[0079]图像采集设备30，用于在向待测的液晶屏幕输入预设画面后，采集所述待测的液晶屏幕显示的实际画面。
[0080]画面接收模块3211，用于接收来自所述图像采集设备30的待测的液晶屏幕显示的实际画面。
[0081]像素点判断模块3212，用于判断所述显示的实际画面中是否存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，或，所述显示的实际画面中是否存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，所述第一阶亮度大于所述第二阶亮度。
[0082]缺陷指示模块3213，用于若所述显示的实际画面中存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，或，所述显示的实际画面中存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则通过指示灯指示所述待测的液晶屏幕存在缺陷。
[0083]综上所述，本发明实施例提供的液晶屏幕缺陷的检测系统，向待测的液晶屏幕输入预设画面，利用图像采集设备采集待测的液晶屏幕显示的实际画面，并将采集得到的实际画面传输至测试板，测试板的主芯片具有自动获取实际画面中各个像素点的像素亮度的功能，测试板的主芯片将实际画面中各个像素点的像素亮度与预设的第一阶亮度进行比较，或者将实际画面中各个像素点的像素亮度与预设的第二阶亮度进行比较，若实际画面中存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，或存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则测试板的主芯片确定待测的液晶屏幕存在缺陷，并通过指示灯指示。整个检测过程不需要人工参与，提高了检测的效率和可靠性，避免了出现漏检的问题。
[0084]实施例四
[0085]详细介绍本发明实施例四提出的一种液晶屏幕缺陷的检测系统。
[0086]参照图5，示出了本发明实施例四中的一种液晶屏幕缺陷的检测系统的结构示意图。
[0087]所述系统可以包括:图像采集设备40和测试板42。
[0088]其中，测试板42可以包括:主芯片421，主芯片控制模块422，串口 423。主芯片421可以包括:画面接收模块4211，像素点判断模块4212，缺陷指示模块4213，正常指示模块4214，测试数据传输模块4215。
[0089]图像采集设备40，用于在向待测的液晶屏幕输入预设画面后，采集所述待测的液晶屏幕显示的实际画面。
[0090]优选地，所述预设画面为纯黑画面或纯白画面。
[0091]画面接收模块4211，用于接收来自所述图像采集设备40的待测的液晶屏幕显示的实际画面。
[0092]像素点判断模块4212，用于判断所述显示的实际画面中是否存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，或，所述显示的实际画面中是否存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，所述第一阶亮度大于所述第二阶亮度。
[0093]优选地，当所述预设画面为纯黑画面时，所述像素点判断模块4212用于判断所述显示的画面中是否存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点；当所述预设画面为纯白画面时，所述像素点判断模块4212用于判断所述显示的画面中是否存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点。
[0094]缺陷指示模块4213，用于若所述显示的实际画面中存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，或，所述显示的实际画面中存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则通过指示灯指示所述待测的液晶屏幕存在缺陷。
[0095]优选地，所述缺陷指示模块4213若所述显示的画面中存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，则通过第一指示灯指示所述待测的液晶屏幕存在常亮缺陷；若所述显示的画面中存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则通过第二指示灯指示所述待测的液晶屏幕存在常暗缺陷。
[0096]正常指示模块4214，用于若所述显示的画面中不存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，且，所述显示的画面中不存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则通过第三指示灯指示所述待测的液晶屏幕不存在缺陷。
[0097]测试数据传输模块4215，用于通过所述串口 423将测试数据传输至液晶屏幕生产系统的服务器。
[0098]其中，所述测试数据包括所述待测的液晶屏幕是否存在缺陷的测试结果；当所述待测的液晶屏幕存在缺陷时，所述测试数据包括所述待测的液晶屏幕存在常亮缺陷或者常暗缺陷。
[0099]主芯片421的全部工作由主芯片控制模块422控制。
[0100]综上所述，本发明实施例提供的液晶屏幕缺陷的检测系统，向待测的液晶屏幕输入预设画面，利用图像采集设备采集待测的液晶屏幕显示的实际画面，并将采集得到的实际画面传输至测试板，测试板的主芯片具有自动获取实际画面中各个像素点的像素亮度的功能，测试板的主芯片将实际画面中各个像素点的像素亮度与预设的第一阶亮度进行比较，或者将实际画面中各个像素点的像素亮度与预设的第二阶亮度进行比较，若实际画面中存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，或存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则测试板的主芯片确定待测的液晶屏幕存在缺陷，并通过指示灯指示。整个检测过程不需要人工参与，提高了检测的效率和可靠性，避免了出现漏检的问题。
[0101]以上所描述的系统实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性的劳动的情况下，即可以理解并实施。
[0102]通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
[0103]最后应说明的是:以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
【主权项】
1.一种液晶屏幕缺陷的检测方法，其特征在于，包括: 测试板的主芯片接收来自图像采集设备的待测的液晶屏幕显示的画面；所述显示的画面为向所述待测的液晶屏幕输入预设画面后，所述待测的液晶屏幕显示的实际画面； 所述测试板的主芯片判断所述显示的画面中是否存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，或，所述显示的画面中是否存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，所述第一阶亮度大于所述第二阶亮度； 若存在，则所述测试板的主芯片通过指示灯指示所述待测的液晶屏幕存在缺陷。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设画面为纯黑画面或纯白画面； 当所述预设画面为纯黑画面时，所述测试板的主芯片判断所述显示的画面中是否存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点； 当所述预设画面为纯白画面时，所述测试板的主芯片判断所述显示的画面中是否存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若存在，则所述测试板的主芯片通过指示灯指示所述待测的液晶屏幕存在缺陷，包括: 若所述显示的画面中存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，则所述测试板的主芯片通过第一指示灯指示所述待测的液晶屏幕存在常亮缺陷； 若所述显示的画面中存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则所述测试板的主芯片通过第二指示灯指示所述待测的液晶屏幕存在常暗缺陷。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括: 若所述显示的画面中不存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，且，所述显示的画面中不存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则所述测试板的主芯片通过第三指示灯指示所述待测的液晶屏幕不存在缺陷。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述测试板的主芯片通过在所述测试板上设置的串口将测试数据传输至液晶屏幕生产系统的服务器； 其中，所述测试数据包括所述待测的液晶屏幕是否存在缺陷的测试结果；当所述待测的液晶屏幕存在缺陷时，所述测试数据包括所述待测的液晶屏幕存在常亮缺陷或者常暗缺陷。6.一种液晶屏幕缺陷的检测系统，其特征在于，包括: 图像采集设备，用于在向待测的液晶屏幕输入预设画面后，采集所述待测的液晶屏幕显不的实际画面； 测试板，包括主芯片，所述主芯片，包括: 画面接收模块，用于接收来自所述图像采集设备的待测的液晶屏幕显示的实际画面；像素点判断模块，用于判断所述显示的实际画面中是否存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，或，所述显示的实际画面中是否存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，所述第一阶亮度大于所述第二阶亮度； 缺陷指示模块，用于若所述显示的实际画面中存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，或，所述显示的实际画面中存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则通过指示灯指示所述待测的液晶屏幕存在缺陷。7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述预设画面为纯黑画面或纯白画面； 当所述预设画面为纯黑画面时，所述像素点判断模块用于判断所述显示的画面中是否存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点； 当所述预设画面为纯白画面时，所述像素点判断模块用于判断所述显示的画面中是否存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点。8.根据权利要求6所述的系统，其特征在于， 所述缺陷指示模块若所述显示的画面中存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，则通过第一指示灯指示所述待测的液晶屏幕存在常亮缺陷；若所述显示的画面中存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则通过第二指示灯指示所述待测的液晶屏幕存在常暗缺陷。9.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述主芯片，还包括: 正常指示模块，用于若所述显示的画面中不存在像素亮度大于第一阶亮度的像素点，且，所述显示的画面中不存在像素亮度小于第二阶亮度的像素点，则通过第三指示灯指示所述待测的液晶屏幕不存在缺陷。10.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述测试板上设置有串口，所述主芯片，还包括: 测试数据传输模块，用于通过所述串口将测试数据传输至液晶屏幕生产系统的服务器; 其中，所述测试数据包括所述待测的液晶屏幕是否存在缺陷的测试结果；当所述待测的液晶屏幕存在缺陷时，所述测试数据包括所述待测的液晶屏幕存在常亮缺陷或者常暗缺陷。
【文档编号】G02F1/13GK105974616SQ201510799472
【公开日】2016年9月28日
【申请日】2015年11月18日
【发明人】梁永飞
【申请人】乐视致新电子科技（天津）有限公司