本实用新型涉及电子产品领域，尤其是一种增加MARK定位线的遮光膜。
背景技术：
自动图像对位（CCD）背光（BLU）叠片机是背光源生产线上的自动化设备，用于背光源生产过程中前工序半成品和扩散膜、下BEF膜、上BEF膜、遮光膜的贴附，半成品通过送料机构自动撕膜上料，移载部件通过X、Y、Z和θ轴的调节将膜片吸附后移动到CCD上，分别对胶框和膜片进行精确定位后进行叠合，最后经过压合/下料工序将产品下料完成全部装配。
遮光膜贴附工序是最后一张膜片的贴附，位于压合/下料工序前一个工序，对整个BLU完成装配起着重要作用，遮光膜贴附精度直接影响BLU的成品良率，
目前，BLU成品图纸要求的遮光膜定位尺寸公差为±0.15mm，现有CCD机台可以满足此公差范围，但客户提出要求定位尺寸公差做到±0.10mm满足不了，存在不足。
技术实现要素：
本实用新型的目的是提供一种增加MARK定位线的遮光膜，为克服上述的不足，在遮光膜V.A区四个角上增加直角型定位MARK线，由原来的遮光膜边缘与胶框边缘定位改成遮光膜直角型MARK线与胶框边缘定位，提高遮光膜与胶框定位尺寸组装精度，减少背光边缘亮边、漏光。
本实用新型的技术方案：
一种增加MARK定位线的遮光膜，包括遮光膜、遮光膜V.A区、直角型定位MARK线；其中：遮光膜内含有遮光膜V.A区，遮光膜V.A区四个角上设有直角型定位MARK线。
一种增加MARK定位线的遮光膜，其中：直角型定位MARK线与遮光膜V.A区边的距离为3.25mm。
一种增加MARK定位线的遮光膜，其中：直角型定位MARK线的长度各为6mm。
本实用新型的优点在于：在遮光膜V.A区四个角上增加直角型定位MARK线，由原来的遮光膜边缘与胶框边缘定位改成遮光膜直角型MARK线与胶框边缘定位，提高遮光膜与胶框定位尺寸组装精度，减少背光边缘亮边、漏光。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意简图。
附图标记：遮光膜1、遮光膜V.A区2、直角型定位MARK线3。
具体实施方式
实施例1、一种增加MARK定位线的遮光膜，包括遮光膜1、遮光膜V.A区2、直角型定位MARK线3；其中：遮光膜1内含有遮光膜V.A区2，遮光膜V.A区2四个角上设有直角型定位MARK线3。
实施例2、一种增加MARK定位线的遮光膜，其中：直角型定位MARK线3与遮光膜V.A区2边的距离为3.25mm。其余同实施例1。
实施例3、一种增加MARK定位线的遮光膜，其中：直角型定位MARK线3的长度各为6mm。其余同实施例1。
工作原理：
遮光膜在模切生产中在遮光膜V.A区2四个角上增加直角型定位MARK线3， 由原来的遮光膜1边缘与胶框边缘定位改成遮光膜1上的直角型MARK线3与胶框边缘定位，提高遮光膜1与胶框定位尺寸组装精度，实现BLU的窄边框要求及改善背光四周漏光的现象，减少背光边缘亮边。