厚度可控的金属表层螺旋剥离仪的制作方法

专利名称:厚度可控的金属表层螺旋剥离仪的制作方法
【专利摘要】本实用新型提供了一种厚度可控的金属表层螺旋剥离仪，包括可控厚度的螺旋测微器和水平套；其中，所述可控厚度的螺旋测微器包括螺旋台、螺旋杆和测杆；所述螺旋杆螺纹连接所述螺旋台的一端；所述螺旋台的另一端连接所述水平套的一端；通过旋转所述螺旋杆驱动所述测杆的一端伸出或缩入所述水平套；所述测杆的一端为样品台。本实用新型通过可控厚度的螺旋测微器和水平套厚度的配合，实现精度可控，对微米级表面改性均适用。
【专利说明】
厚度可控的金属表层螺旋剥离仪
技术领域
[0001]本实用新型涉及金属表层剥离仪，具体地，涉及一种厚度可控的金属表层螺旋剥离仪。
【背景技术】
[0002]目前，梯度涂层在结构和功能上的渐变性使得梯度涂层内应力小，在高温或温差较大的环境下能有效防止涂层剥落，在航空航天、原子能及军工领域有着广泛的应用。为研究不同表层的结构对梯度涂层功能的影响，常用的方法是通过截面表征或表层打磨一定厚度后逐层表征。
[0003]截面表征方法通常用于获得微观形貌特征，难以获得各层的物理化学特性。表层打磨的方法具有盲目性，打磨厚度无法精确控制，对于表征特定厚度的表层则不能满足要求。随着梯度涂层的进一步应用，通过控制打磨厚度从而确定不同表层的结构和性能，对于指导梯度涂层的设计，优化改性层的性能显得尤为重要。因此，本发明的目的在于开发设计一种简单易操作、打磨厚度精确可控的金属表层剥离螺旋仪，从而有效地剥离至特定表面。
【实用新型内容】
[0004]针对现有技术中的缺陷，本实用新型的目的是提供一种厚度可控的金属表层螺旋剥离仪，能有效地剥离到特定表面，确定不同表面的结构和性能从而对表层改性进行改进，简单且实用方便。
[0005]根据本实用新型提供的厚度可控的金属表层螺旋剥离仪，包括可控厚度的螺旋测微器和水平套；
[0006]其中，所述可控厚度的螺旋测微器包括螺旋台、螺旋杆和测杆;所述螺旋杆螺纹连接所述螺旋台的一端;所述螺旋台的另一端连接所述水平套的一端；
[0007]通过旋转所述螺旋杆驱动所述测杆的一端伸出或缩入所述水平套;所述测杆的一端为样品台。
[0008]优选地，还包括止动旋钮；
[0009]所述止动旋钮设置在所述螺旋台的另一端部；当顺时针旋转所述止动旋钮，锁死所述测杆，当逆时针旋转所述止动旋钮，所述测杆能够运动。
[0010]优选地，所述水平套的内壁面外壁面光滑平整，内径略大于测杆直径；
[0011 ]所述水平套套在所述测杆上。
[0012]优选地，所述水平套的另一端面与样品台平行，一端与螺旋台螺纹连接。
[0013]优选地，螺旋杆的螺距为0.5mm，螺旋精度为lum。
[0014]与现有技术相比，本实用新型具有如下的有益效果:
[0015]1、本实用新型结构简单，实用方便；
[0016]2、本实用新型通过可控厚度的螺旋测微器和水平套厚度的配合，实现精度可控，对微米级表面改性均适用。
【附图说明】

[0017]通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本实用新型的其它特征、目的和优点将会变得更明显:
[0018]图1为本实用新型的结构示意图。
[0019]图2为本实用新型的使用状态示意图。
[0020]图中:
[0021]I为螺旋杆；
[0022]2为测杆；
[0023]3为水平套；
[0024]4为螺旋台；
[0025]5为样品台；
[0026]6为止动旋钮；
[0027]7为金相抛磨砂盘；
[0028]8为可升降式固定支架；
[0029]81为活动支架；
[0030]82为支架固定重块。
【具体实施方式】
[0031 ]下面结合具体实施例对本实用新型进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本实用新型，但不以任何形式限制本实用新型。应当指出的是，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进。这些都属于本实用新型的保护范围。
[0032]在本实施例中，本实用新型提供的厚度可控的金属表层螺旋剥离仪，包括可控厚度的螺旋测微器和水平套；
[0033]其中，所述可控厚度的螺旋测微器包括螺旋台、螺旋杆和测杆;所述螺旋杆螺纹连接所述螺旋台的一端;所述螺旋台的另一端连接所述水平套的一端；
[0034]通过旋转所述螺旋杆驱动所述测杆的一端伸出或缩入所述水平套;所述测杆的一端为样品台。
[0035]本实用新型提供的厚度可控的金属表层螺旋剥离仪，还包括止动旋钮；
[0036]所述止动旋钮设置在所述螺旋台的另一端部；当顺时针旋转所述止动旋钮，锁死所述测杆，当逆时针旋转所述止动旋钮，所述测杆能够运动。
[0037]所述水平套的内壁面外壁面光滑平整，内径略大于测杆直径;所述水平套套在所述测杆上。
[0038]所述水平套的另一端面与样品台平行，一端与螺旋台螺纹连接。螺旋杆的螺距为
0.5mm，螺旋精度为lum。
[0039]当使用本实用新型提供的厚度可控的金属表层螺旋剥离仪时，将小于样品台直径的样品粘在样品台5上，调节螺旋杆I，使样品表面与水平套3表面在同一平面上。根据表层剥离的厚度调节螺旋杆I，旋转停止旋钮6，再将样品和水平套3—起打磨，直至样品与水平套3在同一水平面。
[0040]以上对本实用新型的具体实施例进行了描述。需要理解的是，本实用新型并不局限于上述特定实施方式，本领域技术人员可以在权利要求的范围内做出各种变形或修改，这并不影响本实用新型的实质内容。
【主权项】
1.一种厚度可控的金属表层螺旋剥离仪，其特征在于，包括可控厚度的螺旋测微器和水平套； 其中，所述可控厚度的螺旋测微器包括螺旋台、螺旋杆和测杆;所述螺旋杆螺纹连接所述螺旋台的一端;所述螺旋台的另一端连接所述水平套的一端； 通过旋转所述螺旋杆驱动所述测杆的一端伸出或缩入所述水平套;所述测杆的一端为样品台。2.根据权利要求1所述的厚度可控的金属表层螺旋剥离仪，其特征在于，还包括止动旋钮； 所述止动旋钮设置在所述螺旋台的另一端部；当顺时针旋转所述止动旋钮，锁死所述测杆，当逆时针旋转所述止动旋钮，所述测杆能够运动。3.根据权利要求1所述的厚度可控的金属表层螺旋剥离仪，其特征在于，所述水平套的内壁面外壁面光滑平整，内径略大于测杆直径； 所述水平套套在所述测杆上。4.根据权利要求1所述的厚度可控的金属表层螺旋剥离仪，其特征在于，所述水平套的另一端面与样品台平行，一端与螺旋台螺纹连接。5.根据权利要求1所述的厚度可控的金属表层螺旋剥离仪，其特征在于，螺旋杆的螺距为0.5mm，螺旋精度为lum。
【文档编号】B24B49/00GK205703550SQ201620168946
【公开日】2016年11月23日
【申请日】2016年3月4日
【发明人】吴忠, 刘磊, 罗芹, 秦真波, 沈彬, 张琪, 刘德荣, 胡文彬
【申请人】上海交通大学