一种非晶钴基磁性薄膜的间歇式直流磁控溅射制备方法与流程

文档序号:11540497阅读:来源:国知局

技术特征:

技术总结
本发明涉及一种非晶钴基磁性薄膜的间歇式直流磁控溅射制备方法,包括以下步骤:1)采用铸造Co67FexMo5.5‑xSiyB27‑y(2<x<5;10<y<17)晶态合金作为靶材,石英为基片,先在石英基片上溅射一层纯金属缓冲层,采用间歇式直流磁控溅射的方法,控制基片温度50~70℃。磁控溅射工艺为:溅射功率为120~180W,氩气流量为40~200ml/min,氩气分压为0.4~1.2Pa;2)溅射态薄膜的退火处理:将溅射态Co67FexMo5.5‑xSiyB27‑y薄膜置于真空退火炉中,采用梯度升温的方式,在300~430℃的温度下保温1h,随炉冷却,制备的薄膜非晶程度高,饱和磁化强度达到了0.27T。本发明适合不同种类磁性薄膜的制备方法,操作简便,生产周期短,对设备要求低,易于实现工业化。

技术研发人员:罗国强;鄢凤麟;林耀军;张建;张联盟;沈强
受保护的技术使用者:武汉理工大学
技术研发日:2017.04.21
技术公布日:2017.08.15
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