用于监测移动线性纺织材料特别是纱线的质量的装置制造方法
【专利摘要】用于监测移动线性纺织材料特别是纱线的质量的装置。本申请涉及一种用于监测移动的线性纺织材料特别是纱线(7)的质量的装置，包括盒子(8)，在所述盒子(8)中布置了至少一个图像传感器(1)，至少一个放射源(3)与所述至少一个图像传感器(1)可对准或已对准。至少一个温度传感器(4)和/或至少一个加热构件(6)位于盒子(8)的内部空间中。
【专利说明】用于监测移动线性纺织材料特别是纱线的质量的装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种用于监测移动线性纺织材料特别是纱线的质量的装置，该装置包括一个盒子，在盒子中布置至少一个图像传感器，至少一个放射源与该图像传感器可对准或已对准。
【背景技术】
[0002]已知用于监测移动线性纺织材料(特别是纺织机械中的纱线)的质量的装置，例如根据CZ299684，EP1319926A1，CZ PV2009-634的那些，包括多个若干电子组件，它们在操作期间生成废热。这些组件通常布置在一个密闭盒子内，该盒子使它们与周围环境至少部分绝缘。因此，在操作期间特别是在启动期间，盒子不同部分的温度不均匀地变化。另外，这些装置中单独组件的特性部分依赖于温度，当然，这会影响装置输出信号的值，并且由此也影响其功能的可靠性和可重复性。
[0003]用于监测移动线性纺织材料的质量的装置组件(其特性根据温度改变)，在装置的盒子中被布置在需要的构造布置的地上的互相不同并且相对遥远的地方上，并且因此在装置启动时它们不均匀地加热。从启动开始达一定的时间间隔，它们会引起灵敏度不稳定，并且因此引起了装置的输出信号的一定改变，所述装置的输出信号的一定改变不精确对应于为移动线性纺织材料图象的输入信号。那尤其在装置校准期间具有负面效果，所述装置的校准在它的生产期间和启动期间被实行。由于这个原因，为了得到最重要参数，通常需要调节装置达特定时间段，以便尽可能地实现与单独组件温度有关的稳定工作条件。
[0004]因此，已知的用于监测移动线性纺织材料的质量的装置存在一定缺点，这些缺点由监测结果的质量和损失时间(也就是为了将所有组件加热到操作温度所必需的时间间隔)之间的折衷引起。
[0005]本发明的目的是缩短装置或者至少装置组件中的一些达到操作温度所需的时间，能够实现移动线性纺织材料的操作监测，并在没有损失时间的情况下以及在没有是否已经达到操作温度的不确定性的情况下来实现可靠结果，所述损失时间源于达到装置的操作温度所需的长时间间隔。
【发明内容】
[0006]本发明的目的已经由一种用于监测移动的线性纺织材料特别是纱线的质量的装置实现，其原理在于至少一个温度传感器和/或至少一个加热构件位于盒子的内部空间中。
[0007]因此可以借助于监测关键组件的当前温度，或者视情况而定借助于主动生成热量用于加速加热这些组件以达到操作温度的过程，来主动控制用于监测纱线质量的传感器的单独的组件的加热过程。同样，实现对照射被扫描纱线的光输出的主动补偿，并实现对来自传感器的依赖于当前温度的测量元件的信号的主动补偿。
[0008]为了加速监测温度和/或加速加热，如果温度传感器和/或加热构件与图像传感器相接触，那么它是有利的。
[0009]通过将温度传感器和/或加热组件集成在图像传感器的半导体芯片上，来实现进一步的改进。
[0010]另外，如果加热构件由光学芯片的半导体结构组成，那么它是有利的，所述光学芯片视情况而定包括芯片的寄生结构。
【专利附图】
【附图说明】
[0011]附图中示意性地示出了根据本发明的用于监测移动的线性纺织材料的质量的装置的实施例的示例，其中图1图示了具有一个图像传感器的装置的单独组件的连接布置，图2表示了在垂直于移动的线性织物的路径的横截面中在盒子中具有一个图像传感器的装置的布置，而图3示出了在垂直于移动的线性纺织材料的路径的横截面中在盒子中具有一个线性图像传感器和两个感测光反射的光学传感器的装置的布置。
【具体实施方式】
[0012]在根据附图1的实施例的例子中，根据本发明的用于监测移动的线性纺织材料的质量的装置包括图像传感器I (在所图示的实施例中为线性图像传感器)，在其对面布置有放射源3，例如光源。透镜2或者另一个光学构件位于放射源3和图像传感器I之间，用来将来自放射源3的放射射线引导为平行波束。在透镜2和图像传感器I之间，空间被创建用于线性纺织结构7的通道，在所图示的实施例中，线性纺织结构7是纱线。图像传感器I通过双向传导杆51与微处理器5或已知电子电路互连，用于其控制并且处理和/或评估图像传感器I的信号。放射源3与微处理器5的出口 52互连用于放射的调节。
[0013]存在温度传感器4和一个加热构件6布置在图像传感器I附近或者直接布置在图像传感器I的主体上。温度传感器4的出口与微处理器5的入口 53互连用于监测温度，而加热构件6与微处理器5的出口 54互连用于温度的调节。
[0014]根据本发明，装置的实施例的所描述的示例的所有组件或至少它们中的一些可以被集成到一个半导体集成定制ASIC电路中。
[0015]在根据本发明的装置的启动阶段期间，微处理器5驱动加热构件6，所述加热构件6开始加热图像传感器I到操作温度。同时地或随后地，温度传感器4开始监测图像传感器I的温度，并经由入口 53将关于图像传感器I的温度值的信息供给到微处理器5。同时，借助于微处理器的输出52,发光二极管LED3的电流以补偿当前温度对图像传感器I的输出信号的影响的方式，被连续地调整到测得的温度。在图像传感器I达到操作温度后，微处理器5停止加热构件6的活动，借此用于检测图像传感器I的温度的传感器4的活动继续进一步，即使在装置操作期间，借此图像传感器I温度的可能的突然改变被登记，发光二极管LED的电流连续被补偿，并且，根据环境温度突然下降，加热构件6被设定为运行达将是必需的时间间隔。
[0016]在未图示的实施例中，装置不包括温度传感器，而只包括加热构件。在该实施例中，存在按照经验预定的时间间隔，在所述时间间隔中，在装置的启动后和在加热构件6的启动后，图像传感器I达到其操作温度，并且在所述时间间隔后，微处理器结束加热构件6的活动。[0017]在另一个未图示的实施例中，装置仅包括温度传感器4而不包括加热构件6。在该实施例中，基于测得的温度，LED 二极管连续调整流量，以致补偿传感器的依赖于温度的参数。
[0018]在根据图2的实施例的示例中，图1中所示出的装置位于盒子8中。装置的单独的组件的连接布置与上面提及的实施例的连接布置相同。如根据图显而易见的那样，温度传感器4和加热构件6定位于图像传感器I的背面附近，而针对线性纤维结构7的通道的形成的孔8定位于盒子8中。在该实施例中，温度传感器4和/或加热构件6也定位与图像传感器I的主体相接触。盒子8在孔81的区域中在放射源3和图像传感器I位于的部分是透明的。
[0019]图3示出了根据CZ PV2009-634布置在盒子8中用于监测纱线或者其他线性纺织结构7的直径与颜色均匀性的装置。在盒子8中创建用于线性纺织结构7的通道的孔，在该孔中存在创建用于监测移动的纺织材料7的空间。在盒子8中的监测空间周围，存在彼此相对布置的放射源3和图像传感器1，所述图像传感器I以与根据图1和2的实施例相同的方式通过双向传导杆51与微处理器5互连。在监测空间的相同侧上关于放射源3，在盒子中布置有两个光学传感器11，所述光学传感器11监测从移动的线性纺织结构7的表面反射的放射，借此反射放射的传感器11的轴朝着由放射源3发出的放射方向倾斜。
[0020]在根据图3图示的实施例中，图像传感器I的背面上安装了温度传感器4和加热构件6，如前述实施例的情况那样，它们也可以在盒子8内位于图像传感器I附近的其他地方。根据图3的装置的实施例的示例的所有组件或者至少它们中的一些，可以被集成到一个半导体集成定制ASIC电路中。
[0021]在所有实施例中，温度传感器4或加热组件6可以直接被集成在图像传感器I半导体芯片上。同样，加热构件6、61可以由图像传感器I的芯片的半导体结构创建，其视情况而定包括寄生结构，所述寄生结构在生产图像传感器I的半导体芯片期间被制造。
[0022]根据本发明的装置的实施例的示例被描述为图示，具有解释它们的设置和功能的目的，而它们不意图限制由专利权利要求所确定的保护。
[0023]稳定用于检测移动的线性纺织材料特别是纱线的质量的图像传感器I的温度贡献于测量的更高精确度和可重复性。将热装置的盒子8的内部空间的加热装置6，或者视情况而定的直接加热图像传感器1、11的加热装置6，加速使监测装置进入操作模式。
【权利要求】
1.一种用于监测移动的线性纺织材料特别是纱线(7)的质量的装置，其包括盒子(8)，在所述盒子(8)中布置有至少一个图像传感器(I)，至少一个放射源(3)与所述至少一个图像传感器(I)可对准或已对准，其特征在于至少一个温度传感器(4)和/或至少一个加热构件(6)位于盒子(8)的内部空间中。
2.根据权利要求1的装置，其特征在于温度传感器⑷和/或加热构件(6)与图像传感器⑴相接触。
3.根据权利要求1或2的装置，其特征在于温度传感器(4)和/或加热构件(6)被集成在图像传感器(I)的半导体芯片上。
4.根据权利要求3的装置，其特征在于加热构件(6)由图像传感器(I)的芯片的半导体结构组成。
5.根据权利要求4的装置，其特征在于加热构件(6)由图像传感器(I)的芯片的寄生结构组成。
【文档编号】B65H63/00GK103852476SQ201310571380
【公开日】2014年6月11日 申请日期:2013年9月30日 优先权日:2012年10月2日
【发明者】J·斯洛彭斯基, P·考萨里克, J·里奇特 申请人:里特捷克有限公司