用于测试纱线的测量头的制作方法
【专利摘要】用于测试纱线(9)的测量头(1)包括用于容纳纱线(9)的测量狭缝(3)和用于引导纱线(9)通过测量狭缝(3)的第一导纱元件(41)。它还包括用于将纱线(9)引导出测量狭缝(3)的至少一个第二导纱元件(42)。在测量狭缝(3)外部的纱线路径在需要执行零点校准和/或调节测量头(1)时使用。以这样的方式布置的测量头(1)特别适合于在织物实验室中使用来分类纱线缺陷。
【专利说明】用于测试纱线的测量头
【技术领域】
[0001]本发明涉及织物质量控制领域。它涉及根据权利要求1的前序部分的用于测试纱线的测量头。该测量头特别适合于在织物实验室中使用来分类纱线缺陷。
【背景技术】
[0002]大量的各种装置已知用来检查或测试纱线。它们可以根据在实验室测试(离线)和生产过程期间的测试(在线)两种类型中的应用来分类。 申请人:的USTER?CLASS丨MAT QLAM'LVI 系统，如在 2007 年 8 月的 Uster Technologies AG 的小册/.“ USTER?CLASS丨MAT QUANTUM”中所述，使用于纱线缺陷，例如较厚和较薄位置以及外部物质的分类。它是根据它的功能性的实验室设备，因为它使用在织物实验室中用于样品的详细检查。然而构成它的设备主要来源于生产。被检查的纱线重新缠绕在手动绕线机的缠绕位置上并且用测量头扫描。由测量头测量的纱线参数由个人计算机统计学地估算，例如在二维分类图表中分类。测量头可以关于它的相关特征相似于清纱器测量头，例如 USTER? QUANTUM 类型的。
[0003]清纱器使用在纺纱机或线筒绕线机中用于确保纱线质量。清洁纱线的目的在于检测缺陷位置例如较厚位置、较薄位置、或者在纱线中的外部物质，以提供根据特定质量标准的估算，以及可选地消除所述缺陷。为此目的，一种清纱器测量头包括纱线沿着它的纵向方向经过的测量狭缝。用于扫描运动纱线的至少一个传感器沿着测量狭缝布置。通常使用的传感器原理有电容传感器(例如EP-0924513 Al)和光传感器(W0-93/13407 Al)。该清纱器测量头还包括用于估算传感器信号和用于将该信号与预定质量标准例如清洁极限值比较的电子电路。提及的部件放置在测量头壳体中。测量头壳体实现保护敏感部件免于遭受机械力、灰尘、潮湿、电磁辐射以及其他外部影响的任务。清纱器测量头的构造例如描述在 US-6422072 BI 中。
[0004]导纱元件，所谓的导纱眼，在相对于测量狭缝的上游和下游附接到测量头。它们的目的在于将行进纱线保持在测量狭缝中的预定位置中。导纱元件具有基本V型的切口，以便纱线位置由切口的相应顶点很好地限定。
[0005]测量头在中间为了零点校准和/或为了调节需要超时，其中没有纱线放置在测量狭缝中。在去除缺陷位置和改变管纱期间，这种超时在线筒绕线机上的清纱器的正常操作中重复地发生。如果测量头使用在织物实验室中用于纱线缺陷分类，那么上述超时的原因根本不发生或者仅非常少地发生。可以使用自动纱线提升装置以便在这种类型的应用中从测量狭缝移开纱线，并且将它重新引入测量狭缝，如举例而言从CN-101706337A已知的。然而，这种装置是复杂和昂贵的。
【发明内容】
[0006]本发明的目的在于提供一种用于测试纱线的测量头，其被优化用于如上所述的纱线缺陷分级的使用中。
[0007]这个目的和其他目的由根据本发明如在权利要求1中限定的用于测试纱线的测量头来实现。有利实施例提供在从属权利要求中。
[0008]本发明基于在用于至少两个不同纱线路径的测量头上提供引导元件的思想。一个纱线路径延伸通过测量狭缝并且使用于测量，而另一个纱线路径延伸出测量狭缝并且在需要执行零点校准和/或调节时使用。纱线可以根据需要被从一个纱线路径重新引导到另一个纱线路径并且再回来。在纱线路径之间的改变手动或自动地发生。以这样的方式布置的测量头特别适合于在织物实验室中使用来分类纱线缺陷。
[0009]因而，根据本发明用于测试纱线的测量头包括用于容纳纱线的测量狭缝和用于引导纱线通过测量狭缝的第一导纱元件。它还包括用于将纱线引导出测量狭缝的至少一个第二导纱元件。
[0010]测量狭缝首先限定纵向方向，其与在纱线被引导通过测量狭缝时纱线的纵向方向一致。它其次限定高度方向，纱线可以沿着高度方向被引入到测量狭缝中。它第三限定宽度方向，宽度方向垂直于纵向方向并且垂直于高度方向。第一导纱元件和第二导纱元件优选地沿着高度方向和/或宽度方向互相间隔开。在优选实施例中，两个导纱元件既沿着高度方向又沿着宽度方向互相间隔开。两个导纱元件沿着高度方向的距离为在1mm至40mm之间，优选地为大约23mm，并且两个导纱元件沿着宽度方向的距离为在5mm至30mm之间，优选地为大约10mm。
[0011]两个导纱元件可以包括用于引导纱线的基本V型切口。它们可以由陶瓷材料构成。如果两个导纱元件附接到公共载体并且载体固定到测量头的壳体，是特别有利的。公共载体可以布置为板，并且两个导纱元件可以附接到板的边缘。板例如由金属构成，优选地由钢构成。
[0012]在优选实施例中，测量头包括用于引导纱线通过测量狭缝的第三导纱元件。第一导纱元件和第三导纱元件附接在测量狭缝的相同端部处，并且沿着纵向方向互相间隔开。沿着纵向方向的距离为在Imm至5mm之间，优选地为大约3mm。第一导纱元件和第三导纱元件优选地附接在相对于指定的纱线行进方向处于下游的测量狭缝的端部处。
[0013]测量头有利地包括用于扫描纱线的至少一个传感器，该传感器沿着测量狭缝布置。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]下面参考附图解释本发明，其中
[0015]图1以立体图表示根据本发明的测量头。
[0016]图2以俯视图表示用于根据本发明的测量头的导纱板。
【具体实施方式】
[0017]图1表示根据本发明用于测试纱线9的测量头I。它包括具有用于容纳纱线9的测量狭缝3的壳体2。纱线9沿着它的纵向方向X运动通过测量狭缝3，其由箭头91表示。用于扫描纱线9的传感器(在图1中未示出)布置在壳体2中的测量狭缝3的区域中。电子估算部件(未示出)也容纳在壳体2中用于估算传感器信号。
[0018]导纱板4被固定在相对于测量狭缝3下游的壳体2，该导纱板在图2中单独示出。导纱板4基本上平坦的，并且设置在布置为垂直于纵向方向X的平面(yz)中。它可以由金属(例如钢)构成，并且例如可以具有1.5mm的厚度。它包括在它的边缘上的、用于第一导纱元件41和第二导纱元件42的凹部。两个导纱元件41、42包括用于引导纱线9的基本V型切口。它们可以由陶瓷材料构成，并且借由在导纱板4的凹部中的胶状连接部保持。这种导纱元件通常是已知的。导纱板4可以在它的一部分上借由两个螺纹连结部43、44固定到测量头I的壳体2。
[0019]导纱板4以这样的方式构造和布置在测量头I上，第一导纱元件41设置用来引导纱线9通过测量狭缝3，并且第二导纱元件42设置用来将纱线9引导出测量狭缝3。纱线9因此在测量期间被引导通过第一导纱元件41并且行进通过测量狭缝3。这种状态示出在图1和图2中。为了零点校准和/或为了测量头的调节，纱线9被提升出第一导纱元件41和测量狭缝3，并且放置在第二导纱元件42中。这种改变可以手动或自动地发生，其中纱线9可以继续行进并且不需要停止。纱线在改变之后被重新导向，并且沿着不延伸通过测量狭缝3的不同纱线路径行进。只要纱线9被引导通过第二导纱元件42，测量狭缝3就被清空，并且可以执行零点校准和/或调节。纱线然后被提升出第二导纱元件42并且再次引入到第一导纱元件41和测量狭缝3中。在这种状态下可以执行进一步的测量。纱线9从一个状态可逆地改变到另一种状态在图2中由虚线双箭头92表示。
[0020]测量狭缝3限定纵向方向X，其与在纱线9被引导通过测量狭缝3时纱线9的纵向方向一致。测量狭缝3还限定高度方向y，纱线9可以沿着高度方向y被引入到测量狭缝3中。宽度方向z可以被限定为垂直于纵向方向X并且垂直于高度方向y的方向。两个导纱元件41、42既沿着高度方向y又沿着宽度方向z互相间隔开。两个导纱元件41、42沿着高度方向y的距离为在1mm至40mm之间，优选地为大约23mm，并且两个导纱元件41、42沿着宽度方向z的距离为在5mm至30mm之间，优选地为大约10mm。
[0021]导纱板5通常被固定在相对于测量狭缝3下游的测量头I的壳体2。第三导纱元件51可以被引入到导纱板5中，该导纱元件也以这样的方式定位，它引导纱线9通过测量狭缝3。在测量狭缝3的下游端部处设置多个导纱元件51、41是有利的。在经过测量狭缝3之后，纱线9通常缠绕在交叉缠绕的线筒(未示出)上，其中它沿着宽度方向z往返运动，用于均匀缠绕交叉缠绕的线筒。这种所谓的横向运动必须不被传递到放置在测量狭缝3中的纱线段，因为这样会导致错误的测量。测试已经表明，沿着纱线行进方向连续设置的两个或更多个导纱元件51、41比单个导纱元件51产生更好的机械隔离。第三导纱元件51和第一导纱元件41可以沿着纵向方向X以在Imm至5mm之间的距离、优选地以大约3mm的距离互相间隔开。该距离可以借由合适的垫圈来设置。另一方面，第四导纱元件(在附图中未示出)可以附接在测量狭缝3的上游端部，其也使用来引导纱线9通过测量狭缝3。
[0022]可以理解本发明不限于如上所述的实施例。本领域的技术人员将能够利用本发明的知识推导出其他变形，其也属于本发明的主题。
[0023]参考标记列表
[0024]I测量头
[0025]2壳体
[0026]3 测量狭缝
[0027]4导纱板
[0028]41第一导纱元件
[0029]42第二导纱元件
[0030]43、44螺纹连结部
[0031]5导纱板
[0032]51第三导纱元件
[0033]9纱线
[0034]91纱线的行进方向
[0035]92纱线状态的改变
[0036]X纵向方向
[0037]y高度方向
[0038]z宽度方向。
【权利要求】
1.一种用于测试纱线(9)的测量头(1)，包括: 用于容纳所述纱线(9)的测量狭缝(3)和 用于引导所述纱线(9)通过所述测量狭缝(3)的第一导纱元件(41)， 其特征在于 还包括用于将所述纱线(9)引导出所述测量狭缝(3)的至少一个第二导纱元件(42)。
2.根据权利要求1所述的测量头(I)，其中所述测量狭缝(3)限定纵向方向(X)，其与在所述纱线(9)被引导通过测量狭缝(3)时所述纱线(9)的纵向方向一致，并且所述测量狭缝(3)限定高度方向(y)，所述纱线(9)可以沿着高度方向(y)被引入到所述测量狭缝(3)中，并且其中所述两个导纱元件(41、42)沿着所述高度方向(y)互相间隔开。
3.根据前述权利要求任意一项所述的测量头(I)，其中所述测量狭缝(3)限定纵向方向U)，其与在所述纱线(9)被引导通过所述测量狭缝(3)时所述纱线(9)的纵向方向一致，并且所述测量狭缝(3)限定高度方向(y)，所述纱线(9)可以沿着所述高度方向(y)被引入到所述测量狭缝(3)中，并且其中所述两个导纱元件(41、42)沿着所述宽度方向(z)互相间隔开，该宽度方向(z)垂直于所述纵向方向(X)并且垂直于所述高度方向(y)。
4.根据权利要求2和3所述的测量头(I)，其中所述两个导纱元件(41、42)既沿着高度方向(y)又沿着宽度方向(z)互相间隔开。
5.根据权利要求4所述的测量头(I)，其中所述两个导纱元件(41、42)沿着所述高度方向(y)的距离为在1mm至40mm之间，并且所述两个导纱元件(41、42)沿着所述宽度方向(z)的距离为在5mm至30mm之间。
6.根据前述权利要求任意一项所述的测量头(I)，其中所述两个导纱元件(41、42)包括用于引导所述纱线(9)的基本V型切口。
7.根据前述权利要求任意一项所述的测量头(I)，其中所述两个导纱元件(41、42)由陶瓷材料构成。
8.根据前述权利要求任意一项所述的测量头(I)，其中所述两个导纱元件(41、42)附接到公共载体⑷并且所述载体⑷固定到所述测量头⑴的壳体(2)。
9.根据权利要求8所述的测量头(I)，其中所述公共载体(4)布置为板，并且所述两个导纱元件(41、42)附接到所述板(4)的边缘。
10.根据权利要求9所述的测量头(I)，其中所述板(4)由金属构成，优选地由钢构成。
11.根据权利要求6、7和10所述的测量头(I)，其中所述两个导纱元件(41、42)布置为具有相应V型切口的陶瓷插件，并且所述陶瓷插件(41、42)插入在金属板(4)中。
12.根据前述权利要求任意一项所述的测量头(1)，其中 所述测量狭缝(3)限定纵向方向(X)，其与在所述纱线(9)被引导通过测量狭缝(3)时所述纱线(9)的纵向方向一致， 所述测量头(I)包括用于引导所述纱线(9)通过所述测量狭缝(9)的第三导纱元件(51)，以及 所述第一导纱元件(41)和所述第三导纱元件(51)附接在所述测量狭缝(3)的相同端部处，并且沿着所述纵向方向(X)互相间隔开。
13.根据权利要求12所述的测量头(I)，其中所述第三导纱元件(51)和所述第一导纱元件(41)以在Imm至5mm之间的距离沿着所述纵向方向(x)互相间隔开。
14.根据权利要求12或13所述的测量头(I)，其中所述第一导纱元件(41)和所述第三导纱元件(51)附接在相对于指定的纱线行进方向(X)处于下游的所述测量狭缝(3)的端部处。
15.根据前述权利要求任意一项所述的测量头(I)，其中所述测量头(I)包括用于扫描纱线(9)的至少一个传感器，所述传感器沿着所述测量狭缝(3)布置。
【文档编号】B65H57/04GK104185599SQ201380012370
【公开日】2014年12月3日 申请日期:2013年1月10日 优先权日:2012年3月5日
【发明者】加纳帕蒂·帕拉梅斯瓦兰, 马丁·库斯特 申请人:乌斯特技术股份公司