专利名称：一种电子元器件自动测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种电子元器件自动测试装置。
背景技术：
社会的发展，科技的进步，现代电子技术更是显现出良好的发展势头， 其中电子元器件的生产技术也得到长足的发展，电子元器件在生活和工作中 的应用越来越广泛，为提高产品质量和满足日益提高的需求量，必须加大力 度对产品的生产及检测，产品的检测是产品推广的重要一环，对产品进行测 试是更好地为产品质量把关，而测试过程不应该给生产效率拖后腿，要提高 测试效率和生产效率，有效途径就是改进技术。在现有技术中，多是采用"点 对点"的测试方式，即是将一个生产出来的产品放在指定的测试点进行测试， 测试完毕之后将其取出，再放另一个产品到该测试点进行测试，这种测试方 式速度慢，测试时间长对电子元器件的测试速度和测试质量达不到生产的要 求，现有技术的测试工序较繁琐，自动化程度不高，因此效率较低，不利縮 短生产周期。
为解决上述问题，很多生产厂家都在尝试技术上的更新和突破，试图縮 短产品的生产周期，从而提高其经济效益。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种自动化程 度高、效率高和质量高的电子元器件自动测试装置。
本发明所采用的技术方案是本发明包括底座、立柱12、立柱n、立柱 III、立柱IV、下料固定板、固定横杆I、固定横杆II，所述立柱I、所述立
柱n、所述立柱in、所述立柱iv及所述下料固定板分别固定安装于所述底座 上，所述固定横杆n横架于所述立柱i和所述立柱ii之间并固定，所述固定 横杆i横架于所述立柱iv与所述固定横杆ii之间并固定，所述底座还设置有XY移动台、自动测试转盘，所述XY移动包括下滑轨、上滑轨，所述下滑轨 固定安装于所述底座上，所述上滑轨与所述下滑轨相配合，所述上滑轨设置 有待测品盘，所述待测品盘可沿所述上滑轨作滑移动作，所述自动测试转盘 圆周设置有至少两个测试夹具，所述固定横杆I设置有上料位导轨，所述上
料位导轨配合有上料位，所述固定横杆i还设置有上测试位i、上测试位n， 所述底座还设置有下测试位i 、下测试位n，所述上测试位i和上测试位n在 所述测试夹具的上方对应位置，所述下测试位i和下测试位n在所述测试夹 具的下方对应位置，所述上测试位i与下测试位i视为第一组测试位，所述 上测试位ii与下测试位n视为第二组测试位，根据需要可以在其他测试夹具 的对应位置设置多组测试位，使多组测试位对电子元器件进行不同内容的测 试，亦可以按要求关闭其中的某组或某几组测试位；所述固定立柱m的顶部 安装有坏品处理位导轨i，所述坏品处理位导轨i配合有坏品处理位i，所 述固定横杆i还设置有坏品处理位导轨n ，所述坏品处理位导轨n配合有坏 品处理位n，所述下料固定板的上端固定安装有下料位导轨，所述下料位导 轨配合有下料位，所述下料沿所述下料位导轨作来回滑移传输工作；
所述XY移动台的上滑轨和下滑轨包括端板i 、端板n、底板、步进电机、 丝杆、移动导轨位移台，所述端板i和端板n分别与所述底板固定配合，所 述步进电机安装于所述端板i上，所述移动导轨的两端分别与端板i、端板 n相配合，所述丝杆安装在所述底板上，所述位移台与所述丝杆及所述移动 导轨相配合；
所述自动测试转盘包括转盘体、传动轴、轴筒、伺服电机、支架，所述 测试夹具设置在所述转盘体上，所述传动轴的两轴端分别与所述伺服电机及 所述转盘体相配合，所述伺服电机通过所述传动轴控制所述转盘体的旋转， 所述转动轴置于所述轴筒内部，所述轴筒固定于所述支架上，所述支架固定
安装于所述底座上；
所述底座还设置有坏品回收盒，所述坏品回收盒位于所述坏品处理位下 方，与所述坏品处理位相对应。本发明的有益效果是本发明中，上料位将待测品盘中的待测品转移到 转盘体的测试夹具上，测试转盘作圆周运动，当测试夹具上的产品转到测试 位的对应位置，接受测试位的全面测试，再转到坏品处理位的对应位置，如 测试出该产品为坏品，即不合格产品，则由坏品处理位将其转移到坏品回收 盒，经过测试的合格产品转至下料位的对应位置，由下料位将其提取；此工 作过程紧凑有序、自动化程度高、测试效率高，有效保障电子元器件的产品 质量，縮短了产品的生产周期，将高质量的产品快速投放市场，满足广大用 户需求。综上所述，本发明有效解决了技术问题，达到预期技术目的。
图l是本发明的结构示意图2是本发明的另一视角结构示意图3是本发明的自动测试转盘结构示意图4是本发明的XY移动台结构示意图5是本发明的滑轨结构示意图。
具体实施例方式
如图1 5所示，本发明包括底座1、立柱12、立柱113、立柱IH4、立 柱IV5、下料固定板6、固定横杆I7、固定横杆I18，所述立柱I2、所述立 柱113、所述立柱I114、所述立柱IV5、所述下料固定板6分别固定安装于所述 底座1上，所述固定横杆I18横架于所述立柱I 2和所述立柱I13之间并固定， 所述固定横杆I 7横架于所述立柱IV5与所述固定横杆I18之间并固定，所述 底座1还设置有XY移动台、自动测试转盘，所述XY移动包括下滑轨9、上 滑轨10，所述下滑轨9固定安装于所述底座1上，所述上滑轨10与所述下 滑轨9相配合，所述上滑轨10可沿所述下滑轨9作滑移动作，所述上滑轨 10设置有待测品盘11，所述待测品盘11可沿所述上滑轨10作滑移动作，通 过所述上滑轨10与所述待测品盘11的移动，实现了所述待测品11上放置的待测品在XY方向上的移动，使待测品定在所需位置，所述自动测试转盘圆周 设置有至少两个测试夹具13，所述固定横杆I 7设置有上料位导轨14，所述 上料位导轨14配合有上料位15，所述上料位用于提取放置在所述待测品盘 11上的待测品，并将其转移到所述测试夹具13上；所述固定横杆I 7还设置 有上测试位I 23a、上测试位II24a，所述底座1还设置有下测试位I 23b、下 测试位II24b，所述上测试位I 23a和上测试位II24a在所述测试夹具13的上 对应位置，所述下测试位I 23b和下测试位II24b在所述测试夹具13的下方 对应位置，所述上测试位I 23a和所述下测试位I 23b视为第一组测试位，所 述上测试位II 24a和所述下测试位II 24b视为第二组测试位，根据需要可以在 其他测试夹具的对应位置设置多组测试位，使多组测试位对电子元器件进行 不同内容的测试，亦可以按要求关闭其中的某组或某几组测试位，所述固定 立柱IH4的顶部安装有坏品处理位导轨I 16，所述坏品处理位导轨I 16配合 有坏品处理位I17，所述固定横杆I7还设置有坏品处理位导轨I118,所述 坏品处理位导轨I118配合有坏品处理位I119，可根据需要设置多个坏品处理 位，当电子元器件经过测试位进行测试后发现是坏品，即是不合格产品，则 由所述坏品处理位将其提走；所述下料固定板6的上端固定安装有下料位导 轨20，所述下料位导轨20配合有下料位21，所述下料位21沿所述下料位导 轨20作来回滑移传输工作，电子元器件经过测试位进行测试后确定为合格产 品，当该合格产品在自动测试转盘上转至所述下料位的对应位置时，由所述 下料位提取该合格产品并将其转移；
所述XY移动台的上滑轨10和下滑轨9结构一致，包括端板I25、端板 1126、底板27、步进电机12、丝杆28、移动导轨29、位移台30，所述端板 I 25和端板I126分别与所述底板27固定配合，所述步进电机12安装于所述 端板I25上，所述移动导轨29的两端分别与端板I 25、端板II26相配合， 所述丝杆28安装在所述底板27上，所述位移台30与所述丝杆28及所述移 动导轨29相配合；
所述自动测试转盘包括转盘体31、传动轴32、轴筒33、伺服电机34、 支架35,所述测试夹具13设置在所述转盘体31上，所述传动轴32的两轴端分别与所述伺服电机34及所述转盘体31相配合，所述伺服电机34通过所 述传动轴32控制所述转盘体31的旋转，所述转动轴置于所述轴筒33内部， 所述轴筒33固定于所述支架35上，所述支架35固定安装于所述底座1上； 所述底座1还设置有坏品回收盒22，所述坏品回收盒22位于所述坏品 处理位下方，与所述坏品处理位相对应，当电子元器件被测出是不合格产品 时，由所述坏品处理位将其提起并转移到所述坏品回收盒。
权利要求
1、一种电子元器件自动测试装置，包括底座(1)、立柱I(2)、立柱II(3)、立柱III(4)、立柱IV(5)、下料固定板(6)、固定横杆I(7)、固定横杆II(8)，所述立柱I(2)、所述立柱II(3)、所述立柱III(4)、所述立柱IV(5)、所述下料固定板(6)分别固定安装于所述底座(1)上，所述固定横杆II(8)横架于所述立柱I(2)和所述立柱II(3)之间并固定，所述固定横杆I(7)横架于所述立柱IV(5)与所述固定横杆II(8)之间并固定，其特征在于所述底座(1)还设置有XY移动台、自动测试转盘，所述XY移动台包括下滑轨(9)、上滑轨(10)，所述下滑轨(9)固定安装于所述底座(1)上，所述上滑轨(10)与所述下滑轨(9)相配合，所述上滑轨(10)设置有待测品盘(11)，所述待测品盘(11)沿所述上滑轨(10)作滑移动作，所述自动测试转盘圆周设置有至少两个测试夹具(13)，所述固定横杆I(7)设置有上料位导轨(14)，所述上料位导轨(14)配合有上料位(15)，所述固定横杆I(7)还设置有上测试位I(23a)、上测试位II(24a)，所述底座(1)还设置有下测试位I(23b)、下测试位II(24b)，所述上测试位I(23a)和上测试位II(24a)在所述测试夹具(13)的上方对应位置，所述下测试位I(23b)和下测试位II(24b)在所述测试夹具(13)的下方对应位置，所述固定立柱III(4)的顶部安装有坏品处理位导轨I(16)，所述坏品处理位导轨I(16)配合有坏品处理位I(17)，所述固定横杆I(7)还设置有坏品处理位导轨II(18)，所述坏品处理位导轨II(18)配合有坏品处理位II(19)，所述下料固定板(6)的上端固定安装有下料位导轨(20)，所述下料位导轨(20)配合有下料位(21)，所述下料位(21)沿所述下料位导轨(20)作来回滑移传输工作。
2 、根据权利要求1所述的一种电子元器件自动测试装置，其特征在于所 述XY移动台的上滑轨(10)和下滑轨(9)包括端板I (25)、端板II(26)、底板(27)、步进电机(12)、丝杆(28)、移动导轨(29)位移 台(30)，所述端板I (25)和端板II (26)分别与所述底板(27)固 定配合，所述步进电机(12)安装于所述端板I (25)上，所述移动导轨(29)的两端分别与端板I (25)、端板II (26)相配合，所述丝杆 安装在所述底板(27)上，所述位移台(30)与所述丝杆及所述移动导 轨相配合。
3 、根据权利要求1所述的一种电子元器件自动测试装置，其特征在于所述自动测试转盘包括转盘体(31)、传动轴(32)、轴筒(33)、伺服电 机(34)、支架(35)，所述测试夹具(13)设置在所述转盘体(31)上， 所述传动轴(32 )的两轴端分别与所述伺服电机(34 )及所述转盘体(31) 相配合，所述伺服电机(34)通过所述传动轴(32)控制所述转盘体(31) 的旋转，所述转动轴置于所述轴筒(33)内部，所述轴筒(33)固定于 所述支架(35)上，所述支架(35)固定安装于所述底座(1)上。
4 、根据权利要求1所述的一种电子元器件自动测试装置，其特征在于所述底座(1)还设置有坏品回收盒(22)，所述坏品回收盒(22)位于所 述坏品处理位下方，与所述坏品处理位相对应。
全文摘要
本发明公开了一种自动化程度高、效率高、结构紧凑的电子元器件自动测试装置。本发明包括上料位(15)、下料位(21)、测试位、坏品处理位(17)、待测品盘(11)、转盘体(31)，所述上料位(15)将待测品盘(11)中的待测品转移到转盘体(31)的测试夹具(13)上，测试转盘作圆周运动，当测试夹具(13)上的产品转到测试位的对应位置，接受测试位的测试，再转到坏品处理位(17)的对应位置，如测试出该产品为坏品，则由坏品处理位(17)将其转移到坏品回收盒(22)，经过测试的合格产品转至下料位(21)的对应位置，由下料位(21)将其提取。本发明可广泛应用于电子元器件测试领域。
文档编号B07C5/34GK101504433SQ200810029870
公开日2009年8月12日 申请日期2008年7月30日 优先权日2008年7月30日
发明者吴启权, 曹勇祥 申请人:珠海市运泰利自动化设备有限公司