专利名称：Ic测试分类存储装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及集成电路分装技术领域，特别是一种IC测试分类存储装置。
背景技术：
IC集成块生产后要经过检测，淘汰次品后按等级分类，现有技术中的检测和分类过程都是半自动化完成。中国专利“变距式IC分类机”(申请号:200810129316.5)公开了一种滑轨式IC分类装置，通过线性马达配合横向滑轨和IC吸嘴，实现连续对IC进行分类，IC吸嘴可以通过调整机构调节，适用于不同尺寸的1C。但是这种IC分类机结构复杂，安装调试不方便。使用滑轨的方式很难实现高速分类，而且其检测机构不能跟分类机构集成，工作效率低下。
发明内容
本发明的目的是为了解决上述技术问题，提供一种IC测试分类存储装置，以期实现对IC的高速测试和分类。本发明采取的技术方案是:
一种IC测试分类存储装置，包括IC检测单元、IC料盘单元，其特征是，还包括第一 IC输送单元、转盘单元、旋转作业单元、第二 IC输送单元，所述IC料盘单元包括待检料盘存放位、待放料盘存放位，所述转盘单元设置在所述待检料盘存放位的前端，所述第一 IC输送单元位于所述转盘单元和所述待检料盘存放位之间，用于将待检料盘中的IC输送至所述转盘单元，所述旋转作业单元位于所述转盘单元的一侧，所述旋转作业单元包括至少一个转臂，所述转臂循环能够转 动定位至所述转盘单元上方、所述IC检测单元上方和所述第二输送单元上方，依次实现吸取1C、检测IC和暂存1C，所述第二 IC输送单元将检测完成的IC根据其检测结果分别放置于不同的待放料盘上。进一步，所述料盘单元还包括第一料盘区、第二料盘区、待检料盘输入机构、空盘输送机构、成品料盘输出机构，所述第一料盘区用于存放待检料盘，所述第二料盘区用于存放待放料盘，所述待检料盘输入机构将所述待检料盘传送至所述待检料盘存放位，所述空盘输送机构将取完IC的待检空料盘传送至所述待放料盘存放位，所述成品料盘输出机构将第二料盘区的成品料盘输出。进一步，所述转盘单元的圆周上均布8至16个IC存放槽，每个IC存放槽内可放置4至8个1C。进一步，所述旋转作业单元包括4至8个转臂，每个转臂上设有吸取部件，所述吸取部件一次同时能实现4至8个IC的吸放。进一步，所述旋转作业单元的转臂还可定位于一个丢弃废品的位置，在所述丢弃废品的位置下方设有废料箱。进一步，所述第二 IC输送单元包括IC暂存机构和IC输送机构，所述IC暂存机构将检测过的IC存储至一定数量后由所述IC输送机构将成品IC输送至成品料盘。
进一步，所述待检料盘存放位为多个，均设置于所述第一料盘区；所述待放料盘存放位为多个，均设置于第二料盘区。进一步，所述第一 IC输送单元包括吸取部件，所述吸取部件通过传送机构将待检料盘上IC的吸取放置于所述转盘单元，所述吸取部件一次同时能实现4至8个IC的吸放。进一步，所述IC暂存机构包括IC存放槽、电机和传动丝杆，所述电机驱动所述丝杆将所述IC存放槽移至暂存区。进一步，所述IC存放槽的一侧设置压缩弹簧，另一侧设置气缸，通过所述气缸和压缩弹簧对所述IC存放槽进行定位，在所述气缸侧，还设置一个限位调节千分尺。本发明的有益效果是:
转盘单元和旋转作业单元通过伺服电机可以实现高速测试和高速分类；
通过IC暂存机构的结构，使本装置实现不同尺寸的IC的检测和分类存放。
附图1是本发明的结构示意 附图2是暂存机构的立体结构示意 附图3是暂存台的立体结构示意图。图中的标号分别为:
1.1C料盘单元；11.待检料盘存放位； 12.待放料盘存放位；13.待检料盘；
14.待放料盘；15.第一料盘区；
16.第二料盘区；17.待检料盘输入机构；
18.空盘输送机构；2.第一 IC输送单兀；
21.吸取部件；3.转盘单元；
31.1C存放槽；4.旋转作业单元；
41.转臂；42.吸取部件；
5.1C检测单元；6.第二 IC输送单元；
61.1C暂存机构；62.1C输送机构；
63.1C存放槽；64.电机；
65.传动丝杆；66.压缩弹簧；
67.气缸；68.限位调节千分
尺；
1A、1B、1C、1D、1E.料盘区域； 2A、2B、2C、2D、2E.料盘区域。
具体实施例方式下面结合附图对本发明IC测试分类存储装置的具体实施方式
作详细说明。参见附图1，IC测试分类存储装置包括IC料盘单元1、第一 IC输送单元2、转盘单元3、旋转作业单元4、IC检测单元5、第二 IC输送单元6，IC料盘单元I包括待检料盘存放位11、待放料盘存放位12、第一料盘区15、第二料盘区16、待检料盘输入机构17、空盘输送机构18、成品料盘输出机构,第一料盘区15用于存放待检料盘13,第二料盘区16用于存放待放料盘14，待检料盘输入机构17将待检料盘13传送至待检料盘存放位11，空盘输送机构18将取完IC的待检料盘13传送至待放料盘存放位12，成品料盘输出机构将第二料盘区的成品料盘输出。待检料盘存放位11和待放料盘存放位12可设为多个，分别设置于第一料盘区15和第二料盘区16。转盘单元3设置在待检料盘存放位11的前端，转盘单元3的圆周上均布8至16个IC存放槽31，每个IC存放槽31内可放置4至8个1C。第一 IC输送单元2位于转盘单元3和待检料盘存放位11之间，用于将待检料盘13中的IC输送至转盘单元3，第一 IC输送单元2包括吸取部件21，吸取部件21通过传送机构将待检料盘上IC的吸取后放置于转盘单元3，吸取部件21 —次同时能实现4至8个IC的吸放。旋转作业单元4位于转盘单元3的一侧,旋转作业单元4包括至少一个转臂41,优选转臂数为4至8个，转臂41能够循环转动定位至转盘单元3的上方、IC检测单元5的上方和第二 IC输送单元6上方，依次实现吸取1C、检测IC和暂存IC的功能。除此之外，旋转作业单元4的转臂41还可定位于一个丢弃废品的位置，在丢弃废品的位置下方设有废料箱(图中未示出)。旋转作业单元4的每个转臂41上设有吸取部件42，吸取部件42 —次同时能实现4至8个IC的吸放。第二 IC输送单元6将检测完成的IC根据其检测结果分别放置于不同的待放料盘14上。第二 IC输送单元6包括IC暂存机构61和IC输送机构62，IC暂存机构61将检测过的IC存储至一定数量后由IC输送机构62将成品IC输送至成品料盘。参见附图2、3，IC暂存机构61包括IC存放槽63、电机64和传动丝杆65，电机64驱动丝杆65将IC存放槽63移至暂存区。在IC存放槽63的一侧设置压缩弹簧66，另一侧设置气缸67,通过气缸67和压缩弹簧66对IC存放槽63进行定位,在气缸67的一侧,还设置一个限位调节千分尺68。参见附图1，下面将本发明的设备的工作过程进行详细阐述，首先把装满未检测IC的料盘叠放到IA区进行叠 放，通过待检料盘输入机构17将料盘输送到2A区进行定位。待检料盘输入机构17可选皮带传送等现有技术中的传送机构，第一 IC输送单元2通过吸取部件21来吸取IC输送到转盘3上进行存放。然后由旋转作业单元4吸取1C，并旋转到IC检测单元5进行检测，检测完成后再旋转位置到IC暂存机构61的托盘中进行存放，然后又通过IC暂存机构61进行输送，由IC输送机构通过吸嘴装置吸取输送到2C、2D、2E三个区域去存放不同等级的1C。ΙΑ、1B、1C、ID、IE是用于叠放料盘的区域，可以叠放多个料盘,可节省人员重复去放置料盘。其包括IA区域中装满未检测IC的的料盘，IB区域中空的料盘，1C、1D、1E区域中用于检测完IC按3个等级存放料盘。当IA区域中放置未检测IC的料盘后，通过待检料盘输入机构17将料盘输送到2A区进行定位，方便未检测IC输送机构进行吸取。当未检测IC被吸取完后，通过空盘输送机构18把空盘输送到2B区进行定位。当2C、2D、2E区的料盘装满检测完的IC后再通过输送机构输送到1C、1D、1E区进行存放。同时由空盘输送机构18把2B区的空盘输送到2C、2D、2E区。当2A区的料盘上的未检测IC被吸取完后，由待检料盘输入机构17来输送空的料盘到2B区进行存放，当2C、2D、2E区的料盘装满IC后再由待检料盘输入机构17把空的料盘搬送到2C、2D、2E区。当装满IC的料盘传送到2A区后，第一 IC输送单元2通过吸嘴装置21来吸取IC后输送到转盘单元3中存放。其中吸嘴装置21配有4个吸嘴，可以同时吸取4个1C。转盘单元3通过直驱电机驱动循环转动，不停地对未检测IC进行旋转输送。旋转作业单元4是当转盘单元3输送未检测IC到一定的位置后，其上的吸取部件42吸取未检测IC到检测单元5进行IC检测，当旋转作业单元4吸取IC到检测单元5后被压住并进行检测。检测完后在吸取旋转输送到暂存机构61上。暂存机构61用来高速的对检测完的IC的输送。一次可以输送8个1C。由暂存机构61输送检测完的IC到吸取位，由IC检测完成后的IC输送机构62输送IC到2C、2D、2E区进行分类存放。
本发明主要是为了实现IC高速测试，分类存放，料盘全自动处理，机构更紧凑，速度更快而设计的IC测机设备。待检料盘输入机构17为一个顶升机构，利用伺服控制料盘放置到一个皮带输送机构上，由皮带输送机构输送料盘到料盘区定位，再由第一 IC输送单兀吸取IC到转盘去存放，当IC被吸取完后，由空盘输送机构18把空盘搬送到空盘区存放。料盘的顶升机构利用私服马达驱动丝杆带动顶升杆顶升料盘，再利用气缸夹取料盘配合来把料盘放置到料盘皮带输送机构上。皮带输送机构利用气缸来夹紧定位料盘，再由步进马达控制皮带上的滑台到定位去固定，等待待检料盘输入机构17来吸取1C。空盘输送机构18包括了左右移动输送机构，气缸夹取机构，利用夹取气缸夹取空盘由平移机构平移到空盘去放置。相对于现有的IC测试机，这样就省去了人工去放置料盘，全自动的调度空盘，节省了人工停机放空盘的时间，大大的提高了生产效率。IC高速测试后的暂存机构61，它包括了左右移动输送机构，IC放置平台其中IC放置平台上配置了 8个IC放置位用于暂存1C。对比别的IC检测机构上的暂存机构，别的暂存机构只有两个IC存放区，只能一次一次的输送。而本发明的暂存机构61是配置了 8个IC区，可以用于暂存两次IC的存放，一次存放4个1C。因为IC检测完成后的IC输送机构62需要把检测好的IC分3个等级进行放置，这样所需要的时间就比较长，为了是提高IC检测设备的生产效率，通过暂存机构61两次暂存IC来减少IC检测完成后的IC输送机构62的来回输送过程，让它同时吸取8个IC进行存放。相对于先有的IC测试后暂存机构,这样就缩短了 IC检测完成后的输送机构的一次的输送时间，大大的提高了生产效率。本发明所述的暂存机构，适用于IC高速测试，特别是需要分类存放的IC测试设备，解决了 IC高速测试后的存放问题，提供了一种优于现有IC检测后暂存机构，工作效率更高。旋转作业单元4包括直驱马达控制的旋转臂41，其配置了 4个旋转臂41，气缸控制的上下吸取部件42。旋转作业单元4配置的4个旋转臂，一个臂对应转盘上的吸取位，一个臂对应IC检测位，一个臂对应IC暂存机构放置位，一个臂闲着，可以添加别的装置，比如废品丢弃。当吸取IC的时候，可以同时放下去检测。这样既节省了时间又省了设计空间。以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范 围。
权利要求
1.一种IC测试分类存储装置，包括IC检测单元、IC料盘单元，其特征在于，还包括第一 IC输送单元、转盘单元、旋转作业单元、第二 IC输送单元，所述IC料盘单元包括待检料盘存放位、待放料盘存放位，所述转盘单元设置在所述待检料盘存放位的前端，所述第一 IC输送单元位于所述转盘单元和所述待检料盘存放位之间，用于将待检料盘中的IC输送至所述转盘单元，所述旋转作业单元位于所述转盘单元的一侧，所述旋转作业单元包括至少一个转臂，所述转臂循环能够转动定位至所述转盘单元上方、所述IC检测单元上方和所述第二输送单元上方，依次实现吸取1C、检测IC和暂存1C，所述第二 IC输送单元将检测完成的IC根据其检测结果分别放置于不同的待放料盘上。
2.根据权利要求1所述的IC测试分类存储装置，其特征在于:所述料盘单元还包括第一料盘区、第二料盘区、待检料盘输入机构、空盘输送机构、成品料盘输出机构，所述第一料盘区用于存放待检料盘，所述第二料盘区用于存放待放料盘，所述待检料盘输入机构将所述待检料盘传送至所述待检料盘存放位，所述空盘输送机构将取完IC的待检空料盘传送至所述待放料盘存放位，所述成品料盘输出机构将第二料盘区的成品料盘输出。
3.根据权利要求1所述的IC测试分类存储装置，其特征在于:所述转盘单元的圆周上均布8至16个IC存放槽，每个IC存放槽内可放置4至8个1C。
4.根据权利要求1所述的IC测试分类存储装置，其特征在于:所述旋转作业单元包括4至8个转臂，每个转臂上设有吸取部件，所述吸取部件一次同时能实现4至8个IC的吸放。
5.根据权利要求1所述的IC测试分类存储装置，其特征在于:所述旋转作业单元的转臂还可定位于一个丢弃废品的位置，在所述丢弃废品的位置下方设有废料箱。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的IC测试分类存储装置，其特征在于:所述第二IC输送单元包括IC暂存机构和IC输送机构，所述IC暂存机构将检测过的IC存储至一定数量后由所述IC 输送机构将成品IC输送至成品料盘。
7.根据权利要求1至5中任一项所述的IC测试分类存储装置，其特征在于:所述待检料盘存放位为多个，均设置于所述第一料盘区；所述待放料盘存放位为多个，均设置于第二料盘区。
8.根据权利要求1至5中任一项所述的IC测试分类存储装置，其特征在于:所述第一IC输送单元包括吸取部件，所述吸取部件通过传送机构将待检料盘上IC的吸取放置于所述转盘单元，所述吸取部件一次同时能实现4至8个IC的吸放。
9.根据权利要求6所述的IC测试分类存储装置，其特征在于:所述IC暂存机构包括IC存放槽、电机和传动丝杆，所述电机驱动所述丝杆将所述IC存放槽移至暂存区。
10.根据权利要求9所述的IC测试分类存储装置，其特征在于:所述IC存放槽的一侧设置压缩弹簧，另一侧设置气缸，通过所述气缸和压缩弹簧对所述IC存放槽进行定位，在所述气缸侧，还设置一个限位调节千分尺。
全文摘要
本发明涉及集成电路分装技术领域，公开了一种IC测试分类存储装置，包括IC检测单元、IC料盘单元、第一IC输送单元、转盘单元、旋转作业单元、第二IC输送单元，IC料盘单元包括待检料盘存放位、待放料盘存放位，转盘单元设置在待检料盘存放位的前端，第一IC输送单元位于转盘单元和待检料盘存放位之间，旋转作业单元位于转盘单元的一侧，旋转作业单元包括至少一个转臂，转臂循环能够转动定位至转盘单元上方、IC检测单元上方和第二输送单元上方，依次实现吸取IC、检测IC和暂存IC，第二IC输送单元将检测完成的IC根据其检测结果分别放置于不同的待放料盘上。本发明实现能IC的高速测试和高速分类。
文档编号B07C5/02GK103240229SQ20131015599
公开日2013年8月14日 申请日期2013年4月28日 优先权日2013年4月28日
发明者朱玉萍, 岑刚, 焦建华 申请人:嘉兴景焱智能装备技术有限公司