用于检测LED封装缺陷的光学检测设备的制作方法

文档序号:16657808发布日期:2019-01-18 20:07阅读:来源:国知局
技术总结
本实用新型涉及一种用于检测LED封装缺陷的光学检测设备。它包括有机架,其上固定有X向轨道,X向轨道上滑动配合有与其垂直设置的Y向轨道,Y向轨道上滑动配合有用于搭载LED支架的载台,且载台上的LED支架的正反面为外露设置,机架上且位于载台的可移动区域内固定有镜头朝下的第一拍摄装置和镜头朝上的第二拍摄装置,第一拍摄装置和第二拍摄装置为同轴线设置,所述载台的高度为介于第一拍摄装置和第二拍摄装置之间,机架上且位于载台的可移动区域内还设有竖直设置且可上下运动的顶出杆。本实用新型是基于整个LED支板操作,拍摄装置可同时拍摄样品的正反面,检测效率高。样品处于静止状态,使得检测准确度大幅提升。

技术研发人员:连程杰;朱干军
受保护的技术使用者:义乌臻格科技有限公司
技术研发日:2018.02.06
技术公布日:2019.01.18

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