固定单元及固定机构的制作方法

本实用新型涉及光学测量领域，特别是涉及一种固定单元及固定机构。

背景技术：

在对光学元件(如滤光片)进行光谱测量时，需要将光学元件固定在测量平台上，在现有技术中，一般在测量平台开设贯穿的通孔，并在通孔一端的周边贴附双面胶，使得光学元件通过双面胶贴附在测量平台上。但在测量完成后，由于双面胶仍具有黏性，将光学元件与双面胶剥离过程中，容易导致光学元件破裂或变形。

技术实现要素：

基于此，有必要针对将光学元件与双面胶剥离过程中，容易导致光学元件破裂或变形的问题，提供一种固定单元及固定机构。

一种固定单元，用于固定光学元件，以便对光学元件进行光谱测量，包括：基板，开设有收容槽，以收容所述光学元件，所述基板远离所述收容槽的表面开设有第一通孔，所述第一通孔与所述收容槽连通；以及盖板，活动固定在所述基板设有所述收容槽的一面，以与所述基板配合将所述光学元件固定在所述收容槽内，所述盖板开设有与所述第一通孔正对的第二通孔。

上述固定机构，通过收容槽与盖板配合的方式夹持固定光学元件，便于在测量过程中，精确定位光学元件，且防止在测量过程中光学元件相对移动，提高了测量精度。当测量完成后，分离盖板及基板即可取出光学元件，避免在分离光学元件与基板的过程中损坏光学元件。与现有技术采用黏性贴合的方式固定光学元件的方式相比，能够防止光学元件取离基板后仍有黏性残留，而影响光学元件正常使用。

在其中一个实施例中，所述固定单元包括第一磁性件及第二磁性件，所述第一磁性件及所述第二磁性件分别设置于所述基板及所述盖板上，所述第一磁性件与所述第二磁性件之间磁性吸附固定，以使所述盖板与所述基板紧密贴合。以便于盖板与基板的固定，且当测量完毕后，也方便将盖板与基板分离。

在其中一个实施例中，所述第一磁性件及所述第二磁性件均为两个，所述两个第一磁性件与所述两个第二磁性件一一对应。通过两个第一磁性件及两个第二磁性件，便于将盖板定位并固定在基板上。

在其中一个实施例中，所述基板开设有凹槽，以收容所述盖板，所述收容槽开设在所述凹槽的底面上。以减小固定单元体积，便于固定单元固定。

在其中一个实施例中，所述凹槽的侧壁包括第一侧壁，所述盖板包括第二侧壁，当所述第二侧壁与所述第一侧壁抵接时，所述第一通孔及所述第二通孔正对。避免在盖板与基板固定的过程中，第一通孔与第二通孔错位。

在其中一个实施例中，所述基板开设有所述凹槽的一面开设有缺口，所述缺口与所述凹槽连通，以通过所述缺口将所述盖板与所述基板分离；及/或所述凹槽向外延伸贯穿所述基板的侧面。方便盖板与基板的分离与固定。

在其中一个实施例中，所述基板开设有夹取槽，所述夹取槽为两个并分别相邻于所述收容槽相对的两边，以分别连通所述收容槽。以便于通过两个所述夹取槽辅助夹取所述光学元件。

一种固定机构，包括：支撑单元，包括固定平台及支架，所述支架固定在所述固定平台上；以及固定单元，所述固定单元活动设置于所述支架上。

上述固定机构通过固定单元，提高了测量精度，且在放置或取出光学元件时，不易损坏光学元件。用于测量光学元件的测量室一般相对较暗，将固定单元活动设置于支架上，可以在测量前或者测量完成后，取出固定单元以在相对较亮的环境下放置或取出光学元件，且将固定单元与支架活动设置，便于对固定单元位置进行调整，进一步使得光学元件定位精确，提高测量精度。

在其中一个实施例中，所述支架包括第一固定板及第二固定板，所述第一固定板的一端及所述第二固定板的一端分别与所述固定平台连接固定，以配合形成V形结构的固定区，所述固定单元夹持于所述固定区内。设置固定区以固定单元，提高了测量精度。

在其中一个实施例中，所述第一固定板及所述第二固定板分别设有第一卡槽及第二卡槽，所述第一卡槽及所述第二卡槽配合共同卡持所述固定单元。使得固定单元与支撑单元固定牢靠，避免影响测量精度。

在其中一个实施例中，所述第一固定板包括第一基板及第一固定块，所述第一固定块为两个并间隔设置在所述第一基板上，以形成所述第一卡槽；所述第二固定板包括第二基板及第二固定块，所述第二固定块为两个并间隔设置在所述第二基板上，以形成所述第二卡槽。使得支撑单元结构简单，便于组装。

上述固定单元及固定机构，通过在基板上设置收容槽，然后配合盖板，将光学元件夹持固定在收容槽内，测量完成后，将基板与盖板分离即可取出光学元件，不会损伤光学元件。避免采用黏性贴合的方式固定光学元件，防止光学元件取离基板后仍有黏性残留，而影响光学元件正常使用。

附图说明

图1为本实用新型一实施例提供的固定机构结构示意图；

图2为固定单元爆炸结构示意图；

图3为图2中A处放大示意图；

图4为盖板结构示意图；

图5为支撑单元结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施的限制。

详参图1，本实用新型一实施例提供的固定机构10，包括固定单元20及用于支撑固定单元20的支撑单元30。其中，详参图2及图3所示，固定单元20包括基板100及对应的盖板200，基板100与盖板200配合夹持固定需要进行光谱测量的光学元件(图未示)，且基板100与盖板200分别开设有的第一通孔115及第二通孔205，第一通孔115及第二通孔205正对设置并分别相邻于光学元件相对的两面。

在本实施例中，光学元件为红外截止滤光片。

进一步地，如图2及图3所示，基板100开设有收容槽110及凹槽120，以分别容置光学元件及盖板200，其中，收容槽110设于凹槽120槽底上。光学元件设置在收容槽110内，且光学元件远离收容槽110的槽底的一面与凹槽120的槽底齐平。盖板200活动贴合在凹槽120内，以配合基板100固定光学元件，防止基板100在竖直或者倾斜设置时，光学元件脱落出收容槽110。测量完成后，盖板200可以与基板100分离，从而可以取出光学元件。

其中，第一通孔115设于收容槽110上，并贯穿基板100，第二通孔205对应设于盖板200上，当盖板200贴合在凹槽120上并固定光学元件时，第一通孔115与第二通孔205正对设置。

进一步地，在本实施例中，凹槽120的侧壁包括第一侧壁121，盖板200设有相应的第二侧壁221，当凹槽的120的第一侧壁121与盖板200的第二侧壁221抵接时，第一通孔115与第二通孔205正对。从而使得可以通过第一侧壁121及第二侧壁221实现第一通孔115及第二通孔205的快速对位。

在本实施例中，凹槽120向外延伸贯穿基板100的相邻的两个侧面，以图2所示视角为例，凹槽120呈方形，凹槽120的侧壁包括两个垂直设置的第一侧壁121。由于凹槽120向外延伸贯穿基板100的侧面，以便于向凹槽120放入盖板200或从凹槽120取出盖板200，其中，当盖板200的形状及尺寸与凹槽120的形状及尺寸一致时，将盖板200放入凹槽120内即可实现第一通孔115与第二通孔205正对；当盖板200的尺寸不等于凹槽120的尺寸时，通过调节盖板200与凹槽120的相对位置，当凹槽的120的第一侧壁121与盖板200的第二侧壁221抵接时，使得第一通孔115与第二通孔205正对。

在其他一些实施例中，凹槽120也可以不贯穿基板100的侧面，此时若凹槽120的形状及尺寸与盖板200的形状及尺寸一致时，将盖板200放入凹槽120内即可实现第一通孔115与第二通孔205正对。

可以理解的是，实现第一通孔115及第二通孔205对位方法，取决于基板100与盖板200的自身结构以及基板100与盖板200的固定方式，因此实现第一通孔115及第二通孔205的对位并不局限于上述方法(通过第一侧壁121与第二侧壁221抵接，或使盖板200的形状和尺寸与凹槽120的形状和尺寸一致)。只要满足当盖板200固定在基板100上后，能够通过第一通孔115及第二通孔205对光学元件进行光谱测量即可。

具体地，通过设置一个光发射单元(图未示)及光接收单元(图未示)，并将使得光发射单元、固定单元20及光接收单元间隔排布。光发射单元将检测光线从第一通孔115射向光学元件后，接收单元从第二通孔205接收穿过光学元件后的检测光线，以对光学元件进行光谱测量。发射单元也可以将检测光线从第二通孔205射向光学元件，相应接收单元从第一通孔115接收穿过光学元件后的检测光线。

进一步地，详参图2及图4，固定单元20还包括第一磁性件130及第二磁性件230，其中第一磁性件130及第二磁性件230分别设置于基板100及盖板200上，第一磁性件130与第二磁性件230之间磁性吸附固定，使得盖板200紧密贴合在凹槽120内。在本实施例中，当凹槽的120的第一侧壁121与盖板200的第二侧壁221抵接时，第一磁性件130与对应的第二磁性件230正对磁性吸附。

具体地，第一磁性件130及第二磁性件230分别为两个，以一一对应。在本实施例中，凹槽120的槽底沿对角方向开设有两个第一安装孔122，第一磁性件130为两个并分别固定在两个第一安装孔122内，盖板200靠近光学元件的一面开设有两个第二安装孔222，第二磁性件230同样为两个并分别固定在两个第二安装孔222内。当凹槽的120的第一侧壁121与盖板200的第二侧壁221抵接时，两个第一安装孔122分别与两个第二安装孔222呈正对设置，两个第一磁性件130分别与两个第二磁性件230磁性吸附固定。

进一步地，基板100设有凹槽120的一面还开设有缺口140，缺口140相邻于凹槽120并与凹槽120连通。在本实施例中，缺口140设置于两个第一侧壁121相连处，以便通过缺口140将盖板200顶起使得盖板200与基板100分离。在本实施例中，两个第一磁性件130分别距缺口140的距离相等。

进一步地，如图3所示，凹槽120的槽底开设有夹取槽150，夹取槽150为两个并分别相邻于收容槽110相对的两边，且两个夹取槽150分别连通收容槽110，使得可以方便地放置或取出光学元件。具体地，夹取槽150为条形结构，便于使用镊子通过两个夹取槽150夹取光学元件。

详参图1及图5所示，支撑单元30包括固定平台300及支架400，支架400固定在固定平台300上，固定单元20设置在支架400上。在本实施例中，第一通孔115的中心线与固定平台300的台面平行，以便沿水平方向对光学元件进行光谱测量。进一步地，支架400包括第一固定板410及第二固定板420，第一固定板410的一端及第二固定板420的一端分别与固定平台300连接固定，第一固定板410及第二固定板420配合形成一个V形的固定区450，以用于夹持固定单元20。

具体地，在本实施例中，盖板200固定在基板100上形成一个呈矩形板状结构的固定单元20，固定单元20相邻的两个侧边分别抵接第一固定板410及第二固定板420，以使得固定单元20固定在固定区450。

进一步地，第一固定板410及第二固定板420分别开设有第一卡槽411及第二卡槽412，以卡持固定单元20。

具体地，在本实施例中，第一固定板410及第二固定板420之间的夹角为90°，固定单元20呈矩形结构，当固定单元20固定于固定区450时，固定单元20相邻的两边分别与第一固定板410及第二固定板420抵接，且分别卡持于第一卡槽411及第二卡槽412内。固定单元20能够沿第一卡槽411或第二卡槽412滑入或滑出固定区450。

更具体地，第一固定板410包括第一基板414及第一固定块416，第一固定块416为两个并间隔设置在第一基板414上，以形成第一卡槽411。第二固定板420包括第二基板424及第二固定块426，第二固定块426为两个并间隔设置在第二基板424上，以形成第二卡槽412。在本实施例中，第一基板414与第一固定块416，以及第二基板424与第二固定块426分别为一体成型结构。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。