的凝胶卡相同，因此以下不作详细说明。若非另有说明，所有上述凝胶卡的特征对于第二实施例均仍适用。
[0089]与根据穿刺系统100的第一实施例相同的是，在本示例中，凝胶卡60的井62的穿刺和电离操作由一个共用的构件来执行。
[0090]图6示出了穿刺系统600包括电离设备602，该电离设备602设有形成穿刺构件的尖突604。在所示的示例中，穿刺尖突604被固定至安装座608，该安装座608可拆卸地固定至支撑件606，在该示例中该支撑件606是固定到自动分析仪10的支架上的三角板(setsquare)。穿刺系统600的安装因此变得简单，而且可以容易地将其结合到自动医学分析仪10中。穿刺尖突604的可拆卸安装还使其能够被定期清洁。
[0091]正如在第一实施例中，穿刺尖突604适于被施加一个能持续地产生电晕效应的电势。
[0092]凝胶卡60能够借助自动分析仪10的多关节机器人610而相对于穿刺系统移动。如图6所示，凝胶卡60的两端被钳口 614a、614b夹持，该钳口 614a、614b大体呈L形，且部分地形成多关节机器人610的端构件612。
[0093]使用上文提及的穿刺系统对凝胶卡60的密封膜64进行穿刺的方法与参照图4A至图4C描述的穿刺方法的不同之处仅在于将容器安装成能移动，而穿刺构件是静止不动的。
[0094]因此，在图7A所示的第一步骤中，凝胶卡60由多关节机器人610移动至进入位置，在该位置中凝胶卡60被置于穿刺尖突604下方，该卡中的井62的轴线A与穿刺尖突604对齐。
[0095]在该方法的第二步骤中，如图7B和图7C所示，凝胶卡60以平移移动的方式(在该示例中是竖直平移)向穿刺尖突604移动，直到凝胶卡60处于按入位置，在该按入位置中膜64被穿刺。
[0096]应注意的是，在本示例中，穿刺尖突604的直径远小于凝胶卡60的上部腔室62a的直径。在其它示例中，穿刺尖突604的直径可以更加小于或者大体等于凝胶卡60的上部腔室62a的直径。
[0097]凝胶卡60最终从其按入位置下降至位于穿刺尖突604下方的退出位置。
[0098]大体上，井62的穿刺和电离操作一起进行，更具体而言，在穿刺操作的整个过程中均执行电离操作。但这一实施方式不是限制性的，并且例如，电离可以在穿刺操作过程期间执行以及穿刺操作之后执行，或者只在穿刺操作之后执行。
[0099]参照第一实施例所描述的穿刺操作的各种依序排列的构形还可以应用于该第二实施例。
[0100]因此，可以将凝胶卡60设置为在其按入位置和/或在其退出位置保持静止一预定时间段，或者与之相反地，使凝胶卡60以连续来回移动的方式来进行在上部腔室62a内的移动，或者使推动穿刺尖突604的速度大于将穿刺尖突604撤回的速度。
[0101]虽然本发明参照具体实施例和实施方案进行描述，但应领会的是，在不脱离本发明权利要求所限定的总体范围的情况下，可以对这些示例做出各种修改和变型。具体而言，所示/所提及的多个不同实施例和实施方案的个别特征可以被结合在其它实施例和实施方案中。因此，说明书和附图应被认为是说明性的而非限制性的。
【主权项】
1.一种用于穿刺至少一个密封膜(18，64)的穿刺系统(100，600)，所述密封膜(18，64)将容器(12，60)的至少一个腔室(14，62)封闭，所述系统包括被配置成用以刺穿所述密封膜(18，64)的穿刺构件(110，604)以及用于消除所述腔室(14，62)可能携带的静电荷的电离设备(108，602)，所述电离设备(108，602)包括适于表现出电离性质的所述穿刺构件(110,604)。
2.根据权利要求1所述的穿刺系统，其中所述穿刺构件(110，604)包括穿刺尖突，所述穿刺尖突被设计成通过穿过所述密封膜(18，64)而穿入所述容器(12，60)的腔室(14，62)。
3.根据权利要求1或权利要求2所述的穿刺系统，其中所述容器(12，60)是凝胶卡，所述凝胶卡包括由密封膜(18，64)封闭的多个井，每个所述井容纳一种或多种试剂(R)，并且其中所述腔室(14，62)是所述凝胶卡中的井。
4.根据权利要求1至3中的任一项所述的穿刺系统，其中所述穿刺构件(110，604)适于被施加能够产生电晕效应的电势。
5.—种穿刺方法，用于穿刺将容器(12，60)的至少一个腔室(14，62)封闭的至少一个密封膜(18，64)，所述方法包括穿刺所述密封膜(18，64)以便打开所述腔室(14，62)以及消除所述腔室(14，62)可能携带的静电荷，其中借助单个共用的构件，亦即借助适于表现出电离性质的穿刺构件(I 10，604)，来执行密封膜(18，64)的穿刺和静电荷的消除。
6.根据权利要求5所述的穿刺方法，其中所述密封膜(18，64)的穿刺和所述静电荷的消除被一起执行。
7.根据权利要求5或权利要求6所述的穿刺方法，至少包括以下依次进行的步骤: 将所述穿刺构件(110，604)和所述容器(12，60)置于进入位置； 将所述穿刺构件(110，604)插入所述腔室(14，62)至按入位置，在该按入位置中所述密封膜(18，64)被穿刺；以及 从所述腔室(14，62)抽出所述穿刺构件(110，604)，并将所述穿刺构件(110，604)和所述容器(12，60)置于退出位置。
8.根据权利要求7所述的穿刺方法，其中从开始将所述穿刺构件(110，604)插入所述腔室到将所述的穿刺构件(110，604)从所述腔室(14，62)的撤回结束，所述穿刺构件(110，604)持续地或大体持续地表现出电离性质。
9.根据权利要求5至8中的任一项所述的穿刺方法，至少包括以下依次进行的步骤: 将所述穿刺构件(110)置于所述密封膜(18)上方的进入位置； 将所述穿刺构件(110)下降到所述腔室(14)中至按入位置，在该按入位置中所述密封膜(18)被穿刺；以及 将所述穿刺构件(110)从其按入位置回升到位于所述腔室(14)上方的退出位置。
10.根据权利要求5至8中的任一项所述的穿刺方法，至少包括以下依次进行的步骤: 将所述容器￠0)置于面对所述穿刺构件(604)的进入位置； 使所述容器￠0)向所述穿刺构件(604)移动，从而使所述穿刺构件(604)穿入所述腔室(62)至按入位置，在该按入位置中所述密封膜￠4)被穿刺；以及 通过将所述容器￠0)送至位于面对所述穿刺构件的退出位置，将所述容器￠0)移离所述穿刺构件(604)。
11.根据权利要求7至10中的任一项所述的穿刺方法，其中所述穿刺构件(110，604)和所述容器(12，60)在所述按入位置保持一预定时间段。
12.根据权利要求7至10中的任一项所述的穿刺方法，其中以连续来回移动的方式来执行将所述穿刺构件(110，604)插入所述腔室(14，62)以及从所述腔室(14，62)抽出所述穿刺构件的操作。
13.根据权利要求7至12中的任一项所述的穿刺方法，其中，在所述密封膜(18，64)被穿刺之后，所述穿刺构件(100，604)和所述容器(12，60)在所述退出位置中保持静止一预定时间段。
14.根据权利要求7至13中的任一项所述的穿刺方法，其中以第一预定速度执行所述穿刺构件(110，604)的插入，并且以第二预定速度执行所述穿刺构件(110，604)的抽出，所述第二预定速度等于、小于或大于所述第一预定速度。
【专利摘要】本发明涉及一种用于穿刺将容器的腔室(14)封闭的膜(18)的系统，所述系统包括被配置成用以刺穿膜(18)的穿刺构件(110)以及用于中和易被所述腔室(14)携带的静电荷的电离设备。根据本发明，所述电离设备包括穿刺构件(110)，该穿刺构件被设计为具有电离性质。本发明还涉及一种用于穿刺将容器的至少一个腔室(14)封闭的至少一个膜(18)的方法，所述方法包括为了打开所述腔室(14)而穿刺膜(18)，以及中和易由所述腔室(14)携带的静电荷，其中利用同一个具有电离性质的穿刺膜(110)来完成穿刺膜(18)及中和静电荷的操作。
【IPC分类】B67B7-00, B67B7-48, B65B3-00, G01N35-10
【公开号】CN104540773
【申请号】CN201380040926
【发明人】让-米歇尔·布里瑟布拉特, 塞德里克·戈冈佩恩, 帕斯卡尔·巴瑟洛恩
【申请人】达亚美有限公司
【公开日】2015年4月22日
【申请日】2013年5月31日
【公告号】CA2874717A1, EP2855341A1, US20150185116, WO2013178961A1