专利名称：一种激光粒度分析仪专用一体化光发射系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种用于分析粉体粒度的分析仪器，具体指一种激光粒度分析仪专用一体化光发射系统。
激光粒度分析仪是目前世界上应用面最广、综合性能最优的粉体粒度测试仪器之一。由激光器、扩束镜和针孔滤波器组成的光发射系统是激光粒度分析仪的关键组件之一。在现有的激光粒度仪中，激光器、扩束镜和针孔滤波器是相互分离的，这种结构的缺点在于①抗震动能力弱，不便搬动，不便在有较强震动的环境中使用；②灰尘容易进入并吸附在激光管的出射端面、扩束镜和针孔上，增加了维护的难度和工作量；③在激光管周围形成的空气对流增加了激光输出功率的不稳定性；④仪器使用一段时间后需要更换激光管时，针孔的调节相当困难，仪器用户难以自行完成；⑤结构比较复杂，造价较高。
本实用新型的目的就在于提供一种激光粒度分析仪专用一体化光发射系统，以通过将激光粒度分析仪中的关键组件光发射系统设计为一体化结构，使其在较好地保留现有技术的使用功能和优点的同时，还具有抗震能力强、使用维护和维修方便、有效地排除激光管周围形成的空气对流、激光输出功率稳定以及结构简单、成本低廉等优点，较好地克服现有技术的不足。
本实用新型的目的是通过以下方式来实现的一种激光粒度分析仪专用一体化光发射系统，主要包含有激光管、扩束镜和针孔滤波器，其特征在于上述激光管、扩束镜和针孔滤波器同心地安装在若干段套筒内，各套筒之间互为同心，并相互连接为一体，套筒的两端均为封闭结构。
采用本实用新型的一种激光粒度分析仪专用一体化光发射系统，由于将光发射系统设计为一体化结构，使采用了本设计的激光粒度分析仪在较好地保留现有技术的使用功能和优点的同时，还具有抗震能力强、使用维护和维修方便、有效地排除激光管周围形成的空气对流、激光输出功率稳定以及结构简单、成本低廉等优点，有效地克服了现有技术的不足。
图1是现有技术的光发射系统结构示意图；图2是本实用新型的光发射系统结构示意图。
其中1-激光管，2-金属套筒，3-玻璃胶，4-扩束镜，5-针孔滤波器，6-套筒，7-封盖。
以下结合附图及实施例对本实用新型作进一步描述。
如图2所示，现有技术的激光粒度分析仪光发射系统，激光管1、扩束镜4和针孔滤波器5是采用分散设置，因而在实施过程中存在着如前所述的不足，给用户带来不必要的麻烦。而本实用新型的一种激光粒度分析仪专用一体化光发射系统，主要包含有激光管1、扩束镜4和针孔滤波器5，其特征在于上述激光管1、扩束镜4和针孔滤波器5同心地安装在若干段套筒内，各套筒之间互为同心，并相互连接为一体，套筒的两端均为封闭结构。在具体实施中，激光管1安装在金属套筒2内，二者同心，并通过有弹性的柔软材料连接，扩束镜4和针孔滤波器5同心地安装在另一套筒6内，三者之间互为同心，金属套筒2与套筒6通过螺纹同心的连接为一体；在金属套筒2的一端与套筒6连接为一体，另一端设置有可阻止激光管周围空气对流的封盖7。上述激光管1可通过玻璃胶3安装在金属套筒2内。
权利要求1.一种激光粒度分析仪专用一体化光发射系统，主要包含有激光管(1)、扩束镜(4)和针孔滤波器(5)，其特征在于上述激光管(1)、扩束镜(4)和针孔滤波器(5)同心地安装在若干段套筒内，各套筒之间互为同心，并相互连接为一体，套筒的两端均为封闭结构。
2.根据权利要求1所述的一种激光粒度分析仪专用一体化光发射系统，其特征在于激光管(1)安装在金属套筒(2)内，二者同心，并通过有弹性的柔软材料连接，扩束镜(4)和针孔滤波器(5)同心地安装在另一套筒(6)内，三者之间互为同心，金属套筒(2)与套筒(6)通过螺纹同心的连接为一体。
3.根据权利要求1所述的一种激光粒度分析仪专用一体化光发射系统，其特征在于在金属套筒(2)的一端与套筒(6)连接为一体，另一端设置有可阻止激光管周围空气对流的封盖(7)。
4.根据权利要求1至4所述的一种激光粒度分析仪专用一体化光发射系统，其特征在于上述激光管(1)可通过玻璃胶(3)安装在金属套筒(2)内。
专利摘要一种激光粒度分析仪专用一体化光发射系统,主要包含有激光管、扩束镜和针孔滤波器,其特征在于上述激光管、扩束镜和针孔滤波器同心地安装在若干段套筒内,各套筒之间互为同心,并相互连接为一体,套筒的两端均为封闭结构,采用技术的激光粒度分析仪,具有抗震能力强、使用维护和维修方便、有效地排除激光管周围形成的空气对流、激光输出功率稳定以及结构简单、成本低廉等优点,有效地克服了现有技术的不足。
文档编号G01N15/02GK2441138SQ0022895
公开日2001年8月1日 申请日期2000年7月24日 优先权日2000年7月24日
发明者张福根, 林泠 申请人:珠海经济特区欧美克仪器有限公司