专利名称：化学皮膜阻抗值检测装置的制作方法
技术领域：
一种化学皮膜阻抗值检测装置，适用于检测一化学皮膜层的表面的电阻抗值，其中，该化学皮膜层形成于一电子产品外壳的表面。
背景技术：
近年来，随着电子产业的高速发展，为适应电子产品日益轻、薄、短、小的趋势，电子产品的外壳逐渐选用轻量化、高强度的合金材料来制造。然而，以笔记本电脑为例，外界不明的电磁波会干扰电脑内部传送的信号的频率或振幅，因而影响电脑内部的运作，产生电磁干扰(Electro-Magnetic Interference，EMI)。因此，选择具有高电磁屏蔽性的金属，作为笔记本电脑外壳的材料，可借助于金属的屏蔽作用，即电磁屏蔽的能力，使得电脑内部传送的信号，不受外界不明电磁波的干扰。
铝镁合金具有质轻、强度高、耐冲击、耐磨耗的优点，并结合其优良的散热性及良好的电磁屏蔽性，使得铝镁合金大量应用在笔记本电脑、移动电话、个人数字助理(PDA)及各种数据储存系统等等的电子产品外壳的材质上。由于铝镁合金是一种高活性金属，在成形并经过加工之后，必须进行表面处理，才能使成品具有耐蚀及美观的表面，而表面处理中最重要的是化学皮膜处理。其中，化学皮膜处理是在铝镁合金成品的表面上，形成一化学皮膜层，其材质例如为铬酸盐或镍磷合金，用以增加表面的耐腐蚀性与耐摩擦性。此外，可通过渗透作用，将有机或无机染料渗入皮膜的毛细孔内，形成有颜色的成品。或以电镀的方式，将二硫化铝(MoS2)或铁氟龙(PTFE)填入皮膜的毛细孔内，以增加表面的润滑性。
由于铝镁合金已广泛应用于电子产品的外壳材料，例如笔记本电脑外壳、手机外壳。然而，以铝镁合金制作成电子产品的外壳时，在外壳表面的化学皮膜层的组成均匀度及厚度，除了影响铝镁合金表面的耐腐蚀性之外，对于铝镁含金外壳的电磁屏蔽能力，具有绝对性的影响。因此，当铝镁合金外壳表面在经过化学皮膜处理之后，必须对化学皮膜层进行电阻抗值的测试，进而控制及改善化学皮膜层的品质。
一般量测铝镁合金外壳上的化学皮膜层的电阻抗值的方法，是借助于量测工具，其包括两根金属探针、一个微欧姆计及两条连接探针与微欧姆计的金属导线，以人工操作的方式，将两根金属探针的针头同时接触待测表面，即化学皮膜层的表面，并同时量取一段固定距离，透过微欧姆计所量测出的电阻抗值，以判断化学皮膜层表面的固定距离间的电阻抗值是否符合在标准电阻值以下。然而，此种量测的方式，具有下列缺点1.当探针的针头接触待测表面时，量测者不易控制针头与待测表面之间的接触压力，使得量测出的电阻抗值与真实的电阻抗值差异甚大。
2.当量测待测表面上某一段固定距离之间的电阻抗值，并判断是否在标准值以下时，是通过人工的操作来量取此段固定距离，因此将会有较大的误差出现，若量取的距离大于或小于此固定距离，将使得适用于此固定距离的标准电阻值，不再适用于此段误差距离所产生的电阻值。
发明内容
本实用新型的目的在于提出一种化学皮膜阻抗值检测装置，用以量测一铝镁合金外壳上的化学皮膜层、其表面的电阻抗值的大小及状态，以确保此量测的电阻抗值不受人为因素的影响。
根据本实用新型的上述及其他目的，本实用新型提出一种化学皮膜阻抗值检测装置，适用于检测一化学皮膜层的表面的电阻抗值，其至少包括一固定座，大约呈“”形，其具有一底面、一凹槽及二嵌孔，其中凹槽为凹陷于固定座的底面，而这些嵌孔则位于固定座的内部；二探针，分别嵌入对应的嵌孔，并分别具有一探测端及一传输端，其中这些探测端大约与固定座的底面对齐，并由于凹槽而裸露于外，在检测时，这些探测端分别与化学皮膜层的表面的两点相接触；以及一电阻计，其分别与对应的探针的传输端电连接，用以检测化学皮膜层的上述两点间的电阻抗值。
根据本实用新型的上述及其他目的，本实用新型提出一种化学皮膜阻抗值检测装置，适用于检测一化学皮膜层的表面的电阻抗值，至少包括一固定座，具有一底面及二嵌孔，其中这些嵌孔位于固定座的内部；二探针，分别嵌入对应的嵌孔，这些探针分别具有一探测端及一传输端，其中这些探测端大约与固定座的底面对齐，在检测时，这些探测端分别与化学皮膜层的表面的两点相接触以及一电阻计，其分别与对应的探针的传输端电连接，用以检测化学皮膜层的上述两点间的电阻抗值。
为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附图示，进行详细说明。
图1所示为根据本实用新型较佳实施例的化学皮膜阻抗值检测装置置于一化学皮膜层上的剖面示意图；图2所示为图1的固定座的底部形状改变后的剖面示意图。
具体实施方式
参考图1，其为根据本实用新型较佳实施例的一种化学皮膜阻抗值检测装置置于一化学皮膜层上的剖面示意图。本实用新型的化学皮膜阻抗值检测装置包括一固定座10、两根探针20、一电阻计30及导线40。固定座10的截面形状大约呈“”形，并具有一底面12、一凹槽14及两个嵌孔16，其中凹槽14凹陷于固定座10的底面12，而嵌孔16位于固定座10之中，并可通过贯穿固定座10的中央而形成，用以分别使探针20嵌入。此外，探针20为嵌入对应的嵌孔16之中，探针20具有一探测端22及一传输端24，探测端22大约与固定座10的底面12对齐，以便于在检测时，探针20的探测端22能与化学皮膜层50的待测表面52相接触，其中，探针20的探测端22可由于槽14而裸露于外。另外，电阻计30，例如为一微欧姆计，通过导线40与对应的探针20的传输端24电连接，并通过探针20的探测端22与待测表面52相接触，用以量测待测表面52上两点54、56间的电阻抗值，其中两点54、56之间的距离为一预设距离58，其大小可任意改变。
为说明本实用新型的使用方法，参考图1，首先，将配置有探针20的固定座10放置于化学皮膜层50的待测表面52上，并由导线40分别将探针20的传输端24连接至电阻计30。其次，透过凹槽14以检视裸露出探针20的探测端22是否与待测表面52相接触，并检视导线40与探针20的传输端24是否有松脱及接触不良的情形，确认无误之后，读取电阻计的数值，即可得到待测表面52上的两点54、56之间的电阻抗值。其中，为了不影响量测出的电阻抗值，固定座10的材质以绝缘材料为佳。
同样参考图1，在嵌孔16的内壁与探针20的外缘间，可配置一管状的衬套26，用以紧密配合嵌孔16的内壁与探针20的外缘，从而固定探针20，其中，衬套26的材质可为一弹性材料。为了确保探针20的探测端22与待测表面52接触，可使探测端22稍微突出于固定座10的底面12，同时在衬套26的材质为一弹性材料的情况下，富固定座10置于待测表面52时，探针20突出的探测端22将受到待测表面52的上顶而上移，直到探测端22大约与底面12对齐，并造成衬套26的弹性变形，此时可借助于衬套26的弹性恢复力，使得探测端22持续下压特测表面52，以维持探测端22与待测表面52之间的接触。通过上述的方式，可使得过于突出的探测端22得以弹性回缩，以避免固定座10与探针20的重量均集中在探测端22的尖端而下压待测表面52，因而在待测表面52上形成压痕。
为简化数值读取的步骤，参考图1，对于待测表面52的预设距离58之间的电性阻抗，设定一最大容许的电阻抗值，作为一标准值，并设定在电阻计30中，且连接一指示灯32至电阻计30，其中指示灯32包括发光二极管(LED)，用以显示待测表面52的电阻抗值的状态。在量测不同的待测表面52的情况下，当电阻计30的量测值大于上述所设定的标准值时，电阻计30将发出警示信号至指示灯32，使指示灯32发出警示灯号，例如发出红色灯号，以表示此待测表面52的电阻抗值大于标准值。反之，当电阻计30的量测值小于上述设定的标准值时，电阻计30将发出通过信号至指示灯32，使指示灯32发出通过灯号，例如发出绿色灯号，以表示此待测表面52的电阻抗值小于标准值。通过在电阻计30内设定一标准值，并以指示灯32显示待测表面52的电阻抗值的状态，将易于辨识此电阻抗值是否合乎标准，从而可大幅缩短检测的时间。
参考图2，其为图1的固定座的底部形状改变后的剖面示意图。由于图1的凹槽14可裸露出探针20的探测端22，故可通过目视来辨识探测端22是否与待测表面52接触。尽管图2的固定座110虽不具有如图1所示的凹槽14，仍然可将探针120的探测端122与待测表面152接触，根据电阻计130是否测得出数值来获知探针120的探测端122是否与待测表面152接触。同样地，可将探测端122稍微突出于固定座110的底面112，以确保探测端122与待测表面152接触，同时在衬套126的材质为一弹性材料的情况下，当固定座110置于待测表面152时，探针120的突出的探测端22将受到待测表面152的上顶而上移，直到探测端122大约与底面112对齐，并造成衬套126的弹性变形，此时可借助于衬套126的弹性恢复力，使得探测端122持续下压待测表面152，以维持探测端122与待测表面152之间的接触。
综上所述，本实用新型的化学皮膜阻抗值检测装置，具有下列优点(1)使用本实用新型的化学皮膜阻抗值检测装置，可使探针的探测端与化学皮膜层的待测表面之间持续接触，以避免接触不良而影响量测出的电阻抗值，进而提高量测结果的准确度。
(2)使用本实用新型的化学皮膜阻抗值检测装置，可固定探针的探测端之间的预设距离，使得对应此预设距离而订出的标准的电阻抗值，适用于此预设距离所量测出来的电阻抗值。
(3)使用本实用新型的化学皮膜阻抗值检测装置，将电阻计连接一指示灯，根据量测值是否在标准值以下，而显示警示灯号或是通过灯号，将使得检测人员无须读取电阻计上的数值，即可得知此待测表面上两点之间的电阻值是否符合标准值，以缩短检测的时间。
虽然本实用新型已通过一较佳实施例进行了上述说明，然其并非用以限定本实用新型，任何本专业技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下，都可进行适当的变动和改进，本实用新型的保护范围以权利要求所界定的范围为准。
权利要求1.一种化学皮膜阻抗值检测装置，适用于检测一化学皮膜层的表面的电阻抗值，至少包括一固定座，大约呈“”形，其具有一底面、一凹槽及二嵌孔，其中该凹槽凹陷于该固定座的该底面，而所述嵌孔位于该固定座的内部；二探针，分别嵌入对应的这些嵌孔，这些探针分别具有一探测端及一传输端，其中所述探测端大约与所述底面对齐，并因所述凹槽而裸露于外，在检测时，该探测端分别与该化学皮膜层的表面的两点相接触；以及一电阻计，其分别与对应的这些探针的所述传输端电连接，用以检测该化学皮膜层的所述两点间的电阻抗值。
2.如权利要求1所述的化学皮膜阻抗值检测装置，其中在所述嵌孔的内壁与对应的所述探针的外缘之间，可分别配置一衬套，用以分别紧密配合这些探针的外缘与这些嵌孔的内壁，以固定这些探针。
3.如权利要求2所述的化学皮膜阻抗值检测装置，所述衬套的材质包括弹性材料。
4.如权利要求1所述的化学皮膜阻抗值检测装置，其中所述固定座的材质包括绝缘材料。
5.如权利要求1所述的化学皮膜阻抗值检测装置，其中所述电阻计包括微欧姆计。
6.如权利要求1所述的化学皮膜阻抗值检测装置，其中所述电阻计还连接一指示灯。
7.如权利要求6所述的化学皮膜阻抗值检测装置，其所述指示灯包括一发光二极管。
8.一种化学皮膜阻抗值检测装置，适用于检测一化学皮膜层的表面的电阻抗值，至少包括一固定座，具有一底面及二嵌孔，其中所述嵌孔位于该固定座的内部；二探针，分别嵌入对应的所述嵌孔，所述探针分别具有一探测端及一传输端，其中所述探测端大约与所述底面对齐，在检测时，该探测端分别与该化学皮膜层的表面的两点相接触；以及一电阻计，其分别与对应的所述探针的所述传输端电连接，用以检测该化学皮膜层的所述两点间的电阻抗值。
9.如权利要求8所述的化学皮膜阻抗值检测装置，其中所述嵌孔的内壁与对应的所述探针的外缘之间，可分别配置一衬套，用以分别紧密配合这些探针的外缘与这些嵌孔的内壁，以固定这些探针。
10.如权利要求9所述的化学皮膜阻抗值检测装置，所述衬套的材质包括弹性材料。
11.如权利要求8所述的化学皮膜阻抗值检测装置，其中所述固定座的材质包括绝缘材料。
12.如权利要求8所述的化学皮膜阻抗值检测装置，其中所述电阻计包括微欧姆计。
13.如权利要求8所述的化学皮膜阻抗值检测装置，其中所述电阻计还连接一指示灯。
14.如权利要求13所述的化学皮膜阻抗值检测装置，其中所述指示灯包括一发光二极管。
专利摘要一种化学皮膜阻抗值检测装置，适用于检测一化学皮膜层的表面的电阻抗值，包括一固定座，大约呈“冂”形，其具有一底面、一凹槽及二嵌孔，其中凹槽凹陷于固定座的底面，而嵌孔位于固定座的内部；二探针，分别嵌入对应的嵌孔，并分别具有一探测端及一传输端，其中两探测端大约与底面对齐，并因凹槽而裸露于外，在检测时，这些探测端分别与化学皮膜层的表面的两点相接触；以及一电阻计，其分别与对应的探针的传输端电连接，用以检测化学皮膜层的上述两点间的电阻抗值。
文档编号G01N27/02GK2537976SQ01259630
公开日2003年2月26日 申请日期2001年8月31日 优先权日2001年8月31日
发明者彭文宏 申请人:神基科技股份有限公司