专利名称：硬盘磁头定位的测试方法
技术领域：
本发明涉及一种定位的测试方法，特别是一种硬盘磁头定位的测试方法。
背景技术：
随机寻道/读取(seek/read)测试，为测试硬盘性能的项目之一，采用随机的方式对硬盘进行寻道以及读取测试。现有的技术为利用伪随机算法在硬盘的大小范围内，随机计算出一个测试位置，然后将磁头移动至该测试位置，进行读取操作，最后判断读取动作是否成功。
这种测试方法重点在于测试硬盘的读取功能，因为磁头移动到测试位置后，只是在该点做了读取操作，是否能够准确地到达某个位置，尚缺乏一个验证的机制。
此外，由于测试的算法为伪随机算法，每次测试的位置都是随机设定，因此当测试的次数比较少时，可能会有重复测试同一个位置的情况发生，不停地停留在同一点便失去了测试的意义，因此，如何能提供一种可实时地测试出磁头寻道功能是否出现偏差的方法，成为研究人员待解决的问题之一。
发明内容
本发明所要解决地技术问题在于提供一种硬盘磁头定位的测试方法，当硬盘磁头性能存在问题时，进行若干次定位或是经过远距离寻道后，磁头会出现偏差，此方法便是要及早测试出这些问题，通过伪随机算法，实时地测试出磁头定位出现的偏差，以及避免随机测试的位置集中在某个区域，以解决现有技术所存在的问题。
因此，为实现上述目的，本发明所公开的一种硬盘磁头定位的测试方法，利用一磁头对硬盘进行定位以及读取测试，此硬盘划分有多个磁扇(Sector)，各个磁扇具有一磁扇地址，此方法包含下列步骤(a)将多个磁扇依等间隔依序选择一磁扇的磁扇地址，以作为参照磁扇地址；(b)随机产生一测试磁扇地址；(c)将磁头移动至测试磁扇地址，读取测试磁扇地址对应的磁扇所储存的数据，并记录为第一读取数据；(d)将磁头自测试磁扇地址移动至各个参照磁扇地址，再返回测试磁扇地址，且再次读取测试磁扇地址对应的磁扇所储存的数据，并记录为第二读取数据；以及(e)对比第一读取数据和第二读取数据。
采用本发明所要提供地硬盘磁头定位的测试方法，当硬盘磁头性能存在问题时，进行若干次定位或是经过远距离寻道后，磁头会出现偏差，此方法能及早测试出这些问题，通过伪随机算法，实时地测试出磁头定位出现的偏差，而且，避免随机测试的位置集中在某个区域的问题。
图1A至图1C为本发明的硬盘磁头定位的测试方法流程图；以及图2为本发明的一较佳实施例示意图。
具体实施例方式
为使对本发明的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解，兹配合实施例详细说明如下。以上的关于本发明内容的说明及以下的实施方式的说明用以示范与解释本发明的原理，并且提供本发明的权利要求更进一步的解释。
如图1A至图1C所示，为本发明的硬盘磁头定位的测试方法流程图，利用一磁头对一硬盘进行定位以及读取测试，此硬盘划分为多个磁扇(Sector)，各个磁扇的容量为512字节(byte)，每一磁扇具有一对应的磁扇地址。
首先，将多个磁扇依照等间隔依序选择一磁扇对应的磁扇地址，以作为参照磁扇地址(步骤110)，此步骤选择至少一起始磁扇地址以及一终点磁扇地址作为参照磁扇地址。
接着，随机产生一测试磁扇地址(步骤120)，此测试磁扇地址利用一伪随机算法获得，之后，将磁头移动至测试磁扇地址，读取测试磁扇地址对应的磁扇所储存的数据，并记录为第一读取数据(步骤130)，可将此第一读取数据储存于第一硬盘缓冲区(步骤132)。
然后，将磁头自测试磁扇地址移动至各个参照磁扇地址，依照每一参照磁扇地址的大小，由小至大依序移动至每一参照磁扇地址，之后再返回测试磁扇地址，且再次读取测试磁扇地址对应的测试磁扇所储存的数据，并记录为第二读取数据(步骤140)，可将第二读取数据储存于第二硬盘缓冲区(步骤142)。
最后，对比第一读取数据和第二读取数据是否相同(步骤150)，当两者数据相同时，判断磁头随机寻道功能无误(步骤160)，而当两者数据不相同时，判断磁头随机寻道功能有误(步骤170)。
如图2所示，为本发明的一较佳实施例示意图，此实施例为利用磁头对一块容量为80GB的硬盘进行定位以及读取测试。
由于每个磁扇(sector)的数据量为512byte，故一块80GB的硬盘可分为167772160个磁扇，在此以40GB做为固定间隔，每隔40GB即设定1参照点，如此可设定3个参照点，分别为起点、中间点、以及终点；3个参照点的磁扇地址分别为A＝0、B＝83886080，以及C＝167772160。
利用伪随机算法以得到一个测试磁扇地址为D＝10000，磁头寻道至磁扇D，并读取磁扇D的数据，且存放至第一硬盘缓冲区中。
接着，磁头从D地址依序寻道至A、B、C位置，最后再从C回到D位置，并再次读取磁扇D的数据，将数据存放至第二硬盘缓冲区中。
最后对比第一硬盘缓冲区以及第二硬盘缓冲区中的数据是否一致，若一致则判断磁头寻道测试成功，倘若不相同，则判断磁头随机寻道功能有误。
上述操作利用3个参照点A、B、C，作了离D点距离最远和相对较近的寻道操作，以测试在极限情况下磁头是否能够准确回到原本的位置，判断是否准确回到原本的位置是根据第一硬盘缓冲区以及第二硬盘缓冲区中的数据是否一致来决定。
采用本发明所要提供地硬盘磁头定位的测试方法，当硬盘磁头性能存在问题时，进行若干次定位或是经过远距离寻道后，磁头会出现偏差，此方法能及早测试出这些问题，通过伪随机算法，实时地测试出磁头定位出现的偏差，而且，避免随机测试的位置集中在某个区域的问题。
当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
权利要求
1.一种硬盘磁头定位的测试方法，利用一磁头对一硬盘进行定位以及读取测试，该硬盘具有多个磁扇，各该磁扇具有一磁扇地址，其特征在于，该方法包含下列步骤将该多个磁扇依等间隔依序选择一磁扇的该磁扇地址，以作为一参照磁扇地址；随机产生一测试磁扇地址；将该磁头移动至该测试磁扇地址，读取该测试磁扇地址对应的该测试磁扇所储存的数据，并记录为一第一读取数据；将该磁头自该测试磁扇地址移动至各该参照磁扇地址，再返回该测试磁扇地址，且再次读取该测试磁扇地址对应的该测试磁扇所储存的数据，并记录为一第二读取数据；以及对比该第一读取数据和该第二读取数据。
2.根据权利要求1所述的硬盘磁头定位的测试方法，其特征在于，各该磁扇的容量为512字节。
3.根据权利要求1所述的硬盘磁头定位的测试方法，其特征在于，该将该多个磁扇依等间隔依序选择一磁扇的该磁扇地址，以作为一参照磁扇地址的步骤，是选择至少一起始磁扇地址以及一终点磁扇地址作为参照磁扇地址。
4.根据权利要求1所述的硬盘磁头定位的测试方法，其特征在于，该测试磁扇地址利用一伪随机算法获得。
5.根据权利要求1项所述的硬盘磁头定位的测试方法，其特征在于，该读取该测试磁扇地址对应的该测试磁扇所储存的数据，并记录为一第一读取数据的步骤之后，还包含有一将该第一读取数据储存于一第一硬盘缓冲区的步骤。
6.根据权利要求1所述的硬盘磁头定位的测试方法，其特征在于，该将该磁头自该测试磁扇地址移动至各该参照磁扇地址的步骤，依照各该参照磁扇地址的大小，由小至大依序移动至各该参照磁扇地址。
7.根据权利要求1所述的硬盘磁头定位的测试方法，其特征在于，该再次读取该测试磁扇地址对应的该测试磁扇所储存的数据，并记录为一第二读取数据的步骤之后，还包含有一将该第二读取数据储存于一第二硬盘缓冲区的步骤。
8.根据权利要求1所述的硬盘磁头定位的测试方法，其特征在于，该对比该第一读取数据和该第二读取数据的步骤，是当两者数据相同时，判断该磁头随机寻道功能无误，当两者数据不相同时，判断该磁头随机寻道功能有误。
全文摘要
本发明公开一种硬盘磁头定位的测试方法，通过磁头对硬盘进行定位以及读取测试，此硬盘具有多个磁扇，各个磁扇具有一磁扇地址，首先将各个磁扇依等间隔依序选择一参照磁扇地址，接着随机产生一测试磁扇地址，将磁头移动至测试磁扇地址，读取其对应的磁扇所储存的数据，并记录为第一读取数据，之后将磁头自测试磁扇地址移动至各个参照磁扇地址，再返回测试磁扇地址，且再次读取测试磁扇地址对应的磁扇所储存的数据，并记录为第二读取数据，最后比对第一读取数据和第二读取数据，以判断磁头寻道功能是否出现偏差。因此，当硬盘磁头性能存在问题时，进行若干次定位或是经过远距离寻道后，磁头会出现偏差，能避免随机测试的位置集中在某个区域的问题。
文档编号G01R33/00GK1917042SQ20051009077
公开日2007年2月21日 申请日期2005年8月16日 优先权日2005年8月16日
发明者焦学莲, 陈玄同, 刘文涵 申请人:英业达股份有限公司