专利名称：自动测试设备实现匹配测试的方法
技术领域：
本发明涉及一种自动测试设备的测试方法，特别是涉及一种自动测试 设备对于时钟异步电路的测试方法。
背景技术：
数字电路通过测试向量(test vector)进行测试，测试向量由一个输 入和对应该输入的期待输出组成。针对一个测试向量，将其中的输入作为 待测电路的输入，如果实际输出与期待输出一致，表示测试通过；否则表 示测试失败。通常，待测电路的输入或输出都可以用1位或n位的二进制 数表示。在最坏的情况下， 一个n输入的组合电路需要2"个测试向量，以 穷举所有可能出现的输入。
对于某些特殊的数字电路，例如时钟异步电路，其对于同一个输入可 能有多种不同输出，因此只要在允许的次数内出现至少一次期待输出即可。 针对这些特殊的数字电路需要采用匹配测试，请参阅图1。所谓匹配测试就 是对同一个测试向量进行多次重复测试，重复测试的次数为该待测电路允 许该输入的匹配次数，其中只要有一次实际输出与期待输出一致即表示匹 配测试通过；否则表示匹配测试失败。
现有的自动测试设备(ATE， Automated Testing Equipment)中，有 些根本没有匹配测试功能，有些仅具有简单的匹配测试功能，例如限制同 一输入的匹配测试次数等，这对芯片的测试造成了很大的制约。如果采用具有完备匹配测试功能的自动测试设备，则需要高昂的购买及维护费用， 操作也较为复杂、繁琐。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种自动测试设备实现匹配测试的方法。
为解决上述技术问题，本发明自动测试设备实现匹配测试的方法包括 下列步骤-
第1步，形成测试向量，所述测试向量包括多个重复的向量段，每个 向量段包括待测电路的一个输入以及对应的期待输出；
第2步，通过自动测试设备对待测电路运行该测试向量，将每个向量 段的实际输出与期待输出进行比较，并将比较结果输出为文件；
第3步，分析输出文件，当至少有一个向量段的实际输出与期待输出 相同即表示匹配测试成功，否则表示匹配测试失败。
本发明可以使不具有或仅具有简单匹配测试功能的自动测试设备实现 匹配测试功能，从而满足某些特殊芯片的测试要求，扩展自动测试设备的 应用范围。
下面结合附图和实施例对本发明作进一步详细的说明 图1是现有的自动测试设备实现匹配测试的方法的流程图； 图2是本发明自动测试设备实现匹配测试的方法的流程图； 图3是本发明自动测试设备实现匹配测试的方法的示意图。
具体实施方式
请参阅图2，本发明自动测试设备实现匹配测试的方法包括下列步骤 第1步，形成测试向量，所述测试向量包括多个重复的向量段，每个 向量段包括待测电路的一个输入以及对应的期待输出。传统的匹配测试是 对一个向量段进行多次重复测试，本发明的这一步构建的测试向量是将一 个向量段多次重复形成的。
第2步，通过自动测试设备对待测电路运行该测试向量，将每个向量 段的实际输出与期待输出进行比较，并将比较结果输出为文件。传统的匹 配测试需要得到自动测试设备的支持，对于不支持匹配测试的自动测试设 备，运行本发明第1步形成的测试向量实质上相当于多次重复运行其中的 向量段。
第3步，分析输出文件，当一个或多个向量段的实际输出与期待输出 相同即表示匹配测试成功，否则表示匹配测试失败。传统的匹配测试中只 要有一次通过即表示匹配测试成功，本发明的测试向量中只要有一个向量 段通过即表示匹配测试成功。
下面兹以一具体实施例对本发明所述方法进行详细的说明。
请参阅图3，需要对某时钟异步电路进行匹配测试，测试的向量段为 (5,5)，其中5为该电路的一个输入，5为该电路对输入5的期待输出。如果 该电路是一个m输入n输出的电路结构，那么5就是一个m位的二进制数， S就是一个n位的二进制数。该电路允许对向量段(5j)进行匹配的次数为3 次，可是自动测试设备不支持匹配测试，按照下列步骤即可由该自动测试 设备实现匹配测试第1步，形成测试向量(5,5,5,5,5,5)，测试向量(5，6,5,S,S,5)是按照匹配次 数3次重复向量段(5,5)得到的。测试向量(5,5，5,5,5，S)存储在自动测试设备 中，并且每个向量段(5,S)存储在不同的存储地址。
第2步，由自动测试设备运行测试向量(5,S,5，S，5,S)，在运行过程中将 每个向量段(5,S)的实际输出S,、 S2、 53和期待输出S的比较结果
(SiA^，S,^,S)实时传输到指定的存储器。在运行结束后再将该比较结果 (、,5,52，5,53^)输出为文^牛。
输出文件(^5，52^53,6)可以包括每个向量段的实际输出与期待输出一 致和不一致的部分，或者仅包括每个向量段的实际输出与期待输出一致的 部分，或者仅包括每个向量段的实际输出与期待输出不一致的部分。例如，
S,、 S2、 53和5都是11位二进制数，其中5,和5仅有1位不同，62和5仅有3 位不同，63和5各位均相同。那么输出文件(5,，5，^，S，S3，S)可以包括S,和S、 ^和S、 53和5的全部比较结果；或者仅包括、和5、 ^和5、 ^和5的不一 致的结果即^和5不相同的1位、52和6不相同的3位；或者仅包括、和5、 52和6、 ^和S的一致的结果即S,和S相同的n-l位、^和5相同的n-3位、 ^和5相同的n位。
输出文件(^5,S2,S,S3,5)还包括一个或多个向量段的存储地址，并将每
个向量段的实际输出与期待输出的比较结果指向该向量段的存储地址。例 如，输出文件(&,S，^，S,^，5)还包括每个向量段(5,S)的存储地址，并且将、和 S的比较结果指向第一个向量段(5,5)的存储地址，将S2和5的比较结果指向
第二个向量段(S,S)的存储地址，将^和S的比较结果指向第二个向量段(5，S)的存储地址。
第3步，分析输出文件(^5，^,5,63,S)，发现只有第三个向量段(5,5)的 实际输出53和期待输出S相同，那么匹配测试成功。
由此，本发明可以使不支持匹配测试的自动测试设备实现匹配测试功 能，从而扩展了这些设备的应用范围，避免了购置新设备的花费。
权利要求
1. 一种自动测试设备实现匹配测试的方法，其特征是所述方法包括下列步骤第1步，形成测试向量，所述测试向量包括多个重复的向量段，每个向量段包括待测电路的一个输入以及对应的期待输出；第2步，通过自动测试设备对待测电路运行该测试向量，将每个向量段的实际输出与期待输出进行比较，并将比较结果输出为文件；第3步，分析输出文件，当至少有一个向量段的实际输出与期待输出相同即表示匹配测试成功，否则表示匹配测试失败。
2. 根据权利要求l所述的自动测试设备实现匹配测试的方法，其特征 是所述测试向量包括向量段的数目等于待测电路允许该向量段进行匹配 的次数。
3. 根据权利要求l所述的自动测试设备实现匹配测试的方法，其特征 是:该方法的第2步中，所述自动测试设备先将所述比较结果实时传输到 指定的存储器，待测试向量运行完毕后再将所述比较结果输出为文件。
4. 根据权利要求l所述的自动测试设备实现匹配测试的方法，其特征 是所述输出文件仅包括每个向量段的实际输出与期待输出一致的部分， 或者仅包括每个向量段的实际输出与期待输出不一致的部分。
5. 根据权利要求l所述的自动测试设备实现匹配测试的方法，其特征 是该方法的第2步中，所述测试向量存储在自动测试设备中，并且每个 向量段存储在不同的存储地址。
6. 根据权利要求5所述的自动测试设备实现匹配测试的方法，其特征是该方法的第2步中，所述输出文件还包括一个或多个向量段的存储地 址，并将每个向量段的实际输出与期待输出的比较结果指向该向量段的存 储地址。
全文摘要
本发明公开了一种自动测试设备实现匹配测试的方法，所述方法包括下列步骤第1步，形成测试向量，所述测试向量包括多个重复的向量段，每个向量段包括待测电路的一个输入以及对应的期待输出；第2步，通过自动测试设备对待测电路运行该测试向量，将每个向量段的实际输出与期待输出进行比较，并将比较结果输出为文件；第3步，分析输出文件，当至少有一个向量段的实际输出与期待输出相同即表示匹配测试成功，否则表示匹配测试失败。本发明可以使不具有或仅具有简单匹配测试功能的自动测试设备实现匹配测试功能，从而满足某些特殊芯片的测试要求，扩展自动测试设备的应用范围。
文档编号G01R31/317GK101458301SQ200710094440
公开日2009年6月17日 申请日期2007年12月13日 优先权日2007年12月13日
发明者夏奇峰, 桑浚之, 辛吉升, 婷 陈 申请人:上海华虹Nec电子有限公司