光照射方法、光照射装置以及微粒分析装置的制作方法

专利名称：光照射方法、光照射装置以及微粒分析装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种光照射方法、光照射装置以及孩i粒分析装置。 更具体地，本发明涉及一种4吏用定向光来照射流道中的样本的^支 术。
背景技术：
4吏用诸如激光的定向光的照射纟支术,皮广泛应用于例如i普测量 或处理才支术中。定向光具有均一的波长和相位。因此，当^f吏用例如 透镜聚集定向光时，能够将定向光聚集在一个小点处，使得在定向 光的照射点处的能量密度较高。
激光光谱法可分为例如线性激光光i普法以及非线性激光光i普 法。测量吸收光语或激发光谱的线性激光光谱法相比于使用光源的 相关光谱法还可提供高灵敏度和高分辨率。非线性光谱法可提供更 高的灵壽文度和分辨率。激光光谱法的实例包括激光诱导荧光光i普 法、激光拉曼光谱法、相干反斯托克斯拉曼散射(CARS)、偏光光 i普法、共纟展电离光i普法以及光声光i普法。特别地，具有高时间分辨 率的光谱法被称作皮秒光镨法或飞秒光谱法。
例如，还将激光照射4支术用于流动细胞计量术(参考"Cell Technology Supplementary Volume: Experiment Protocol Series, Flow Cytometry With Flexibility, ，， 4乍者Hiromitsu Nakauchi, 2006年8月 31日由Shujunsha， Second Edition出片反，12 ~ 13页)。"危动纟田月包i十 量术"涉及一种当细胞(将^皮测量的测量对象)活着时对其进行分 类、从而分析例如该细胞的功能的测量方法。使该细胞流进层流， 从而使用激光来照射通过流动单元的细胞。测量通过照射而产生的 荧光或散射光。在脉沖冲企测系统中，当细胞穿过激光时所产生的焚 光或散射光被作为电脉沖而进行检测。然后，例如，分析脉沖高度、 脉沖宽度或者脉冲面积，从而分析例如该细胞的功能。这使得能够 通过检测从每个细胞产生的散射光或焚光，来分析每个活细胞的特 性。

发明内容
当例如由于流道内的样本的位置改变，导致不能充分而可靠地 才丸4亍照射时，〗吏照射光的照射点的直径大于流道的宽度。然而，这 会引起由于照射点的能量密度的减小而必须提高光源的输出功率 的问题。
因此，希望提供一种能够在不增加光源的输出功率的情况下， 相对地增加照射点的能量密度的光照射方法。
根据本发明的实施例，提供了 一种使用光来照射流道中的样本 的光照射方法。该方法包4舌以下步艰《当4吏用光在流道的宽度方向 上执行扫描时，使用该光照射样本。该光具有小于流道宽度的照射 点。
使用照射光的照射点在流道的宽度方向上进行扫描使得能够 至少相对地增加该照射光的照射点的能量密度。因此，可减小光源
的输出功率，并增加该照射光的光聚集效率。
在光照射方法中，可以在至少4吏用才企流计反射4竟、电光元件、
多面反射镜和MEMS元件中的任何一种执行扫描的同时执行光照射。
在该光照射方法中，在满足以下的表达式(1)的条件下，可 以才丸4于<吏用定向光的扫描
<formula>formula see original document page 6</formula>其中，V!是样本在流道内部的移动速度，V2是定向光的扫描速 度，D!是流道的宽度，而D2是照射点的直径。
在这样的条件下进行扫描使得在扫描点通过流道的宽度的时 间内，该样本至少能够穿过扫描点一次。因此，能够4吏用该扫描点 来冲企测;充道内部的才羊本。
根据本发明的另 一个实施例，提供了 一种使用光来照射流道中 的样本的光照射装置。该装置至少包括光源和扫描器。光源用于使 用具有小于流道宽度的照射点的光来执行照射。扫描器使用光在流 道的宽度方向上纟丸行扫描。当该光照射装置包括扫描器时，该光照 射装置是一种减小光源输出功率，并增加照射光的光聚集效率的装 置。
才艮据本发明的又一个实施例，*提供了 一种包括上述光照射装置 的微粒分析装置。
才艮据本发明的实施例，能够在不增加光源的输出功率的情况 下，相对地增加光照射的照射点的能量密度。


图1是根据本发明的实施例的光照射方法和光照射装置的示意
图2是根据本发明的另 一个实施例的光照射方法和光照射装置
的示意图3是根据本发明的又一个实施例的光照射方法和光照射装置 的示意图4是根据本发明的又一个实施例的光照射方法和光照射装置 的示意图；以及
图5是根据本发明的又一个实施例的光照射方法和光照射装置 的示意图。
具体实施例方式
在下文中，将参考附图来描述光照射方法、光照射装置以及樣i 粒分析i殳备的优选实施例。在附图中所示出的实施例^K又是根据本 发明的示例性实施例，而并不意为缩小本发明的范围。
图1是才艮据本发明的实施例的光照射方法和光照射装置的示意图。
在图1中，参考数字l表示光照射装置。光照射装置1包括流 道11和光源12。参考字符A表示作为照射对象的样本。参考字符 S表示用于照射的照射光的照射点。样本A存在于流道ll的内部， 并以速度v1移动。使用定向光L12以速度V2执行的扫描提供了多 个照射点S12。
在本发明的实施例中，不限制存在于流道11内部的样本A的 类型。例如，样本A可以是细胞或诸如珠的微粒。流道ll内部的 介质是流体，乂人而例如可采用多种溶液或气体。可以考虑例如照射 条件或样本A的类型来选4奪合适的介质。
形成作为光扫描结果的多个照射点S12使得能够在流道11的 预定位置处才;M亍扫描。因此，无"r样本A存在于流道11内部中的 何处，都能够使用光来高速照射以及扫描流道11的内部。
,人光源发射的定向光L12的类型并没有具体限制，从而例如， 可以^吏用激光器或发光二4及管(LED)。
当将激光用作定向光L12时，其介质可以是例如半导体激光 器、液体激光器、气体激光器或固体激光器。
半导体激光器的实例包括GaAs激光器以及InGaAsP激光器。 气体激光器的实例包括He-Ne激光器(红)、Ar激光器(可见，蓝、 绿)、C02激光器(红外线)以及受激准分子激光器(紫色等)。液 体激光器的实例是染料激光器。固体激光器的实例包括红宝石激光 器、YAG激光器以及玻璃激光器。还可以使用二极管泵浦固体激光 器(DPSS),其为对诸如Nd:YAG的固态介质进行充能并振荡的激 光二极管(LD)。
在本发明的实施例中执行的光照射的目的不受限制，从而能够 适当地依照该目的来选4奪合适的光源12。例如，可以为例如各种分 析、测量、力口热才乘作或处理而才丸4亍光照射。
例如，当将要执行分析或测量时，可以使用检测器13来检测 通过使用定向光L12照射样本A所获得的测量光L12'。虽然未示 出，检测器13包括模数转换器(ADC)，从而将所检测的测量光
L12'转换成数字信号，并4吏用例如中央处理单元(CPU)(未示出) 来执行计算。
测量光L12，的类型不受限制。可以适当考虑样本A的类型或 测量条件来使用合适的检测方法。测量光的实例包括从样本A发射 的散射光和焚光。例如，在检测方法中，预先用特殊的焚光材料标 记样本A,并使用作为激发光的光L12从光源12照射样本A。由 于照射而发射的荧光被作为测量光L12'而进行检测。
当4吏用荧光染冲+时，将乂人光源12发射的光L12用作定向光， 以及可以使用对应于光L12的波长(例如，激光波长)的荧光染泮+。
例如，当使用Ar离子激光器(488 nm)时，可以将异硫氰酸 荧光素(FITC)、藻红蛋白(PE)、多曱藻叶绿素蛋白(PerCP)用 于荧光染料。例如，当使用He-Ne激光器(633 nm)时，可以将别 藻蓝蛋白(APC)或APC-Cy7用于荧光染料。例如，当使用染料激 光器(598 nm)时，可以将德克萨斯红(Texas Red ) ( TR )用于焚 光染料。例如，当4吏用Cr激光器(407 nm)或半导体激光器时， 可以将喀斯喀特蓝(Cascade Blue )用于荧光染泮+。
在使用测量光的不同检测方法中，能够在例如不标记的情况 下，检测到来自样本A的散射光(前向散射光或侧向散射光)。例 如，可以检测当照射点S12通过样本A时发射的散射光。在该情况 下，当光L12是定向光时，还能够以更高的精度检测位置信息。
当才羊本A在流道11的内部移动时，样本A在流道11内部的位 置发生改变。特别地，当样本A的尺寸远小于流道11的流路宽度 D!时，冲羊本A以一定的自由度在流道11的内部移动。因此，可发 生例如显著的照射不均衡、照射的位置偏移或者聚焦的位置偏移。 这些因素是定向光L12的照射效率减小的部分原因。因此，例如，
在过去，使照射时间变长，或使照射点的直径D2大于流道宽度D！
(参考在图1中的R状态)。虽然在例如R状态(作为相关实例) 中，基本上能够照射样本Ar的全部区域，但是照射点Sr変大。因 此，增加了光束的输出。另夕卜，例如，4吏照射点SR形成为预定的 椭圓形。
相反，在本发明的实施例中，当使用定向光L12执行扫描(参 考在图1中的v2)时，才丸4亍照射。通过在流道11的内部形成多个 照射点S12,才羊本A至少通过多个照射点S12中的4壬一个。因》匕， 即4吏没有^f吏照射点S12的照射点直径D2变大，也能够-使用该光充 分并4青确i也照射在流道11的内部移动的才羊本A。
^使用定向光L12的扫描并不局限于恒定速度，/^而考虑到例如 使用的目的或照射条件，可适当地以变速执行扫描。然而，希望以 高速执行扫描。这使得能够使用光来更可靠地照射移动通过流道11 的样本A，并^M亍多次光照射。特别地，希望在以下表达式(l) 的条件下执行光照射
<formula>formula see original document page 10</formula> (1)
其中，Vi是样本在流道内部的移动速度，V2是定向光的扫描速
度，D,是流道的宽度，而D2是照射点的直径。
在表达式(1)的左侧，"照射点直径D2，，除以"样本A在流 道ll的内部的移动速度v,"。这近似为样本A通过照射点的直径的 时间。虽然照射点的直径D2没有具体的限制，^f旦是希望它位于1jam ~ 100 pm的范围内。虽然样本A通过流道11的移动速度v！没 有具体的限制，^旦希望它在0.1 m/s~ 10m/s的范围内。
在表达式(1 )的右侧，"流道宽度D,除以"定向光的扫描速 度v2"。这近似为〗吏用定向光扫描流道宽度的扫描时间。虽然流道 宽度D,没有具体的限制，但希望它在10 jum 1 mm范围内。虽然 定向光的扫描速度V2没有具体的限制， <旦希望它在1 m/s~50 m/s 的范围内。
即，当样本A通过照射点直径时，流道的整个宽度至少被光照 射一次。因此，为冲丸行更多次数的扫描，希望(D2/Vl )足够大于 (D"V2 )。更具体地，希望(D2/v!)是(D"v2 )的2 ~ 10倍。这样， 当样本A通过照射点S12时，能够执行2 ~ 10次扫描。这使得能够 提高使用定向光L12的效率。通过整合基于多个扫描操作的检测信 号，可进一步增加定向光L12的S/N比。例如，当将i者如焚光的光 用于处理较暗的事物时，在增加荧光信号的同时能够减少噪声。因 it匕，这正是所希望的。
除了以高速执行扫描之外，甚至可以通过进一步减小流道宽度 D,来获得类似的效果。减小流道宽度D,使得能够减少扫描点S12 的扫描时间(即D"V2)。设置这样的扫描条件和流道结构使得能够 对样本执行多次光照射。例如，如果能够执行N次光照射，则整合 其信号使得检测光信号的S/N比能够增加(N) 1/2倍。
用于光照射中的扫描器并没有具体的限制。然而，希望使用例 如才企流计反射镜、电光元件、多面反射镜或MEMS元件来扫描照 射点S12。特别;也，由于电光元件不包4舌可动部，所以特别考虑到 高的稳定性和可靠性，希望使用电光元件。也可以使用多个扫描器。
根据本发明实施例的光照射装置1可以是一个至少包括光源12和扫描器的装置。光源12用于使用具有小于流道11的流道宽度 Dj的照射点直径D2的定向光L12进行照射。扫描器^f吏用定向光L12 在流道的宽度方向上执行扫描。光照射装置1可以进一步包括检测 在照射点S12产生的测量光L12'的光检测系统。
图2是根据本发明另 一个实施例的光照射方法和光照射装置的示意图。在图2中，参考数字2表示光照射装置。
在图2中所示的光照射方法和光照射装置中，运送到流道21 中的样本A ^皮从光源22发射并用于获得位置信息的光L22照射。 下文中的描述将着重于在图2中所示的光照射方法和装置与在图1 中所示的光照射方法和装置之间的差异。
样本A在流道21的内部中以速度Vl移动。用来自光源22的 用于获得位置信息的光L22照射样本A。使用照射点S22执行扫描 使得通过照射位置的样本A可靠地被光所照射。当检测器23检测 通过照射生成的测量光L22，时，可获得样本A的位置信息。
在该位置信息的基础上，来自以下光源24的定向光L24照明 照射点S24。照射点S24如在图1中所示的光照射方法中一才羊用于 进行扫描，但是其允许基于位置信息开始样本A的扫描。即，可以 确定样本A在照射点S22处的位置(参考图2中的相应的阴影区 域)，并且能够^人该位置信息预测样本A在照射点S24中的位置(参 考图2中的相应的阴影区域)。
获得该位置信息使得能够控制在照射点S24处使用定向光L24 照射才羊本A的时刻。即，能够预计样本乂人照射点S22到达照射点 S24的时间。例如，能够i殳置该时间，使得在用于冲企测位置信息的 光L22的照射以之后经过(D3/Vl )之后执行来自光源24的光照射。
在本发明的实施例中，可以控制时刻，侦J寻当才羊本A到达照射 点S24时，4吏用定向光L24进4亍照射。在该情况下，由于未^吏用来 自光源24的定向光L24进4于长时间的或持续的照射，所以能够有 助于例如增加光源24的寿命或者减少装置的负荷。
使用用于获得位置信息的光L24照射多个照射点S24使得不仅 能够4全测样本A在该位置处经过的时间，还能够;险测位置信息。因 此，可使用以下定向光L24执行更高精度的照射。另外，可选择用 于照射时刻和照射扫描开始位置的最佳条件，使得能够有效地执行 光照射。
另夕卜，当在除了流道内部之外的区域处执行诸如样本的加工、 处理或分类等的工序时，所获得的位置信息或速度信息能可被用作 该工序的触发信号。即，能够将通过光照射所获得的样本的位置信 息作为信号输出至用于执行分离操作的装置部分，从而可将位置信 息用作该装置部分的触发信号。
以这种方式获得样本A在流道21内部的位置信息使得能够调 整以及优化例如来自光源24的定向光L24的照射位置、照射时间 或者照射强度。因此，可以进一步减轻例如在照射点S24处的散焦、 照射移动或不均衡照射。
4吏用用于获得位置信息的光L22照射多个照射点S22的方法不 受限制，乂人而可以^是供对应于各个照射点S22的多个光源22。然而， 希望执行使用从一个光源22发射的光L22的扫描。当使用扫描机 构时，只使用一个光源22，使得能够简化装置的结构。
样本A的位置信息是指关于例如存在于流道21内部的样本的 位置或流速的信息，并包括关于在流道21内部的样本A的向量的
多项信息。在本发明的实施例中，只检测将用作位置信息的信息， 乂人而^f吏位置信息不受限制。
虽然未示出， 但作为才企测位置信息的才企测器，可以单独提供控
制器，其基于通过用检测器23检测测量光L22，所获得的位置信息 来控制使用定向光的照射。例如，可以使用例如模数转换器(ADC ) 将由检测器23所检测的测量光L22'的测量数据转换成数字信号， 使用计算机对该信号进行计算，并反馈该信号作为用于控制光源24 的照射的信息。
测量光L22'的类型不受限制。可适当考虑例如样本A的类型 或测量条件来使用合适的检测方法。测量光的实例包括从样本A发 射的散射光和荧光。在检测方法中，如上所述，预先用特殊的荧光 材泮+标记冲羊本A，并用来自光源22的作为激发光的光L22照射样 本A。由于照射所发射的荧光被作为测量光L22'进行检测。另夕卜， 在不需要执行标记的情况下就可以将从样本A发射的散射光作为 位置信息进行检测。
反映位置信息的系统不局限于4丸行光照射的光学系统。例如， 可以设置考虑样本的位置信息(尤其是，例如移动速度)来控制流 道21内部的介质的流速(即，样本A的移动速度v。的控制器。 基于位置信息调整流道21内部的介质的流速使得能够使用定向光 L24来4青确照射样本A。
当在使用用于获得位置信息的光L22执行扫描的同时照射介 质时，扫描条件没有具体的限制。然而，希望以高速执行扫描。这 使得能够可靠地使用光来照射在流道11的内部移动的样本A。由 于如在表达式(1 )中相同的原因，特别希望能够在以下表达式(2) 的条件下执行光照射
14<formula>formula see original document page 15</formula>
其中，Vi是样本在流道内部的移动速度，V3是用于获得位置信
息的光的扫描速度，D,是流道的宽度，而D4是用于获得位置信息 的照射点S22的直径。
因此，根据本发明实施例的光照射装置可以是一个进一步包括 光源22、扫描器以及光学4企测系统的装置。光源22 #皮用于4吏用光 L22 (用于获得样本A的位置信息)在流道21中执行照射。扫描器 使用用于获得位置信息的光L22执行扫描。光学检测系统检测作为 使用光L22 (用于获得位置信息)对样本A进行照射的结果而发射 的测量光L22'。
可以进一步i殳置计算处理器和照射控制器。计算处理器对^吏用 光学检测系统所获得的测量数据执行计算处理操作，从而获得作为 位置信息的测量数据。照射控制器基于位置信息使用定向光L24来 控制照射。此外，希望用于获得位置信息的光L22的照射点的直径 D4小于流道22的流道宽度D"这使得能够简化装置的结构，并减 少光源的数目，使得装置变成一个经济型装置，并可减少对装置的 维护。
图3是才艮据本发明又一个实施例的光照射方法和光照射装置的 示意图。在图3中，参考数字3表示光照射装置。
在图3中所示的光照射方法和光照射装置的一个特征是关于运 送到流道31的内部中的样本A, -使用用于获得位置信息的光的照 射点S32来照射在流道方向上和宽度方向上的不同位置。下文中的
描述将着重于在图3中所示的光照射方法和装置与在图1和图2中 所示的光照射方法和装置之间的差异。
样本A以速度v,在流道31的内部移动。相对于样本A， 乂人光 源32发射用于获得位置信息的光L32。照射点S32用于在流道方 向(X方向)和宽度方向(Y方向)上扭^亍扫描。当冲全测器33检 测从通过照射点S32的样本A发射的测量光L32'时，可获得样本A 的位置信息。另外，基于位置信息，来自光源34的定向光L34照 明照射点S34。
特别地，^使用照射点S32在流道方向(X方向)和宽度方向(Y 方向)上执行扫描使得能够获得样本A具有时间差的位置信息。因 此，可以更4青确i也知道才羊本A在流路方向和宽度方向上存在于流道 31中的哪个位置。显然，光的检测并不局限于二维检测(即，在流 道方向上禾口宽度方向上)，/人而可以#^于扫描以一企测三维^立置^言息 (包括深度方向(Z方向)的位置信息)。
图4是才艮据本发明又一个实施例的光照射方法和光照射装置的 示意图。在图4中，参考数字4表示光照射装置。
在图4中所示的光照射方法和光照射装置4的一个特征是将用 于获得位置信息的光L42和光L45的照射点S42和照射点S45设 置在定向光L44的照射点S44的前侧和后侧。下文中的描述将着重 于在图4中所示的光照射方法和装置与在图1~图3中所示的光照 射方法和装置之间的差异。
样本A以速度v！在流道41内移动。相对于样本A， 乂人光源42 发射用于获得位置信息的光L42，从而使用4企测器43来4企测测量 光L42'。然后，当使用定向光L44在流道的宽度方向上^丸行扫描时， 来自光源44的定向光L44照亮样本A。此后，从以下光源45发射
用于再次获得位置信息的光L45， /人而4吏用4企测器46 ^r测测量光 L45'。
当在用定向光L44对照射点S44进行照射之后，用于获得位置 信息的光L45照明照射点S45时，例如，可以知道样本A存在于 流道41后部区域处的哪个位置。即^f吏没有充分地才企测前部的照射 点S42处的测量光L42'， 4旦还可以4企测4立于后部的照射点S45处的 测量光L45',从而能够获得更详细的位置信息。因此，样本A在 流道41后部区域处的位置信息能够反映例如使用定向光L44的照 射。
在多个位置处设置用于获得位置信息的光的照射点使得能够 获得更高精度的样本A的位置信息。特别地，当样本A能够以一 定的自由度在流道41的内部移动时，能够冲丸4iM乍为在用定向光L44 照射之前所获得的位置信息和在用定向光L44照射之后所获得的 位置信息的结果的高级的光照射。
图5是根据本发明的又 一 个实施例的光照射方法和光照射装置 的示意图。在图5中，参考数字5表示光照射装置。
在图5中所示的光照射方法和光照射装置5的一个特征是将用 于获得位置信息的光照射的照射点i殳置在定向光的照射点的前部 和后部。下文中的描述将着重于在图5中所示的光照射方法和装置 与在图1~图4中所示的光照射方法和装置之间的差异。
流道51具有基本上为Y形的流道结构。即，从流道511和流 道512所运送的样本A相遇，并^皮运送到照射位置。用于获得位置 信息并从光源52发射的光L52在9个位置处照明照射点S52。使 用冲全测器53 4企测由于照射而发射的测量光L52'， 乂人而获得位置信
息。基于所获得的位置信息，从光源54发射的定向光L54照明照 射点S54。
当用于获得位置信息的光的照射点S52照明流道51的内部中 的多个位置时，可^r测到更详细的样本A的位置信息。特别地，当 相对于流道51中的各个基本上为方形的划分区域执行使用用于获 得位置信息的光L52的照射时，可以获得更精确的位置信息。
例如，当流道51有分叉时，在由于例如在流道51中的汇合区 域处的碰撞而引起猛烈移动的同时，样本A被运送至照射点S52。 通过设置用于获得位置信息的光L52的大量的照射点S52并且照射 样本A,从而包括流道51的内部中的空间，使得能够获得样本A 关于时间的详细的位置信息。因此，能够检测到更精确的位置信息。
虽然未示出，但例如当在流道51的后部处对样本A进行分类 时，可将位置信息用于例如确定样本存在于流道51中的哪个位置 以及样本以何种速度移动到以下分类预定位置。
例如，当使不同的样本通过流道511和流道512 从而被用作微 反应器时，该实施例是合适的。当由于流道511和流道512的汇合 而发生某种反应时，可执行该实施例，并使用定向光54照射后来 的反应物以执行光谱检测，以及根据光谱检测的结果执行取样。
才艮据本发明实施例的光照射方法和光照射装置可应用于多种 才支术领i或。例如，可以将它们应用于使用定向光的测量装置/分析装 置，诸如，颗粒直径分布测量装置、流体图^f象分析装置、三维测量 装置以及激光显微镜。对于照射流道中的样本的技术，它们适合于 用在这些测量装置/分析装置之中的例如测量很小的颗粒的微粒分 析装置中。
微粒分析装置的实例包括流动细胞计量分析装置以及珠化验 (流动水5朱化-验)装置。即，才艮据本发明实施例的光照射方法和光 照射装置可应用于例如作为使用光来照射微粒并检测所获得的诸 如荧光或散射光的测量光的结果而对微粒进行分类的技术。
流动细胞计量分析装置的实例包括用于测量例如微粒的结构 和尺寸的装置，以及用于基于例如所测量的尺寸和结构对预定微粒 进行分类所形成的装置。在这些装置中，将对细胞进行取样的装置 用作细月包分类器。细月包分类器能够以每秒几万~十万个细月包的高速 度进行取样以及测量。特别地，可以用光精确地照射即使是细微的 颗粒。
当将要对微粒进行分类时，可将根据本发明实施例的光照射装 置用作光检测机构。也就是说，由于可使用激光照射流道中的微粒 (诸如活细J包)的精确位置，所以可以精确、有效地对例如存在于 活细胞中的即使是很少数的干细胞进行分类。
由于可对流道中的樣吏粒(诸如纟田胞或水^朱)执行例如极少疏漏
的适当的激光照射，所以能够以更高精度来^L行^r测。另外，可将
光照射装置形成为能够执行实时检测的微粒分析装置。
本领域的技术人员应理解，根据设计要求和其他因素，可以有 多种修改、组合、子组合和变化，均应包含在本发明的权利要求或 等同物的范围之内。
权利要求
1. 一种使用定向光来照射流道中的样本的光照射方法，所述方法包括以下步骤:当使用所述定向光在所述流道的宽度方向上执行扫描时，使用所述定向光照射所述样本，所述定向光具有小于所述流道的宽度的照射点。
2. 根据权利要求1所述的方法，其中，至少使用检流计反射镜、 电光元件、多面反射4竟以及MEMS元件中的任-f可一种来4丸4亍 使用所述定向光的扫描。
3. 根据权利要求1所述的方法，其中，在满足以下表达式(1 ) 的条件下执行使用所述定向光的扫描<formula>formula see original document page 2</formula>其中，V!是所述样本在所述流道内部的移动速度，V2是所 述定向光的扫描速度，D!是所述流道的宽度，以及D2是所述 照射点的直径。
4. 一种使用定向光照射流道中的样本的光照射装置，所述装置至少包括光源，用于^f吏用具有小于所述流道的宽度的照射点的光 来才丸4于照射；以及扫描装置，用于使用所述光在所述流道的宽度方向上执 4亍扫描。
5. —种微粒分析设备，包括根据权利要求4所述的光照射装置。
6. —种使用定向光来照射流道中的样本的光照射装置，所述装置 至少包括光源，用于4吏用具有小于所述流道的宽度的照射点的光 来l丸4亍照射；以及扫描器，使用所述光在所述流道的宽度方向上执行扫描。
全文摘要
本发明公开了一种光照射方法、光照射装置以及微粒分析装置。该光照射方法使用定向光来照射流道中的样本，其包括以下步骤当使用定向光在流道的宽度方向上执行扫描时，使用该定向光照射样本。该定向光具有小于流道的宽度的照射点。因此，可在不增加光源的输出功率的情况下，增加照射点的能量密度。
文档编号G01N15/00GK101382500SQ200810211800
公开日2009年3月11日 申请日期2008年9月3日 优先权日2007年9月4日
发明者篠田昌孝 申请人:索尼株式会社