专利名称：一种灯性能检测系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种灯性能检测系统，特别涉及一种除了对灯性能进行常规检测外，还 能进行光学检测的系统。
背景技术：
灯在人们的生活中具有重要的作用，其中，灯照无疑是最重要的一块。灯照有各种不同 的需要，对灯的要求也不尽相同，为此，需要对灯的亮度进行检测。
现有对灯的检测只是通过对灯导通时所通过的电流进行检测，这样不能够很好地反映灯 的发光性能，为此，需要一种能够更好的反映灯的发光性能的系统。我们现在的系统既可以 通过对其实际的电流检测也可以通过对其发光光圈的大小检测来综合分析灯的性能。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种除了传统的常规的能够根据通过灯的电流来检测灯的发光 情况的外，还能够根据灯的发光光圈来更好的判断灯的发光情况的系统。
一种灯性能检测系统，包括获取灯的发光图像的摄像模块；固定灯，产生系统初始信 号的工装模块；控制整个系统有效运行的控制与数据采集模块；分析所述灯的发光图像信息 或数据，加以判断并显示结果的上位机分析显示模块。
所述摄像模块与所述上位机分析显示模块相连，所述工装模块与所述控制与数据采集模 块相连，所述上位机分析显示模块与所述控制与数据采集模块相连。
所述上位机分析显示模块对所分析判断的图像信息或数据的显示是实时的。所述上位机分 析显示模块对摄像模块拍摄的灯的发光图像数据或信息作出分析，找到灯的发光光圈，通过 对所述发光光圈的半径的大小分析可以判断灯发光的强度，再结合所述控制与数据采集模块 传输的信息或数据，通过一个检测光圈的伐值来判断灯的发光强度是否达到标准，从而来判 断此灯的发光性能是否满足要求。除了对灯进行光学检测外，还能通过所述控制与数据采集 模块采集灯的电流电压等常规信息或数据，并传输给所述上位机分析显示模块进行分析显示。
本实用新型的有益效果在于本实用新型的系统较传统的检测方式多了个检测保证，即 对灯的发光亮度的检测，发光亮度是通过摄像模块捕获的灯的发光光圈的大小来判断的。本实用新型的系统解决了传统方式对灯的电流检测的不可靠性，更好地进行对灯的发光性能的 检测。
图1为本实用新型一较佳实施例的系统框图。
图2为本实用新型一较佳实施例的摄像模块与工装模块的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图详细说明本实用新型的优选实施例。 在本实施例中，以LED灯为例。
请参阅图l,整个灯性能光学检测系统有四部分构成，包括摄像模块l、工装模块2、控 制与数据采集模块3和上位机分析显示模块4。所述摄像模块1与所述上位机分析显示模块4 相连，所述工装模块2与所述控制与数据采集模块3相连，所述上位机分析显示模块4与所 述控制与数据采集模块3相连。
摄像模块1用于创造摄像环境，满足摄像环境时，触发工装模块2上开始检测的信号， 并在上位机控制模块的控制下拍摄LED的图像，将所拍摄的信息或数据传回上位机控制模块；
工装模块2用于固定LED,受摄像模块l触发产生开始检测的信号，对不通的LED产生 不同的信号，并将上述信号送控制与数据采集模块3处理，在得到信号送控制与数据采集模 块3发出的LED合格的信号后，对LED进行打章；
在本实施例中，控制与数据采集模块3控制整个系统的有效运行，从工装模块2处得到 开始检测的信号与LED型号信号以后，控制系统开始LED的高红检测、低红检测、系统的电 压检测等等，并通知上位机分析显示模块4控制摄像模块1拍摄LED在高红和低红时的图像;
上位机分析显示模块4接收控制与数据采集模块3的信息，控制摄像模块1拍摄LED在 高红和低红时的图像，并接收所述图像信息或数据，对所述信息或数据进行处理分析，找到 LED的发光光圈，通过对光圈的半径的大小分析可以判断LED发光的强度，再通过一个检测光 圈的伐值来判断LED发光强度是否达到标准，从而来判断此LEDLED的发光性能是否满足要求， 并对结果实时显示。
请参阅图1及图2，所述摄像模块1包括摄像头12和暗箱11,所述工装模块2包括抽屉 21、底座22、打章器25、型号判别按键组24及开始检测按键23。摄像头12位于暗箱11顶部，暗箱11 一侧开一扇门，暗箱11中装有一抽屉21，所述抽 屉21的一侧有一开始检测按键23，抽屉21上安装有一底座22，底座22的底部的边具有型 号判别按键组24，信号判别按键组具有至少两个型号判别按键，打章器25设置在抽屉21或 底座22或暗箱11上。
当LED放入底座22时，会挤压型号判别按键组24中的一个，被挤压的型号判别按键会 产生一型号判别信号，传输给控制与数据采集模块3，所述控制与数据采集模块3通过所述信 号，判断LED型号。关上暗箱ll的门，隔绝外部的光线干扰，抽屉21闭合，开始检测按键 23背抽屉21的边缘挤压处于闭合状态，这样单片机的一个引脚会获得开始检测按键23闭合 的信号，所述型号判别信号与开始检测按键23闭合的信号通称为初始信号。系统自动进行LED 的性能检测，在检测过程中，控制与数据采集模块3通过自身的继电器切换高红和低红状态， 并需要采集不同情况下的电压信号和高红和低红状态下的电流信号，进行常规的电流检测， 同时，单片机每控制系统改变一次状态，就给上位机控制分析模块发送一次信号，上位机控 制分析模块就控制摄像头12拍摄LED的图像，摄像头12将LED图像的数据或信息传输给上 位机控制分析模块，上位机控制分析模块通过对图像的数据或信息进行分析找到LED发光的 光圈，通过对光圈的半径的大小分析可以判断LED发光的强度，再结合控制与数据采集模块 3传输来的LED型号的信息，通过一个检测光圈的伐值来判断LED发光强度是否达到标准， 从而来判断此LED的发光性能是否满足要求，若满足要求，则发送满足要求的信息至控制与 数据采集模块3，控制与数据采集模块3控制打章机对LED进行打章。
在本实施例中，上位机为PC机，控制与数据采集模块3为ST的ST7561单片机芯片，打 章器25用的是VND5012驱动芯片，摄像头12采用的是大恒的工业数字摄像头型号为 DH-HV1300FC，并加上特定滤波频率的滤波镜一块，能改善通过CCD摄像头在高红和低红状态 时抓获图片的能力。
在其他实施例中，开始检测的信号也可以通过别的方式实现，例如在暗箱外设置一按 钮，或设置一光检测器，当暗度足够时，开始检测等等。
以上实施例仅用以说明而非限制本实用新型的技术方案。不脱离本实用新型精神和范围 的任何修改或局部替换，均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
权利要求1、一种灯性能检测系统，其特征在于，包括摄像模块，用以获取灯的发光图像；工装模块，用以固定灯，产生系统初始信号；控制与数据采集模块，用以控制整个系统有效运行；上位机分析显示模块，用以分析所述灯的发光图像信息或数据，加以判断并显示结果；所述摄像模块与所述上位机分析显示模块相连，所述工装模块与所述控制与数据采集模块相连，所述上位机分析显示模块与所述控制与数据采集模块相连。
2、 如权利要求1所述的灯性能检测系统，其特征在于所述上位机分析显示模块对 所分析判断的图像信息或数据的显示是实时的。
3、 如权利要求1所述的灯性能检测系统，其特征在于通过所述控制与数据采集模 块采集灯的电流电压常规信息或数据，并传输给所述上位机分析显示模块进行分析显示。
4、 如权利要求1所述的灯性能检测系统，其特征在于所述摄像模块包括摄像头和 暗箱，所述摄像头安装在所述暗箱顶部；所述摄像头具有一特定滤波频率的滤波镜。
5、 如权利要求1所述的灯性能检测系统，其特征在于，所述工装模块包括抽屉、 底座、开始检测按键、型号判别按键组及打章器。
6、 如权利要求5所述的灯性能检测系统，其特征在于所述抽屉之上设置所述底座， 所述底座底部设置有型号判别按键组，所述抽屉的一侧设置有所述开始检测按键，所述打章 器设置在所述抽屉上或所述底座上或所述摄像模块内。
7、 如权利要求6所述的灯性能检测系统，其特征在于固定灯至底座，灯挤压所述 型号判别按键组中的一个，产生一型号判别信号，送至控制与数据采集系统。
8、 如权利要求6所述的灯性能检测系统，其特征在于所述摄像模块包括摄像头和 暗箱，所述暗箱的一侧具有一门，当所述门关闭时，所述开始检测按键受到挤压，产生开始 检测闭合的信号，送至所述控制与数据采集系统。
9、 如权利要求6所述的灯性能检测系统，其特征在于所述打章器采用了 VND5012 驱动芯片，所述控制与数据采集系统为单片机。
专利摘要本实用新型提供了一种灯检测系统，包括获取灯的发光图像的摄像模块；固定灯，产生系统初始信号的工装模块；控制整个系统有效运行的控制与数据采集模块；分析所述灯的发光图像信息或数据，加以判断并显示结果的上位机分析显示模块；所述摄像模块与所述上位机分析显示模块相连，所述工装模块与所述控制与数据采集模块相连，所述上位机分析显示模块与所述控制与数据采集模块相连。本实用新型提供的系统，解决了传统方式对灯的电流检测的不可靠性，更好地进行对灯的发光性能的检测。
文档编号G01J1/12GK201314843SQ200820152709
公开日2009年9月23日 申请日期2008年9月4日 优先权日2008年9月4日
发明者懿 朱, 杨晓锋, 王永和, 童祖德, 雯 赵 申请人:上海信耀电子有限公司