专利名称：一种采用单mcu实现多通道异步化测试的方法
技术领域：
本发明涉及电子技术、微电子技术及通信领域，特别是针对机械手的一种采用单MCU 实现多通道异步化测试的方法。
背景技术：
在某些单处理器单通道测试系统，可用测试资源很多，大约有iooo个左右，但现
有的单通道测试系统，如图1所示，包括测试机、探针台、通讯软件，只支持一个产品 同测。由于测试硬件不支持，包括测试软件也不支持多个产品同测，在测试一些引脚比
较少的小Pin的产品，如16个PAD的产品，如果一个PAD占用一个，测试该产品仅仅 使用了16个，其余984个完全没用使用，处余闲置状态，浪费测试资源。
因为现在多通道测试系统均采用了多处理器，即各通道至少一个处理器用于处理本 通道测试任务；至少一个中央处理器负责协调各通道的测试和与机械手通讯；相当于将 上述的多个单通道测试系统组合在一起加上一个用于协调各通道测试的处理器，这样每 个通道都有很多测试资源因为处于闲置而被浪费；采用多核处理器后，在程序设计上需 要针对各处理器分别编写各自的程序；增加开发时间、复杂性；所以不适用于单处理器 测试机系统多通道同时异步化测试，针对在单处理器测试系统上应该充分利用资源，所 以需要能实现在单MCU测试机系统实现多通道异步化测试的方法。
发明内容
本发明为解决上述问题是提供一种釆用单MCU实现多通道异步化测试的方法，使在 单MCU测试系统上可以进行多个产品同测，可以达到充分利用测试系统资源，提高测试 系统效率目的，特别适用于针对机械手用的单MCU多通道测试机系统。
本发明的技术方案如下-
一种采用单MCU实现多通道异步化测试的方法，其特征在于将一个单MCU通过多 通道分选机与多个单通道测试系统组合形成多通道测试系统，这样就可以同时对多个产 品进行测试；所述多通道分选机与多个单通道测试系统组合，是通过一根通讯电缆连接 单测试系统与多通道分选机的通讯口；或者,依次将多通道分选机的通道1到n连接到 单MCU测试系统组合形成多通道测试系统，其中n为整数。所述多个单通道测试系统包括产品测试通道1、产品测试通道2……产品测试通道 n，其中n为整数。
所述多通道分选机还可由手动或外部事件替代，触发启动各通道测试应用。 所述方法的具体步骤为-
A. 系统初始化
a、 初化与多通道分选机的通讯状态；
b、 初始化各测试通道状态；
c、 初始化各系统变量及寄存器；
B. 等待用于启动某通道开始测试的外部中断；
C. 当由外部事件触发的启动某通道开始测试的外部中断来临，系统处理中断，判 断并启动对应的通道开始测试；
D. 某通道在测试中还没测试结束，由外部事件触发的启动另一通道的中断来临， 系统保护现场，判该中断的优选级是否高于当前通道优先级；
当高于当前优先级，系统则保存当前状态，置标志寄存器，执行高优先级 通道测试任务，当高优先级任务执行完成，系统判别先前置的标志寄存器继续 未执行完的通道测试任务；当不高于当前通道优先级，系统则置标志寄存器， 继续当前的测试，当当前通道测试完成，系统判别先前置的标志寄存器，开启 另一通道的测试；
E. 当前所有通道的测试任务都己完成，系统判断是否结束，结束则系统退出运行， 否则系统返回上述步骤B继续运行。
本发明的有益效果如下
本发明可以充分利用单MCU测试系统的资源，并且实现了在单MCU测试系统上进行 多个产品的同测，还可以提高测试系统效率，特别适用于针对机械手用的单MCU多通道 测试机系统。
图1为背景技术中传统单处理器测试系统的结构示意图
图2为本发明适用的系统结构示意图
图3为本发明的具体工作流程图
图4为本发明实施例1中的测试系统结构示意图
图5为本发明实施例2中的测试系统结构示意图具体实施方式
.实施例1
如图2-3所示， 一种采用单MCU实现多通道异步化测试的方法，是通过将一个单MCU 通过多通道分选机与多个单通道测试系统组合形成多通道测试系统，这样可以同时对多 个产品进行测试；所述多通道分选机与多个单通道测试系统组合，是通过一根通讯电缆 连接单MCU测试系统与多通道分选机的通讯口 ；或者，依次将多通道分选机的通道1到n 连接到单MCU测试系统组合形成多通道测试系统，其中n为整数。
所述多通道分选机还可由手动或外部事件替代，触发启动各通道测试应用。
所述方法的具体步骤为-
A. 系统初始化
a、 初化与多通道分选机的通讯状态；
b、 初始化各测试通道状态；
c、 初始化各系统变量及寄存器；
B. 等待用于启动某通道开始测试的外部中断；
c.当由外部事件触发的启动某通道开始测试的外部中断来临，系统处理中断，判 断并启动对应的通道开始测试；
D. 某通道在测试中还没测试结束，由外部事件触发的启动另一通道的中断来临， 系统保护现场，判该中断的优选级是否高于当前通道优先级；
当高于当前优先级，系统则保存当前状态，置标志寄存器，执行高优先级 通道测试任务，当高优先级任务执行完成，系统判别先前置的标志寄存器继续 未执行完的通道测试任务；当不高于当前通道优先级，系统则置标志寄存器， 继续当前的测试，当当前通道测试完成，系统判别先前置的标志寄存器，开启 另一通道的测试；
E. 当前所有通道的测试任务都己完成，系统判断是否结束，结束则系统退出运行， 否则系统返回上述步骤B继续运行。
如图4所示，在单个ARM 7上实现双通道同时异步化测试。
每个测试通道分别使用一个ARM处理器，用于处理该通道的测试任务和与机械手的 通讯，这样在设计中有几个通道就需要用几个处理器，每通道只占用了一定的处理器资 源，大部资源被乘余，超成设计成本增加、资源浪费等，每个处理都需与机械手通讯， 增加了通讯的复杂性、难度；通过将乘余的资源分配分配给另一个通道，编写协调和处理两通道测试任务、过程的程序代码，就可以将两个通道共用一个ARM处理器。 实施例2
如图5所示，为双通道测试机系统的结构示意图，可以看到，通过将剩余资源分配 给另一个通道只用一颗ARM的双通道测试机系统的结构示意。
权利要求
1、一种采用单MCU实现多通道异步化测试的方法，其特征在于将一个单MCU通过多通道分选机与多个单通道测试系统组合形成同时对多个产品进行测试的多通道测试系统；所述多通道分选机与多个单通道测试系统组合，是通过一根通讯电缆连接单MCU测试系统与多通道分选机的通讯口；或者，依次将多通道分选机的通道1到n连接到单MCU测试系统组合形成多通道测试系统，其中n为整数。
2、 根据权利要求1所述一种采用单MCU实现多通道异步化测试的方法，其特征在 于:所述多个单通道测试系统包括产品测试通道1、产品测试通道2……产品测试通道n， 其中n为整数。
3、 根据权利要求1所述一种采用单MCU实现多通道异步化测试的方法，其特征在 于所述多通道分选机由手动或外部事件替代，用于触发启动各通道测试。
4、 根据权利要求1所述一种采用单MCU实现多通道异步化测试的方法，其特征在 于具体步骤为A. 系统初始化a、 初化与多通道分选机的通讯状态；b、 初始化各通道状态；C、初始化各系统变量及寄存器；B. 等待用于启动某通道开始测试的外部中断；c.当由外部事件触发的启动某通开始测试的外部中断来临，系统处理中断，判断并启动对应的通道开始测试；D. 某通道在测试中还没测试结束，由外部事件触发的启动另一通道的中断来临，系 统保护现场，判该中断的优选级是否高于当前通道优先级；当高于当前优先级，系统则保存当前状态，置标志寄存器，执行高优先级通 道测试任务，当高优先级任务执行完成，系统判别先前置的标志寄存器继续未执 行完的通道测试任务；当不高于当前通道优先级，系统则置标志寄存器，继续当前测试，当当前通 道测试完成，系统判别先前置的标志寄存器，开启另一通道的测试；E. 当前所有通道的测试任务都己完成，系统判断是否结束，结束则系统退出运行， 否则系统返回上述步骤B继续运行。
全文摘要
本发明公开了一种采用单MCU实现多通道异步化测试的方法，其特征在于将一个单MCU通过多通道分选机与多个单通道测试系统组合在一起形成多通道测试系统，这样就可以同时对多个产品进行测试；本发明可以充分利用单MCU测试系统的资源，并且实现了在单MCU测试系统上进行多个产品的同测，还可以提高测试系统效率，特别适用于针对机械手用的单MCU多通道测试机系统。
文档编号G01M99/00GK101603884SQ20091005919
公开日2009年12月16日 申请日期2009年5月6日 优先权日2009年5月6日
发明者张永林 申请人:和芯微电子(四川)有限公司