专利名称：检测分离的低刚度的透明或半透明体的缺陷的设备和方法
技术领域：
本发明涉及用于检测分离的低刚度的透明或半透明体的缺陷的设备和方法。
背景技术：
透明或半透明产品中的缺陷包括诸如内含物和孔穴等这样的本地缺陷和诸如灰 尘和头发等这样的污染物。该缺陷的大小范围从十几到几千微米。在手工产品线中，质量控制操作员通过肉眼来检查产品中的缺陷。而在自动产品 线中，出于生产安全的考虑，人工的质量检测和控制无法介入，但又没有完全自动检测的设 备，因此在自动产品线中没有质量控制。为了在自动产品线中实现质量控制，已经发展了许多检测方法和装置。它们主要 针对两类应用一种是诸如玻璃这样的分离的(Separated)高刚度的透明或半透明体，另 一种是诸如塑料薄片和纸等这样的低刚度(low rigidity)的透明或半透明体。美国专利申请US2004/0179193A1披露了用于对分离的高刚度的透明体进行缺陷 检查的方法和设备。在美国专利申请US2004/0179193A1中，使用多个滚轴来形成移动部件以传送作 为分离的高刚度的透明体的玻璃。照明部件被设置在该玻璃的一侧以及在该多个滚轴的其 中两个滚轴之间的间隙处，并且将光投射在该玻璃上。由多个线性传感器照相机形成的成 像阵列(图像拾取部件)被设置在该玻璃的另一侧，接收从该照明部件投射并透射通过该 玻璃的光，并且生成一组一维图像。图像处理部件基于该组一维图像来重建二维图像，并且 分析该二维图像以找到在该玻璃中的缺陷。上述专利申请中所披露的方法和设备不能应用到低刚度的透明体，因为低刚度的 透明体具有低的刚度而不能在这些滚轴上移动。美国专利申请US2006/0203246A1披露了用于对连续的低刚度的透明体进行缺陷 检测的设备和方法。在美国专利申请US2006/0203246A1中，使用一对引导滚轴作为移动部件来传送 作为连续的低刚度的透明体的连续的低刚度的透明薄膜，其中，该连续的低刚度的透明薄 膜绕着这对引导滚轴转动。光源被设置在该连续的低刚度的透明薄膜的下方，并且将线性 光投射在该透明薄膜上。光接收机被设置在与该光接收机相对的该透明薄膜的另一侧，并 且接收透射通过该透明薄膜的光以产生图像。判断装置基于该产生的图像来确定在该透明 薄膜中是否存在缺陷。美国专利申请US2006/0203246A1所披露的设备和方法要求该低刚度的透明薄膜 是连续的，以便该低刚度的透明薄膜能够绕着该对引导滚轴旋转和移动。从而，美国专利申请US2006/0203246A1所披露的设备和方法不能应用于分离的 低刚度的透明或半透明体。
发明内容
考虑到现有技术的上述问题，本公开提供一种用于检测分离的低刚度的透明或半 透明体的缺陷的设备和方法，利用该设备和方法，能够检测分离的低刚度的透明或半透明 体中的缺陷。按照本发明的一个方面，提供一种图像采集装置，包括第一传送器和第二传送 器，用于传送分离的低刚度的透明或半透明体；透明桥，被设置在所述分离的低刚度的透 明或半透明体的传送路径上所述第一传送器和所述第二传送器之间，所述透明桥具有上表 面；照明单元，被设置在所述透明桥的一侧，用于透过所述透明桥将散射光投射到所述透明 桥的所述上表面；以及，图像拾取单元，被设置在所述透明桥的另一侧，用于当所述分离的 低刚度的透明或半透明体进入所述透明桥的所述上表面时，接收从所述照明单元投射并且 透射通过所述分离的低刚度的透明或半透明体的光以形成图像。按照本发明的另一方面，提供一种用于制造图像采集装置的方法，包括将透明 桥设置在分离的低刚度的透明或半透明体的传送路径上第一传送器和第二传送器之间，其 中，所述透明桥具有上表面，；将照明单元设置在所述透明桥的一侧，其中，所述照明单元用 于透过所述透明桥将散射光投射到所述透明桥的所述上表面；以及，将图像拾取单元设置 在所述透明桥的另一侧，其中，所述图像拾取单元用于当所述分离的低刚度的透明或半透 明体进入所述透明桥的所述上表面时，接收从所述照明单元投射并且透射通过所述分离的 低刚度的透明或半透明体的光以形成图像。按照本发明的再一方面，提供一种用于检测分离的低刚度的透明或半透明体的缺 陷的设备，包括第一传送器和第二传送器，用于传送分离的低刚度的透明或半透明体；透 明桥，被设置在所述分离的低刚度的透明或半透明体的传送路径上所述第一传送器和所述 第二传送器之间，所述透明桥具有上表面；照明单元，被设置在所述透明桥的一侧，用于透 过所述透明桥将散射光投射到所述透明桥的所述上表面；图像拾取单元，被设置在所述透 明桥的另一侧，用于当所述分离的低刚度的透明或半透明体进入所述透明桥的所述上表面 时，接收从所述照明单元投射并且透射通过所述分离的低刚度的透明或半透明体的光以形 成图像；以及，图像处理单元，用于处理所述形成的图像，以判断在所述分离的低刚度的透 明或半透明体中是否存在缺陷。按照本发明的又再一方面，提供一种用于检测分离的低刚度的透明或半透明体的 缺陷的方法，包括将散射光投射到透明桥的上表面；接收透射通过位于所述透明桥的所 述上表面上的分离的低刚度的透明或半透明体的光以形成图像；以及，处理所述形成的图 像以判断在所述分离的低刚度的透明或半透明体中是否存在缺陷。
本发明的其它特点和优点通过以下结合附图的详细说明将变得更加显而易见。其中图1是示出按照本发明一个实施例的用于检测分离的低刚度的透明或半透明体 的缺陷的设备的示意图；图2A和2B是示出按照本发明一个实施例的传送器的例子；以及图3A和3B是示出二值化的图像包含其灰度不同于该二值化的图像的背景的灰度 的区域的例子。
具体实施例方式下面，结合附图详细描述本发明的各个实施例。图1是示出按照本发明一个实施例的用于检测分离的低刚度的透明或半透明体 的缺陷的设备的示意图。如图1所示，设备10包括图像采集装置100、图像处理单元200和执行装置300。图像采集装置100用于采集图像，其包括两个传送器102和104、透明桥106、照明 单元108和图像拾取单元110。传送器102和104用于传送作为分离的低刚度的透明/半透明体的例子的分离的 塑料薄片Bi。在该分离的塑料薄片Bl的传送路径上以预定间隔设置传送器102和104。在 本实施例中，传送器102和104的每一个都包括两个滚轴和一个环状带子，其中，该两个滚 轴以预定间隔被布置在该分离的塑料薄片Bl的传送路径上并且当被驱动时旋转，该环状 带子绕着该两个滚轴转动并且随着该两个滚轴的旋转而旋转以沿着传送路径来传送该分 离的塑料薄片Bi。该环状带子可以是一个宽环状带子或者是以预定间隔布置的多个窄环状 带子，如图2A和2B所示。透明桥106被设置在传送器102和104之间。透明桥106具有上表面Tl，并且在 该分离的塑料薄片Bl进入透明桥106的上表面Tl后，该分离的塑料薄片Bl可以平滑地移 动，以便图像拾取单元110能够获得良好的图像质量。透明桥106的上表面Tl比传送器 102和104的上表面Sl和S2低，并且透明桥106靠近传送器102和104，以便当该分离的 塑料薄片Bl从传送器102进入透明桥106时，该分离的塑料薄片Bl不陷入传送器102和 透明桥106之间的间隙中，以及当该分离的塑料薄片Bl从透明桥106进入传送器104时， 该分离的塑料薄片Bl没有被传送器104的侧表面碰撞而失去了平滑移动或者有一些旋转。 优选地，透明桥106的上表面Tl比传送器102和104的上表面Sl和S2低1_3毫米，以及 在透明桥106和传送器102之间的间隙以及在透明桥106和传送器104之间的间隙都小于 该分离的塑料薄片Bl的厚度的一半。在本实施例中，与该分离的塑料薄片Bl的传送路径 平行且与透明桥106的上表面Tl垂直的透明桥106的剖面可以是倒梯形“O”或矩形，以 及透明桥106可以由PMMA(有机玻璃)或者玻璃等透明材料制成。照明单元108被设置在透明桥106的下方(下侧)，透过透明桥106将散射光 (diffusive light)投射到透明桥106的上表面Tl。图像拾取单元110被设置在透明桥106的上方(上侧)，用于接收由照明单元108 投射并且透射通过该分离的塑料薄片Bl的光，以形成图像。在本实施例中，图像拾取单元 110可以是线性传感器照相机阵列。图像处理单元200用于处理由图像采集装置100所采集的图像，以判断在该分离 的塑料薄膜Bl中是否存在缺陷。在本实施例中，图像处理单元200首先对图像采集装置100采集的图像执行自动 阈值处理(auto-threshold)，以获取用于对该采集的图像进行二值化处理的两个不同的阈 值。然后，图像处理单元200使用该两个获取的阈值中的每一个分别对该采集的图像执行 二值化处理，以获取两个二值化的图像。接着，图像处理单元200检测是否该两个二值化的 图像中的任意一个包含有这样的区域该区域的灰度不同于包含该区域的二值化的图像的背景的灰度，其中，如图3A和3B所示，该区域可以是例如黑点、黑线、白点、白线等。最后， 如果检测发现该两个二值化的图像中的任意一个包含有其灰度不同于包含其的二值化的 图像的背景的灰度的区域，则图像处理单元200确定在该分离的塑料薄膜Bl中存在缺陷， 或者如果检测发明该两个二值化的图像中的任意一个都没有包含其灰度不同于包含其的 二值化的图像的背景的灰度的区域，则图像处理单元200确定在该分离的塑料薄膜Bl中不 存在缺陷。执行装置300用于基于该分离的塑料薄膜Bl中是否存在缺陷来处理该分离的塑 料薄膜Bi。执行装置300包括判断单元、清洗机器和移动单元。该判断单元用于当图像处 理单元200确定该分离的塑料薄膜Bl中存在缺陷时，通过检查该分离的塑料薄膜Bl是否 来自该清洗机器来判断该分离的塑料薄膜Bl是否是第一次被检测，其中，当检查发现该分 离的塑料薄膜Bl来自该清洗机器时，判断该分离的塑料薄膜Bl不是第一次被检测，以及当 检查发现该分离的塑料薄膜Bl不是来自该清洗机器时，判断该分离的塑料薄膜Bl是第一 次被检测。该清洗机器用于执行清洗操作。该移动单元用于当图像处理单元200确定该分 离的塑料薄膜Bl中不存在缺陷时将该分离的塑料薄膜Bl移动到产品线的下一步骤，当该 判断单元判断该分离的塑料薄膜Bl是第一次被检测时将该分离的塑料薄膜Bl移动到该清 洗机器以进行清洗，以及当该判断单元判断该分离的塑料薄膜Bl不是第一次被检测时拒 绝该分离的塑料薄膜Bi。内含物是塑料薄片中最常见的缺陷，但是针对它的检测很容易被塑料薄片的粗糙 表面干扰。在塑料薄片的粗糙表面上的峰和谷会折射光，从而在原始图像中呈现为暗点 (dark particles) 0该暗点将是缺陷候选者并且容易与塑料薄片的内含物混淆。然而，通 过利用本实施例中的散射光，减少了塑料薄片的粗糙表面所造成的不利影响。此外，通过利用本实施例中的散射光，尺寸比像素分辨率小的缺陷被散射并具有 放大的图像，从而也能够被检测到。由此可见，本实施例的设备可以检测出分离的塑料薄膜中存在的肉眼看不到的缺 陷，从而，通过采用本实施例的设备能够获取高质量的分离的塑料薄膜，满足高端用户对高 质量的要求。在经过本实施例的设备检测不存在缺陷之后，该分离的塑料薄膜Bl的缺陷占表 面积的比率一般情况下小于10_7，而在更优的情况下该比率小于10_8。本领域技术人员应当 理解，这里所示出的缺陷占表面积的比率的数值不用于限制和缩小本发明的保护范围。本领域技术人员应当理解，虽然在上面的实施例中，透明桥106被设置为透明桥 106的上表面Tl比传送器102和104的上表面Sl和S2低以及透明桥106靠近传送器102 和104，以达到以下目的当该分离的塑料薄片Bl从传送器102进入透明桥106时，该分离 的塑料薄片Bl不陷入传送器102和透明桥106之间的间隙中，以及当该分离的塑料薄片Bl 从透明桥106进入传送器104时，该分离的塑料薄片Bl没有被传送器104的侧表面碰撞而 失去了平滑移动或者有一些旋转，然而，本发明并不仅局限于通过采用透明桥106被设置 为透明桥106的上表面Tl比传送器102和104的上表面Sl和S2低以及透明桥106靠近 传送器102和104的方式来达到上述目的。在本发明的其他一些实施例中，也可以采用其 它方式来达到上述目的。例如，在本发明的其他一些实施例中，透明桥106的上表面Tl与传送器102和104的上表面Sl和S2 —样高，透明桥106不需要靠近传送器102和104。在这种情况下，当该 分离的塑料薄片Bl从传送器102进入透明桥106时，操作员手工将来自传送器102的该分 离的塑料薄片Bl传送到透明桥106，以及当该分离的塑料薄片Bl从透明桥106进入传送器 104时，操作员手工将来自透明桥106的该分离的塑料薄片Bl传送到传送器104。又例如，在本发明的其他一些实施例中，透明桥106的上表面Tl与传送器102和 104的上表面Sl和S2 —样高，透明桥106不需要靠近传送器102和104，并且设备10包括 喷射装置，用于向在传送器102和透明桥106之间的间隙以及在传送器104和透明桥106 之间的间隙喷射空气。由于该喷射的空气会产生浮力来托起该分离的塑料薄片Bi，所以该 分离的塑料薄片Bl从传送器102进入透明桥106时不会陷入传送器102和透明桥106之 间的间隙中，以及从透明桥106进入传送器104时不会被传送器104的侧表面碰撞而失去 了平滑移动或者有一些旋转。再例如，在本发明的其他一些实施例中，透明桥106的上表面Tl与传送器102和 104的上表面Sl和S2 —样高，透明桥106不需要靠近传送器102和104，并且设备10包括 在传送器102和透明桥106之间的间隙的上方以及在传送器104和透明桥106之间的间隙 的上方分别设置被施加有直流高电压的第一电极板和第二电极板。由于该第一电极板和第 二电极板被施加有直流高电压，所以当该分离的塑料薄片Bl从传送器102进入透明桥106 时和从透明桥106进入传送器104时，该分离的塑料薄片Bl位于在传送器102和透明桥 106之间的间隙处的部分将会与该第一电极板产生相互吸引的静电力，以及，该分离的塑料 薄片Bl位于在传送器104和透明桥106之间的间隙处的部分将会与该第二电极板产生相 互吸引的静电力，从而该分离的塑料薄片Bl从传送器102进入透明桥106时不会陷入传送 器102和透明桥106之间的间隙中，以及从透明桥106进入传送器104时不会被传送器104 的侧表面碰撞而失去了平滑移动或者有一些旋转。本领域技术人员应当理解，虽然在上面的实施例中，照明单元108被设置在透明 桥106的下侧，而图像拾取单元110被设置在透明桥106的上侧，然而，本发明并不局限于 此。在本发明的其它一些实施例中，也可以将照明单元108设置在透明桥106的上侧，而将 图像拾取单元110设置在透明桥106的下侧。也就是说，在本发明的各个实施例中，照明单 元108被设置在透明桥106的一侧，而图像拾取单元110被设置在透明桥106的另一侧。本领域技术人员应当理解，虽然在上面的实施例中，图像拾取单元是线性传感器 照相机阵列，然而本发明的图像拾取单元并不局限于此。在本发明的其他实施例中，图像拾 取单元也可以是二维照相机。本领域技术人员应当理解，虽然在上面的实施例中，分离的塑料薄片Bl被作为分 离的低刚度的透明或半透明体的例子，然而，本发明的分离的低刚度的透明或半透明体并 不仅局限于该分离的塑料薄片Bi。本领域技术人员应当理解，上面的实施例所描述的图像处理单元可以利用软件、 硬件或者软硬件相结合的方式来实现。本领域技术人员应当理解，本发明的上述各个实施例可以在没有偏离发明实质的 情况下做出各种变形和改变，并且这些变形和改变都应当属于本发明的保护范围；因此，本 发明的保护范围由所附的权利要求书来定义。
权利要求
一种图像采集装置，包括第一传送器和第二传送器，用于传送分离的低刚度的透明或半透明体；透明桥，被设置在所述分离的低刚度的透明或半透明体的传送路径上所述第一传送器和所述第二传送器之间，所述透明桥具有上表面；照明单元，被设置在所述透明桥的一侧，用于透过所述透明桥将散射光投射到所述透明桥的所述上表面；以及图像拾取单元，被设置在所述透明桥的另一侧，用于当所述分离的低刚度的透明或半透明体进入所述透明桥的所述上表面时，接收从所述照明单元投射并且透射通过所述分离的低刚度的透明或半透明体的光以形成图像。
2.如权利要求1所述的图像采集装置，其中所述透明桥的所述上表面比所述第一传送器的上表面和所述第二传送器的上表面低， 以及所述透明桥靠近所述第一传送器和所述第二传送器。
3.如权利要求1所述的图像采集装置，其中，还包括喷射装置，用于向在所述第一传送器和所述透明桥之间的间隙以及在所述第二传送器 和所述透明桥之间的间隙喷射空气。
4.如权利要求1所述的图像采集装置，其中，还包括第一电极板，被施加直流高电压并且被设置在所述第一传送器和所述透明桥之间的间 隙的上方；以及第二电极板，被施加直流高电压并且被设置在所述第二传送器和所述透明桥之间的间 隙的上方。
5.如权利要求1所述的图像采集装置，其中，所述第一传送器和所述第二传送器的每 一个进一步包括第一滚轴和第二滚轴，能够在被驱动时旋转；以及环状带子，绕着所述第一滚轴和所述第二滚轴转动并且随着所述第一滚轴和所述第二 滚轴的旋转而旋转，用于传送位于其上的所述分离的低刚度的透明或半透明体。
6.如权利要求5所述的图像采集装置，其中，所述环状带子是一个宽环状带子或者多 个窄环状带子。
7.如权利要求2所述的图像采集装置，其中，所述透明桥的所述上表面比所述第一传 送器的所述上表面和所述第二传送器的所述上表面低1-3毫米。
8.如权利要求2所述的图像采集装置，其中，在所述透明桥与所述第一传送器之间的 间隙以及在所述透明桥与所述第二传送器之间的间隙小于所述分离的低刚度的透明或半 透明体的厚度的一半。
9.如权利要求1所述的图像采集装置，其中，所述分离的低刚度的透明或半透明体是 分离的塑料薄片。
10.一种用于制造图像采集装置的方法，包括将透明桥设置在分离的低刚度的透明或半透明体的传送路径上第一传送器和第二传 送器之间，其中，所述透明桥具有上表面；将照明单元设置在所述透明桥的一侧，其中，所述照明单元用于透过所述透明桥将散 射光投射到所述透明桥的所述上表面；以及将图像拾取单元设置在所述透明桥的另一侧，其中，所述图像拾取单元用于当所述分 离的低刚度的透明或半透明体进入所述透明桥的所述上表面时，接收从所述照明单元投射 并且透射通过所述分离的低刚度的透明或半透明体的光以形成图像。
11.如权利要求10所述的方法，其中所述透明桥的所述上表面比所述第一传送器的上表面和所述第二传送器的上表面低， 以及所述透明桥靠近所述第一传送器和所述第二传送器。
12.如权利要求10所述的方法，其中，所述分离的低刚度的透明或半透明体是分离的塑料薄片。
13.一种用于检测分离的低刚度的透明或半透明体的缺陷的设备，包括第一传送器和第二传送器，用于传送分离的低刚度的透明或半透明体；透明桥，被设置在所述分离的低刚度的透明或半透明体的传送路径上所述第一传送器 和所述第二传送器之间，所述透明桥具有上表面；照明单元，被设置在所述透明桥的一侧，用于透过所述透明桥将散射光投射到所述透 明桥的所述上表面；图像拾取单元，被设置在所述透明桥的另一侧，用于当所述分离的低刚度的透明或半 透明体进入所述透明桥的所述上表面时，接收从所述照明单元投射并且透射通过所述分离 的低刚度的透明或半透明体的光以形成图像；以及图像处理单元，用于处理所述形成的图像，以判断在所述分离的低刚度的透明或半透 明体中是否存在缺陷。
14.如权利要求13所述的设备，其中所述透明桥的所述上表面比所述第一传送器的上表面和所述第二传送器的上表面低， 以及所述透明桥靠近所述第一传送器和所述第二传送器。
15.如权利要求13所述的设备，其中，所述图像处理单元进一步包括阈值计算模块，用于对所述形成的图像执行自动阈值处理以获取用于对所述形成的图 像进行二值化处理的阈值；二值化模块，用于利用所述获取的阈值对所述形成的图像执行二值化处理，以获取二 值化的图像；检测模块，用于检测是否所述二值化的图像中包含有其灰度不同于所述二值化的图像 的背景的灰度的区域；以及确定模块，用于当检测发现所述二值化的图像中包含有其灰度不同于所述二值化的图 像的背景的灰度的区域时，确定在所述分离的低刚度的透明或半透明体中存在缺陷，以及 当检测发现所述二值化的图像中不包含有其灰度不同于所述二值化的图像的背景的灰度 的区域时，确定在所述分离的低刚度的透明或半透明体中不存在缺陷。
16.如权利要求13所述的设备，其中，还包括执行装置，用于基于在所述分离的低刚度的透明或半透明体中是否存在缺陷来处理所 述分离的低刚度的透明或半透明体。
17.如权利要求16所述的设备，其中，所述执行装置进一步包括判断单元，用于当确定在所述分离的低刚度的透明或半透明体中存在缺陷时，判断所 述分离的低刚度的透明或半透明体是否是第一次被检测；清洗机器，用于执行清洗操作；以及移动单元，用于当所述判断单元判断所述分离的低刚度的透明或半透明体是第一次被 检测时，将所述分离的低刚度的透明或半透明体移动到所述清洗机器以进行清洗，以及当 所述判断单元判断所述分离的低刚度的透明或半透明体不是第一次被检测时，拒绝所述分 离的低刚度的透明或半透明体。
18.如权利要求13所述的设备，其中，所述分离的低刚度的透明或半透明体是分离的 塑料薄片。
19.如权利要求13-18中任意一个权利要求所述的设备，其中当所述判断单元判断所述分离的低刚度的透明或半透明体不存在缺陷时，所述分离的 低刚度的透明或半透明体的缺陷占表面积的比率小于10-7。
20.如权利要求19所述的设备，其中当所述判断单元判断所述分离的低刚度的透明或半透明体不存在缺陷时，所述分离的 低刚度的透明或半透明体的缺陷占表面积的比率进一步地小于10-8。
21.一种用于检测分离的低刚度的透明或半透明体的缺陷的方法，包括将散射光投射到透明桥的上表面；接收透射通过位于所述透明桥的所述上表面上的分离的低刚度的透明或半透明体的 光以形成图像；以及处理所述形成的图像以判断在所述分离的低刚度的透明或半透明体中是否存在缺陷。
22.如权利要求21所述的方法，其中，所述处理所述形成的图像的步骤进一步包括对所述形成的图像执行自动阈值处理以获取用于对所述形成的图像进行二值化处理的阈值；利用所述获取的阈值对所述形成的图像执行二值化处理，以获取二值化的图像；检测是否所述二值化的图像中包含有其灰度不同于所述二值化的图像的背景的灰度 的区域；以及如果检测发现所述二值化的图像中包含有其灰度不同于所述二值化的图像的背景的 灰度的区域，则确定在所述分离的低刚度的透明或半透明体中存在缺陷，以及如果检测发 现所述二值化的图像中没有包含有其灰度不同于所述二值化的图像的背景的灰度的区域， 则确定在所述分离的低刚度的透明或半透明体中不存在缺陷。
23.如权利要求21所述的方法，其中，还包括当确定在所述分离的低刚度的透明或半透明体中存在缺陷时，判断所述分离的低刚度 的透明或半透明体是否是第一次被检测；当判断所述分离的低刚度的透明或半透明体是第一次被检测时，将所述分离的低刚度 的透明或半透明体移动到清洗机器进行清洗；以及当判断所述分离的低刚度的透明或半透明体不是第一次被检测时，拒绝所述分离的低 刚度的透明或半透明体。
24.如权利要求21所述的方法，其中，所述分离的低刚度的透明或半透明体是分离的 塑料薄片。
25.如权利要求21-24中任意一个权利要求所述的方法，其中当确定所述分离的低刚度的透明或半透明体不存在缺陷时，所述分离的低刚度的透明或半透明体的缺陷占表面积的比率小于10-7。
26.如权利要求25所述的方法，其中当确定所述分离的低刚度的透明或半透明体不存在缺陷时，所述分离的低刚度的透明 或半透明体的缺陷占表面积的比率进一步地小于10-8。
全文摘要
本发明涉及一种用于检测分离的低刚度的透明或半透明体的缺陷的设备和方法，其中，图像采集装置包括第一传送器和第二传送器，用于传送分离的低刚度的透明或半透明体；透明桥，被设置在分离的低刚度的透明或半透明体的传送路径上第一传送器和第二传送器之间，透明桥具有上表面；照明单元，被设置在透明桥的一侧，用于透过透明桥将散射光投射到透明桥的上表面；以及，图像拾取单元，被设置在透明桥的另一侧，用于当分离的低刚度的透明或半透明体进入透明桥的上表面时，接收从照明单元投射并且透射通过分离的低刚度的透明或半透明体的光以形成图像。利用该设备和方法，能够检测分离的低刚度的透明或半透明体中的缺陷。
文档编号G01N21/896GK101936916SQ20091015137
公开日2011年1月5日 申请日期2009年7月2日 优先权日2009年7月2日
发明者史伟杰, 李慧芬, 林晓峰, 邓文华, 陈大志, 陈海峰 申请人:法国圣-戈班玻璃公司