专利名称：一种表面粗糙度测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种对机械零件表面粗糙度进行测量的装置。
背景技术：
以"表面粗糙度"代替"表面光洁度"，是二十世纪八十年代我国制定和颁布的对机 械零件加工精度进行衡量的一个新标准。现有表面粗糙度的测量方法一般有比较法、针描 法、光切法、干涉法和印模法，主要使用样板、电动轮廓仪、光切显微镜、干涉显微镜等多种 工具和计量仪器。除样板比较法外，其他各种测量方法均需在计量室内由专业人员进行测 量操作，不利于工件加工过程中的现场实时检测和操作。将"表面光洁度"由"表面粗糙度" 所取代的目的就是要取消以级别评定来确定指标的的"样板比较法"，以避免用人眼观察确 定工件加工精度所引发的争议和计量误差。但多年来，因生产和检验现场缺少一种能直观、 便捷地测量出加工工伯表面粗糙度的具体数值的测量装置和检测手段，因此现在通常还是 采用样板平定方式。当有争议时，再通过计量部门的专业计量来判定工件表面粗糙度的具 体数值，给实际工作带来诸多不便。
实用新型内容本实用新型要解决的问题是提供一种可在加工和检验现场使用、测量方便的表面 粗糙度测量装置。 为了解决上述技术问题，本实用新型采用以下技术方案 —种表面粗糙度测量装置，包括存储器及控制键盘，还包括数字处理芯片、光纤传 感器、光控电路及显示器，所述存储器、控制键盘、显示器、光控电路及光纤传感器分别与数 字处理芯片电连接，光控电路还与光纤传感器电连接。在光控电路上设有可以在各种外部 环境条件下调节光源强度的光强按钮。 本实用新型结构简单，便于携带，操作直观方便，可在加工现场对工件进行单个或 批次的检测计量，实现了表面粗糙度检测的数据化、简单化和科学化；另外，在光控电路上 设置有光强按钮，可在各种环境条件下，通过调节光源强度，保证光纤传感器的稳定性。实 现全天候测量的目的。
附图1为本实用新型原理框图；附图2为本实用新型外观立体结构示意图。
具体实施方式
为了便于本领域技术人员的理解，下面结合实施例和附图对本实用新型作进一步 的说明，实施例中提及到的内容并非对本实用新型的限定。 如附图1所示，一种表面粗糙度测量装置，包括存储器及控制键盘，还包括数字处 理芯片、光纤传感器、光控电路及显示器，所述存储器、控制键盘、显示器、光控电路及光纤传感器分别与数字处理芯片电连接，光控电路还与光纤传感器电连接。在光控电路上设有 可以在各种外部环境条件下调节光源强度的光强按钮。存储器用以存储检测的计量程序和 检测数据，光控电路可采用现有常规的电路方式构成。 如附图2所示，本实用新型可装在一个小巧的机壳1内，在机壳1外表面设有显示 器窗口 2、按键4入光强按钮3，光纤传感器6通过光纤5与机壳1内的数字处理芯片及光 控电路连接。 本实用新型的工作过程当光纤传感器的探头在被测工件上移动时，光纤传感器 输出的电压信号会随着工件表面的细微凹凸变化而改变，由此确定出工件的表面状态，把 对应的电压变化信号输入数字处理芯片，并通过预先存入的检测计量程序，计算出"轮廓算 术平均差"等一组相关数据，同时在显示器上显示出来。此数据即为被检测工件的表面粗糙 度。通过控制键盘输入指令，可存储批次被测工件相关的计量数据，并可在事后集中调出数 据进行分析，或与计算机联机，打印出批次的检测数据，作为测评依据或存档。
权利要求一种表面粗糙度测量装置，包括存储器及控制键盘，其特征在于还包括数字处理芯片、光纤传感器、光控电路及显示器，所述存储器、控制键盘、显示器、光控电路及光纤传感器分别与数字处理芯片电连接，光控电路还与光纤传感器电连接。
2. 根据权利要求1所述的表面粗糙度测量装置，其特征在于所述光控电路上设有调 节光源强度的光强按钮(3)。
专利摘要一种表面粗糙度测量装置，包括存储器及控制键盘，还包括数字处理芯片、光纤传感器、光控电路及显示器，所述存储器、控制键盘、显示器、光控电路及光纤传感器分别与数字处理芯片电连接，光控电路还与光纤传感器电连接，在光控电路上设有调节光源强度的光强按钮。本实用新型结构简单，携带方便，操作简单，可在加工现场对工件进行单个或批次的检测计量。
文档编号G01B11/30GK201438110SQ200920059139
公开日2010年4月14日 申请日期2009年6月23日 优先权日2009年6月23日
发明者任志同 申请人:模德模具(东莞)有限公司