粗糙度测量装置制造方法
【专利摘要】一种粗糙度测量装置（2），具有移动的进给装置（10）以及基站（4），所述基站包括用于校准所述进给装置（10）的粗糙标准（6）。根据本发明，在所述基站（4）的上方形成存放面（8），所述进给装置（10）在所述存放面上是可存放的，其中所述粗糙标准（6）可移动地在所述基站（8）上设置并且在一个校准位置形成所述存放面（8）的一部分，如此使得当在所述存放面（8）上存放进给装置（10）的情况下校准是可执行的。
【专利说明】粗糖度测量装置
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种粗糙度测量装置。
【背景技术】
[0002] 这样的粗糙度测量装置一般是已知的并且用于在制造过程中执行粗糙度的测量。 已知的粗糙度测量装置具有移动的进给装置，其承载一个粗糙度扫描器。此外，该已知的粗 糙度测量装置具有基站，在该基站中可以设有例如分析处理单元，其分析处理通过移动的 进给装置记录的测量数据。
[0003] 为了确保由进给装置提供的测量值是可靠的，需要以确定的时间间隔检查测量装 置的校准。为此，使用了一种所谓的粗糙标准，该粗糙标准是一个具有预先已知的表面粗糙 度的构件。通过对该粗糙标准的表面的扫描来确定根据测量数据确定的粗糙度与粗糙标准 的预先已知的粗糙度是否一致，从而判断该进给装置是否得到足够的校准。
[0004] 文献DE10334219B3 (对应于US7347048B2)公开了一种具有移动的进给装置和基 站的粗糙度测量装置。该已知的粗糙度测量装置具有一个间隙，进给装置可插入到该间隙 中。该间隙的内壁承载用于校准进给装置的粗糙标准，其中粗糙标准在间隙中的设置，使得 在进给装置插入到所述间隙中的情况下可以实现对测量装置的校准。通过将粗糙标准在间 隙中的设置，避免了例如在基站的运输中对粗糙标准的接触造成对粗糙标准的损坏。
【发明内容】
[0005] 本发明的目的是提供一种构造简单的粗糙度测量装置。
[0006] 该目的通过以下的技术方案实现。
[0007] 本发明的基本构思在于，如此构成基站，使得一方面保护粗糙标准免于损坏并且 同时保持基站具有简单的构造。
[0008] 出于该目的，本发明提供在所述基站的上方形成存放面，所述进给装置可存放于 所述存放面上，其中所述粗糙标准可移动地在所述基站上设置并且在一个校准位置形成所 述存放面的一部分，如此使得当在所述存放面上存放进给装置的情况下校准是可执行的。
[0009] 例如，特别是粗糙标准可以可取下地与基站连接并且可插入到一个升降通道式的 容纳部（schachtartige Aufnahme)中。根据本发明粗糙标准在校准位置形成所述存放面的 一部分，从而在粗糙标准的该位置可以执行对进给装置的校准。在实施校准之后或者使用 粗糙度测量装置之后可将粗糙标准从升降通道式的容纳部拉出并且旋转180°地又推入到 升降通道式的容纳部中。因此，粗糙标准在校准位置时朝上，在保护位置时朝下，从而在基 站的运输中避免在碰撞到障碍物时损坏该粗糙标准的危险。
[0010] 根据本发明，在基站上粗糙标准总是可用的，从而在需要时可随时检查测量装置 的校准或者执行测量装置的校准。但是同时该粗糙标准也在保护位置得到可靠的保护而免 于损坏。
[0011] 粗糙标准在校准位置与保护位置之间的移动可以通过任意适合的方式实现。粗糙 标准可松脱地或者可取下地与基站连接的实施形式附加地具有的优点在于，在需要时可以 更换该粗糙标准。
[0012] 基于以下事实，即粗糙标准在其保护位置集成到基站上的存放面中，使得该基站 壳体具有特别简单的构造。
[0013] 本发明有利的改进在于，所述粗糙标准由所述校准位置可移动到一个保护位置， 在所述保护位置所述粗糙标准至少部分地、优选完全地或者几乎完全地由所述基站的壳体 的部分覆盖。根据本发明，完全或几乎完全地覆盖粗糙标准应当理解为，粗糙标准的至少用 于校准的那些部分由壳体的部分覆盖并且由此被保护免于不期望的接触并而免于损坏。
[0014] 根据本发明，粗糙标准可以稳定地却可移动地与基站连接，其中粗糙标准从校准 位置到保护位置的移动可以遵循任意适合的运动。根据本发明的一种有利的改进方案，所 述粗糙标准可从所述基站取下。通过这种方式可以特别简单地构成用于粗糙标准的固定 件，例如框架。
[0015] 本发明的另一有利的改进方案，所述粗糙标准可插入到一个升降通道式的容纳部 中，所述容纳部朝着所述存放面敞开。如果粗糙标准在该实施形式中位于校准位置，那么为 了校准拉出的粗糙标准的校准表面朝上敞开并且形成存放面的一部分。如果与之相对地粗 糙标准位于保护位置，那么粗糙标准的与校准表面相对的面打开，校准表面在升降通道式 的容纳部中被保护免于接触而免于损坏。
[0016] 在这一点上本发明的另一有利的改进方案在于，所述容纳部如此构成，使得所述 粗糙标准在所述保护位置相对于所述校准位置旋转180°地容纳在所述容纳部中。
【专利附图】
【附图说明】
[0017] 参阅附图以及实施例，本发明将得到更加详细地阐明。在附图中描述的以及示出 的并且在权利要求中要求的所有特征单独地形成以及以任何适合方式的相互组合，不依赖 于这些特征在权利要求中的概括以及引用关系以及不依赖于这些特征在附图中的描述或 表不。
[0018] 其中：
[0019] 图1示出了根据本发明的一种粗糙度测量装置的基站的透视图；
[0020] 图2在与图1类似的视图中示出了如图1的具有存放在其上的移动的进
[0021] 给装置的基站；
[0022] 图3以相对于图1大幅放大的比例示出了在应用粗糙标准的情况下基站
[0023] 的粗糙标准的区域中的细节；以及
[0024] 图4在与图3相同的视图中示出了具有移除的粗糙标准的基站。
【具体实施方式】
[0025] 图1在示意性的透视图中示出了根据本发明的一个实施例的粗糙度测量装置2， 该粗糙度测量装置2具有基站4,该基站具有用于校准粗糙度测量装置的粗糙标准6。
[0026] 根据本发明，在基站4的上方形成有存放面8,图1中未示出的移动的进给装置可 存放在该存放面上。
[0027] 图2示出了基站4,其中在存放面8上放置有一个移动的进给装置10,其承载有粗 糙度扫描器。此外，相应的粗糙度测量装置2的结构对于本领域的技术人员而言一般是已 知的，因此不再赘述。
[0028] 根据本发明，粗糙标准6在基站4上可移动地设置并且在校准位置下形成存放面 8的一部分，如此使得粗糙度测量装置2在进给装置存放在存放面上的情况下是可校准的。 根据本发明对粗糙度测量装置2的校准，应当理解为用于校准粗糙度测量装置2的校准过 程的执行。但是，在根据本发明的校准下，也可理解为检查粗糙度测量装置2的校准是否满 足预定的要求。
[0029] 图3示出了在粗糙标准6的区域中的细节。粗糙标准6在该实施例中平板式地构 成并且具有框架12,该框架围绕校准表面14。校准表面14具有预定的或者预知的粗糙度 特征。通过进给装置10的粗糙度扫描器扫描该校准表面14,根据在扫描校准表面14时获 取的测量数据测量校准表面14的粗糙度，并且通过与校准表面14的预知或预定的粗糙度 的比较从而确定该粗糙度测量装置2是否是足够校准的。如果有必要的话，可以根据粗糙 标准6执行对粗糙度测量装置2的校准。
[0030] 图3示出了在其校准位置的粗糙标准6,在该校准位置粗糙标准6形成存放面8的 一部分。如图2所示，进给装置10可以如此存放在存放面8上，使得进给装置的粗糙度扫 描器位于在校准表面14上。紧接着可以起动测量过程，其中进给装置扫描该校准表面14。
[0031] 在示出的实施例中，粗糙标准6可松脱或可取下地与基站4连接，其中粗糙标准6 可由校准位置移动到保护位置，在该保护位置粗糙标准在示出的实施例中几乎完全地由基 站的壳体的部分覆盖。
[0032] 在示出的实施例中，如图4所示粗糙标准6可插入到升降通道式的容纳部16中， 该容纳部朝着存放面8敞开，其中容纳部16如此构成，使得所述粗糙标准6在所述保护位 置相对于所述校准位置旋转180°地容纳在所述容纳部16中。
[0033] 图4示出了在一个位置的粗糙标准6,其中粗糙标准由升降通道式的容纳部16中 拉出。为使粗糙标准处于保护位置，将粗糙标准旋转180°，使该校准表面14在图4中朝 下。在该方向下再将粗糙标准6插入到容纳部16中，与校准表面14相对的面朝上进而使 得该校准表面14在升降通道式的容纳部中被保护免于接触并免于损坏。
[0034] 因此本发明提供了 一种粗糙度测量装置2,其根据在基站4上设有的粗糙标准6实 现了进给装置10的校准，其中同时基站8的构造得到简化。
【权利要求】
1. 一种粗糙度测量装置，具有： 移动的进给装置以及 基站，所述基站具有用于校准所述粗糙度测量装置的粗糙标准， 其特征在于， 在所述基站（4)的上方形成有存放面（8 )，所述进给装置（10 )可存放于所述存放面上； 以及 所述粗糙标准（6 )可移动地在所述基站（4 )上设置并在一个校准位置形成所述存放面 (8)的一部分，使得当在所述存放面上存放进给装置（10)的情况下所述粗糙度测量装置的 校准是可执行的。
2. 根据权利要求1所述的粗糙度测量装置，其特征在于，所述粗糙标准（6)从所述校准 位置移动到一个保护位置，在所述保护位置所述粗糙标准（6)至少部分地、优选完全地或者 几乎完全地由所述基站（4)的壳体的部分覆盖。
3. 根据权利要求1或2所述的粗糙度测量装置，其特征在于，所述粗糙标准（8)可从所 述基站（4)取下。
4. 根据上述权利要求中任意一项所述的粗糙度测量装置，其特征在于，所述粗糙标准 (6)可插入到一个升降通道式的容纳部（16)中，所述容纳部朝着所述存放面敞开。
5. 根据权利要求4所述的粗糙度测量装置，其特征在于，所述容纳部（16)如此构成，使 得所述粗糙标准（6)在所述保护位置相对于所述校准位置旋转180°地容置于所述容纳部 (16)中。
【文档编号】G01B21/30GK104111055SQ201410155806
【公开日】2014年10月22日 申请日期:2014年4月17日 优先权日:2013年4月20日
【发明者】阿德尔伯特·勒贝 申请人:业纳工业计量德国公司