一种继电器触点上的电压降的间接测试方法

文档序号:5871487阅读:1051来源:国知局
专利名称:一种继电器触点上的电压降的间接测试方法
技术领域
本发明涉及继电器测试技术领域,是一种继电器触点闭合后,测试电流在触点上的电压降的方法,使用本发明方法在不损失准确性基础上大大提高了测试的安全性。
背景技术
目前,在电力电子设备中广泛使用继电器进行电源控制,准确测出继电器触点上的电压降和流过的电流就能计算出触点上产生的热耗,这样可以方便进行可靠性分析。电流的测试比较容易,电压降的测试就困难多了,从设备外部无法直接测试,从设备内部测试,需要把电压表表笔直接与继电器的触点连接,这种操作,对装配完好的设备非常不方便、不安全。

发明内容
本发明的目的是提出一种继电器触点上的电压降的间接测试方法,以便准确测试电源控制中继电器触点上的电压降,可以从设备外部进行间接测试,测试结果准确可信,测试过程安全、方便。为达到上述目的,本发明的技术解决方案是一种电源控制中继电器触点上的电压降间接测试方法,其包括步骤A)在设备外部设置一测试电路;B)测试出从28V正输入端到负载正端的电压降Up ;C)测试出负载负端到^V输入负端的电压降Un ;D)将B)步、C)步所得结果相减UP-UN得继电器触点上的电压降Uc。所述的继电器触点上的电压降间接测试方法,其所述设备外部设置一测试电路, 是在测试设备放四个接线柱,28V直流电源正端与第一个接线柱(Test point 1)、电源控制设备^V Input相连,负端与第四个接线柱(Test point4)、电源控制设备^V Input RTN 相连,负载正端与第二个接线柱(Test point 2)、电源控制设备^V Output相连,负载负端端与第三个接线柱(Test point 3)、电源控制设备^V Output RTN相连;当设备正常工作时分别测出第一个接线柱(Test point 1)到第二个接线柱(Test point 2)电压降UP、第三个接线柱(Test point3)到第四个接线柱(Test point 4)电压降Un,两者的差即为继电器触点上的电压降Uc。所述的继电器触点上的电压降间接测试方法,其所述电压降Up由导线上电压降和继电器触点上的电压降两部分组成;在整个电流路径中从^V正输入端到负载正端的导线长度与回线的导线长度相等,所以导线上的电压降也认为是相等的。本发明间接测试方法的优越之处在于从设备外部测试,不需要打开机箱,不接触内部电路,没有安全性隐患,只需在设备外部做一个简单测试电路,通过连接器与设备连接就可以测试了。本发明间接测试方法对于分析大功率、大电流的电路设计更有实用意义。


图1是本发明的一种继电器触点上的电压降的间接测试方法原理图;图2是本发明的一种继电器触点上的电压降的间接测试方法实施例示意图;其中连接器1、2。
具体实施例方式下面结合附图和实例对本发明进一步说明。在电源控制电路中,电流从28V输入端流入经过一段导线到达继电器的输入触点,然后从继电器的输出触点流到负载的正输入端,并从负载流出,经过回线最后从 28V输入端负端流出。在整个电流路径中从28V正输入端到负载正端的导线长度基本上与回线的导线长度相等,所以导线上的电压降也可以认为是相等的,从正输入端到负载正端的电压降Up由导线上电压降和继电器触点上的电压降两部分组成,只有测试出Up和负载负端到28V输入负端的电压降Un,两者相减就得出继电器触点上的电压降Uc,Uc = Up-队。图1是本发明的电路原理图。在图1中^V+进入电源控制设备机箱后直接连接继电器输入触点上,从继电器输出触点上输出的电源连接到外部负载正端,负载负端直接与^V回线相连。在图中Up指的是从28V输入端到负载正端的电压降,UN指的是从负载负端经过回线到^V负端的电压降,Uc两指的是继电器触点上电压降,测出UP、Un后,Uc =Up-队就得出Uco在某航天项目中,星上输出^v电源直接送到有效载荷中配电器分机, 在配电器总28V经过EL215继电器切换后直接输入到其他各分机的DC/DC输入端,各分机的开关机控制使用小继电器控制DC/DC的Inhibit实现,使用上述方法在全负载情况下,测出 Up = 279mV, Un = 258mV, Uc = Up-Un = 21mV。实施例在测试设备放四个接线柱iTest point U Test point 2, Test point3 和 iTest point 4,28V直流电源正端与Test point 1、电源控制设备^VInput相连,负端与Test point 4、电源控制设备^V Input RTN相连,负载正端与Test point 2、电源控制设备^V Output相连,负载负端端与Test point 3、电源控制设备^V Output RTN相连(如图2所示)。当设备正常工作时分别测出iTest point 1到iTest point 2电压降UP、Testpoint 3 到Test point 4电压降UN,两者的差即为Uc。本发明方法可以从设备外部进行测试,不需要打开机箱,不接触内部电路,没有安全性隐患,只需在设备外部做一个简单测试电路,通过连接器1、2 (见图幻与设备连接就可以测试了。测试结果准确可信,测试过程安全、方便。
权利要求
1.一种电源控制中继电器触点上的电压降间接测试方法,其特征在于,包括步骤A)在设备外部设置一测试电路;B)测试出从28V正输入端到负载正端的电压降Up;C)测试出负载负端到28V输入负端的电压降Un;D)将B)步、C)步所得结果相减 - 得继电器触点上的电压降Uc。
2.如权利要求1所述的继电器触点上的电压降间接测试方法,其特征在于,所述设备外部设置一测试电路,是在测试设备放四个接线柱,28V直流电源正端与第一个接线柱、电源控制设备^V Input相连,负端与第四个接线柱、电源控制设备^V Input RTN相连,负载正端与第二个接线柱、电源控制设备28V Output相连,负载负端端与第三个接线柱、电源控制设备^V Output RTN相连;当设备正常工作时分别测出第一个接线柱到第二个接线柱电压降UP、第三个接线柱到第四个接线柱电压降Un,两者的差即为继电器触点上的电压降Uc。
3.如权利要求1所述的继电器触点上的电压降间接测试方法,其特征在于,所述电压降Up由导线上电压降和继电器触点上的电压降两部分组成;在整个电流路径中从28V正输入端到负载正端的导线长度与回线的导线长度相等,所以导线上的电压降也认为是相等的。
全文摘要
本发明公开了一种电源控制中继电器触点上的电压降间接测试方法,涉及继电器测试技术,可以从设备外部进行测试,不需要打开机箱,不接触内部电路,没有安全性隐患,只需在设备外部做一个简单测试电路,通过连接器与设备连接就可以测试了。本发明的电源控制中继电器触点上的电压降间接测试方法,测试结果准确可信,测试过程安全、方便。
文档编号G01R19/00GK102193017SQ20101016829
公开日2011年9月21日 申请日期2010年4月22日 优先权日2010年3月18日
发明者吴玉田, 张平, 禹卫东 申请人:中国科学院电子学研究所
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