专利名称：一种高精度螺旋测微器的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及微距测量装置，特别是一种高精度螺旋测微器。
技术背景现在的一般所使用的螺旋测微器，能够测量的精度为0. 01毫米，而对于有更高的 精度要求的测量不能实现，这样就不能满足对物体有着更高的微距测量的要求，如果使用 其它设备，则设备的使用成本较高。
发明内容本实用新型的目的是提供一种测量精度更高的高精度螺旋测微器。本实用新型的 技术方案是，一种高精度螺旋测微器，它包括螺旋测微器，其特征在于在螺旋测微器的固 定刻度尺上固定安装有支架，支架与游标卡环固定连接，游标卡环套装在转动刻度环上。所 述游标卡环上设有O度区位，0度区位的单位长度为游标卡环的周长的50分之一，再将游标 卡环的其他部分均等分为50份。本实用新型的结构简单，能够将测量的精度提高，满足对 物体有着高精度的微距测量要求的需要。
附图是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
结合附图详细描述实施例，本实用新型的具体实施例是，一种高精度螺旋测微器， 它包括螺旋测微器1，在螺旋测微器的固定刻度尺2上固定安装有支架3，支架与游标卡环 5固定连接，游标卡环套装在转动刻度环4上。所述游标卡环上设有0度区位7，0度区位 的单位长度为游标卡环的周长的五十分之一，再将游标卡环的其他部分均等分为五十份， 每五份为一个区，标识有1-10，共十个区位。本实用新型的使用方法是，与使用螺旋测微器 的基本方式相近，在本实用新型的初始状态为，固定刻度尺的中间线与转动刻度环的0位 线以及游标卡环上的0度区位的上位线6对直，当使用本实用新型在最后进行读数时，先将 固定刻度尺与转动刻度环上的数值读出，再看转动刻度环上的线与游标卡环上的哪根线相 对，直接读出游标卡环上的那根线对应的区值，如果转动刻度环上的线与游标卡环上的10 区内的线或者0区对应，则游标卡环的读数值为0，最后测量物体的数值为固定刻度尺的 读数X0. 5毫米+转动刻度环上的读数X0. 01毫米+游标卡环上的区数X0. 001毫米，即 为被测物体的最后读数，本实用新型可将被测物体的测量精度提高十倍。
权利要求一种高精度螺旋测微器，它包括螺旋测微器，其特征在于在螺旋测微器的固定刻度尺上固定安装有支架，支架与游标卡环固定连接，游标卡环套装在转动刻度环上。
2.如权利要求1所述的一种高精度螺旋测微器，其特征在于所述游标卡环上设有0 度区位，0度区位的单位长度为游标卡环的周长的50分之一，再将游标卡环的其他部分均 等分为50份。
专利摘要本实用新型公开了一种高精度螺旋测微器，本实用新型的目的是提供一种测量精度更高的高精度螺旋测微器。本实用新型的技术方案是，一种高精度螺旋测微器，它包括螺旋测微器，在螺旋测微器的固定刻度尺上固定安装有支架，支架与游标卡环固定连接，游标卡环套装在转动刻度环上。所述游标卡环上设有0度区位，0度区位的单位长度为游标卡环的周长的50分之一，再将游标卡环的其他部分均等分为50份。本实用新型的结构简单，能够将测量的精度提高，满足对物体有着高精度的微距测量要求的需要。
文档编号G01B3/18GK201748876SQ201020272430
公开日2011年2月16日 申请日期2010年7月21日 优先权日2010年7月21日
发明者周东珂 申请人:周东珂