专利名称：一种频率测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于测试装置，特别属于一种频率测试装置。 技术背景石英晶体谐振器在微调过程中，其频率值是通过频率测试卡测得的。如果测试卡 本身存在误差，或者环境的影响都会造成测出的频率值不准确。计算机用获得一个不准确 的频率信号去控制微调机对晶体进行微调，那么微调出来的晶体频率值必然会偏离设定 值，造成产品散差很大，甚至变成废品，直接影响到产品的合格率和生产效率，降低企业的 经济效益。因此，在石英晶体谐振器微调过程中，如何选用合适的频率测试卡去测试产品， 是生产过程中需要解决的根本问题。目前，微调机上所用的测试卡，是电容调谐式，在测试频率时需要进行调谐，所用 元件多，线路繁杂，故障率高，维修困难。另外，抗频率干扰能力差，测试不准确(士5ppm)， 测频范围窄(1 - 60 MH ζ)，难以满足生产要求。
实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是提供一种测试准确度高、结构简单、成本低的 频率测试装置。本实用新型解决技术问题的技术方案为一种频率测试装置，包括钟振电路，钟振 电路与待测晶体相连，电源向钟振电路供电，钟振电路的信号输出端与计数器相连。本实用新型与现有技术相比，本实用新型通过钟振电路对待微调晶体的频率值精 确测量，使得控制系统的测试精度更高，测频范围更宽，抗干扰能力强，维护方便。本发明 部件少，结构合理，性能稳定，操作简单，性价比很高。
图1为本实用新型的电路框图。
具体实施方式
一种频率测试装置，包括钟振电路2，钟振电路2与待测晶体4相连，电源1向钟振 电路2供电，钟振电路2的信号输出端与计数器相连，如图1所示。如图1所示，所述的待测晶体4夹置在测试夹具上，当待测晶体4安装在测试夹具 上，钟振电路2就会工作，产生一个频率信号，这个频率信号的频率值就是待测晶体4的频 率值。所述的电源1为+5V直流电，所述的计数器采用计数卡3，所述的计数卡3与计算机 通讯。钟振电路2是由集成块和外围元件组成的振荡电路，钟振电路2和待测晶体4共同 产生一个频率信号传送至计数卡3，计数卡3将模拟的频率信号进行运算变换成数字信号 送给计算机。在工作时，当+5V直流电加到钟振电路2中，钟振电路2无需进行电容调谐，能迅页
速检测出待测晶体4的频率值.再送到计数卡3中进行变换运算。测试精度高，测频范围 宽，完全取代传统的按频段反复设置的方法，故障率极低。通过本发明装置对待微调晶体的 频率值精确测量，使得控制系统的测试精度更高(士lppm)，测频范围更宽(1 - 120 MH ζ). 抗干扰能力强，维护方便。本发明部件少，结构合理，性能稳定，操作简单，性价比很高。
权利要求1.一种频率测试装置，其特征在于包括钟振电路(2)，钟振电路(2)与待测晶体(4)相 连，电源(1)向钟振电路(2)供电，钟振电路(2)的信号输出端与计数器相连。
2.根据权利要求1所述的频率测试装置，其特征在于所述的待测晶体(4)夹置在测试 夹具上。
3.根据权利要求1所述的频率测试装置，其特征在于所述的电源(1)为+5V直流电。
4.根据权利要求1所述的频率测试装置，其特征在于所述的计数器采用计数卡(3)， 所述的计数卡(3)与计算机通讯。
专利摘要本实用新型公开了一种频率测试装置，包括钟振电路，钟振电路与待测晶体相连，电源向钟振电路供电，钟振电路的信号输出端与计数器相连。本实用新型通过钟振电路对待微调晶体的频率值精确测量，使得控制系统的测试精度更高,测频范围更宽，抗干扰能力强，维护方便。本实用新型部件少，结构合理，性能稳定，操作简单，性价比很高。
文档编号G01R23/10GK201886080SQ201020654568
公开日2011年6月29日 申请日期2010年12月13日 优先权日2010年12月13日
发明者何基常, 房振东 申请人:铜陵嘉禾电子科技有限公司