专利名称：测量深孔端面跳动的辅助装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测量深孔端面跳动用的辅助装置。
背景技术：
目前，箱体类零件的深孔加工，由于坐标镗床价格低廉，镗模加工精度有保证，适 合大批量生产，所以仍是中小企业的首选。由于采用的是镗杆、镗刀加工，在加工深孔台面 时，在切削力的作用下易产生轴向窜动，所以加工深孔台阶面的精度很难达到要求，为此需 要通过三坐标测量机来检验此端面的跳动数值。由于深孔台阶面太深，三坐标的测头就无 法够到，无法测量，如果用加长测针的话，测出的数值与实际情况相差比较大，测量无意义。
发明内容为了解决现有箱体深孔台阶面精度无法测量的缺点，本实用新型提供了一种辅助 装置，可以解决箱体深孔台阶面精度的测量问题。为此，本实用新型采取以下技术方案一种测量深孔端面跳动的辅助装置，包括一圆柱体，所述圆柱体中心开有台阶状 通孔，所述通孔由大孔径孔和小孔径孔组成；所述圆柱体的直径略小于待测孔的孔径；所 述圆柱体的两个端面的表面粗糙度大于0. 4微米。将辅助装置紧贴箱体深孔台阶面，通过测量辅助工具的外露端面反映深孔台阶面 的精度。采用本实用新型具有以下优点1、有效解决了箱体深孔台阶面精度的测量问题， 消除了三坐标测量机直接用长测针测量的误差；2、能精准反映出箱体类零件深孔台阶面精 度的实际数值；3、结构简单、制作成本低、使用效果好。
图1为本实用新型结构示意图；图2为待测箱体深孔示意图；图3为测量状态示意图。
具体实施方式
参照图1，一种测量深孔端面跳动的辅助装置，包括一圆柱体，所述圆柱体中心开 有台阶状通孔11，所述通孔由大孔径孔和小孔径孔组成；所述圆柱体的直径略小于待测孔 的孔径；所述圆柱体的两个端面A、B的表面粗糙度大于0. 4微米。测量时，参照图2-3，将辅助装置1装入箱体4的深孔Φ 中，用T型螺钉3穿过辅 助装置1的内孔Φ(1，另一端用开口挡板2插入，并用螺母5锁紧。这时的三坐标测量机可 以采用标准短针进行测量，辅助装置的B面，就可以间接的反映出箱体的C面数值，达到测 量的目的。
权利要求1. 一种测量深孔端面跳动的辅助装置，其特征在于包括一圆柱体，所述圆柱体中心 开有台阶状通孔，所述通孔由大孔径孔和小孔径孔组成； 所述圆柱体的直径略小于待测孔的孔径； 所述圆柱体的两个端面的表面粗糙度大于0. 4微米。
专利摘要一种测量深孔端面跳动的辅助装置，包括一圆柱体，所述圆柱体中心开有台阶状通孔，所述通孔由大孔径孔和小孔径孔组成；所述圆柱体的直径略小于待测孔的孔径；所述圆柱体的两个端面的表面粗糙度大于0.4微米。本实用新型有效解决了箱体深孔台阶面精度的测量问题，消除了三坐标测量机直接用长测针测量的误差；能精准反映出箱体类零件深孔台阶面精度的实际数值；结构简单、制作成本低、使用效果好。
文档编号G01B5/00GK201917292SQ201020667568
公开日2011年8月3日 申请日期2010年12月9日 优先权日2010年12月9日
发明者陈勇良, 陈广寨 申请人:武义机床制造有限公司