专利名称：发热量计算式制作系统、发热量计算式的制作方法、发热量测定系统以及发热量的测定方法
技术领域：
本发明涉及关于气体检查技术的发热量计算式制作系统、发热量计算式的制作方法、发热量测定系统以及发热量的测定方法。
背景技术：
以往，在求混合气体的发热量的时候，需要昂贵的气相色谱仪装置等对混合气体的成分进行分析。而且，还提案有通过测定混合气体的热传导率和混合气体中的音速，来计算混合气体中包含的甲烷(CH4)、丙烷(C3H8)、氮气(N2)和碳酸气体(CO2)的成分比率，从而求得混合气体的发热量的方法(例如，参见专利文献1)。现有技术文献专利文献专利文献1 日本特表2004-514138号公报
发明内容
发明所要解决的问题但是，专利文献1所揭示的方法中，除了需要测定热传导率的传感器之外，还需要测定音速的昂贵的音速传感器。因此，本发明的目的之一在于提供能够容易地测定气体的发热量的发热量计算式制作系统、发热量计算式的制作方法、发热量测定系统以及发热量的测定方法。解决问题的手段根据本发明的实施方式，一种发热量计算式制作系统，其特征在于，包括(a)电阻计算式存储部，其保存含有独立变量以及从属变量的电阻计算式，所述独立变量表示与校正气体接触的测温元件所检测的温度，所述从属变量表示与所述校正气体接触的发热元件的电阻；(b)系数计算用计测部，其取得表示与所述校正气体接触的所述测温元件所检测到的温度的计测值、以及表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；(C) 修正系数计算部，将表示所述温度的计测值代入所述电阻计算式的表示温度的独立变量， 计算出表示所述发热元件的电阻的计算值，并计算出表示所述发热元件的电阻的计测值与表示所述发热元件的电阻的计算值之比，即修正系数；(d)计算式制作用计测部，其取得表示与多种混合气体分别接触的所述测温元件的电阻的计测值，和表示与所述多种混合气体分别接触的所述发热元件的电阻的计测值；(e)计测值修正部，其采用所述修正系数对表示与所述多种混合气体分别接触的所述发热元件的电阻的计测值进行修正；和(f)发热量计算式制作部，其根据所述多种混合气体各自的发热量的值、表示与所述多种混合气体分别接触的所述测温元件的电阻的计测值，以及表示所述发热元件的电阻的经过修正的计测值，制作包含了表示所述测温元件的电阻的独立变量、表示所述发热元件的电阻的独立变量、以及表示所述发热量的从属变量的发热量计算式。
根据本发明的实施方式，一种发热量计算式的制作方法，其特征在于，包括以下步骤(a)准备含有独立变量以及从属变量的电阻计算式，所述独立变量表示与校正气体接触的测温元件所检测的温度，所述从属变量表示与所述校正气体接触的发热元件的电阻; (b)取得表示与所述校正气体接触的所述测温元件所检测到的温度的计测值、以及表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；(C)将表示所述温度的计测值代入所述电阻计算式的表示所述温度的独立变量，计算出表示所述发热元件的电阻的计算值，计算出表示所述发热元件的电阻的计测值与表示所述发热元件的电阻的计算值之比，即修正系数；(d)取得表示与多种混合气体分别接触的所述测温元件的电阻的计测值；(e)取得表示与所述多种混合气体分别接触的所述发热元件的电阻的计测值；(f)采用所述修正系数对表示与所述多种混合气体分别接触的所述发热元件的电阻的计测值进行修正；以及(g) 根据所述多种混合气体各自的发热量的值、表示与所述多种混合气体分别接触的所述测温元件的电阻的计测值，以及表示所述发热元件的电阻的经过修正的计测值，制作包含表示所述测温元件的电阻的独立变量、表示所述发热元件的电阻的独立变量、以及表示所述发热量的从属变量的发热量计算式。根据本发明的实施方式，一种发热量测定系统，其特征在于，包括(a)电阻计算式存储部，其保存含有独立变量以及从属变量的电阻计算式，所述独立变量表示与校正气体接触的测温元件所检测的温度，所述从属变量表示与所述校正气体接触的发热元件的电阻；(b)系数计算用计测部，其取得表示与所述校正气体接触的所述测温元件所检测到的温度的计测值、以及表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；(c)修正系数计算部，其将表示所述温度的计测值代入所述电阻计算式的表示所述温度的独立变量，计算出表示所述发热元件的电阻的计算值，并计算出表示所述发热元件的电阻的计测值与表示所述发热元件的电阻的计算值之比，即修正系数；(d)发热量计算用计测部，取得表示与计测对象混合气体接触的所述测温元件的电阻的计测值、和表示与所述计测对象混合气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；(e)计测值修正部，其采用所述修正系数对表示与所述计测对象混合气体接触的所述发热元件的电阻的计测值进行修正；(f)发热量计算式存储装置，其保存含有表示所述测温元件的电阻的独立变量、表示所述发热元件的电阻的独立变量、和表示发热量的从属变量的发热量计算式；和(g)发热量计算部，其将表示与所述计测对象混合气体接触的所述测温元件的电阻的计测值、表示与所述计测对象混合气体接触的所述发热元件的电阻的经过修正的计测值代入所述发热量计算式的表示所述测温元件的电阻的独立变量、以及表示所述发热元件的电阻的独立变量，计算出所述计测对象混合气体的发热量的值。根据本发明的实施方式，一种发热量的测定方法，其特征在于，包括以下步骤(a) 准备含有独立变量以及从属变量的电阻计算式，所述独立变量表示与校正气体接触的测温元件所检测的温度，所述从属变量表示与所述校正气体接触的发热元件的电阻；(b)取得表示与所述校正气体接触的所述测温元件所检测到的温度的计测值、以及表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；(c)将表示所述温度的计测值代入所述电阻计算式的表示所述温度的独立变量，计算出表示所述发热元件的电阻的计算值，并计算出表示所述发热元件的电阻的计测值与表示所述发热元件的电阻的计算值之比，即修正系数； (d)取得表示与计测对象混合气体接触的所述测温元件的电阻的计测值、和表示与所述计测对象混合气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；(e)采用所述修正系数对表示与所述计测对象混合气体接触的所述发热元件的电阻的计测值进行修正；(f)准备含有表示所述测温元件的电阻的独立变量、表示所述发热元件的电阻的独立变量、和表示发热量的从属变量的发热量计算式；以及(g)将表示与所述计测对象混合气体接触的所述测温元件的电阻的计测值、表示与所述计测对象混合气体接触的所述发热元件的电阻的经过修正的计测值代入所述发热量计算式的表示所述测温元件的电阻的独立变量、以及表示所述发热元件的电阻的独立变量，计算出所述计测对象混合气体的发热量的值。根据本发明的实施方式，一种电阻计测系统，其特征在于，包括(a)电阻计算式存储部，其保存含有独立变量以及从属变量的电阻计算式，所述独立变量表示与校正气体接触的测温元件所检测的温度，所述从属变量表示与所述校正气体接触的发热元件的电阻；(b)系数计算用计测部，其取得表示与所述校正气体接触的所述测温元件所检测到的温度的计测值、以及表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；(c)修正系数计算部，其将表示所述温度的计测值代入所述电阻计算式的表示所述温度的独立变量，计算出表示所述发热元件的电阻的计算值，并计算出表示所述发热元件的电阻的计测值与表示所述发热元件的电阻的计算值之比，即修正系数；(d)计测值修正部，其根据所述修正系数对表示所述发热元件的电阻的计测值进行修正。根据本发明的实施方式，一种电阻的计测方法，其特征在于，包括以下步骤(a) 准备含有独立变量以及从属变量的电阻计算式，所述独立变量表示与校正气体接触的测温元件所检测的温度，所述从属变量表示与所述校正气体接触的发热元件的电阻；(b)取得表示与所述校正气体接触的所述测温元件所检测到的温度的计测值、以及表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；(c)将表示所述温度的计测值代入所述电阻计算式的表示所述温度的独立变量，计算出表示所述发热元件的电阻的计算值，并计算出表示所述发热元件的电阻的计测值与表示所述发热元件的电阻的计算值之比，即修正系数； (d)根据所述修正系数对表示所述发热元件的电阻的计测值进行修正。发明效果根据本发明，可提供能够容易地测量气体的发热量的发热量计算式制作系统、发热量计算式的制作方法、发热量测定系统以及发热量的测定方法。
图1是本发明第一实施方式涉及的微芯片的立体图。图2是本发明第一实施方式涉及的微芯片的从图1的II-II方向观察的截面图。图3是本发明第一实施方式涉及的发热元件的电路图。图4是本发明第一实施方式涉及的保温元件的电路图。图5是显示本发明第一实施方式涉及的发热元件的温度和气体的散热系数的关系的图表。图6是本发明第一实施方式涉及的发热量计算式制作系统的第一示意图。图7是本发明第一实施方式涉及的发热量计算式制作系统的第二示意图。图8是显示本发明第一实施方式涉及的发热量计算式的制作方法的流程图。图9是本发明第二实施方式涉及的发热量计算式制作系统的示意图。
图10是本发明第三实施方式涉及的发热量计算式制作系统的示意图。图11是本发明第四实施方式涉及的发热量计算式制作系统的示意图。图12是显示本发明第四实施方式涉及的发热量的测定方法的流程图。图13是本发明第五实施方式涉及的发热量测定系统的示意图。图14是本发明第六实施方式涉及的发热量测定系统的示意图。图15是示出本发明实施方式的实施例2所涉及的样品混合气体的被算出的发热量与实际值的误差的图表。符号说明8微芯片18隔热部件20发热量计算式制作系统21发热量测定系统31A，31B，31C，31D 气压调节器32A，32B，32C，32D 流量控制装置50A，50B，50C，50D 储气瓶60 基板61发热元件62第一测温元件63第二测温元件64保温元件65绝缘膜66 空腔91A，91B，91C，91D，92A, 92B, 92C, 92D, 93，102，103 流路101 腔室160，161，162，163，164，165，181，182，183 电阻元件170，171运算放大器301计算式制作用计测部302发热量计算式制作部303驱动电路305发热量计算部312输入装置313输出装置321系数计算用计测部322修正系数计算部323计测值修正部324电阻计算式制作部325计算式修正用计测部326发热量计算部327发热量计算式修正部
331发热量计算用计测部401电信号存储装置402发热量计算式存储装置403发热量存储装置421电阻计算式存储装置422修正系数存储装置。
具体实施例方式以下对本发明的实施方式进行说明。在以下附图的记载中，相同或类似的部分以相同或类似的符号表示。但是，附图为示意性的。因此，具体的尺寸等应该参考以下的说明进行判断。又，很显然的，附图相互之间包含有相互的尺寸的关系、比例不同的部分。(第一实施方式)首先，参考作为立体图的图1以及作为从图1的II-II方向看到的截面图的图2， 对第一实施方式涉及的发热量计算式制作系统中采用的微芯片8进行说明。微芯片8具有 设有空腔66的基板60和配置在基板60上以覆盖空腔66的绝缘膜65。基板60的厚度例如为0. 5mm。又，基板60的长宽尺寸例如分别为1. 5mm左右。绝缘膜65的覆盖空腔66的部分为隔热性的膜片。另，微芯片8包括设置在绝缘膜65的膜片(夕M 7 7，A )部分的发热元件61、夹着发热元件61设置于绝缘膜65的膜片部分的第一测温元件62和第二测温元件63、设置于基板60上的保温元件64。发热元件61设置在覆盖空腔66的绝缘膜65的膜片部分的中心。发热元件61例如是电阻器，被施加电力而发热，对与发热元件61接触的气氛气体进行加热。第一测温元件62和第二测温元件63例如是电阻器等的无源元件等的电子元件，被施加自身不发热程度的电压，输出依存于气氛气体的气体温度的电信号。另外，自身不发热是指第一测温元件62和第二测温元件63的温度近似于气氛温度。以下，说明的是利用第一测温元件62的输出信号的实例，但并不限定于此，例如可以将第一测温元件62的输出信号和第二测温元件63的输出信号的平均值作为测温元件的输出信号。保温元件64例如是电阻器，被赋予电力而发热，将基板60的温度保持为一定，例如60°C。基板60的材料可采用硅(Si)等。绝缘膜65的材料可使用氧化硅(SiO2)等。空腔66通过各向异性蚀刻等形成。又，发热元件61、第一测温元件62、第二测温元件63和保温元件64各自的材料中可使用白金(Pt)等，可通过光刻法等形成。又，发热元件61、第一测温元件62、以及第二测温元件63可以由同一材料构成。微芯片8通过设置在微芯片8的底面的隔热部件18固定于填充有气氛气体的腔室等容器。通过介由隔热部件18将微芯片8固定于腔室等，微芯片8的温度不易受到腔室等的内壁的温度变动的影响。由玻璃等构成的隔热部件18的热传导率例如为1. 0ff/(m ·Κ) 以下。如图3所示，发热元件61的一端例如电连接到运算放大器170的+输入端子，另一端接地。又，与运算放大器170的+输入端子和输出端子并列地连接有电阻元件161。运算放大器170的-输入端子电连接于串联连接的电阻元件162和电阻元件163之间、串联连接的电阻元件163和电阻元件164之间、串联连接的电阻元件164和电阻元件165之间、或者电阻元件165的接地端子。通过适当确定各电阻元件162 165的电阻值，例如对电阻元件162的一端施加5. OV的电压Vin，则在电阻元件163和电阻元件162之间产生例如 2. 4V的电压Vu。又，在电阻元件164和电阻元件163之间产生例如1. 9V的电压ν 2、在电阻元件165和电阻元件164之间产生例如1. 4V的电压Vu。在电阻元件162和电阻元件163间与运算放大器的-输入端子之间设有开关SW1， 在电阻元件163和电阻元件164间与运算放大器的-输入端子之间设有开关SW2。又，在电阻元件164和电阻元件165间与运算放大器的-输入端子之间设有开关SW3，在电阻元件 165的接地端子与运算放大器的-输入端子之间设有开关SW4。对运算放大器170的-输入端子施加2. 4V的电压Vu时，仅开关SWl通电，开关 Sff2, Sff3, SW4为断开。对运算放大器170的-输入端子施加1. 9V的电压时，仅开关SW2 通电，开关SW1，SW3，SW4为断开。对运算放大器170的-输入端子施加1. 4V的电压Vu时， 仅开关SW3通电，开关SW1，SW2，SW4为断开。对运算放大器170的-输入端子施加OV的电压Vlo时，仅开关SW4通电，开关SW1，SW2，SW3为断开。从而，通过SW1，SW2，SW3，SW4的开关，可以对运算放大器170的-输入端子施加OV或者三种等级的电压中的某一种。因此， 通过SW1，Sff2, Sff3, SW4的通断，可以将决定发热元件61的温度的施加电压设定为三种等级。此处，设对运算放大器170的-输入端子施加了 1. 4V的电压Vu时的发热元件61 的温度为TH1。又，设对运算放大器170的-输入端子施加了 1.9V的电压时的发热元件 61的温度为Th2、对运算放大器170的-输入端子施加了 2. 4V的电压Vu时的发热元件61 的温度为TH3。如图4所示，保温元件64构成电阻桥电路的一部分。电阻桥电路包括与保温元件64串联连接的电阻元件181、与保温元件64和电阻元件181并联连接的电阻元件182、 183。在此，设保温元件64的电阻值为Rr，电阻元件181、182、183的固定电阻值分别为R181、 R182、R183。电阻桥电路中连接有运算放大器171。桥接驱动电压V1被反馈控制，使得电阻元件181和保温元件64之间的桥接电压与电阻元件182和电阻元件183之间的桥接电压 V2b相等。由此，保温元件64的电阻值Rr为一定，保温元件64以一定的温度发热。图1和图2所示的发热元件61的电阻值随着发热元件61的温度而变化。发热元件61的温度Th和发热元件61的电阻值&的关系如下述(1)式所示。& = Rh—STDX[l+aH(TH-TH—STD) + i3H(TH_TH—STD)2] · · · (1)此处，Th STD表示发热元件61的标准温度，例如20°C。Rh STD表示标准温度Th STD下预先计测得到的发热元件61的电阻值。CIh是表示1次的电阻温度系数。βΗ是表示2次的电阻温度系数。发热元件61的电阻值&根据发热元件61的驱动功率1\和发热元件61的通电电流Ih由下述⑵式得到。Rh = Ph/Ih2 · · · (2)或发热元件61的电阻值&根据发热元件61的电压Vh和发热元件61的通电电流 Ih由下述⑶式得到。RH = VH/IH · · · (3)此处，发热元件61的温度Th在发热元件61和气氛气体之间达到热平衡时稳定。又，热平衡状态是指发热元件61的发热和从发热元件61向气氛气体的散热相互平衡的状态。如下述(4)式所示，通过平衡状态下的发热元件61的驱动功率Ph除以发热元件61的温度Th与气氛气体的温度T1之差Δ Th，得到气氛气体的散热系数叫。又，散热系数M1的单位例如为W/°C。M1 = Ph/ (Th-Ti)= Ph/ Δ Th· · · (4)根据上述⑴式，发热元件61的温度Th由下述(5)式得到。Th = (1/2 β Η) X [-αΗ+[α Η2-4 β Η(1-RH/RH STD) ]1/2] +Th std· · · (5)从而，发热元件61的温度Th与气氛气体的温度T1之差Δ Th由下述(6)式得到。Δ Th = (1/2 β Η) X [- α Η+ [ α Η2-4 β Η (1-RH/RH STD) ]1/2] +Th std-Ti· · · (6)气氛气体的温度T1近似于被施加自身不发热程度的电力的第一测温元件62的温度1\。第一测温元件62的温度T1和第一测温元件62的电阻值&的关系由下述(7)式得到。R1 = R1 STDX [1+αχ (Ti-Tistd) + β x (Ti-Tistd) 2] · · · (7)此处，T1 STD表示第一测温元件62的标准温度，例如20°C。民STD表示标准温度T1 STD下预先计测得到的第一测温元件62的电阻值。α ！是表示1次的电阻温度系数。β ！是表示2次的电阻温度系数。根据上述(7)式，第一测温元件62的温度T1由下述(8)式求得。T1= (1/2 β X [- α Ι+ [ α β , (I-RiZRi std) ]1/2] +Ti std· · · (8)由此，氛围气体的散热系数M1由下述(9)式求得。M1 = Ph/ Δ Th= Ph/[(1/2 β Η) [_α Η+[α H2-4i3Ha_RH/RH—std)]"2]+Th—STD_(l/2i3 工) [-Ci1+[a/-4 β JI-IVRistd)]"2]-Tistd]· · · (9)由于可计测发热元件61的通电电流Ih的值和驱动功率I3h或电压Vh的值，因此可根据上述(2)式或(3)式计算发热元件61的电阻值&的值。同样地，也可计算第一测温元件62的电阻R1的值。因此，采用微芯片8，能够根据上述(9)式计算气氛气体的散热系数吣。又，通过保温元件64保持基板60的温度为一定，发热元件61发热前的微芯片8 附近的气氛气体的温度和基板60的一定温度近似。因此，能够抑制发热元件61发热前的气氛气体的温度的变动。通过以发热元件61进一步加热温度变动被暂时抑制的气氛气体， 能够以更高精度计算散热系数M1。此处，气氛气体为混合气体，混合气体假设由气体Α、气体B、气体C、和气体D四种气体成分构成。气体A的体积率Va、气体B的体积率Vb、气体C的体积率V。、和气体D的体积率Vd的总和如下述(10)式所示那样为1。VA+VB+VC+VD =1· · · (10)又，设气体A的单位体积的发热量为Ka、气体B的单位体积的发热量为Kb、气体C的单位体积发热量为K。、气体D的单位体积的发热量为KD，混合气体的单位体积的发热量Q 为各气体成分的体积率乘上各气体成分的单位体积的发热量所得到值的总和。从而，混合气体的单位体积的发热量Q由下述(11)式求得。又，单位体积的发热量的单位为MJ/m3。Q = Ka X VA+KB X VB+KC X VC+KD X Vd · · · (11)又，设气体A的散热系数为Ma、气体B的散热系数为Mb、气体C的散热系数为M。、气体D的散热系数为Md的话，则混合气体的散热系数M1为，对各气体成分的体积率乘以各气体成分的散热系数所得到的值的总和。从而，混合气体的散热系数M1由下述(1 式求得。M1 = Ma X Va+Mb X Vb+Mc X Vc+Md X Vd · · .(12)进一步的，气体的散热系数依存于发热元件61的发热温度TH，混合气体的散热系数M1作为发热元件61的温度Th的函数由下述(13)式求得。M1 (Th) = Ma (Th) X Va+Mb (Th) X Vb+Mc (Th) X Vc+Md (Th) XVd· · · (13)从而，发热元件61的温度为Thi时的混合气体的散热系数M1 (Thi)由下述(14)式求得。又，发热元件61的温度为Th2时的混合气体的散热系数M1 (Th2)由下述(15)式求得， 发热元件61的温度为Th3时的混合气体的散热系数M1 (Th3)由下述(16)求得。
权利要求
1.一种发热量计算式制作系统，其特征在于，包括电阻计算式存储部，其保存含有独立变量以及从属变量的电阻计算式，所述独立变量表示与校正气体接触的测温元件所检测的温度，所述从属变量表示与所述校正气体接触的发热元件的电阻；系数计算用计测部，其取得表示与所述校正气体接触的所述测温元件所检测到的温度的计测值、以及表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；修正系数计算部，将表示所述温度的计测值代入所述电阻计算式的表示温度的独立变量，计算出表示所述发热元件的电阻的计算值，并计算出表示所述发热元件的电阻的计测值与表示所述发热元件的电阻的计算值之比，即修正系数；计算式制作用计测部，其取得表示与多种混合气体分别接触的所述测温元件的电阻的计测值，和表示与所述多种混合气体分别接触的所述发热元件的电阻的计测值；计测值修正部，其采用所述修正系数对表示与所述多种混合气体分别接触的所述发热元件的电阻的计测值进行修正；和发热量计算式制作部，其根据所述多种混合气体各自的发热量的值、表示与所述多种混合气体分别接触的所述测温元件的电阻的计测值，以及表示所述发热元件的电阻的经过修正的计测值，制作包含了表示所述测温元件的电阻的独立变量、表示所述发热元件的电阻的独立变量、以及表示所述发热量的从属变量的发热量计算式。
2.如权利要求1所述的发热量计算式制作系统，其特征在于，还包括计算式修正用计测部，其取得表示与所述校正气体接触的所述测温元件的电阻的计测值、以及表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；发热量计算部，其将表示与所述校正气体接触的所述测温元件的电阻的计测值、以及经所述修正系数修正了的表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值代入所述发热量计算式的表示所述测温元件的电阻的独立变量、以及表示所述发热元件的电阻的独立变量，得到所述校正气体的发热量的计算值；和发热量计算式修正部，其对所述发热量计算式进行修正，消除所述校正气体的发热量的预先取得的规定值与所述校正气体的发热量的计算值之差。
3.如权利要求1或2所述的发热量计算式制作系统，其特征在于，所述校正气体为甲烷气体。
4.如权利要求1或2所述的发热量计算式制作系统，其特征在于，所述发热元件被施加多个电压，所述多个电压的数量至少是从所述多种混合气体各自所包括的气体成分的个数减去1的数。
5.如权利要求1或2所述的发热量计算式制作系统，其特征在于，所述发热量计算式制作部采用支持矢量回归制作所述发热量计算式。
6.如权利要求1或2所述的发热量计算式制作方法，其特征在于，所述多种混合气体分别为天然气。
7.一种发热量计算式的制作方法，其特征在于，包括以下步骤准备含有独立变量以及从属变量的电阻计算式，所述独立变量表示与校正气体接触的测温元件所检测的温度，所述从属变量表示与所述校正气体接触的发热元件的电阻；取得表示与所述校正气体接触的所述测温元件所检测到的温度的计测值、以及表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；将表示所述温度的计测值代入所述电阻计算式的表示所述温度的独立变量，计算出表示所述发热元件的电阻的计算值，计算出表示所述发热元件的电阻的计测值与表示所述发热元件的电阻的计算值之比，即修正系数；取得表示与多种混合气体分别接触的所述测温元件的电阻的计测值； 取得表示与所述多种混合气体分别接触的所述发热元件的电阻的计测值； 采用所述修正系数对表示与所述多种混合气体分别接触的所述发热元件的电阻的计测值进行修正；以及根据所述多种混合气体各自的发热量的值、表示与所述多种混合气体分别接触的所述测温元件的电阻的计测值，以及表示所述发热元件的电阻的经过修正的计测值，制作包含表示所述测温元件的电阻的独立变量、表示所述发热元件的电阻的独立变量、以及表示所述发热量的从属变量的发热量计算式。
8.如权利要求7所述的发热量计算式的制作方法，其特征在于，还包括以下步骤 取得表示与所述校正气体接触的所述测温元件的电阻的计测值、以及表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；将表示与所述校正气体接触的所述测温元件的电阻的计测值、以及经所述修正系数修正了的表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值代入所述发热量计算式的表示所述测温元件的电阻的独立变量、以及表示所述发热元件的电阻的独立变量，得到所述校正气体的发热量的计算值；以及对所述发热量计算式进行修正，消除所述校正气体的发热量的预先取得的规定值与所述校正气体的发热量的计算值之差。
9.如权利要求7或8所述的发热量计算式的制作方法，其特征在于，所述校正气体为甲烷气体。
10.如权利要求7或8所述的发热量计算式的制作方法，其特征在于，所述发热元件被施加多个电压，所述多个电压的数量至少是从所述多种混合气体各自所包括的气体成分的个数减去1的数。
11.如权利要求7或8所述的发热量计算式的制作方法，其特征在于，采用支持矢量回归制作所述发热量计算式。
12.如权利要求7或8所述的发热量计算式的制作方法，其特征在于，所述多种混合气体分别为天然气。
13.一种发热量测定系统，其特征在于，包括电阻计算式存储部，其保存含有独立变量以及从属变量的电阻计算式，所述独立变量表示与校正气体接触的测温元件所检测的温度，所述从属变量表示与所述校正气体接触的发热元件的电阻；系数计算用计测部，其取得表示与所述校正气体接触的所述测温元件所检测到的温度的计测值、以及表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；修正系数计算部，其将表示所述温度的计测值代入所述电阻计算式的表示所述温度的独立变量，计算出表示所述发热元件的电阻的计算值，并计算出表示所述发热元件的电阻的计测值与表示所述发热元件的电阻的计算值之比，即修正系数；发热量计算用计测部，取得表示与计测对象混合气体接触的所述测温元件的电阻的计测值、和表示与所述计测对象混合气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；计测值修正部，其采用所述修正系数对表示与所述计测对象混合气体接触的所述发热元件的电阻的计测值进行修正；发热量计算式存储装置，其保存含有表示所述测温元件的电阻的独立变量、表示所述发热元件的电阻的独立变量、和表示发热量的从属变量的发热量计算式；和发热量计算部，其将表示与所述计测对象混合气体接触的所述测温元件的电阻的计测值、表示与所述计测对象混合气体接触的所述发热元件的电阻的经过修正的计测值代入所述发热量计算式的表示所述测温元件的电阻的独立变量、以及表示所述发热元件的电阻的独立变量，计算出所述计测对象混合气体的发热量的值。
14.如权利要求13所述的发热量测定系统，其特征在于，还包括计算式修正用计测部， 所述计算式修正用计测部取得表示与所述校正气体接触的所述测温元件的电阻的计测值、 以及表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值，所述发热量计算部将表示与所述校正气体接触的所述测温元件的电阻的计测值、以及经所述修正系数修正了的表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值代入所述发热量计算式的表示所述测温元件的电阻的独立变量、以及表示所述发热元件的电阻的独立变量，得到所述校正气体的发热量的计算值，所述发热量测定系统还包括发热量计算式修正部，所述发热量计算式修正部对所述发热量计算式进行修正，消除所述校正气体的发热量的预先取得的规定值与所述校正气体的发热量的计算值之差。
15.如权利要求13或14所述的发热量测定系统，其特征在于，所述校正气体为甲烷气体。
16.如权利要求13或14所述的发热量测定系统，其特征在于，所述发热元件被施加多个电压，所述多个电压的数量至少是从所述计测对象混合气体各自所包括的气体成分的个数减去1的数。
17.如权利要求13或14所述的发热量测定系统，其特征在于，所述计测对象混合气体为天然气。
18.一种发热量的测定方法，其特征在于，包括以下步骤准备含有独立变量以及从属变量的电阻计算式，所述独立变量表示与校正气体接触的测温元件所检测的温度，所述从属变量表示与所述校正气体接触的发热元件的电阻；取得表示与所述校正气体接触的所述测温元件所检测到的温度的计测值、以及表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；将表示所述温度的计测值代入所述电阻计算式的表示所述温度的独立变量，计算出表示所述发热元件的电阻的计算值，并计算出表示所述发热元件的电阻的计测值与表示所述发热元件的电阻的计算值之比，即修正系数；取得表示与计测对象混合气体接触的所述测温元件的电阻的计测值、和表示与所述计测对象混合气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；采用所述修正系数对表示与所述计测对象混合气体接触的所述发热元件的电阻的计测值进行修正；准备含有表示所述测温元件的电阻的独立变量、表示所述发热元件的电阻的独立变量、和表示发热量的从属变量的发热量计算式；以及将表示与所述计测对象混合气体接触的所述测温元件的电阻的计测值、表示与所述计测对象混合气体接触的所述发热元件的电阻的经过修正的计测值代入所述发热量计算式的表示所述测温元件的电阻的独立变量、以及表示所述发热元件的电阻的独立变量，计算出所述计测对象混合气体的发热量的值。
19.如权利要求18所述的发热量的测定方法，其特征在于，还包括以下步骤 取得表示与所述校正气体接触的所述测温元件的电阻的计测值、以及表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；将表示与所述校正气体接触的所述测温元件的电阻的计测值、以及经所述修正系数修正了的表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值代入所述发热量计算式的表示所述测温元件的电阻的独立变量、以及表示所述发热元件的电阻的独立变量，得到所述校正气体的发热量的计算值，对所述发热量计算式进行修正，消除所述校正气体的发热量的预先取得的规定值与所述校正气体的发热量的计算值之差。
20.如权利要求18或19所述的发热量的测定方法，其特征在于，所述校正气体为甲烷气体。
21.如权利要求18或19所述的发热量的测定方法，其特征在于，所述发热元件被施加多个电压，所述多个电压的数量至少是从所述计测对象混合气体各自所包括的气体成分的个数减去1的数。
22.如权利要求18或19所述的发热量测定系统，其特征在于，所述计测对象混合气体为天然气。
23.一种电阻计测系统，其特征在于，包括电阻计算式存储部，其保存含有独立变量以及从属变量的电阻计算式，所述独立变量表示与校正气体接触的测温元件所检测的温度，所述从属变量表示与所述校正气体接触的发热元件的电阻；系数计算用计测部，其取得表示与所述校正气体接触的所述测温元件所检测到的温度的计测值、以及表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；修正系数计算部，其将表示所述温度的计测值代入所述电阻计算式的表示所述温度的独立变量，计算出表示所述发热元件的电阻的计算值，并计算出表示所述发热元件的电阻的计测值与表示所述发热元件的电阻的计算值之比，即修正系数；计测值修正部，其根据所述修正系数对表示所述发热元件的电阻的计测值进行修正。
24.如权利要求23所述的电阻计测系统，其特征在于，所述校正气体为甲烷气体。
25.—种电阻的计测方法，其特征在于，包括以下步骤准备含有独立变量以及从属变量的电阻计算式，所述独立变量表示与校正气体接触的测温元件所检测的温度，所述从属变量表示与所述校正气体接触的发热元件的电阻；取得表示与所述校正气体接触的所述测温元件所检测到的温度的计测值、以及表示与所述校正气体接触的所述发热元件的电阻的计测值；将表示所述温度的计测值代入所述电阻计算式的表示所述温度的独立变量，计算出表示所述发热元件的电阻的计算值，并计算出表示所述发热元件的电阻的计测值与表示所述发热元件的电阻的计算值之比，即修正系数；根据所述修正系数对表示所述发热元件的电阻的计测值进行修正。
26.如权利要求25所述的电阻的计测方法，其特征在于，所述校正气体为甲烷气体。
全文摘要
本发明提供一种能够容易计算气体的发热量的发热量计算式制作系统。该发热量计算式制作系统包括修正系数计算部(322)，预先取得与校正气体接触的测温元件所检测的温度以及发热元件的电阻的关系，取得与校正气体接触的测温元件所检测的温度的计测值以及发热元件的电阻的计测值，根据上述关系和温度的计测值，计算发热元件的电阻的计算值，计算出发热元件的电阻的计测值与计算值之比，即修正系数；发热量计算式制作部(302)，其取得与多种混合气体接触的测温元件的电阻的计测值，以及发热元件的电阻的计测值，采用修正系数对发热元件的电阻的计测值进行修正，制作以测温元件的电阻以及发热元件的电阻为独立变量、以发热量为从属变量的发热量计算式。
文档编号G01N25/20GK102253077SQ20111007274
公开日2011年11月23日 申请日期2011年3月17日 优先权日2010年3月26日
发明者大石安治, 武藤裕行, 清田美佐子 申请人:株式会社山武