一种光度计的可旋转分度样品架的制作方法

文档序号:5924039阅读:231来源:国知局
专利名称:一种光度计的可旋转分度样品架的制作方法
技术领域
本实用新型涉及光度计中与样品测量相关的部件,尤其是涉及一种光度计的可旋转分度样品架。
背景技术
传统光度计与样品测量相关的部件通常被设计成固定形式,即样品架固定且与测量光路形成固定角度。这些条件限制了部分需要在特殊条件下才能准确检测的样品的测
试ο本实用新型克服了现有技术不能测量特殊条件样品的局限性,提出一种新的分光光度计的可旋转样品架,可用于测试特定要求的部分样品,比如那些要求在与光路呈一定角度条件下方可准确测试的部分样品。

实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种使被测样品与光路形成一定夹角的固体样品架部件。该固体样品架部件可通过在水平方向旋转被测样品测定部分需要与光路呈一定角度方可准确测试的样品。本实用新型提出一种光度计的可旋转分度样品架,其特征在于,包括底座、调节旋钮、阻尼传动轴、中心转轴、刻度盘、样品架底板、样品夹持板;所述刻度盘设置在所述底座上方,所述中心转轴设置在所述刻度盘和所述底座之间,与所述刻度盘及底座同轴设置;所述底座与刻度盘之间设置有所述调节旋钮,所述调节旋钮上设置有所述阻尼传动轴,所述阻尼传动轴与所述刻度盘的底部接触,所述样品架底板设置在所述刻度盘上,所述样品夹持板设置在所述样品架底板上。其中,所述底座为无盖的圆柱形结构,侧壁上设有一个通孔,所述底座的上表面设有刻度线。其中,所述调节旋钮包括旋钮与旋杆,所述旋杆与所述旋钮的同轴设置;所述旋杆插入所述通孔内。其中,所述阻尼传动轴设置在所述旋杆上。其中,所述刻度盘的上表面设有角度值,所述刻度盘可绕所述中心转轴旋转。本实用新型由底座、分度盘、中心转轴、橡胶阻尼传动结构及上部样品夹持结构组成。该部件由调节旋钮上设置的阻尼传动轴带动刻度盘转动,刻度盘斜面上角度值对准底座斜面刻度线即可读出角度值,角度值精度1°。样品架近光源平面位于刻度盘中心轴线上,可保证聚焦准确。

图1为本实用新型光度计可旋转分度样品架的剖视图。图2为本实用新型光度计可旋转分度样品架的俯视图。[0013]图3为本实用新型光度计可旋转分度样品架中调节旋钮的示意图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本实用新型的具体实施方式
做进一步详细的说明,但并不以此限制本实用新型的保护范围。如图广3所示,1-底座,2-调节旋钮,3-阻尼传动轴,4-中心转轴,5-刻度盘,6-样品架底板,7-样品夹持板,11-通孔,12-刻度线,21-旋钮,22-旋杆,51-角度值。本实施例的一种光度计可旋转分度样品架,包括底座1,调节旋钮2,阻尼传动轴 3,中心转轴4,刻度盘5,样品架底板6,样品夹持板7。底座1为无盖的圆柱形结构,侧壁上设有一个通孔11,底座1的上表面为一斜面, 在斜面上刻有刻度线12。刻度盘5设置在底座1上方,刻度盘5的边缘下部与底座1的边缘上部接触,即刻度盘5搁置在底座1的上方。中心转轴4的两端分别连接底座1的中心与刻度盘5的中心。调节旋钮2由旋钮21与旋杆22组成,旋杆22穿过通孔11将调节旋钮2设置在底盘1与刻度盘5之间,调节旋钮2的旋杆22上设置有阻尼传动轴3。本实施例中采用橡胶材质的阻尼传动轴3与刻度盘5的底部接触,刻度盘5可绕中心转轴4转动。 刻度盘5的上表面为一斜面,在斜面上刻有角度值。样品架底板6设置在刻度盘5上,样品夹持板7设置在样品架底板6上,转动调节旋钮2,带动其上的阻尼传动轴3,即可带动刻度盘5、样品架底板6、样品夹持板7与其一起旋转。在使用本实施例的光度计可旋转分度样品架时,可在样品夹持板7上固定各种样品,转动调节旋钮2确保光路投射到的样品平面穿过刻度盘5的中心轴,此时刻度盘5的斜面上的角度值51对准底座1的斜面上的刻度线12即可读出角度值。以上所述仅为本实用新型的较佳实施例,并非用来限定本实用新型的实施范围。 任何所属技术领域中具有通常知识者,在不脱离本实用新型的精神和范围内,当可作各种变动与润饰,本实用新型保护范围应以权利要求书所界定的保护范围为准。
权利要求1.一种光度计的可旋转分度样品架,其特征在于,包括底座(1)、调节旋钮(2)、阻尼传动轴(3)、中心转轴(4)、刻度盘(5)、样品架底板(6)、样品夹持板(7);所述刻度盘(5)设置在所述底座(1)上方,所述中心转轴(4)设置在所述刻度盘(5)和所述底座(1)之间,与所述刻度盘(5)及底座(1)同轴设置;所述底座(1)与刻度盘(5)之间设置有所述调节旋钮(2), 所述调节旋钮(2)上设置有所述阻尼传动轴(3),所述阻尼传动轴(3)与所述刻度盘(5)的底部接触,所述样品架底板(6)设置在所述刻度盘(5)上,所述样品夹持板(7)设置在所述样品架底板(6)上。
2.如权利要求1所述光度计的可旋转分度样品架,其特征在于,所述底座(1)为无盖的圆柱形结构,侧壁上设有一个通孔(11 ),所述底座(1)的上表面设有刻度线(12)。
3.如权利要求2所述光度计的可旋转分度样品架,其特征在于,所述调节旋钮(2)包括旋钮(21)与旋杆(22),所述旋杆(22)与所述旋钮(21)同轴设置;所述旋杆(22)插入所述通孔(11)内。
4.如权利要求3所述光度计的可旋转分度样品架,其特征在于,所述阻尼传动轴(3)设置在所述旋杆(22)上。
5.如权利要求1所述光度计的可旋转分度样品架,其特征在于,所述刻度盘(5)的上表面设有角度值(51),所述刻度盘(5 )可绕所述中心转轴(4 )旋转。
专利摘要本实用新型提出一种光度计的可旋转分度样品架,包括底座、调节旋钮、阻尼传动轴、中心转轴、刻度盘、样品架底板、样品夹持板;所述刻度盘设置在所述底座上方,所述中心转轴设置在所述刻度盘和所述底座之间,与所述刻度盘及底座同轴设置;所述底座与刻度盘之间设置有所述调节旋钮,所述调节旋钮上设置有所述阻尼传动轴,所述阻尼传动轴与所述刻度盘的底部接触,所述样品架底板设置在所述刻度盘上,所述样品夹持板设置在所述样品架底板上。本实用新型样品架可以用于测试在与光路呈一定角度条件下方可准确测试的样品。
文档编号G01N21/01GK202256144SQ20112034352
公开日2012年5月30日 申请日期2011年9月14日 优先权日2011年9月14日
发明者刘鸣 申请人:上海菁华科技仪器有限公司
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