三维影像测量装置制造方法
【专利摘要】本发明揭露一种三维影像测量装置，包含测量平台、可动光学头、三维计算模块、移动模块以及校正控制模块。可动光学头中包含分光单元、投影模块、取像模块以及指示模块。测量平台用以承载待测物体。投影模块用以产生条纹图案光线至待测物体。取像模块包含多个取像单元分别以不同方向或角度面向待测物体，每一取像单元用以拍摄条纹图案光线下经待测物体反射形成的反射影像。指示模块用以发射对位光线至待测物体上形成对位标示。校正控制模块根据对位标示选择性驱动移动模块以移动可动光学头。
【专利说明】三维影像测量装置
【技术领域】
[0001]本发明是有关于一种三维影像测量装置，且特别是有关于一种三维影像测量装置中的光学配置。
【背景技术】
[0002]于印刷电路板制程中，二维自动光学检测机(AOI)的应用已相当成熟。通过单一或多个取像装置，配合三色角度光，二维检测技术可进行置件检测，借以管控置件品质。然而，近年来由于检测需求的提升，三维测量技术已渐渐被广泛接受，以取代传统二维自动光学检测技术或克服其限制及不足处。在测量待测物体件的三维形状的方法中，已知常见的测量方法如采用摩尔纹(Moire Pattern)投射，利用投影模块将条纹图案光线投射至待测物体件上，更进一步基于相位平移法，由待测物体件反射的影像而得到待测物体件的三维形状。
[0003]根据相位平移法，先取得多个在条纹图案光线下的反射影像，并且在考虑条纹图案光线的形式及测量平面的高度情况下，所述反射影像可被分析以得知待测物体件的三维形状。
【发明内容】
[0004]为解决已知技术的问题，本发明的一目的是提供一种三维影像测量装置，其利用投影模块产生条纹图案光线并经由分光单元投射至待测物体上，并利用多个取像模块分别从待测物体的正上方与斜上方等不同方向或角度进行影像撷取，并随着时序调整投影模块产生的条纹图案光线的相位，进而根据相位平移法，由上述多个相异角度的取像模块在不同相位下所产生的反射影像中计算得知待测物体的三维模型。
[0005]由于三维影像测量装置的取像模块并未经由反射镜对待测物体进行摄影，因此除了可减少光路作用面而达到降低振动时所带来的影响的外，更可减少元件成本。此外，本发明的三维影像测量装置还增设指示模块，并可通过指示模块所投射的对位光而进行待测物体的定位以及待测物体的板弯计算。
[0006]本发明的一方面是在提供一种三维影像测量装置，其包含测量平台、可动光学头、移动模块以及校正控制模块。测量平台用以承载一待测物体。其中，可动光学头包含分光单元、投影模块、取像模块、指示模块、三维计算模块，分光单元位于该测量平台上方。投影模块用以产生一条纹图案光线，该条纹图案光线经该分光单元投射至该待测物体。取像模块包含多个取像单元，所述多个取像单元位于该测量平台上方分别以不同方向或角度面向该待测物体，每一取像单元用以拍摄该条纹图案光线下经该待测物体反射形成的一反射影像。指示模块位于该测量平台上方并倾斜地面向该测量平台，该指示模块用以发射一对位光线至该待测物体上形成一对位标示。三维计算模块用以根据所述多个反射影像计算关于该待测物体的一三维影像。移动模块操作性连接该可动光学头，并用以移动该可动光学头。校正控制模块用以根据所述多个反射影像中的该对位标示，并选择性驱动该移动模块以移动该可动光学头。
[0007]根据本发明的一实施例，取像模块是包含多个第一取像单元以及一第二取像单元。多个第一取像单元位于该测量平台上方并倾斜地面向该测量平台，每一所述第一取像单元用以拍摄该条纹图案光线下经该待测物体反射的一斜向的反射影像。第二取像单元经分光单元由铅直角度拍摄该待测物体，以产生该条纹图案光线下经该待测物体反射的一正向的反射影像。
[0008]根据本发明的一实施例，当该三维影像测量装置处于一三维测量模式，该三维计算模块用以根据所述斜向的反射影像以及该正向的反射影像计算关于该待测物体的该三维影像。
[0009]根据本发明的一实施例，当该三维影像测量装置处于一二维摄影模式，利用该第二取像单元产生该正向的反射影像作为该待测物体的一二维影像。
[0010]根据本发明的一实施例，由该分光单元投射至该待测物体的该条纹图案光线具有一光轴，并且所述多个第一取像单元是环绕该光轴排列。
[0011]根据本发明的一实施例，投影模块包含光源、光栅以及光栅移动器。光栅位于该光源与该分光单元之间，用以将该光源产生的一光线转换为该条纹图案光线。光栅移动器用以致动该光栅相对该光源侧向地移动，借以改变该条纹图案光线的一相位。
[0012]根据本发明的一实施例，其中该投影模块包含一光源以及一光栅。光栅位于该光源与该分光单元之间，用以将该光源产生的一光线转换为该条纹图案光线。其中该移动模块使该可动光学头相对该待测物体水平地移动，借以等效地改变该条纹图案光线投射在该待测物体上的一相位。
[0013]根据本发明的一实施例，该对位标不包含一单一对位点，该指不模块包含一激光发射元件用以投射该对位标示。
[0014]根据本发明的一实施例，该对位标示包含一多点对位图案，该指示模块包含多个激光发射元件用以投射该对位标示。
[0015]根据本发明的一实施例，该校正控制模块选取所述多个反射影像中至少其一，判断该选取的反射影像之中该对位标示是否偏离一预定位置，借此选择性驱动该移动模块以移动该可动光学头。
[0016]根据本发明的一实施例，当该对位标示偏离该预定位置，该校正控制模块根据该对位标示相对该预定位置的一偏离方向以及一偏离距离进而驱动该移动模块。
[0017]本发明的另一方面是在提供一种三维影像测量装置，包含测量平台、可动光学头、三维计算模块、移动模块以及校正控制模块。测量平台用以承载一待测物体。可动光学头包含分光单元、投影模块、取像模块以及指示模块。可动光学头位于该测量平台上方。分光单元位于该测量平台上方。投影模块用以产生一条纹图案光线，该条纹图案光线经该分光单元投射至该待测物体。取像模块包含多个取像单元，所述多个取像单元位于该测量平台上方分别以不同方向或角度面向该待测物体，每一取像单元用以拍摄该条纹图案光线下经该待测物体反射形成的一反射影像。指示模块位于该测量平台上方并倾斜地面向该测量平台，该指示模块用以发射一对位光线至该待测物体上形成一对位标示。三维计算模块用以根据所述反射影像计算关于该待测物体的一三维影像。移动模块操作性连接该可动光学头，用以移动该可动光学头。校正控制模块根据所述多个反射影像各自的该对位标示将所述多个反射影像整合为一整合影像，并由该整合影像中撷取至少一部分形成一校正影像。
[0018] 根据本发明的一实施例，取像模块是包含多个第一取像单元以及一第二取像单元。第一取像单元位于该测量平台上方并倾斜地面向该测量平台，每一所述第一取像单元用以拍摄该条纹图案光线下经该待测物体反射的一斜向的反射影像。第二取像单元经该分光单元由铅直角度拍摄该待测物体，以产生该条纹图案光线下经该待测物体反射的一正向的反射影像。
[0019]根据本发明的一实施例，当三维影像测量装置处于三维测量模式，该三维计算模块用以根据所述斜向的反射影像计算关于该待测物体的该三维影像。
[0020]根据本发明的一实施例，当该三维影像测量装置处于二维摄影模式，利用该第二取像单元产生该正向的反射影像作为该待测物体的一二维影像。
【专利附图】
【附图说明】
[0021]为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下:
[0022]图1A绘示根据本发明的一实施例中一种三维影像测量装置的示意图；
[0023]图1B绘示根据本发明的另一实施例中一种三维影像测量装置的示意图；
[0024]图2绘示根据本发明的一实施例中当待测物体发生板弯时三维影像测量装置的示意图；
[0025]图3绘示图2的实施例中当待测物体发生板弯时三维影像测量装置所产生的其中一个反射影像的示意图；以及
[0026]图4绘示于另一实施例中当待测物体发生板弯时三维影像测量装置所产生的反射影像的示意图；
[0027]图5所示绘示根据本发明的另一实施例中一种三维影像测量装置的示意图；
[0028]图6绘示于另一实施例中取像模块中各取像单元、指示模块与待测物体的示意图；
[0029]图7绘示的是各取像单元所拍摄到的反射影像的示意图；以及
[0030]图8所绘示的为各反射影像的整合影像示意图。
[0031]【主要元件符号说明】
[0032]100:三维影像测量装置
[0033]120:测量平台
[0034]130:分光单元
[0035]140:可动光学头
[0036]142:第一取像单元
[0037]144:第二取像单元
[0038]150:环型辅助光源模块
[0039]152:发光单元
[0040]160:投影模块
[0041]162:光源
[0042]164:光栅[0043]166:光栅移动器
[0044]170:三维计算模块
[0045]180:指示模块
[0046]182:对位标示
[0047]190:校正控制模块
[0048]192:移动模块
[0049]200:待测物体
[0050]202:预定位置
【具体实施方式】
[0051]以下将以附图揭露本发明的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本发明。也就是说，在本发明部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化附图起见，一些已知惯用的结构与元件在附图中将以简单示意的方式绘示。
[0052]请参阅图1A，其绘示根据本发明的一实施例中一种三维影像测量装置100的示意图。如图1A所示，三维影像测量装置100包含测量平台120、可动光学头140、三维计算模块170、校正控制模块190以及移动模块192。其中，于此实施例中，可动光学头140中包含分光单元130、取像模块(其包含取像单元142与取像单元144)、投影模块160以及指示模块180等内部元件。
[0053]测量平台120用以承载待测物体200。
[0054]分光单兀130位于该测量平台120上方,于实际应用中，分光单兀130可包含一偏极化分光镜(Polarization Beam Splitter, PBS),偏极化分光镜可根据光线的极化方向选择性的加以反射或允许其直线穿透。
[0055]投影模块160用以产生条纹图案光线LI，条纹图案光线LI经分光单元130投射至待测物体200。于此实施例中,投影模块160包含光源162、光栅164以及光栅移动器166。光栅164为具有多个遮光条纹的镜片，遮光条纹彼此间隔特定的栅距，并用以将光源162产生的光线LO转换为条纹图案光线LI。投影模块160更包含光栅移动器166用以平移光栅164，使光栅164沿与遮光条纹垂直的方向移动，借此形成条纹图案光线LI的各种相位。
[0056]于此实施例中，取像模块包含多个取像单元(如图1A中所绘示的两个第一取像单元142以及一个第二取像单元144)，所述多个取像单元142，144位于测量平台120上方分别以不同方向或角度面向待测物体200，每一取像单元142，144用以拍摄条纹图案光线LI下经待测物体200反射的反射影像Rl，R2。于此实施例中，取像模块中的各个取像单元142，144可相对测量平台120延三维方向轴(如X，Y，Z等方向轴)移动，借此取得待测物体200各角度的影像。
[0057]如图1A所示，取像模块包含多个第一取像单元142，于此例中为两个第一取像单元142，但不以此为限。第一取像单元142分别位于测量平台120上方并倾斜地面向测量平台120，每一第一取像单元142用以拍摄条纹图案光线LI下经待测物体200反射的斜向的反射影像Rl。
[0058]分光单元130反射至待测物体200的条纹图案光线LI具有光轴AX，并且上述第一取像单元142是设置环绕光轴AX排列。例如，于其他实施例中，取像模块亦可包含环绕光轴AX设置的三个第一取像单元142 (可分别位于O度、120度与240度)、四个第一取像单元142 (可分别位于O度、90度、180度与270度)或其他数目的第一取像单元142分别环绕光轴AX平均地或非平均地排列。
[0059]此外，取像模块另包含第二取像单元144，第二取像单元144位于分光单元130上方并铅直地面向测量平台120以及分光单元130，第二取像单元144用以穿透分光单元130拍摄待测物体200，以产生条纹图案光线LI下经待测物体200反射的正向的反射影像R2。
[0060]通过上述多个取像单元142，144，本揭示文件中的取像模块可同时收集来自各个不同方向或角度的反射影像Rl，R2。
[0061]此外，图1A的实施例中第二取像单元144是位于分光单元130上方并铅直地面向测量平台120以及分光单元130，而投影模块160是位于分光单元130的侧边，条纹图案光线LI经分光单元130折射改变方向后投射至待测物体200上，但本发明的第二取像单元144与投影模块160的设置位置并不以此为限。于另一实施例中，第二取像单元144与投影模块160的设置位置可互换，如图1B的实施例所示，第二取像单元144可设置于分光单元130的侧边并经由分光单元折射改变方向由铅直角度拍摄待测物体200，而投影模块160则设置于分光单元130上方并铅直地面向测量平台120，投影模块160产生的条纹图案光线LI穿透分光单元130投射至待测物体200上，图1B所示实施例中第二取像单元144与投影模块160的设置位置互换后亦可达到相似功能。
[0062]实际应用中，在不同的取像模式下(如三维测量模式、二维摄影模式、板弯校正模式等)，本实施例的三维影像测量装置100可利用取像模块中不同的取像单元142，144来完成。
[0063]例如，三维测量模式下，于一实施例中三维影像测量装置100主要利用取像模块中两个斜向的取像单元142所产生的反射影像R1。三维计算模块170接收上述反射影像R1，用以根据来自各个不同方向或角度的反射影像Rl计算关于待测物体200的一三维影像。更进一步来说，随着光栅移动器166用以平移光栅162，并形成条纹图案光线LI的各种相位角，取像模块中的各个取像单元142，144进一步撷取待测物体200于该条纹图案光线LI的各种相位角反射形成的多个斜向影像R1，透过相位移测量法，便可得到对应各反射影像Rl在各种相位角下的相位信息。
[0064]三维计算模块170根据各反射影像Rl在各种相位角下的相位信息，可计算得知待测物体200的三维影像。须补充的是，三维计算模块170同时根据来自各个不同方向或角度的反射影像Rl计算关于待测物体200的三维影像，其三维计算具有较佳的判断速度与精准度，且可侦测待测物体200的三维形态。应用在元件测试上，有利于察觉待测物体200的形状缺陷，如侧面凹陷或斜向缺口等，此为已知单一角度的取像所无法察觉的。
[0065]上述实施例中是说明当三维影像测量装置100处于三维测量模式，三维计算模块170用以根据所述斜向的反射影像Rl计算关于待测物体200的三维影像。
[0066]于另一应用中，本揭示文件中的三维影像测量装置100亦可用在二维摄影的应用情境，当三维影像测量装置100处于二维摄影模式下，可直接利用第二取像单元144产生正向的反射影像R2作为待测物体200的二维影像，即可完成二维摄影需求，此外，亦可同时参照取像模块中另外两个斜向的第一取像单元142，以得到不同取像角度下待测物体200的侧面二维影像。
[0067]此外，三维影像测量装置100可更进一步包含环型辅助光源模块150，环型辅助光源模块150可包含多个发光单元152，图示中绘示两个发光单元152，但本发明并不以此为限，于实际应用中，环型辅助光源模块150可包含三个、四个或以上的发光单元152。多个发光单元152以环型方式设置并面向待测物体200，可由不同角度提供光线至待测物体200上。尤其是在二维摄影模式下，投影模块160此时不产生三维测量所使用的条纹图案光线LI，因此必须采用环型辅助光源模块150作为辅助照明，作为二维摄影模式的光线来源。
[0068]实际应用中，三维影像测量装置100所测量的待测物体200可包含电路板、光学板材或其他基板，待测物体200中的上述板材可能因为外部应力或重力影响发生板材弯曲的现象。上述板弯现象经常导致三维影像测量装置100在测量待测物体200的准确性下降，例如因待测物体200因板弯而有垂直方向上的偏移，使待测物体200上预定测量的部位不在取像模块中各取像单元142，144的最佳取像焦段上。
[0069]因此，三维影像测量装置100更包含指示模块180，指示模块180位于测量平台120上方并倾斜地面向测量平台120，指示模块180用以发射对位光线L2至待测物体200上形成对位标示。
[0070]请一并参阅图2，图2绘示根据本发明的一实施例中当待测物体200发生板弯时三维影像测量装置100的示意图。请同时对照图1A与图2，假设图1A绘示为待测物体200未发生板弯时的示意图，于图1A的例子中，指示模块180发射的对位光线L2大致落在待测物体200中央处。而于图2所示，当待测物体200发生板弯时，指示模块180发射的对位光线L2因待测物体200向上弯曲而落在待测物体200稍偏左侧的位置。
[0071]此时，校正控制模块190可选取所述多个反射影像Rl，R2之中至少其一组反射影像进行判断，随后据以校正待测物体200的板弯现象，于一实施例中，在板弯校正模式下校正控制模块190主要选取第二取像单元144产生正向的反射影像R2进行处理。请一并参阅图3，图3绘示图2的实施例中当待测物体200发生板弯时三维影像测量装置100所产生的其中一个反射影像的示意图。于此实施例中，图3所绘示的反射影像以第二取像单元144产生的正向的反射影像R2举例说明，但本发明并不以此为限。
[0072]如图3所示，假设当待测物体200不存在板弯时，指示模块180发射的对位光线L2预定将照射在图3中的预定位置202。然而，因待测物体200发生板弯，使指示模块180发射的对位光线L2产生的对位标示182偏离预定位置202。
[0073]校正控制模块190根据选取的反射影像R2 (如图3中所示)判断对位标示182是否偏离预定位置202，当该对位标示偏离该预定位置，该校正控制模块190根据该对位标示182相对预定位置202的偏离方向(于此例中为向左偏移)以及偏离距离Ds而驱动移动模块192，移动模块192可据以移动可动光学头140的位置，进而改变各取像单元142，144与待测物体200的相对位置与距离，直到指示模块180在待测物体200上形成的对位标示182回到预定位置202的范围内。
[0074]此外,于图3所示的实施例中,对位标示182包含单一对位点，于此例中,指示模块180可包含激光发射元件用以投射该对位标示182，然而本揭示文件的对位标示182并不以单一对位点为限。
[0075]请一并参阅图4，其绘示于另一实施例中当待测物体200发生板弯时三维影像测量装置100所产生的反射影像的示意图。于图4的实施例中，对位标示182包含多点对位图案，以提高对位标示及板弯校正的准确性。于此例中，对位标示182包含以正三角形方式排列的三个对位点。于此例中，指示模块180可进一步包含三个激光发射元件用以投射该对位标示182，指示模块180产生的多点对位图案并不以正三角形方式排列为限，可采用具相等性的各种对位图案。
[0076]综上所述，三维影像测量装置利用投影模块产生条纹图案光线并经由分光单元投射至待测物体上，并利用多个取像模块分别从待测物体的正上方与斜上方等不同方向或角度进行影像撷取，并随着时序调整投影模块产生的条纹图案光线的相位，进而根据相位平移法，由上述多个相异角度的取像模块在不同相位下所产生的反射影像中计算得知待测物体的三维模型。
[0077]于上述实施例中，三维影像测量装置100是利用光栅移动器166使光栅164侧向移动来形成条纹图案光线LI的各种相位，但本发明并不以此为限。于另一实施例中，如图5所示，其绘示根据本发明的另一实施例中一种三维影像测量装置102的示意图，于三维影像测量装置102中不设置光栅移动器166，该移动模块192使可动光学头140相对待测物体200水平地移动，借以等效地改变条纹图案光线LI投射在待测物体200上的相位，亦可达到相似的效果。
[0078]此外，上述实施例中，主要利用移动可动光学头140的位置，进而改变各取像单元142，144与待测物体200的相对位置与距离，来校正板弯，但本发明并不以此为限。于另一实施例中，可在不移动可动光学头140的情况下，以运算方式补正板弯的影像偏差。请参阅图6、图7以及图8，图6绘示于另一实施例中取像模块中各取像单元142，144、指示模块180与待测物体200的示意图。
[0079]于图6的例子中，待测物体200的水平高度因板弯现象由下方虚线位置提高到上方实线的高度。因此，各取像单元142，144所拍摄到的对位标示182将偏离原先的预定位置202。然而，因各取像单元142，144所设置的位置与角度不同，因此，各取像单元142，144所拍摄到的对位标示182的偏移方向与偏移程度将各自不同，例如将分别往右侧、左侧与右上方偏移。
[0080]图7绘示的是各取像单元142，144所拍摄到的反射影像P1，P2与P3的示意图，如图7所示，各取像单元142，144所拍摄到的反射影像Pl，P2与P3之中对位标示182a，182b与182c分别位于各影像中的不同位置。
[0081]因此，校正控制模块190可在一个虚拟平面上将反射影像P1，P2与P3整合。图8所绘示的为反射影像Pl，P2与P3的整合影像示意图。如图8所示，可通过将反射影像Pl，P2与P3中的对位标示182a，182b与182c对齐叠合于同一座标上，可形成三者整合的整合影像P4，校正控制模块190根据反射影像Pl，P2与P3各自的该对位标示182a，182b与182c整合为整合影像P4,接着校正控制模块190可由整合影像P4中撷取至少一部分(例如撷取三者交集部分、或是撷取三者联集部分)形成校正影像。如此一来，校正控制模块190便可在不移动可动光学头140的情况下，以运算方式补正板弯的影像偏差。
[0082]由于三维影像测量装置的取像模块并未经由反射镜对待测物体进行摄影，因此除了可减少光路作用面而达到降低振动时所带来的影响的外，更可减少元件成本。此外，本发明的三维影像测量装置还增设指示模块，并可通过指示模块所投射的对位光而进行待测物体的定位以及待测物体的板弯计算。
[0083]虽然本发明已以实施方式揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何熟悉此技艺者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视所附的权利要求书所界定的范围为准。
【权利要求】
1.一种三维影像测量装置，其特征在于，包含: 一测量平台，用以承载一待测物体；以及 一可动光学头，位于该测量平台上方，该可动光学头包含: 一分光单元，位于该测量平台上方； 一投影模块，用以产生一条纹图案光线，该条纹图案光线经该分光单元投射至该待测物体； 一取像模块，包含多个取像单元，所述多个取像单元位于该测量平台上方分别以不同方向或角度面向该待测物体，每一取像单元用以拍摄该条纹图案光线下经该待测物体反射形成的一反射影像；以及 一指示模块，位于该测量平台上方并倾斜地面向该测量平台，该指示模块用以发射一对位光线至该待测物体上形成一对位标示； 一三维计算模块，用以根据所述多个反射影像计算关于该待测物体的一三维影像；一移动模块，操作性连接该可动光学头，用以移动该可动光学头；以及一校正控制模块，用以根据所述多个反射影像中的该对位标示，并选择性驱动该移动模块以移动该可动光学头。
2.根据权利要求1所述的三维影像测量装置，其特征在于，该取像模块是包含: 多个第一取像单元，位于该测量平台上方并倾斜地面向该测量平台，每一所述第一取像单元用以拍摄该条纹图案光线下经该待测物体反射的一斜向的反射影像；以及 一第二取像单元，该第二取像单元经该分光单元由铅直角度拍摄该待测物体，以产生该条纹图案光线下经该待测物体反射的一正向的反射影像。
3.根据权利要求2所述的三维影像测量装置，其特征在于，当该三维影像测量装置处于一三维测量模式，该三维计算模块用以根据所述斜向的反射影像计算关于该待测物体的该二维影像。
4.根据权利要求2所述的三维影像测量装置，其特征在于，当该三维影像测量装置处于一二维摄影模式，利用该第二取像单元产生该正向的反射影像作为该待测物体的一二维影像。
5.根据权利要求2所述的三维影像测量装置，其特征在于，由该分光单元投射至该待测物体的该条纹图案光线具有一光轴，并且所述多个第一取像单元是环绕该光轴排列。
6.根据权利要求1所述的三维影像测量装置，其特征在于，该投影模块包含: 一光源; 一光栅，位于该光源与该分光单元之间，用以将该光源产生的一光线转换为该条纹图案光线；以及 一光栅移动器，用以致动该光栅相对该光源侧向地移动，借以改变该条纹图案光线的一相位。
7.根据权利要求1所述的三维影像测量装置，其特征在于，该投影模块包含: 一光源；以及 一光栅，位于该光源与该分光单元之间，用以将该光源产生的一光线转换为该条纹图案光线； 其中，该移动模块使该可动光学头相对该待测物体水平地移动，借以等效地改变该条纹图案光线投射在该待测物体上的一相位。
8.根据权利要求1所述的三维影像测量装置，其特征在于，该对位标示包含一单一对位点，该指示模块包含一激光发射元件用以投射该对位标示。
9.根据权利要求1所述的三维影像测量装置，其特征在于，该对位标示包含一多点对位图案，该指示模块包含多个激光发射元件用以投射该对位标示。
10.根据权利要求1所述的三维影像测量装置，其特征在于，该校正控制模块选取所述多个反射影像中至少其一，判断该选取的反射影像之中该对位标示是否偏离一预定位置，借此选择性驱动该移动模块以移动该可动光学头。
11.根据权利要求10所述的三维影像测量装置，其特征在于，当该对位标示偏离该预定位置，该校正控制模块根据该对位标示相对该预定位置的一偏离方向以及一偏离距离进而驱动该移动模块。
12.—种三维影像测量装置，其特征在于，包含: 一测量平台，用以承载一待测物体；以及 一可动光学头，位于该测量平台上方，该可动光学头包含: 一分光单元，位于该测量平台上方； 一投影模块，用以产生一条纹图案光线，该条纹图案光线经该分光单元投射至该待测物体； 一取像模块，包含多个取像单元，所述多个取像单元位于该测量平台上方分别以不同方向或角度面向该待测物体，每一取像单元用以拍摄该条纹图案光线下经该待测物体反射形成的一反射影像； 一指示模块，位于该测量平台上方并倾斜地面向该测量平台，该指示模块用以发射一对位光线至该待测物体上形成一对位标示；以及 一三维计算模块，用以根据所述多个反射影像计算关于该待测物体的一三维影像；一移动模块，操作性连接该可动光学头，用以移动该可动光学头；以及一校正控制模块，根据所述多个反射影像各自的该对位标示将所述多个反射影像整合为一整合影像，并由该整合影像中撷取至少一部分形成一校正影像。
13.根据权利要求12所述的三维影像测量装置，其特征在于，该取像模块是包含: 多个第一取像单元，位于该测量平台上方并倾斜地面向该测量平台，每一所述第一取像单元用以拍摄该条纹图案光线下经该待测物体反射的一斜向的反射影像；以及 一第二取像单元，该第二取像单元经该分光单元由铅直角度拍摄该待测物体，以产生该条纹图案光线下经该待测物体反射的一正向的反射影像。
14.根据权利要求13所述的三维影像测量装置，其特征在于，当该三维影像测量装置处于一三维测量模式，该三维计算模块用以根据所述斜向的反射影像计算关于该待测物体的该二维影像。
15.根据权利要求13所述的三维影像测量装置，其特征在于，当该三维影像测量装置处于一二维摄影模式，利用该第二取像单元产生该正向的反射影像作为该待测物体的一二维影像。
【文档编号】G01B11/25GK103575234SQ201210252608
【公开日】2014年2月12日 申请日期:2012年7月20日 优先权日:2012年7月20日
【发明者】余良彬, 林栋 , 温光溥 申请人:德律科技股份有限公司