使用单个短路点群组测试被测板卡的系统及其方法
【专利摘要】一种使用单个短路点群组测试被测板卡的系统及其方法，其通过以标准板卡的实体元件预测一个短路点群组，并在使用标准板卡验证短路点群组后，使用短路点群组测试被测板卡的技术手段，可以减少开路短路测试中的测试次数，并达成提高开路短路测试的执行速度的技术效果。
【专利说明】使用单个短路点群组测试被测板卡的系统及其方法【技术领域】
[0001]本发明涉及一种板卡测试系统及其方法，尤其涉及一种使用单个短路点群组测试被测板卡的系统及其方法。
【背景技术】
[0002]在电路板由生产线制造出来后，为了确保电路板的品质，通常会对由生产线制造出来的电路板进行各种测试，例如，使用电路板测试仪器(In-Circuit Tester，ICT)测试电路板。
[0003]电路板测试仪器会以两个阶段测试电路板，第一个阶段是开路短路测试(open/short test)，在第一阶段中，电路板测试仪器会测试电路板上的电路是否正确，而后在第二阶段中，电路板测试仪器才会详细的确认电路板上的各个元件都可以正确运作。 [0004]事实上，开路短路测试是电路板测试仪器测试电路板的重要环节，原因在于电路板测试仪器需要避免因为电路板上的异常开路及/或短路，造成在对电路板上的各个元件进行详细测试时，误判各个元件没有正确运作。其中，为了加快电路板测试仪器测试电路板的速度，开路短路测试的关键指标是快速与准确。
[0005]目前在开路短路测试中，会把电路板上的测量点分为多个短路点群组，其中，每一个短路点群组中的任意测量点间为短路，且不同短路点群组中的测量点不可以为短路。为了要满足不同短路点群组中的测量点不为短路的条件，开路短路测试需要对所有两个测量点的组合进行测试，这样，当电路板上的测量点数量非常多时，开路短路测试所进行的测试次数会非常的高，造成开路短路测试的时间的增加。
[0006]综上所述，可知现有技术中长期以来一直存在开路短路测试中的测试次数过高的问题，因此有必要提出改进的技术手段，来解决这一问题。
【发明内容】
[0007]有鉴于现有技术存在开路短路测试中的测试次数过高的问题，本发明遂揭露一种使用单个短路点群组测试被测板卡的系统及其方法，其中:
[0008]本发明所揭露的使用单个短路点群组测试被测板卡的系统，至少包含:分析模块，用以依据标准板卡上的各实体元件预测短路点群组，短路点群组中包含多个测量位置；学习模块，用以验证标准板卡上，分别与测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据验证结果修改短路点群组，及用以测试标准板卡上，不与测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据测试结果修改短路点群组；测试模块，用以验证被测板卡上，分别与修改后的短路点群组中的各测量位置对应的测试测量点间是否短路，及用以测试被测板卡上的所有测试测量点间是否短路，并在取得短路的各该测试测量点后，依据被取得的测试测量点判断是否存在异常短路点。
[0009]本发明所揭露的使用单个短路点群组测试被测板卡的方法，其步骤至少包括:依据标准板卡上的实体元件预测短路点群组，短路点群组中包含测量位置；验证标准板卡上，分别与测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据验证结果修改短路点群组；测试标准板卡上，不与测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据测试结果修改短路点群组；验证被测板卡上，分别与修改后的短路点群组中的测量位置对应的测试测量点间是否短路；测试被测板卡上的所有测试测量点间是否短路，并取得短路的测试测量点；依据被取得的测试测量点判断是否存在异常短路点。
[0010]本发明所揭露的系统与方法如上，与现有技术之间的差异在于本发明通过以标准板卡的实体元件预测一个短路点群组，并在使用标准板卡验证短路点群组后，使用短路点群组测试被测板卡，由此解决现有技术所存在的问题，并可以达成提高开路短路测试的执行速度的技术效果。
【专利附图】
【附图说明】
[0011]图1为本发明所提出的使用单个短路点群组测试被测板卡的系统架构图。
[0012]图2A为本发明所提出的使用单个短路点群组测试被测板卡的方法流程图。
[0013]图2B为本发明所提出的减少验证测量点的测试次数的方法流程图。
[0014]图2C为本发明所提出的输出对应提示信息的附加方法流程图。
[0015]图2D为本发明所提出的判断短路的测试测量点的详细方法流程图。
[0016]主要部件附图标记:
[0017]110分析模块
[0018]120学习模块
[0019]130测试模块
[0020]140输出模块
[0021]170储存模块
[0022]180计算模块
[0023]步骤210依据标准板卡上的实体元件预测短路点群组，短路点群组中包含测量位
置
[0024]步骤220验证标准板卡上，分别与测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据验证结果修改短路点群组
[0025]步骤230测试标准板卡上，不与测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据测试结果修改短路点群组
[0026]步骤231将验证测量点分组
[0027]步骤233计算各分组间的理论电阻值
[0028]步骤235测量各分组间的实际电阻值
[0029]步骤239在理论电阻值与实际电阻值的差值符合预设值时，判断差值符合预设值的分组所包含的验证测量点间为短路
[0030]步骤240储存验证测量点间的电阻值
[0031]步骤250验证被测板卡上，分别与修改后的短路点群组中的测量位置对应的测试测量点间是否短路
[0032]步骤262取得测试测量点间的测量值
[0033]步骤264计算测量值与电阻值的差值[0034]步骤268输出对应提示信息
[0035]步骤270判断测试测量点中的两个不为短路时，输出开路提示信息
[0036]步骤280测试被测板卡上的所有测试测量点间是否短路，并取得短路的测试测量点
[0037]步骤282以测试测量点建立测试阵列
[0038]步骤283依据测试阵列所包含的各行的分组产生多个群集
[0039]步骤287依据群集中的两分组间的电阻值判断短路的行
[0040]步骤289依据短路的行所对应的测试测量点间的电阻值判断测试测量点间是否短路
[0041]步骤291依据被取得的测试测量点判断异常短路点
[0042]步骤295输出异常提示信息
【具体实施方式】
[0043]以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的特征与实施方式，内容足以使本领域技术人员能够轻易地充分理解本发明解决技术问题所应用的技术手段并据以实施，由此实现本发明可达成的技术效果。
[0044]本发明可以在预测标准板卡(golden board)的短路点群组(short group)后,在标准板卡上进行学习(learning)，并依据学习结果修改短路点群组，而后，使用修改后的短路点群组对与标准板卡对应的被测板卡进行测试，由此使用较少的测试次数，正确的判断被测板卡上是否有异常的短路(short)或开路(open)。其中，标准板卡包含多个验证测量点，被测板卡上包含相同数量的测试测量点，且标准板卡所包含的验证测量点与被测板卡所包含的测试测量点具有一对一的对应关系。
[0045]在本发明中所提出的“短路点群组”包含测量位置，短路点群组中的各个测量位置都会对应到标准板卡上的不同验证测量点(nail)，相似地，各个测量位置也分别对应到被测板卡上的不同测试测量点。另外，与任意两测量位置分别对应的两验证测量点间，必定为短路。
[0046]特别值得一提的是，在本发明中，是以电阻值进行短路与开路的判断，当两测量点间的电阻值低于短路门槛值时，便定义该两测量点间为短路，而当两测量点间的电阻值高于开路门槛值时，便定义该两测量点间为开路。其中，测量点可以为验证测量点或是测试测量点，另外，短路门槛值通常为3欧姆，开路门槛值为1000欧姆，但本发明并不以此为限。
[0047]以下先以图1本发明所提出的使用单个短路点群组测试被测板卡的系统架构图来说明本发明的系统运作。如图1所示，本发明的系统含有分析模块110、学习模块120、以及测试模块130。
[0048]分析模块110负责依据设置在标准板卡上的实体元件预测短路点群组。一般而言，分析模块110会载入标准板卡的物料清单(Bill Of Materials，Β0Μ)档以及电脑辅助设计(Computer-Aided Design, CAD)档，并以物料清单档中所记录的各个实体元件，以及电脑辅助测定档中所描绘的各实体元件的分布位置，预测标准板卡上的各个验证测量点间为短路或开路，并将预测为短路的两验证测量点所对应的测量位置加入短路点群组中。
[0049]学习模块120负责验证标准板卡上，分别与短路点群组中的测量位置对应的验证测量点间是否短路，当与某两测量位置分别对应的两验证测量点间为开路，则学习模块120可以将与开路的两验证测量点对应的两个测量位置由短路点群组中移除，由此依据验证结果修改短路点群组。
[0050]为了加块验证速度，在部分的实施例中，学习模块120可以将标准板卡上的所有验证测量点分组，并短路同一分组的验证测量点，接着，依据标准板上的电路结构，分别计算各分组间的理论电阻值。而后，分别测量各分组间的实际电阻值，并判断各分组间的理论电阻值与实际电阻值的差值是否符合预设值，当某一分组间的理论电阻值与实际电阻值的差值符合预设值时，学习模块120可以判断差值符合预设值的分组所包含的验证测量点间为短路。例如，学习模块120可以将20个验证测量点分为A、B、C、D四组，每组中有五个验证测量点，并短路每一分组中的五个验证测量点，使得同一分组中的任意两验证测量点都为短路，而后，学习模块120可以先测量A分组与B分组、C分组、D分组之间的实际电阻值，接着测量B组与C分组、D分组之间的实际电阻值，以及测量C分组与D分组之间的实际电阻值，并在测量实际电阻值后，将理论电阻值与所测得的实际电阻值比对，由此判断A、B、C、D四分组所包含的的验证测量点间是否有短路。
[0051]学习模块120也负责测试标准板卡上，不与短路点群组中的测量位置对应的验证测量点间是否短路，当不与各测量位置对应的两验证测量点间都为短路时，学习模块120可以将与短路的两验证测量点对应的测量位置加入短路点群组中，由此依据测试结果修改短路点群组。
[0052]测试模块130负责验证被测板卡上，分别与被学习模块120修改后的短路点群组中各个测量位置对应的测试测量点间是否短路。测试模块130也负责测试被测板卡上的所有测试测量点间是否短路，在测试后取得短路的测试测量点。
[0053]为了减少测试的次数，在部分的实施例中，测试模块130可以依据被测板卡上的所有测试测量点建立测试序列(test sequence),并依据测试序列建立测试阵列，再将测试阵列以行为单位分为数量相同的两个分组，并再次分组，直到无法分出所包含的各行组合不与先前的任一分组相同为止，而后，测量各次分组所分出的两分组间的电阻值，并依据电阻值的测量结果判断短路的行，进而测量短路的行所对应的测试测量点的电阻值，由此依据测量出的电阻值判断被测板卡上的各个测试测量点间是否为短路。
[0054]例如，若测试模块130将被测板卡上的测试测量点作为相对应的元素建立MxN的矩阵，而后，测试模块130会在短路各行所包含的M个元素所对应的测试测量点后，将各行平分为两分组，也就是每一分组有N/2行，并短路同一分组的所有行，也就是使同分组的任意两行间为短路后，测量两分组间的电阻值，其中，被分出的两分组在本发明中被称为一个“群集”。接着，再次将各行平分为两分组，此次所分出的各分组所包含的各行组合将不会与先前的任一分组相同，并在分组后短路同一分组的所有行，以及测量此次所分出的两分组间的电阻值，直到无法分出不同的分组为止，如此，测试模块130将可以分出C个群集。例如，当矩阵有6行(N=6)时，总共可以分出以第1、2、3行为一个分组与以第4、5、6行为另一分组(后续将以“123、456”的方式表示在一个群集中，两分组的各行的组合)、以第2、3、4行为一个分组与以第5、6、1行为另一分组(“234、561”)、及以第3、4、5行为一个分组与以第
6、1、2行为另一分组(“345、612”)等三个群集(C=3)，也就是测试模块130会测试三次电阻值，由此判断三个群集是否短路。[0055]在上述各行间是否短路的测试过程存在两种特性:
[0056]第一，当第X行与第y行为短路时，测试结果为短路的分组的数量为χ-y的绝对值(I x-y I)?以上述N为6的例子而言，当第I行与第3行短路时，将有两个群集的测试结果为短路，分别是第I行与第3行在不同分组的群集“234、561”以及群集“345、612”，而当第I行与第2行短路时，将只有一个群集的测试结果为短路，也就是第I行与第3行在不同分组的群集“234、561”。
[0057]第二，如果只有一个群集的测试结果为短路，且其他群集的测试结果都是开路，则在测试结果为短路的群集中属于不同分组且在测试结果为开路的群集中属于相同分组的两个特定的行即为短路。以上述N为6的例子而言，若只有群集“123、456”的测试结果为短路，群集“234、561”与群集“345、612”的测试结果为开路，则因为只有第I行与第6行以及第3行与第4行在测试结果为短路的群集中属于不同分组且在测试结果为开路的群集中属于相同分组，因此，表示第I行与第6行短路或第3行与第4行短路。
[0058]根据上述两个特性，当各个群集的测试结果都是短路时，只需要测试与群集的个数(C)相同的次数便可以知道矩阵中任两行都是短路，当只有一个群集的测试结果是短路时，只需再测一次，也就是总共测试C+1次，便可以知道矩阵中的哪两行是短路。
[0059]而当群集的个数大于三(C>3)且有2至C-1个群集为短路时，需要把测试结果为开路的群集中，属于不同分组的行两两组合后加入队列中，并把测试结果为短路的群集中，属于不同分组的行两两组合后加入另外一个队列中，接着去除两队列中重复的组合，如此，剩下的组合即为需要测试的目标。例如，当MxN的矩阵有8行(N=8)时，可分为“1234、5678”、“2345、6781”、“3456、7812”、“4567、8123” 四个群集(C=4)，其中，若群集 “2345、6781 ” 与群集“3456、7812”的测试结果为短路时，测试模块130会将群集“ 1234、5678”中不同分组的第一行与第五行(后续将以“15”的方式表示)、“16”、“17”、“18”、“25”、“26”、“27”、“28”、“35”、“36”、“37”、“38”、“45”、“46”、“47”、“48” 的两行组合，以及群集“4567、8123” 中不同分组的“48”、“41”、“42”、“43”、“58”、“51”、“52”、“53”、“68”、“61”、“62”、“63”、“78”、“71”、“ 72 ”、“ 73 ”的两行组合加入第一队列中，并将群集“ 2345、6781 ”与群集“ 3456、7812 ”中不同分组的“26，，、“27，，、“28”、“12，，、“36”、“37，，、“38”、“13，，、“46”、“47，，、“48”、“14”、“56”、“57”、“ 58 ”、“ 15 ” 以及 “ 37 ”、“ 38 ”、“ 13 ”、“ 23 ”、“ 47 ”、“ 48 ”、“ 14 ”、“ 24 ”、“57 ”、“ 58 ”、“ 15 ”、“ 25 ”、“67”、“68”、“16”、“26”的两行组合加入第二队列中，其中，由于第一队列与第二队列中都包含“ 15 ”、“ 16 ”、“ 25 ”、“ 26 ”、“27 ”、“ 28 ”、“ 36 ”、“37 ”、“ 38 ”、“ 46 ”、“ 47 ”、“ 48 ” 的两行组合，所以，在测试模块130删除两队列中重复的两行组合后，第一队列剩下“17”、“18”、“35”、“45”四个两行组合，第二队列剩下“12”、“13”、“14”、“56”、“57”、“58”六个两行组合，因此，测试模块130会对第一队列与第二队列剩下的十个两行组合进行电阻值的测试，便可以找出短路的两行组合。
[0060]测试模块130在经过上述的测试后，即可以取得各个短路的两行组合，之后，便可以将各个短路的两行组合中，属于不同行的元素所对应的测试测量点两两组合，并测量各个测试测量点的组合的电阻值，由此依据测量出的电阻值判断被测量的两测试测量点间是否短路，如此，便可以取得短路的两测试测量点。
[0061]测试模块130可以在取得短路的测试测量点后，依据所取得的测试测量点判断是否存在异常短路点。一般而言，测试模块130会比对短路的测试测量点的组合与标准板卡上短路的验证测量点的组合，由此比对出异常短路点，但测试模块130判断测试板卡上是否存在异常短路点的方式并不以上述为限。
[0062]另外，本发明还可以包含可附加的输出模块140、储存模块170与计算模块180。
[0063]输出模块140负责在测试模块130验证被测板卡上，分别与被学习模块120修改后的短路点群组中各个测量位置对应的测试测量点间为短路时，输出开路提示信息。一般而言，输出模块140所输出的开路提示信息包含不为短路的测试测量点的信息，但本发明并不以此为限。
[0064]输出模块140也负责在测试模块130依据所取得的测试测量点判断存在异常短路点时，输出异常提不信息。一般而言，输出模块140所输出的异常提不信息包含测试模块130所判断出的异常短路点的一个信息，但本发明并不以此为限。
[0065]储存模块170负责储存学习模块120在验证标准板卡上，分别与短路点群组中的测量位置对应的验证测量点间是否短路时，所测量到的各验证测量点间的电阻值。
[0066]计算模块180负责计算储存模块170所储存的电阻值与测试模块130在测试被测板卡上的所有测试测量点间是否短路时所测量到的测量值的差值，其中，测量出被用来计算差值的电阻值的验证测量点与测量出被用来计算差值的测量值的测试测量点相对应。当计算模块所计算出的任何一个差值不符合预设值时，输出模块140可以输出对应提示信息。一般而言，输出模块140所输出的对应提示信息包含差值不符合预设值的测试测量点的信息，但本发明并不以此为限。
[0067]接着以一个实施例来解说本发明的运作系统与方法，并请参照图2A本发明所提出的使用单个短路点群组测试被测板卡的方法流程图。
[0068]在使用本发明进行开路短路测试时，会进行三个阶段，分别由分析模块110、学习模块120、以及测试模块130进行。
[0069]分析模块110可以依据标准板卡的实体元件预测短路点群组(步骤210)。在本实施例中，假设分析模块110会依据标准板卡的物料清单档中所记录的实体元件，以及依据标准板卡的电脑辅助设计档中的各实体元件的分布位置与电路布线，预测标准板卡上短路的验证测量点，并将短路的验证测量点所对应的测量位置加入短路点群组中。
[0070]在分析模块110依据标准板卡的实体元件预测短路点群组(步骤210)后，学习模块120可以验证标准板卡上，与各个测量位置分别对应的验证测量点间是否短路，并依据验证结果修改短路点群组(步骤220)。跟着，学习模块120可以测试标准板卡上，不与测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据测试结果修改短路点群组(步骤230)。
[0071]其中，学习模块120在测试标准板卡上不与测量位置对应的验证测量点间是否短路时，可以如图2B的流程所示，将标准板卡上不与测量位置对应的验证测量点分组(步骤231)，并根据标准板卡的电脑辅助设计档中的电路布线，分别计算各分组间的理论电阻值(步骤233)，之后，分别测量各分组间的实际电阻值(步骤235)，并分别计算各分组的理论电阻值与实际电阻值的差值，当存在某一分组的理论电阻值与实际电阻值的差值符合预设值时，例如差值大于预设值时，判断该分组所包含的验证测量点间为短路(步骤239)。
[0072]接着回到图2A，在学习模块120测试标准板卡上不与测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据测试结果修改短路点群组(步骤230)后，测试模块130可以验证被测板卡上，分别与修改后的短路点群组中的测量位置对应的测试测量点间是否短路(步骤250)。[0073]当测试模块130进行验证所产生的验证结果表示存在测试测量点中的两个不为短路时，表不被测板卡上存在异常开路，若在本实施例中包含输出模块140,则输出模块140可以输出开路提示信息(步骤270)。
[0074]另外，若本实施例中包含储存模块170以及计算模块180，则如图2C的流程所示，储存模块170可以在学习模块120测试标准板卡上不与测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据测试结果修改短路点群组(步骤230)后，储存学习模块120测试标准板卡上不与测量位置对应的验证测量点间是否短路时，测量各验证测量点间的电阻值(步骤240)。
[0075]计算模块180可以在测试模块130验证被测板卡上，分别与修改后的短路点群组中的测量位置对应的测试测量点间是否短路(步骤250)后，取得测试模块130在验证被测板卡上分别与短路点群组中的测量位置对应的测试测量点间是否为短路时，测量各测试测量点间的电阻值，这一电阻值为本发明所述的测量值(步骤262)。
[0076]接着，计算模块180可以计算储存模块170所储存的电阻值以及所取得的测量值的差值(步骤264)。其中，测量出计算模块计算差值所使用的电阻值的验证测量点所对应的测量位置与测量出计算模块计算差值所使用的测量值的测试测量值所对应的测量位置相同。
[0077]在计算模块180计算电阻值以及测量值的差值(步骤264)后，可以判断所计算出的各个差值是否符合预设值，例如差值小于预设值，当计算模块180所计算出的差值不符合预设值时，表示被测板卡所使用的原料与标准板卡所使用的原料有所不同，若本实施例中包含输出模块140，则输出模块140可以输出对应提示信息(步骤268)。
[0078]继续回到图2A，同样在测试模块130验证被测板卡上分别与短路点群组中的测量位置对应的测试测量点间是否短路(步骤250)后，测试模块130可以测试被测板卡上的所有测试测量点间是否短路，并取得短路的测试测量点(步骤280)。
[0079]其中，测试模块130可以如图2D的流程所示，依据被测板卡上的所有测试测量点建立测试序列，并依据所建立的测试序列建立MxN的测试阵列(步骤282)，再依据测试阵列所包含的N行的各种组合进行分组，直到无法分出分组所包含的各行组合不与以分组的组合相同为止，由此产生多个群集(步骤283)。
[0080]而后，测试模块130可以测量各次分组所分出的两分组间的电阻值，并依据电阻值的测量结果判断短路的行(步骤287)，进而测量与所判断出短路的行包含的元素相对应的测试测量点间的电阻值，由此依据测量出的电阻值判断被测板卡上的各个测试测量点间是否为短路(步骤289)，如此，测试模块130便可以取得短路的测试测量点。
[0081]测试模块130在取得短路的测试测量点后，可以依据被取得的测试测量点判断被测板卡是否存在异常短路点(步骤291)。若本实施例中包含输出模块140，则输出模块140可以在测试模块130判断被测板卡存在异常短路点时，输出异常提示信息(步骤295)。
[0082]通过上述可知，本发明仅使用单个短路点群组，所以不需要考虑多个短路点群组间不可短路的情况，如此将可以减少测试短路点的次数，因此，本发明可以使用较现有技术更少的测试次数完成对被测板卡的开路短路测试。
[0083]综上所述，可知本发明与现有技术之间的差异在于具有以标准板卡的实体元件预测一个短路点群组，并在使用标准板卡验证短路点群组后，使用短路点群组测试被测板卡的技术手段，通过这一技术手段可以解决【背景技术】所存在现有开路短路测试中的测试次数过高的问题，进而达成提高开路短路测试的执行速度的技术效果。
[0084]再者，本发明的使用单个短路点群组测试被测板卡的方法，可实现于硬件、软件或硬件与软件的组合中，亦可在电脑系统中以集中方式实现或以不同元件散布于若干互联的电脑系统的分散方式实现。
[0085]虽然本发明所揭露的实施方式如上，然而所述的内容并非用以直接限定本发明的专利保护范围。任何本领域技术人员在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，对本发明的实施的形式上及细节上作一些更动润饰，均属于本发明的专利保护范围。本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所作限定为准。
【权利要求】
1.一种使用单个短路点群组测试被测板卡的方法，其特征在于，该方法至少包含下列步骤: 依据标准板卡上的各实体元件预测短路点群组，该短路点群组中包含多个测量位置； 验证该标准板卡上，分别与各该测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据验证结果修改该短路点群组； 测试该标准板卡上，不与这些测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据测试结果修改该短路点群组； 验证被测板卡上，分别与该修改后的短路点群组中的各测量位置对应的测试测量点间是否短路； 测试该被测板卡上的所有测试测量点间是否短路，并取得短路的各该测试测量点；及 依据这些被取得的测试测量点判断是否存在至少一个异常短路点。
2.如权利要求1所述的使用单个短路点群组测试被测板卡的方法，其特征在于，测试该被测板卡上的所有测试测量点间是否短路的步骤为在以这些测试测量点建立测试阵列后，依据该测试阵列所包含的各行的分组产生多个群集，各该群集包含两分组，各该分组包含该测试阵列中一半数量的行，且各该分组所包含的这些行的组合不同，由此依据各该群集中的该两分组间的电阻值判断短路的行，并依据短路的行所对应的各该测试测量点间的电阻值判断各该测试测量点间是否短路。
3.如权利要求1所述的使用单个短路点群组测试被测板卡的方法，其特征在于，该方法在验证该标准板卡上，分别与各该测量位置对应的验证测量点间是否短路的步骤、及在测试该标准板卡上，不与这些测量位置对应的验证测量点间是否短路的步骤后，还包含储存各验证测量点间的电阻值的步骤。
4.如权利要求3所述的使用单个短路点群组测试被测板卡的方法，其特征在于，该测试该被测板卡上的所有测试测量点间是否短路的步骤还包含测量与各该验证测量点对应的测试测量点间的测量值的步骤，且该方法在测量这些测试测量点间的测量值的步骤后，还包含计算各该测量值与各该电阻值的差值的步骤。
5.如权利要求1所述的使用单个短路点群组测试被测板卡的方法，其特征在于，该测试该标准板卡上，不与这些测量位置对应的验证测量点间是否短路的步骤还包含将这些验证测量点分组后，计算各分组间的理论电阻值，并测量各分组间的实际电阻值，及在各该理论电阻值与各该实际电阻值的差值符合预设值时，判断差值符合该预设值的分组所包含的验证测量点间为短路的步骤。
6.一种使用单个短路点群组测试被测板卡的系统，其特征在于，该系统至少包含: 分析模块，用以依据标准板卡上的各实体元件预测短路点群组，该短路点群组中包含多个测量位置； 学习模块，用以验证该标准板卡上，分别与各该测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据验证结果修改该短路点群组，及用以测试该标准板卡上，不与这些测量位置对应的验证测量点间是否短路，并依据测试结果修改该短路点群组；及 测试模块，用以验证被测板卡上，分别与该修改后的短路点群组中的各测量位置对应的测试测量点间是否短路，及用以测试该被测板卡上的所有测试测量点间是否短路，并在取得短路的各该测试测量点后，依据这些被取得的测试测量点判断是否存在至少一个异常短路点。
7.如权利要求6所述的使用单个短路点群组测试被测板卡的系统，其特征在于，该测试模块是在以这些测试测量点建立测试阵列后产生多个群集，各该群集包含两分组，各该分组包含该测试阵列中一半数量的行，且各该分组所包含的这些行的组合不同，由此依据各该群集的两分组间的电阻值判断短路的行，并依据短路的行所对应的各该测试测量点间的电阻值判断该被测板卡上的各该测试测量点间是否短路。
8.如权利要求6所述的使用单个短路点群组测试被测板卡的系统，其特征在于，该系统还包含: 储存模块，用以储存各该验证测量点间的电阻值； 计算模块，用以在该测试模块测量与各该验证测量点对应的测试测量点间的各测量值后，计算各该电阻值与各该测量值的差值；及 输出模块，用以在这些差值不符合预设值时，输出对应提示信息。
9.如权利要求6所述的使用单个短路点群组测试被测板卡的系统，其特征在于，该分析模块是依据该标准板卡的物料清单档中的这些实体元件及电脑辅助设计档中各该实体元件的分布位置预测该短路点群组。
10.如权利要求6所述的使用单个短路点群组测试被测板卡的系统，其特征在于，该学习模块是将这些验证测量点分组，计算各分组间的理论电阻值，测量各分组间的实际电阻值，及判断各分组间 的理论电阻值与实际电阻值的差值符合预设值时，判断差值符合该预设值的分组所包含的验证测量点间为短路。
【文档编号】G01R31/02GK103675575SQ201210347995
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2012年9月18日 优先权日:2012年9月18日
【发明者】姜骁 申请人:英业达科技有限公司, 英业达股份有限公司