专利名称：用于工业温度计自动校准的设备指标信息核验方法及装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及计量校准方法及装置，具体涉及一种用于工业温度计自动校准的设备指标信息核验方法及装置。
背景技术：
在工业生产中使用的工业温度计需要定期进行校准才能保证其正常可靠的运行。目前越来越多的校准实验室中使用自动校准系统对工业温度计进行自动校准，以提高工作效率和质量。在开展工业温度计自动校准活动前，各种所用设备的指标信息往往需要人工进行核对，如标准热温度计的指标信息包括精度等级、不确定度、有效期等，如果核对发现指标信息超出有效期或精度等级不符合校准项目要求时，则需要及时更换标准温度计或重新对 该标准温度计进行检定；又如校准前需核对恒温槽的波动性和温场分布等指标信息，只有其符合校准项目要求时方能得到可靠的校准结果。此外，在自动校准系统的校准过程中，也需要获取所用设备的计量指标信息才能计算出校准结果并生成校准证书。当校准实验室的设备数和校准项目数较多时，根据不同用户要求所构建的自动校准系统往往存在多种组合方式，组合设备时人工核对指标信息的工作量大且容易出现疏漏，工作效率低。因此，实现自动校准过程中的设备指标信息自动核验成为有效提升校准效率和质量的方式。
发明内容
为了克服传统计量校准活动中，人工核对效率低的不足，本发明的目的在于提供一种用于工业温度计自动校准的设备指标信息核验方法及装置。本发明采用的技术方案是
一、一种用于工业温度计自动校准系统的计量信息核验方法，包含以下步骤
a)观察用于工业温度计自动校准的设备是否安装有唯一编码的射频电子标签，用于工业温度计自动校准的设备包括标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表，如果标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表没有分别安装具有唯一编码的射频电子标签，则对标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表安装新的射频电子标签；
b)在进行校准前，无线射频信息读取单元扫描安装于标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表上的射频电子标签，获取标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表上射频电子标签的编码信息；
c)无线射频信息读取单元将扫描到的各设备电子标签编码经校准信息处理单元中的MCU通过串口通讯单元传输至装有设备指标信息数据库的上位机中，将所获取的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表编码值信息与设备指标信息数据库中的数据进行核对，如果没有在设备指标信息数据库中核对到该标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表编码值信息所对应的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表设备指标信息，则在设备指标信息数据库中录入新的设备指标信息，并保存在设备指标信息数据库中；
d)装在上位机上的工业温度计自动校准软件从设备指标信息数据库中获取标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表电子标签编码所对应的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表设备指标信息，将所获得的设备指标信息通过串口通讯单元经校准信息处理单元中的MCU传输至校准信息处理单元中的非易失性存储器，非易失性存储器内保存有工业温度计校准项目核验判据。通过MCU将所获得的设备指标信息与保存在非易失性存储器中的工业温度计校准项目核验判据进行核对，当全部设备指标信息符合核验判据要求时，MCU通过串口通讯单元发送允许开展校准活动的信号至上位机中的工业温度计校准软件，否则MCU通过串口通讯单元发送不允许开展校准活动的信号和不合要求的设备编码信息至上位机中的工业温度计校准软件；
e)如果上位机上的工业温度计自动校准软件获得MCU发来的允许开展校准活动信号，则工业温度计自动校准软件开始进行工业温度计自动校准，并在校准结束后进行校准结果 的计算与校准证书的打印；如果工业温度计自动校准软件获得MCU发来的不允许开展校准活动信号，则工业温度计自动校准软件向操作人员报警，并显示不合要求的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表设备编码信息。二、一种用于工业温度计自动校准系统的计量信息核验装置
由上位机和下位机组成；上位机包括设备指标信息数据库、工业温度计自动校准软件和打印机；下位机包括无线射频信息读取单元，由MCU和非易失性存储器组成的校准信息处理单元以及串口通讯单元，无线射频信息读取单元、校准信息处理单元和通讯单元依次连接；串口通讯单元经RS-232通讯接口，且通过DB9线缆与上位机连接；所述射频电子标签使用PMMA材质，外加金属扣环分别固定于标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表上。本发明具有的有益效果是
(I)在进行工业温度计的自动校准活动前，对校准所用设备的指标信息进行准确、快速地自动核验，为计算出校准结果并自动生成校准证书提供依据，从而使计量活动的工作效率得以显著提高，同时也保证了校准活动的可靠性。(2)当校准实验室的设备数和校准项目数较多时，减轻了人工核对设备指标信息的工作量，节省了人力物力和财力。
图I为本发明的装置结构框图。图2为本发明实施方法的流程图。
具体实施例方式下面结合实施附图和实施例对本发明做进一步说明。如图I所示，本发明由上位机和下位机组成；上位机上安装有设备指标信息数据库、工业温度计自动校准软件，同时连接了打印机；下位机包括无线射频信息读取单元，校准信息处理单元以及串口通讯单元，其中校准信息处理单元包含了 MCU和非易失性存储器，在非易失性存储器中保存有工业温度计校准项目核验判据；无线射频信息读取单元、校准信息处理单元和通讯单元依次连接；串口通讯单元经RS-232通讯接口，且通过DB9线缆与上位机连接，无线射频信息读取单元发出电磁波与射频电子标签连接；其中射频电子标签使用PMMA材质，外加金属扣环分别固定于标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表上。所述射频电子标签使用PMMA材质，外加金属扣环分别固定于标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表上。下面说明采用图I所示装置对计量信息核验的方法，如图2所示，本计量信息核验方法步骤如下
a)首先观察用于工业温度计自动校准的设备是否安装有唯一编码的射频电子标签，用于工业温度计自动校准的设备包括标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表，如果没有在标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表上找到具有唯一编码的射频电子标签，则在标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表安装上新的射频电子标 签;
b)在进行校准前，下位机装置中的无线射频信息读取单元分别扫描安装于标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表上的射频电子标签，获取标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表上射频电子标签的具有唯一性的编码信息；
c)无线射频信息读取单元将扫描到的各设备电子标签编码经校准信息处理单元中的MCU通过串口通讯单元传输至装有设备指标信息数据库的上位机中，将所获取的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表编码信息与设备指标信息数据库中的设备指标信息进行核对，如果没有在设备指标信息数据库中核对到标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表编码信息所对应的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表设备指标信息，则在设备指标信息数据库中录入新的设备指标信息，并保存在设备指标信息数据库中；
d)装在上位机上的工业温度计自动校准软件从设备指标信息数据库中获取标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表电子标签编码所对应的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表设备指标信息，将所获得的设备指标信息通过串口通讯单元经校准信息处理单元中的MCU传输至校准信息处理单元中的非易失性存储器，非易失性存储器内保存有工业温度计校准项目核验判据。其中，标准温度计核验判据包括标准温度计名称、型号、编号、精度等级、不确定度值和检定证书有效期；被校工业温度计核验判据包括被校工业温度计名称、型号规格、器号、精度等级、分度号、线质、绝缘电阻值、校准前状态和校准证书编号；恒温设备核验判据包括恒温设备名称、型号、温度范围、稳定性和均匀性；二次仪表核验判据包括二次仪表名称、型号、温度准确度和温度分辨率。通过MCU将所获得的设备指标信息与保存在非易失性存储器中的工业温度计校准项目核验判据进行核对，当设备指标信息全部符合核验判据要求时，MCU通过串口通讯单元发送允许开展校准活动的信号至上位机中的工业温度计校准软件，否则MCU通过串口通讯单元发送不允许开展校准活动的信号和不合要求的设备编码信息至上位机中的工业温度计校准软件；
e)如果上位机上的工业温度计自动校准软件获得MCU发来的允许开展校准活动信号，则工业温度计自动校准软件开始进行工业温度计自动校准，并在校准结束后进行校准结果的计算与校准证书的打印；如果工业温度计自动校准软件获得MCU发来的不允许开展校准活动信号，则工业温度计自动校准软件向操作人员报警，并显示不合要求的标准温度计、被 校工业温度计、恒温设备和二次仪表设备编码信息。
权利要求
1.一种用于工业温度计自动校准的设备指标信息核验方法，其特征在于包含以下步骤a)观察用于工业温度计自动校准的设备是否安装有唯一编码的射频电子标签，用于工业温度计自动校准的设备包括标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表，如果标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表没有分别安装具有唯一编码的射频电子标签，则对标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表安装新的射频电子标签；b)在进行校准前，无线射频信息读取单元扫描安装于标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表上的射频电子标签，获取标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表上射频电子标签的编码信息；c)无线射频信息读取单元将扫描到的各设备电子标签编码经校准信息处理单元中的 MCU通过串口通讯单元传输至装有设备指标信息数据库的上位机中，将所获取的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表编码值信息与设备指标信息数据库中的数据进行核对，如果没有在设备指标信息数据库中核对到该标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表编码值信息所对应的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表设备指标信息，则在设备指标信息数据库中录入新的设备指标信息，并保存在设备指标信息数据库中；d)装在上位机上的工业温度计自动校准软件从设备指标信息数据库中获取标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表电子标签编码所对应的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表设备指标信息，将所获得的设备指标信息通过串口通讯单元经校准信息处理单元中的MCU传输至校准信息处理单元中的非易失性存储器，非易失性存储器内保存有工业温度计校准项目核验判据；通过MCU将所获得的设备指标信息与保存在非易失性存储器中的工业温度计校准项目核验判据进行核对，当全部设备指标信息符合核验判据要求时，MCU通过串口通讯单元发送允许开展校准活动的信号至上位机中的工业温度计校准软件，否则MCU通过串口通讯单元发送不允许开展校准活动的信号和不合要求的设备编码信息至上位机中的工业温度计校准软件；e)如果上位机上的工业温度计自动校准软件获得MCU发来的允许开展校准活动信号， 则工业温度计自动校准软件开始进行工业温度计自动校准，并在校准结束后进行校准结果的计算与校准证书的打印；如果工业温度计自动校准软件获得MCU发来的不允许开展校准活动信号，则工业温度计自动校准软件向操作人员报警，并显示不合要求的标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表设备编码信息。
2.根据权利要求I所述方法的一种用于工业温度计自动校准的设备指标信息核验装置，其特征在于由上位机和下位机组成；上位机包括设备指标信息数据库、工业温度计自动校准软件和打印机；下位机包括无线射频信息读取单元，由MCU和非易失性存储器组成的校准信息处理单元以及串口通讯单元，无线射频信息读取单元、校准信息处理单元和通讯单元依次连接；串口通讯单元经RS-232通讯接口，且通过DB9线缆与上位机连接。
3.根据权利要求2所述方法的一种用于工业温度计自动校准的设备指标信息核验装置，其特征在于所述射频电子标签使用PMMA材质，外加金属扣环分别固定于标准温度计、 被校工业温度计、恒温设备和二次仪表上。
全文摘要
本发明公开了一种用于工业温度计自动校准的设备指标信息核验方法及装置。下位机中的串口通讯单元经RS-232通讯接口，且通过DB9线缆与上位机连接，下位机中的通过无线射频信息读取单元发出的电磁波与射频电子标签通讯。该方法通过读取安装在标准温度计、被校工业温度计、恒温设备和二次仪表设备上的射频电子标签编码信息，在设备指标信息数据库中检索出相应的设备指标信息，将该信息与工业温度计校准项目核验判据进行比对，判断是否符合校准条件。本发明对开展工业温度计校准活动所需设备的指标信息进行管理，既保证校准活动的可靠性，又减轻校准工作量，由于能够准确、快速地进行设备指标信息核对，有效地提高了计量校准活动的工作效率。
文档编号G01K15/00GK102928122SQ20121036308
公开日2013年2月13日 申请日期2012年9月26日 优先权日2012年9月26日
发明者富雅琼, 邵一轶, 陈乐 , 孙坚, 楼导, 谢敏, 黄艳岩, 许素安 申请人:中国计量学院