一种铝箔厚度离线测定装置的制作方法

文档序号:5991034阅读:497来源:国知局
专利名称:一种铝箔厚度离线测定装置的制作方法
技术领域
本实用新型属于双零铝箔生产加工领域,涉及一种铝箔厚度离线测定装置,具体的说是一种基于高精度直线位移传感器的铝箔厚度离线测定装置。
背景技术
双零铝箔的应用越来越广泛,人们对双零铝箔质\量的要求也不断提高,特别是其中热封箔、药用箔、软管箔等产品,除了要求合适的力学性能、平整光亮的表面外,还要求厚度均匀,以保证最终产品的正常使用。目前常用的双零铝箔厚度测量方法主要有涡流测厚、同位素射线测厚、X射线测厚以及称重法等。其中称重法只能获得铝箔的平均厚度,无法知道铝箔各处的厚度差;其它三种方法可以对铝箔局部进行厚度测量,但精度很低,而且同位素射线和X射线都会对人体造成很大伤害。

实用新型内容本实用新型为解决上述技术问题提供了一种铝箔厚度离线测定装置,具体的说是一种基于高精度直线位移传感器的铝箔厚度离线测定装置。本实用新型为解决上述技术问题采用的技术方案是一种铝箔厚度离线测定装置,设有试验台,在试验台上设有长压块,待测试的铝箔一侧压在长压块与试验台之间,另一侧悬空,在长压块的上表面设有一条V型导轨槽,长压块的上方设置的测臂通过其底部设置的V型导轨与长压块的V型导轨槽配合,测臂的一端设有与铝箔悬空侧相对应的位移传感器和支承圆球,铝箔夹在位移传感器和支承圆球之间,位移传感器与传感器显示屏电连接。所述的长压块的底面设有弹性材料。所述的长压块通过在四个角设置螺栓固定在试验台上。本实用新型的有益效果该装置利用高精度直线位移传感器及专门设计的机械装置可以对铝箔样品各处厚度进行精确测量,测量分辨率小于0. I i! m,能很方便的获得铝箔厚度差及误差分布情况,为判断铝箔是否合格及调整生产工艺提供直接依据。

图I为本实用新型的主视图;图2为本实用新型的俯视图;附图标记1、测臂,2、长压块,3、弹性材料,4、试验台,5、螺栓,6、铝箔,7、支承圆球,8、高精度直线位移传感器,9、传感器显示屏,1-1、V型导轨,2-1、V型导轨槽。
具体实施方式
如图I和2所示,一种铝箔厚度离线测定装置,设有试验台4,在试验台4上设有长压块2,待测试的铝箔6 —侧压在长压块2与试验台4之间,另一侧悬空,在长压块2的上表面设有一条V型导轨槽2-1,长压块2的上方设置的测臂I通过其底部设置的V型导轨1-1与长压块2的V型导轨槽2-1配合,测臂I的一端设有与铝箔6悬空侧相对应的位移传感器8和支承圆球7,铝箔6夹在位移传感器8和支承圆球7之间,位移传感器8与传感器显示屏9电连接。所述的长压块2的底面设有弹性材料3。所述的长压块2通过在四个角设置螺栓5固定在试验台4上。本实用新型中,铝箔6 —端悬空放置在试验台4上,并被长压块2压紧固定在试验台平面,长压块2底面敷有一层弹性材料3,可保证铝箔6压紧在试验台4上。长压块2上面有一 V型导轨槽2-1,与测臂I下面的V型导轨1-1相配合,测臂I可沿长压块2上V型导轨槽2-1自由滑动。测臂I的另一端设置一配重块,维持测臂平衡和运动平稳。本实用新型的使用方法在使用本装置进行铝箔6的厚度测量时,悬空铝箔6的上下两面分别与高精度直线位移传感器8的测头和支承圆球7接触,此时传感器显示屏9读数的变动量即为铝箔6在测点的厚度,推动测臂I沿V型导轨槽2-1移动即可知铝箔6各处的厚度,经数据分析可知铝箔6的厚度差及误差分布情况。
权利要求1.一种铝箔厚度离线測定装置,其特征在干设有试验台(4),在试验台(4)上设有长压块(2),待测试的铝箔(6) —侧压在长压块(2)与试验台(4)之间,另ー侧悬空,在长压块(2)的上表面设有一条V型导轨槽(2-1),长压块(2)的上方设置的测臂(I)通过其底部设置的V型导轨(1-1)与长压块(2)的V型导轨槽(2-1)配合,测臂(I)的一端设有与铝箔(6)悬空侧相对应的位移传感器(8)和支承圆球(7),铝箔(6)夹在位移传感器(8)和支承圆球(7 )之间,位移传感器(8 )与传感器显示屏(9 )电连接。
2.如权利要求I所述的ー种铝箔厚度离线測定装置,其特征在于所述的长压块(2)的底面设有弹性材料(3)。
3.如权利要求I所述的ー种铝箔厚度离线測定装置,其特征在于所述的长压块(2)通过在四个角设置螺栓(5)固定在试验台(4)上。
专利摘要一种铝箔厚度离线测定装置,设有试验台,在试验台上设有长压块,待测试的铝箔一侧压在长压块与试验台之间,另一侧悬空,在长压块的上表面设有一条V型导轨槽,长压块的上方设置的测臂通过其底部设置的V型导轨与长压块的V型导轨槽配合,测臂的一端设有与铝箔悬空侧相对应的位移传感器和支承圆球,铝箔夹在位移传感器和支承圆球之间,位移传感器与传感器显示屏电连接。该装置利用高精度直线位移传感器及专门设计的机械装置可以对铝箔样品各处厚度进行精确测量,测量分辨率小于0.1μm,能很方便的获得铝箔厚度差及误差分布情况,为判断铝箔是否合格及调整生产工艺提供直接依据。
文档编号G01B21/08GK202814379SQ20122041310
公开日2013年3月20日 申请日期2012年8月21日 优先权日2012年8月21日
发明者董亚飞, 吴锐, 蔡俊杰, 李丽苹, 米宝龙 申请人:洛阳首龙铝业有限责任公司
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