专利名称：一种led显示屏光色参数测量实验装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种教学实验装置，尤其涉及一种LED显示屏光色参数测量实验装置。
背景技术：
LED显示屏是用以显示文字、图像、视频、录像等信息的显示屏幕，图像稳定、画面色彩鲜艳、有立体感，且功耗低、寿命长，因而广泛的应用于广场、金融、交通运输、机场码头等公共场所。同时，为了符合社会发展对人才的培养需求，不少高校开设了 LED显示屏测试、评价的相关实验课程，因为只有让学生通过测试手段获取相关参数，正确评估LED显示屏的图像质量，才能让学生开发设计更好的LED显示屏，达到实验教学目的。LED显示屏的图像质量的好坏由LED显示屏光、色、电参数决定，目前，对LED显示屏光色参数的测量实验主要采用传统仪器如照度计、亮度计、色度计等仪器，测量单一参数，学生无法获取LED显示屏的详细光色参数信息，不能做全面正确的评价。
发明内容本实用新型的目的在于提供一种LED显示屏光色参数测量实验装置，该装置特点是可全面测量LED显示屏光色参数，且便于学生操作、可重复性高。本实用新型所采用的技术方案是:一种LED显示屏光色参数测量实验装置，包括CXD相机(18)、LED显示屏(17)、LED显示屏光色参数测量平台、LED显示屏驱动电源和PC机，其特征在于，LED显示屏光色参数测量平台包括底座(l)、y轴滑轨(2)、LED显示屏调整台架和CCD相机调整台架；所述的LED显示屏调整台架包括LED显示屏调整台架底座滑块
(3)、LED显示屏调整台架空心圆柱杆座(4)、LED显示屏调整台架圆柱支撑杆(5)、LED显示屏架台(7)、LED显示屏调整台架支撑杆固定螺栓(6)和LED显示屏固定螺栓(8);所述的CXD相机调整台架包括CXD相机调整台架底座滑块(9)、X轴滑轨(10)、X轴滑块(11)、CXD相机调整台架空心圆柱杆座(12)、C⑶相机调整台架圆柱支撑杆(14)、C⑶相机架台(15)、CCD相机调整台架支撑杆固定螺栓(13)和CCD相机固定螺栓(16)。所述的y轴滑轨(2)直接平行固定于底座(I)上，其长度与底座(I)长度等长，y轴滑轨(2)标有刻度。所述的X轴滑轨(10)直接平行固定于CCD相机调整台架底座滑块(9)上，其长度与CCD相机调整台架底座滑块(9)的宽度相等，X轴滑轨(10)上标有刻度。所述的X轴滑块(11)长度小于X轴滑轨(10)长度，实现X轴滑块(11)在X轴滑轨(10)上的微调。所述的X轴滑轨(10)与y轴滑轨⑵相垂直。所述的LED显示屏调整台架空心圆柱杆座(4)内径大于LED显示屏调整台架圆柱支撑杆(5)外径，LED显示屏调整台架圆柱支撑杆(5)长度与LED显示屏调整台架空心圆柱杆座(4)高度相同，两者通过LED显示屏调整台架支撑杆固定螺栓(6)固定；所述的CXD相机调整台架空心圆柱杆座(12)内径大于(XD相机调整台架圆柱支撑杆(14)外径，(XD相机调整台架圆柱支撑杆(14)长度与CXD相机调整台架空心圆柱杆座(12)高度相同，两者通过(XD相机调整台架支撑杆固定螺栓(13)固定。所述的LED显示屏调整台架圆柱支撑杆(5)和C⑶相机调整台架圆柱支撑杆(14)均有标有刻度。所述的LED显示屏调整台架支撑杆固定螺栓(6)、(XD相机调整台架支撑杆固定螺栓(13)、LED显示屏固定螺栓(8)、CCD相机固定螺栓(16)均采用圆头螺栓。
以下结合附图及实施方式对本实用新型进一步说明。
图1为本实用新型的结构示意正视图。图2为图1中LED显示屏架台和CXD相机架台结构示意侧视图；附图中:1为底座，2为y轴滑轨，3为LED显示屏调整台架底座滑块，4为LED显示屏调整台架空心圆柱杆座，5为LED显示屏调整台架圆柱支撑杆，6为LED显示屏调整台架支撑杆固定螺栓，7为LED显示屏架台，8为LED显示屏固定螺栓，9为CCD相机调整台架底座滑块，10为X轴滑轨，11为X轴滑块，12为CXD相机调整台架空心圆柱杆座，13为CXD相机调整台架支撑杆固定螺栓，14为CCD相机调整台架圆柱支撑杆，15为CCD相机架台，16为CXD相机固定螺栓，17为LED显示屏，18为CXD相机。
具体实施方式
图1、图2中一种LED显示屏光色参数测量实验装置，包括C⑶相机18、LED显示屏17、LED显示屏光色参数测量平台、LED显示屏驱动电源和PC机；LED显示屏光色参数测量平台包括底座1、y轴滑轨2、LED显示屏调整台架和CXD相机调整台架。y轴滑轨2直接平行固定于底座I上，其长度与底座I长度等长，且标有刻度。LED显示屏调整台架包括LED显示屏调整台架底座滑块3、LED显示屏调整台架空心圆柱杆座4、LED显示屏调整台架圆柱支撑杆5、LED显示屏架台7、LED显示屏调整台架支撑杆固定螺栓6和LED显示屏固定螺栓8 ；LED显示屏调整台架空心圆柱杆座4内径大于LED显示屏调整台架圆柱支撑杆5外径，LED显示屏调整台架圆柱支撑杆5标有刻度，长度与LED显示屏调整台架空心圆柱杆座4高度相同，两者通过圆头螺栓LED显示屏调整台架支撑杆固定螺栓6固定；LED显示屏调整台架可以通过LED显示屏调整台架底座滑块3在y轴滑轨2上滑动调整LED显示屏17在I轴上的位置。CXD相机调整台架包括CXD相机调整台架底座滑块9、X轴滑轨10、X轴滑块11、CCD相机调整台架空心圆柱杆座12、CCD相机调整台架圆柱支撑杆14、CCD相机架台15、CCD相机调整台架支撑杆固定螺栓13和CCD相机固定螺栓16 ；x轴滑轨10直接平行固定于CCD相机调整台架底座滑块9上，其长度与CCD相机调整台架底座滑块9的宽度相等，且标有刻度；x轴滑块11长度小于X轴滑轨(10)长度，与X轴滑轨10相配套，CCD相机调整台架在X轴滑块11的部分可以在X轴滑轨10上滑动微调CXD相机18在X轴上位置；CXD相机调整台架空心圆柱杆座12内径大于CXD相机调整台架圆柱支撑杆14外径，CXD相机调整台架圆柱支撑杆14标有刻度，长度与CCD相机调整台架空心圆柱杆座12高度相同，两者通过圆头螺栓CCD相机调整台架支撑杆固定螺栓13固定；CCD相机调整台架可以通过CXD相机调整台架底座滑块9在y轴滑轨2上滑动调整CXD相机18在y轴上的位置。实验时，将LED显示屏17固定在LED显示屏架台7上，通过LED显示屏调整台架上LED显示屏调整台架底座滑块3在j轴滑轨2上滑动调节LED显示屏17在y轴上的位置，通过LED显示屏调整台架圆柱支撑杆5可以调节LED显示屏17在z轴上的位置；将CXD相机18固定在CXD相机调整台架上，通过X轴滑块11在X轴滑轨10上滑动微调CXD相机18在X轴上位置，通过CXD相机调整台架底座滑块9在y轴滑轨2上滑动调整CXD相机18在y轴上的位置，通过CXD相机调整台架圆柱支撑杆14可以调节CXD相机18在z轴上的位置；LED驱动电源驱动LED显示屏17点亮，实验者可以通过LED显示屏光色参数测量平台调整LED显示屏17和CXD相机18的位置关系，并根据标尺刻度记录，经PC机图像处理软件处理获取不同位置的LED显示屏光色参数。
权利要求1.一种LED显示屏光色参数测量实验装置，包括CXD相机(18)、LED显示屏(17)、LED显示屏光色参数测量平台、LED显示屏驱动电源和PC机，其特征在于，LED显示屏光色参数测量平台包括底座(l)、y轴滑轨(2)、LED显示屏调整台架和CCD相机调整台架；所述的LED显示屏调整台架包括LED显示屏调整台架底座滑块(3)、LED显示屏调整台架空心圆柱杆座(4)、LED显示屏调整台架圆柱支撑杆(5)、LED显示屏架台(7)、LED显示屏调整台架支撑杆固定螺栓(6)和LED显示屏固定螺栓(8);所述的CCD相机调整台架包括CCD相机调整台架底座滑块(9)、x轴滑轨(10)、x轴滑块(11)、(XD相机调整台架空心圆柱杆座(12)、C⑶相机调整台架圆柱支撑杆(14)、CCD相机架台(15)、CCD相机调整台架支撑杆固定螺栓(13)和CCD相机固定螺栓(16)。
2.根据权利要求1所述的一种LED显示屏光色参数测量实验装置，其特征在于，所述的y轴滑轨(2)直接平行固定于底座(I)上，其长度与底座(I)长度等长，y轴滑轨(2)标有刻度。
3.根据权利要求1所述的一种LED显示屏光色参数测量实验装置，其特征在于，所述的X轴滑轨(10)直接平行固定于C⑶相机调整台架底座滑块(9)上，其长度与C⑶相机调整台架底座滑块(9)的宽度相等，X轴滑轨(10)与y轴滑轨(2)相垂直，且标有刻度；所述的X轴滑块(11)长度小于X轴滑轨(10)长度。
4.根据权利要求1所述的一种LED显示屏光色参数测量实验装置，其特征在于，所述的LED显示屏调整台架圆柱支撑杆(5)和C⑶相机调整台架圆柱支撑杆(14)均有标有刻度。
5.根据权利要求1所述的一种LED显示屏光色参数测量实验装置，其特征在于，所述的LED显示屏调整台架支撑杆固定螺栓(6)、CXD相机调整台架支撑杆固定螺栓(13)、LED显示屏固定螺栓(8)、CCD相机固定螺栓(16)均采用圆头螺栓。
专利摘要本实用新型公开一种LED显示屏光色参数测量实验装置，包括CCD相机、LED显示屏、LED显示屏光色参数测量平台、LED显示屏驱动电源和PC机；LED显示屏光色参数测量平台包括底座、y轴滑轨、LED显示屏调整台架和CCD相机调整台架。LED显示屏可以通过LED显示屏调整台架调节y轴上位置和高度；CCD相机可以通过CCD相机调整台架调节x、y轴上位置和高度；实验者调节并记录LED显示屏和CCD相机的位置关系，经PC机图像处理软件处理，测量获取不同位置上的LED显示屏光色参数。
文档编号G01M11/02GK202928784SQ201220656029
公开日2013年5月8日 申请日期2012年11月28日 优先权日2012年11月28日
发明者郑元辽, 黄杰, 丰华彬, 华侠冰, 周光南 申请人:中国计量学院