专利名称：一种测试治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及治具技术领域，特别涉及一种为测试产品准心的测试治具。
背景技术：
目前的一种用于测试芯片里的准心的测试治具，包括有测试平台和底座。测试过程主要是将芯片放入测试平台，通过反复合盖测试。在测试中，会导致治具位置产生偏差，所以一般需要定期用标准样品对治具进行校准。治具在进行校准调整位置时，都是通过在底座的侧面打蜡或者垫纸。但是，打胶会导致在下一次调整时要清理胶体，比较麻烦；而垫纸会使得治具稳定性不好，位置容易偏。
实用新型内容为了解决现有的测试治具在校准时打胶会导致在下一次调整时要清理胶体，；垫纸会使得治具稳定性不好，位置容易偏的问题，现提供了一种测试治具。具体技术方案如下:一种测试治具，包括 测试平台和底座，其中，所述底座上设有多个螺纹孔，在所述螺纹孔中安装有可调节的螺纹紧固件。优选的，所述螺纹紧固件为顶丝。优选的，所述螺纹孔有四个，均匀分布在所述底座的四角。与现有技术相比，上述技术方案提供的测试治具具有以下优点:通过在底座中增设螺纹孔，并安装可调节的螺纹紧固件，通过调节螺纹紧固件来校准测试治具，不仅更加简洁方便，而且优化了产品质量，提高了生产效率。
为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本实用新型实施例中提供的测试治具示意图。
具体实施方式
为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本实用新型实施方式作进一步地详细描述。如图1所示，本实用新型实施例提供了一种测试治具，包括测试平台3和底座1，其中，底座I上设有多个螺纹孔4，在螺纹孔4中安装有可调节的螺纹紧固件。具体的，螺纹紧固件为顶丝。螺纹孔4有四个，均匀分布在底座I的四角。测试治具的底座I包括上底座和下底座，上下底座I之间通过螺栓2连接。在上底座的四角上用冲击钻打出四个小孔.然后用丝攻对开的孔进行攻丝优化，形成四个螺纹孔4，最后将顶丝安装到螺纹孔4里，并通过顶丝的调整来达到对治具的校准调节。本实用新型实施例公开的测试治具通过调节顶丝可以很方便的利用标准样品来对治具进行校准，同时也优化了产品质量，提高了生产效率。以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修 改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求1.一种测试治具，包括测试平台和底座，其特征在于，所述底座上设有多个螺纹孔，在所述螺纹孔中安装有可调节的螺纹紧固件。
2.根据权利要求1所述的防后退装置，其特征在于，所述螺纹紧固件为顶丝。
3.根据权利要求1或2所述的防后退装置，其特征在于，所述螺纹孔有四个，均匀分布在所述底座的四角。
专利摘要本实用新型公开了一种测试治具，属于治具技术领域。该测试治具，包括测试平台和底座，其中，所述底座上设有多个螺纹孔，在所述螺纹孔中安装有可调节的螺纹紧固件。本实用新型通过在底座中增设螺纹孔，并安装可调节的螺纹紧固件，通过调节螺纹紧固件来校准测试治具，不仅更加简洁方便，而且优化了产品质量，提高了生产效率。
文档编号G01D21/00GK203116760SQ201220743210
公开日2013年8月7日 申请日期2012年12月28日 优先权日2012年12月28日
发明者孙俊 申请人:上海裕晶半导体有限公司