一种激光测量系统的制作方法
【专利摘要】本发明公开一种激光测量系统，涉及测试装置领域。本发明激光测量系统包括激光发射装置和激光测量装置；所述激光发射装置包括激光器底座，激光器底座呈凹槽形，在凹槽内依次安装有光学透镜、调节片、激光灯基座和激光灯，所述光学透镜通过第一螺钉和第二螺钉固定安装在激光器底座上，所述调节片通过第三螺钉固定安装在激光器基座上，激光灯安装在激光灯基座上；所述激光测量装置包括测试架、接收板和屏蔽盒，所述测试架呈倒直角梯形体且上端开有缺口，所述接收板安装于测试架的倾斜面，所述屏蔽盒安装于接收板上，所述测试架内设置有通道；激光发射装置安装于测试架与倾斜面相对的另一端。本发明的激光测量系统具有高准确度、高重复性和高效率。
【专利说明】一种激光测量系统
【技术领域】
[0001]本发明涉及测试装置领域，尤其涉及一种激光测量系统。
【背景技术】
[0002]在全自动特定蛋白分析仪中，需要一个光学测试系统通过某种测试方法来得到所测液体的浓度，在根据某种算法得出医生所需要的测试数据来判断某人或动物的病症，以此对症下药，现有光学系统一般有以下两种实现方式:采用透射比浊法的光学系统和采用散射比浊法的光学系统。
[0003]1、光学测试架为2半式，通常将过光孔一分为二，此结构的光学系统在有强光照射下，会对测试结果产生较大的影响，且它制造成本较高、不易维修；
[0004]2、光学测试架的过光孔为一体式，只有测试杯处是分为两部份，此结构相比2半式的会好很多，比如在强光照射下，其对测试结果的影响已大大降低；其在加工时产生的变形量相对来说也降低了不少。但其制造成本也较高，且不易拆卸。
【发明内容】
[0005]本发明针对现有技术中光学系统制造成本高、不易拆卸及维修等不足而提供一种激光测量系统，该系统具有高准确度、高重复性和高效率。
[0006]本发明的技术方案如下:
[0007]—种激光测量系统，该系统包括激光发射装置和激光测量装置；所述激光发射装置包括激光器底座，激光器底座呈凹槽形，在凹槽内依次安装有光学透镜、调节片、激光灯基座和激光灯，所述光学透镜通过第一螺钉和第二螺钉固定安装在激光器底座上，所述调节片通过第三螺钉固定安装在激光器基座上，激光灯安装在激光灯基座上；所述激光测量装置包括测试架、接收板和屏蔽盒，所述测试架呈倒直角梯形体且上端开有缺口，所述接收板安装于测试架的倾斜面，所述屏蔽盒安装于接收板上，所述测试架内设置有通道；激光发射装置安装于测试架与倾斜面相对的另一端。
[0008]上述第一螺钉为非标细牙螺钉。
[0009]上述第二螺钉为波珠螺钉。
[0010]上述第三螺钉为内六角螺钉。
[0011 ] 上述通道从光学透镜处延伸至接收板处。
[0012]本发明的有益效果:本发明的测量系统由于使用了具有光束集中度高、稳定特性好的单一光波波长激光灯作为光源灯，从而使得整个测量系统具有高准确度和高重复性的特性，如果采用多波长的激光灯作为光源灯，则测量系统的复杂度将增加，且稳准确度和重复性也会下降；激光的低功耗特性使得该测量系统更节能，能效更高。
【专利附图】
【附图说明】
[0013]图1为本发明激光测量系统的立体结构示意图；[0014]图2为本发明激光测量系统的正面结构示意图；
[0015]图3为本发明激光测量系统的爆炸结构示意图。
【具体实施方式】
[0016]为了更好的说明本发明，现结合附图作进一步的说明。
[0017]如图1至图3所示，一种激光测量系统，该系统包括激光发射装置I和激光测量装置2 ;所述激光发射装置I包括激光器底座21，激光器底座21呈凹槽形，在凹槽内依次安装有光学透镜22、调节片23、激光灯基座24和激光灯25，所述光学透镜22通过第一螺钉26和第二螺钉27固定安装在激光器底座21上，所述调节片22通过第三螺钉28固定安装在激光器基座21上，激光灯25安装在激光灯基座24上；所述激光测量装置2包括测试架11、接收板12和屏蔽盒13，所述测试架11呈倒直角梯形体且上端开有缺口，所述接收板12安装于测试架11的倾斜面，所述屏蔽盒13安装于接收板12上，所述测试架11内设置有通道14 ;激光发射装置I安装于测试架11与倾斜面相对的另一端。第一螺钉26为非标细牙螺钉。第二螺钉27为波珠螺钉。第三螺钉28为内六角螺钉。通道14从光学透镜22处延伸至接收板12处。
[0018]下面将说明本发明激光测量系统的工作流程:
[0019]组装激光发射装置1，依次安装光学透镜22、调节片23、激光灯基座24和激光灯于激光器底座21的凹槽内，分别用第一螺钉、第二螺钉及第三螺钉固定上述各部件。组装测量装置2，依次安装起接收信号作用的接收板12和起屏蔽作用的屏蔽盒于测试架11的倾斜面。在装配高度激光器时，需要注意二点，一是准直，激光灯通电后光束经过光学透镜后得到的光斑为椭圆形，且要观察其是否倾斜，若倾斜需微调调节片23的位置。二是焦点，即通过工装来转动光学透镜22，使其前后移动，调节过程中需观察在I米范围内时光斑的大小与5米范围内的光斑大小做个对比，若变化不大，可视为调节成功，若变化比较大，则需要重新调节激光发射装置I。
【权利要求】
1.一种激光测量系统，其特征在于:该系统包括激光发射装置和激光测量装置；所述激光发射装置包括激光器底座，激光器底座呈凹槽形，在凹槽内依次安装有光学透镜、调节片、激光灯基座和激光灯，所述光学透镜通过第一螺钉和第二螺钉固定安装在激光器底座上，所述调节片通过第三螺钉固定安装在激光器基座上，激光灯安装在激光灯基座上；所述激光测量装置包括测试架、接收板和屏蔽盒，所述测试架呈倒直角梯形体且上端开有缺口，所述接收板安装于测试架的倾斜面，所述屏蔽盒安装于接收板上，所述测试架内设置有通道；激光发射装置安装于测试架与倾斜面相对的另一端。
2.根据权利要求1所述的激光测量系统，其特征在于:所述第一螺钉为非标细牙螺钉。
3.根据权利要求1所述的激光测量系统，其特征在于:所述第二螺钉为波珠螺钉。
4.根据权利要求1所述的激光测量系统，其特征在于:所述第三螺钉为内六角螺钉。
5.根据权利要求1所述的激光测量系统，其特征在于:所述通道从光学透镜处延伸至接收板处。
【文档编号】G01N21/01GK103454219SQ201310388558
【公开日】2013年12月18日 申请日期:2013年8月22日 优先权日:2013年8月22日
【发明者】张兴良 申请人:深圳市锦瑞电子有限公司