高压开关测试仪校验装置及校验方法
【专利摘要】高压开关测试仪校验装置及校验方法。在国内，还没有专门的高压开关测试仪的校验装置。一般都是采用多台仪器、设备组合，这种方法结果稳定性不高，重复性不好，对操作人员的要求也较高。本发明的组成包括：壳体（1），所述的壳体内具有输入单元（2）、时基电路（3），所述的时基电路与微处理器（4）连接，所述的微处理器与I/O接口电路（5）连接，所述的输入单元分别与A/D转换器（6）、所述的I/O接口电路连接，所述的A/D转换器与光电隔离器（7）连接，所述的光电隔离器与所述的I/O接口电路连接，所述的I/O接口电路分别与输出单元（8）、显示屏（9）、控制按键（10）连接。本发明用于高压开关测试仪校验。
【专利说明】高压开关测试仪校验装置及校验方法
[0001]【技术领域】:
本发明涉及一种高压开关测试仪校验装置及校验方法。
[0002]【背景技术】:
随着科学技术的发展，智能型高压开关特性测试仪器不断出新，但对应的校验技术和设备仍比较落后，存在着功能简单，自动化程度不高，校验接线复杂，附加误差不确定，工作效率低等不足，影响了其发展和应用。
[0003]在国内，还没有专门的高压开关测试仪的校验装置。一般都是采用多台仪器、设备组合，如时间检定仪、数字电压表、计频计时分析仪等，完成对高压开关测试仪的主要技术参数的校验和调整。这种方法不但耗费很多的时间、人力和物力，而且校验结果受很多因素的影响，导致结果稳定性不高，重复性不好，对操作人员的要求也较高。另一方面，高压开关测试仪规模不断扩大，型号也越来越多，测量的功能也不尽相同，这种组合型的校验方法越来越不能满足市场的需求。
[0004]
【发明内容】
:
本发明的目的是提供一种高压开关测试仪校验装置及校验方法。
[0005]上述的目的通过以下的技术方案实现:
一种高压开关测试仪校验装置，其组成包括:壳体，所述的壳体内具有输入单元、时基电路，所述的时基电路与微处理器连接，所述的微处理器与I/o接口电路连接，所述的输入单元分别与A/D转换器、所述的I/O接口电路连接，所述的A/D转换器与光电隔离器连接，所述的光电隔离器与所述的I/O接口电路连接，所述的I/O接口电路分别与输出单元、显示屏、控制按键连接。
[0006]所述的高压开关测试仪校验装置，所述的输入单元包括采样电路，所述的采样电路与交直流转换电路连接，所述的交直流转换电路与所述的A/D转换器连接。
[0007]—种高压开关测试仪校验装置的校验方法，所述的将被检高压开关测试仪与测试仪校验装置端子对应相连，由所述的测试仪校验装置给出合、分闸时间，合、分闸同期性及弹跳时间等时间参数，同时记录被测高压开关测试仪各参数的显示值，即实现被测高压开关测试仪各参数的校准。
[0008]所述的高压开关测试仪校验装置的校验方法，所述的测试仪校验装置的输入信号经采样电路、AC/DC电路接入A/D转换电路，变为数字信号，然后经光电耦合器接入微处理器进行识别和运算，经微处理器处理、加工后的数据、信号以程序代码的形式分别传送到显示模块和输出单元；有显示器进行显示，有输出电路去控制被校高压开关特性测试仪的运行，进而自动完成校验工作。
[0009]有益效果:
本发明的校验装置主要是对时间参量进行测量，包括合闸的六项参数(合闸端口时间、合闸时间、合闸顺序、合闸三相不同期、合闸同相不同期、合闸弹跳时间)，分闸的六项参数(分闸端口时间、分闸时间、分闸顺序、分闸三相不同期、分闸同相不同期、分闸弹跳时间)和重合闸五项参数(重合闸端口时间、重合闸时间、重合闸顺序、重合闸三相不同期、重合闸同相不同期)；其次还对电参量进行校验。
[0010]本发明校验准确，对市场上众多型号的高压开关测试仪进行测量校准，保证高压开关测试仪测量的准确性和测试功能的有效性，从而保障高压开关的安全运行，减低事故率，保证运行系统的安全可靠，保护人身和财产安全。
[0011]【专利附图】
【附图说明】:
附图1是本发明的结构示意图。
[0012]【具体实施方式】:
实施例1:
一种高压开关测试仪校验装置，其组成包括:壳体1，所述的壳体内具有输入单元2、时基电路3，所述的时基电路与微处理器4连接，所述的微处理器与I/O接口电路5连接，所述的输入单元分别与A/D转换器6、所述的I/O接口电路连接，所述的A/D转换器与光电隔离器7连接，所述的光电隔离器与所述的I/O接口电路连接，所述的I/O接口电路分别与输出单元8、显示屏9、控制按键10连接。
[0013]实施例2:
根据权利要求1所述的高压开关测试仪校验装置，所述的输入单元包括采样电路11，所述的采样电路与交直流转换电路12连接，所述的交直流转换电路与所述的A/D转换器连接。
[0014]实施例3:
一种高压开关测试仪校验装置的校验方法，所述的将被检高压开关测试仪与测试仪校验装置端子对应相连，由所述的测试仪校验装置给出合、分闸时间，合、分闸同期性及弹跳时间等时间参数，同时记录被测高压开关测试仪各参数的显示值，即实现被测高压开关测试仪各参数的校准。
[0015]实施例4:
根据实施例3所述的高压开关测试仪校验装置的校验方法，所述的测试仪校验装置的输入信号经采样电路、AC/DC电路接入A/D转换电路，变为数字信号，然后经光电耦合器接入微处理器进行识别和运算，经微处理器处理、加工后的数据、信号以程序代码的形式分别传送到显示模块和输出单元；有显示器进行显示，有输出电路去控制被校高压开关特性测试仪的运行，进而自动完成校验工作。
【权利要求】
1.一种高压开关测试仪校验装置，其组成包括:壳体，其特征是:所述的壳体内具有输入单元、时基电路，所述的时基电路与微处理器连接，所述的微处理器与I/O接口电路连接，所述的输入单元分别与A/D转换器、所述的I/O接口电路连接，所述的A/D转换器与光电隔离器连接，所述的光电隔离器与所述的I/O接口电路连接，所述的I/O接口电路分别与输出单元、显示屏、控制按键连接。
2.根据权利要求1所述的高压开关测试仪校验装置，其特征是:所述的输入单元包括采样电路，所述的采样电路与交直流转换电路连接，所述的交直流转换电路与所述的A/D转换器连接。
3.一种高压开关测试仪校验装置的校验方法，其特征是:所述的将被检高压开关测试仪与测试仪校验装置端子对应相连，由所述的测试仪校验装置给出合、分闸时间，合、分闸同期性及弹跳时间等时间参数，同时记录被测高压开关测试仪各参数的显示值，即实现被测高压开关测试仪各参数的校准。
4.根据权利要求3所述的高压开关测试仪校验装置的校验方法，其特征是:所述的测试仪校验装置的输入信号经采样电路、AC/DC电路接入A/D转换电路，变为数字信号，然后经光电耦合器接入微处理器进行识别和运算，经微处理器处理、加工后的数据、信号以程序代码的形式分别传送到显示模块和输出单元；有显示器进行显示，有输出电路去控制被校高压开关特性测试仪的运行，进而自动完成校验工作。
【文档编号】G01R35/00GK103675746SQ201310711946
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年12月20日 优先权日:2013年12月20日
【发明者】关晓东, 张荣海 申请人:哈尔滨理大晟源科技开发有限公司