专利名称：采用cmos图像传感器的焦度计的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及光学仪器，具体涉及焦度计。
背景技术：
光学量的测量往往离不开图像传感器，因为图像传感器能够感受光学图像信息并转换成可用输出信号。焦度计多为一种镜片检测用光学仪器，可用于测量眼镜镜片的顶焦度和棱镜度，确定镜片的光学中心、轴位和打印标记，检查镜片是否正确安装在镜架等。焦度计多通过CO)图像传感器(Charge Coupled Device,电荷稱合元件)对待测镜片的测量。其实，图像传感器还包括一种CMOS图像传感器(Complementary Metal-OxideSemiconductor,金属氧化物半导体元件)，CMOS图像传感器与(XD图像传感器在技术上有较大的不同，但CXD和CMOS两者性能差距不是很大，只是CMOS图像传感器对光源的要求要高一些。但焦度计的光源可以满足CMOS图像传感器的要求，故可以将CMOS图像传感器应用到焦度计上，以降低成本。
实用新型内容本实用新型的目的在于，提供一种采用CMOS图像传感器的焦度计，以解决上述问题。本实用新型所解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现:采用CMOS图像传感器的焦度计，包括一可测量眼镜镜片的顶焦度和棱镜度的焦度计本体，所述焦度计本体设有一用于产生测量用光束的发射头，所述发射头朝向一用于承载眼镜镜片的镜片支座，所述镜片支座开有通光孔，所述通过孔下方设有一光信号接收处理装置；所述发射头发射出的测量用光束可穿过所述通光孔进入所述光信号接收处理装置，其特征在于，所述光信号接收处理装置设有一用于接收测量用光束的CMOS图像传感器，所述CMOS图像传感器的受光面朝向所述通光孔。与CXD图像传感器相比，CMOS图像传感器具有体积小，耗电量不到CCD图像传感器的1/10，售价也比CCD图像传感器便宜1/3的优点。焦度计采用CMOS图像传感器后，可以进一步降低成本。所述发射头内设有光源，所述光源包括一激光光源。所述光源与所述通光孔之间设有一准直镜，所述准直镜、所述CMOS图像传感器共光轴，所述准直镜位于所述发射头内。采用CMOS图像传感器的焦度计，还包括一用于测量眼镜镜片的紫外线透过率的紫外线透过率检测系统；所述紫外线透过率检测系统包括一紫外光源、一紫外线强度检测模块，所述紫外线强度检测模块包括一紫外光信号处理单元，所述紫外光信号处理单元连接一紫外线传感器，所述紫外线传感器的受光面朝向所述通光孔；[0013]所述紫外光源位于所述发射头内，所述紫外线强度检测模块位于所述光信号接收处理装置内。这样，紫外光源产生的紫外线透过率测量用光束，紫外线透过率测量用光束可以穿过所述通光孔进入紫外线传感器。紫外光信号处理单元根据紫外线传感器输出的信号，获得紫外线强度的测量值，通过紫外线强度的原始值和测量值比较分析获得紫外线透过率。所述紫外线传感器有复数个，复数个紫外线传感器构成一紫外线阵列，各紫外线传感器分别连接所述紫外光信号处理单元。通过紫外线阵列可以同时检测镜片不同位置处的紫外线透过率。也可以对镜架上的两个镜片进行同时检测。所述焦度计本体还包括一显示装置，所述显示装置设有一显示屏，所述光信号接收处理装置连接所述显示装置。
图1为本实用新型的一种结构示意图；图2为本实用新型的原理示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示进一步阐述本实用新型。参照图1和图2，采用CMOS图像传感器的焦度计，包括一可测量眼镜镜片的顶焦度和棱镜度的焦度计本体，一用于测量眼镜镜片的紫外线透过率的紫外线透过率检测系统。焦度计本体设有一用于产生测量用光束的发射头2。发射头2朝向一用于承载眼镜镜片的镜片支座3，镜片支座3开有通光孔，通过孔下方设有一光信号接收处理装置I。发射头2发射出的测量用光束可穿过通光孔进入光信号接收处理装置I。光信号接收处理装置I设有一用于接收测量用光束的CMOS图像传感器，CMOS图像传感器的受光面朝向通光孔。与CXD图像传感器相比，CMOS图像传感器具有体积小，耗电量不到CXD图像传感器的1/10，售价也比CXD图像传感器便宜1/3的优点。焦度计采用CMOS图像传感器后，可以进一步降低成本。发射头2内设有光源,光源包括一激光光源。光源与通光孔之间设有一准直镜，准直镜、CMOS图像传感器共光轴，准直镜位于发射头2内。紫外线透过率检测系统包括一紫外光源、一紫外线强度检测模块，紫外线强度检测模块包括一紫外光信号处理单元，紫外光信号处理单元连接一紫外线传感器，紫外线传感器的受光面朝向通光孔；紫外光源位于发射头2内，紫外线强度检测模块位于光信号接收处理装置I内。这样，紫外光源产生的紫外线透过率测量用光束，紫外线透过率测量用光束可以穿过通光孔进入紫外线传感器。紫外光信号处理单元根据紫外线传感器输出的信号，获得紫外线强度的测量值，通过紫外线强度的原始值和测量值比较分析获得紫外线透过率。波长为365纳米的紫外线最为常见且危害性较大，故紫外光源优选产生波长为365纳米的紫外线的紫外光源。紫外线传感器有复数个，复数个紫外线传感器构成一紫外线阵列，各紫外线传感器分别连接紫外光信号处理单元。通过紫外线阵列可以同时检测镜片不同位置处的紫外线透过率。也可以对镜架上的两个镜片进行同时检测。[0023]采用CMOS图像传感器的焦度计，还包括一显示装置4，显示装置4设有一显示屏，光信号接收处理装置I连接显示装置4。以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征以及本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
权利要求1.采用CMOS图像传感器的焦度计，包括一可测量眼镜镜片的顶焦度和棱镜度的焦度计本体，所述焦度计本体设有一用于产生测量用光束的发射头，所述发射头朝向一用于承载眼镜镜片的镜片支座，所述镜片支座开有通光孔，所述通过孔下方设有一光信号接收处理装置； 所述发射头发射出的测量用光束可穿过所述通光孔进入所述光信号接收处理装置，其特征在于，所述光信号接收处理装置设有一用于接收测量用光束的CMOS图像传感器，所述CMOS图像传感器的受光面朝向所述通光孔。
2.根据权利要求1所述的采用CMOS图像传感器的焦度计，其特征在于:所述发射头内设有光源，所述光源包括一激光光源。
3.根据权利要求2所述的采用CMOS图像传感器的焦度计，其特征在于:所述光源与所述通光孔之间设有一准直镜，所述准直镜、所述CMOS图像传感器共光轴，所述准直镜位于所述发射头内。
4.根据权利要求1、2或3所述的采用CMOS图像传感器的焦度计，其特征在于:还包括一用于测量眼镜镜片的紫外线透过率的紫外线透过率检测系统； 所述紫外线透过率检测系统包括一紫外光源、一紫外线强度检测模块，所述紫外线强度检测模块包括一紫外光信号处理单元，所述紫外光信号处理单元连接一紫外线传感器，所述紫外线传感器的受光面朝向所述通光孔； 所述紫外光源位于所述发射头内，所述紫外线强度检测模块位于所述光信号接收处理装置内。
5.根据权利要求4所述的采用CMOS图像传感器的焦度计，其特征在于:所述紫外线传感器有复数个，复数个紫外线传感器构成一紫外线阵列，各紫外线传感器分别连接所述紫外光信号处理单兀。
6.根据权利要求1、2或3所述的采用CMOS图像传感器的焦度计，其特征在于:所述焦度计本体还包括一显示装置，所述显示装置设有一显示屏，所述光信号接收处理装置连接所述显示装置。
专利摘要采用CMOS图像传感器的焦度计涉及焦度计，包括一焦度计本体，所述焦度计本体设有一发射头，所述发射头朝向一用于承载眼镜镜片的镜片支座，所述镜片支座开有通光孔，所述通过孔下方设有一光信号接收处理装置；所述发射头发射出的测量用光束可穿过所述通光孔进入所述光信号接收处理装置，所述光信号接收处理装置设有一用于接收测量用光束的CMOS图像传感器，所述CMOS图像传感器的受光面朝向所述通光孔。与CCD图像传感器相比，CMOS图像传感器具有体积小，耗电量不到CCD图像传感器的1/10，售价也比CCD图像传感器便宜1/3的优点。焦度计采用CMOS图像传感器后，可以进一步降低成本。
文档编号G01M11/02GK203069354SQ20132001613
公开日2013年7月17日 申请日期2013年1月11日 优先权日2013年1月11日
发明者黄福敬 申请人:上海嫦娥光学仪器科技有限公司