专利名称：片式薄膜电阻温度特性测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试装置，具体地说，涉及一种片式薄膜电阻温度特性测试
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背景技术：
片式薄膜电阻在制造过程中，需要在溅射和热处理后，测试产品的电阻温度特性。现有技术中，测试电阻温度特性测试的方法都必须将产品裂为单只产品，并焊接在实验板上进行。然而，如果对溅射和热处理后的片式薄膜电阻产品采用上述的测试方法，因为裂成单只后的产品无法进行溅射以后的工序，也就成为了废品，这无疑是一种极大的浪费。而如果等到产品完全进行完整个制造工序，再测试其电阻温度特性，又会浪费较多的时间。另外，采用传统的测试方法测试片式薄膜电阻产品的电阻温度特性的批次合格率很低，约为25%。
实用新型内容本实用新型的目的在于，提供一种片式薄膜电阻温度特性测试装置，以解决上述的技术问题。为解决上述问题，本实用新型所采用的技术方案是:一种片式薄膜电阻温度特性测试装置，其特征在于:包括一恒温预热平台和一电阻测试仪； 所述恒温预热平台包括一恒温箱、一固定在恒温箱顶部的底板和一设置在底板顶面上的恒温预热板；所述恒温箱的前端外壁上设置有操作面板，所述操作面板上设有电源开关、一号显示屏、二号显示屏和操作按键；从恒温箱内引出的电源线的末端上连接有电源插头；所述恒温箱内设有线路板、加热系统和温控系统，所述操作面板上的电源开关、一号显示屏、二号显示屏和操作按键，以及电源线、加热系统和温控系统都与线路板电连接；所述电阻测试仪包括一测试仪表、正极电阻测试笔和负极电阻测试笔，所述的正极电阻测试笔和负极电阻测试笔分别通过导线与插头相连接，插头插接在测试仪表上的插孔内。进一步地说，所述恒温箱的顶面上与所述底板的四个角相对应的位置分别固定有连接柱，所述底板的四个角分别通过螺钉固定在连接柱上。有益效果:与现有技术相比，采用本实用新型对片式薄膜电阻产品进行电阻温度特性测试，既能够不破坏片式薄膜电阻产品的完整性，又能在一定程度上对产品的电阻温度特性进行测试，如果产品的电阻温度特性满足要求，则可进行后面的工序直至成为成品，如果溅射和热处理后监测到产品的电阻温度特性不满足相关要求，则可对溅射条件和热处理条件进行改进，直至此批产品满足电阻温度特性能要求，然后再进行后续工序直至成为成品。这样一来，就在很大程度上减少了基片和其他材料的浪费，也在一定程度上监测了各工序对产品电阻温度特性的影响，产品的电阻温度特性批次合格率可达到90%以上。
图1为本实用新型所述恒温预热平台的结构示意图；图2为本实用新型所述电阻测试仪的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步说明。本实用新型所述的片式薄膜电阻温度特性测试装置，包括一恒温预热平台和一电阻测试仪。参照图1，所述恒温预热平台包括一恒温箱1、一固定在恒温箱I顶部的底板16和一设置在底板16顶面上的恒温预热板15。所述恒温箱I的顶面上与所述底板16的四个角相对应的位置分别固定有连接柱11，所述底板16的四个角分别通过螺钉12固定在连接柱11上。所述恒温箱I的前端外壁上设置有操作面板10，所述操作面板10上设有电源开关13、一号显示屏17、二号显示屏14和操作按键18，一号显示屏17用于显示设定温度，二号显示屏14用于显示实际温度。从恒温箱I内引出的电源线19的末端上连接有电源插头。所述恒温箱I内设有线路板、加热系统和温控系统。所述操作面板10上的电源开关13、一号显示屏17、二号显示屏14和操作按键18，以及电源线19、加热系统和温控系统都与线路板电连接。所述电阻测试仪包括一测试仪表2、正极电阻测试笔22和负极电阻测试笔23，所述的正极电阻测试笔22和负极电阻测试笔23分别通过导线与插头21相连接，插头21插接在测试仪表2上的插孔内。本实用新型的工作原理简述如下:1、将电源插头插接在电源插座上，通过电源开关13打开电源，设定目标温度(140 150°C )；2、通过恒温箱I对恒温预热板15进行加热，使恒温预热板15的表面温度达到12(T130°C，然后将待测的片式薄膜电阻置于恒温预热板15上；3、用电阻测试仪的正极电阻测试笔22和负极电阻测试笔23的笔尖分别充分接触待测片式薄膜电阻的两端电极；测试仪表2上的显示器将显示出待测片式薄膜电阻的电阻值，待读数稳定后，记录该电阻值，即为电阻器的阻值；4、利用电阻温度特性计算公式计算出电阻温度特性值，从而实现产品的电阻温度特性测试。
权利要求1.一种片式薄膜电阻温度特性测试装置，其特征在于:包括一恒温预热平台和一电阻测试仪； 所述恒温预热平台包括一恒温箱(I)、一固定在恒温箱(I)顶部的底板(16)和一设置在底板(16)顶面上的恒温预热板(15);所述恒温箱(I)的前端外壁上设置有操作面板(10)，所述操作面板(10)上设有电源开关(13)、一号显示屏(17)、二号显示屏(14)和操作按键(18);从恒温箱⑴内引出的电源线(19)的末端上连接有电源插头；所述恒温箱(I)内设有线路板、加热系统和温控系统，所述操作面板(10)上的电源开关(13)、一号显示屏(17)、二号显示屏(14)和操作按键(18)，以及电源线(19)、加热系统和温控系统都与线路板电连接； 所述电阻测试仪包括一测试仪表(2)、正极电阻测试笔(22)和负极电阻测试笔(23)，所述的正极电阻测试笔(22)和负极电阻测试笔(23)分别通过导线与插头(21)相连接，插头(21)插接在测试仪表(2)上的插孔内。
2.根据权利要求1所述的片式薄膜电阻温度特性测试装置，其特征在于:所述恒温箱(I)的顶面上与所述底板(16)的四个角相对应的位置分别固定有连接柱(11)，所述底板(16)的四个角分别通过 螺钉(12)固定在连接柱(11)上。
专利摘要本实用新型涉及一种测试装置，具体说，涉及一种片式薄膜电阻温度特性测试装置。包括一恒温预热平台和一电阻测试仪；所述恒温预热平台包括一恒温箱、一固定在恒温箱顶部的底板和一设置在底板顶面上的恒温预热板；所述恒温箱内设有线路板、加热系统和温控系统；所述电阻测试仪包括一测试仪表、正极电阻测试笔和负极电阻测试笔，所述的正极电阻测试笔和负极电阻测试笔分别通过导线与插头相连接，插头插接在测试仪表上的插孔内。采用本实用新型对片式薄膜电阻产品进行电阻温度特性测试，既能够不破坏片式薄膜电阻产品的完整性，又能在一定程度上对产品的电阻温度特性进行测试，减少了基片和其他材料的浪费，提高了产品的电阻温度特性批次合格率。
文档编号G01R31/00GK203164325SQ20132008629
公开日2013年8月28日 申请日期2013年2月2日 优先权日2013年2月2日
发明者张青, 李吉云, 韩玉成 申请人:中国振华集团云科电子有限公司