一种电子设备综合环境加速贮存试验装置制造方法
【专利摘要】一种电子设备综合环境加速贮存寿命试验装置，它包括温度湿度综合试验箱、控制微机和温湿测试仪三部分；该温度湿度综合试验箱，其箱壳外箱采用不锈钢板，内箱采用耐高低温不锈钢板，内箱与外箱形成的保温层采用高密度玻璃纤维棉或石棉板。该控制微机和温湿测试仪都选用常规型号；该装置具有稳定平衡的加热加湿能力，可进行高精确、高稳定的恒温恒湿控制；确保设备和人身的安全；设备温控控湿部分，采用可编程温湿度温控仪，可模拟高温高湿/高温低湿/低温高湿/高温/低温等不同的环境条件。基于可靠性增长模型的加速贮存寿命评估方法避免了加速模型的选择，主要针对步降应力加速寿命试验，对于组成及失效机理复杂的电子设备有较好的适应性。
【专利说明】一种电子设备综合环境加速贮存试验装置
【技术领域】
[0001]本实用新型提供一种电子设备综合环境加速贮存试验装置，属于电子设备及其寿命评估【技术领域】。
【背景技术】
[0002]可靠性增长试验通过有计划的激发失效、分析失效原因和改进设计，并证明改进措施的有效性以提高产品的可靠性。通过可靠性增长试验，将耐环境应力低的薄弱环节消除以使整个产品耐环境应力能力得到提高。
[0003]对步进应力加速寿命试验而言，在试验中对产品虽不采取改进措施，但却采取提高应力。显然，产品的可靠性不会提高反而降低；因此，若把采取提高应力级对应于对产品采取的改进措施，且在不考虑累积损伤的情况下，则“步进应力”加速试验就可以视为可靠性增长试验中的“负增长试验”。
[0004]对步降应力加速寿命试验而言，其试验方法把加速试验设计成与可靠性增长试验完全类同的试验。具体试验设计是先进行最高应力级试验，然后逐步降低，这样一来，对产品的纠正措施在此处成了降低应力级。显然，试验在起始时很容易出现故障，随着应力级的降低，其寿命或可靠性增长至“步进应力”初始时不出现故障，试验结束。该试验可以认为是定时截尾的可靠性增长试验。这样现已成熟的可靠性增长试验中的理论和分析方法就可以在步降应力加速寿命试验中应用，特别是在可靠性增长试验中广为应用的AMSAA(该模型是美国陆军装备系统分析中心Army Materiel Systems Analysis Activity提出，取首字母即为AMSAA)模型就可以用来分析目前国内外正在开展的此类加速试验。
[0005]对于产品上电子设备而言，其贮存时间长且故障发生率低，失效机理多种多样，研究技术难度大。将目前国内外均已成熟的针对元器件级的加速试验方法以及基于加速模型的评估方法套用在电子设备上并不合适，而且随着科学技术的发展，产品上的电子设备也越来越多，电子设备的贮存寿命对于产品的C存寿命影响甚大。产品上电子设备贮存寿命的研究对整个产品的贮存有着重大的意义。为了能够准确评估电子设备的贮存寿命，必须将其在贮存期内所经历的环境条件均考虑在内，因此综合环境加速贮存试验方法及其加速贮存寿命试验装置研究亟待解决。
【发明内容】
[0006](I)目的:
[0007]本实用新型的目的是提供一种综合环境加速贮存试验装置，以能够准确评估电子设备的贮存寿命，并在此基础上为解决国内外均已成熟的针对元器件级的加速试验方法以及基于加速模型的评估方法套用在电子设备上并不合适问题提供一种技术问题解决的手段和途径。
[0008](2)技术方案:
[0009]一种电子设备综合环境加速贮存试验装置，其特征在于:它包括温度湿度综合试验箱、控制微机和温湿测试仪三部分；
[0010]所述的温度湿度综合试验箱，其由不锈钢板制成的内箱与外箱之间形成保温层；该温度湿度综合试验箱前面箱门为单门设计，从右向左开启，箱门与箱体间采用双层耐高温张性密封条，箱门上设有一个观察窗，观察窗口内安装节能照明窗口灯；该温度湿度综合试验箱的左上侧设有两个引孔，底部采用固定式活动轮；该温度湿度综合试验箱的控制系统采用进口数显触摸按键、P.1.D微电脑和S.S.R温度控制器，该温度湿度综合试验箱的测温体为温湿度一体传感器；该温度湿度综合试验箱的顶部设有鼓风机，鼓风机附带一个电机罩；该温度湿度综合试验箱的测试区内设有两个挂条，附有不锈钢可调式活动盘样品架两只；该温度湿度综合试验箱内设有加热系统，由固态继电器，加热管组成；该温度湿度试验箱箱体前侧的下部设有补水箱，该补水箱是外拉式水箱的设计；补水箱内有水位控制器，补水箱底部嵌有加湿加热棒；压缩机安装在箱体前侧下部，位于补水箱右侧，通过电磁阀与补水箱相连接；补水箱内水汽通过连接软管与三层过滤系统相连，三层过滤系统末端与试验箱工作空间连接，连接处嵌套不锈钢加湿器；以上所述补水箱、不锈钢加湿器、加湿加热棒、水位控制器、电磁阀、三层过滤系统、连接软管、压缩机组成温度湿度综合试验箱加湿系统；
[0011]其中，所述的控制微机和温湿测试仪都选用常规型号；控制微机与温湿测试仪独立于综合环境加速贮存试验箱外，控制微机通过电源线以及采集卡与综合环境加速贮存试验箱相连接，温湿测试仪通过自带线与控制微机以及综合环境加速贮存试验箱相连接；设备与墙壁之间应预留空间。
[0012]其中，所述的温度湿度综合试验箱，其箱壳外箱尺寸为130X160X 180cm;内箱尺寸为 100 X 100 X IOOcm0
[0013]其中，所述的该温度湿度综合试验箱的左上侧所设的两个引孔，其直径为40mm。
[0014]其中，所述的该温度湿度试验箱箱体前侧的下部所设的补水箱，其容积为20升。
[0015]2.一种电子设备综合环境加速贮存寿命的评估方法，该方法具体步骤如下:
[0016]电子设备在其完整的贮存期内遇到的环境应力不止一种，且并且其失效机理难以研究清楚，为避免采用基于加速模型的加速贮存寿命评估方法，结合电子设备贮存时间长且故障发生率低的特点，本实用新型主要利用步退应力加载方式的加速试验与可靠性增长试验的等同性，采用基于可靠性增长的加速贮存寿命评估方法对电子设备进行加速贮存寿命的评估，其评估流程如图5所示。按照评估流程图5进行综合环境加速贮存寿命评估。
[0017]步骤一:结合AMSAA模型，采用拉普拉斯法进行电子设备的增长趋势检验，建立增长趋势检验统计量μ，根据得到的P值与给定显著水平α下的增长趋势检验统计量μ的临界值μ α/2表查到的值进行对比，则可以检验电子设备在试验中可靠性是否增长；根据GJB1407中规定，对AMSAA模型中参数a，b进行估计；
[0018]步骤二:进行拟合优度检验，看是否拒绝AMSAA模型；根据构造的拟合优度检验统计量，结合选定的拟合优度检验的显著水平，通过查阅相关表中相关参数对应的检验统计量的临界值，判断接受还是拒绝AMSAA模型；
[0019]步骤三:如果当拟合优度检验接受AMSAA模型时，则推导出基于AMSAA模型的理想步退加速模型；计算电子设备的累积失效率，求出瞬时平均故障间隔时间(瞬时MTBF)，在此基础上求出累积平均故障间隔时间(累积MTBF)。将最高应力等级下的MTBF以及试验时间纳入瞬时MTBF得到理想加速模型，将累积MTBF纳入得到其累积理想步降加速模型；
[0020]步骤四:计算出基于AMSAA模型的加速因子；基于AMSAA模型的加速系数使用正常应力等级下的MTBF与不同应力等级下的平均故障间隔时间(MTBF)的比值得到加速应力水平相对于正常应力水平的加速系数；
[0021]步骤五:通过加速因子以及理想加速模型推导正常应力下的试验时间并在此基础上对电子设备进行基于AMSAA模型的加速贮存寿命评估；由步骤一得到AMSAA模型中相关参数b的估计值，求出得到正常应力下的试验时间，最后结合正常应力下的试验时间和步骤三中推导出的理想步退加速模型，得到正常应力下的平均故障间隔时间(MTBF)。
[0022]其中:在步骤一中所述的“采用拉普拉斯法进行电子设备的增长趋势检验”是指对k个电子设备进行定时截尾试验，所述定时截尾试验是指试验进行到预定的累积试验时间T时k个电子设备同时终止试验，得到的η个累积失效时间为0〈tn〈ti2〈…<tini ( T，
i=l, 2，…，k,其中A+ny+nj^N为总失效数；建立检验统计量为
【权利要求】
1.一种电子设备综合环境加速贮存试验装置，其特征在于:它包括温度湿度综合试验箱、控制微机和温湿测试仪三部分； 所述的温度湿度综合试验箱，其由不锈钢板制成的内箱与外箱之间形成保温层；该温度湿度综合试验箱前面箱门为单门设计，从右向左开启，箱门与箱体间采用双层耐高温张性密封条，箱门上设有一个观察窗，观察窗口内安装节能照明窗口灯；该温度湿度综合试验箱的左上侧设有两个引孔，底部采用固定式活动轮；该温度湿度综合试验箱的控制系统采用进口数显触摸按键、P.1.D微电脑和S.S.R温度控制器，该温度湿度综合试验箱的测温体为温湿度一体传感器；该温度湿度综合试验箱的顶部设有鼓风机，鼓风机附带一个电机罩；该温度湿度综合试验箱的测试区内设有两个挂条，附有不锈钢可调式活动盘样品架两只；该温度湿度综合试验箱内设有加热系统，由固态继电器，加热管组成；该温度湿度试验箱箱体前侧的下部设有补水箱，该补水箱是外拉式水箱的设计；补水箱内有水位控制器，补水箱底部嵌有加湿加热棒；压缩机安装在箱体前侧下部，位于补水箱右侧，通过电磁阀与补水箱相连接；补水箱内水汽通过连接软管与三层过滤系统相连，三层过滤系统末端与试验箱工作空间连接，连接处嵌套不锈钢加湿器；以上所述补水箱、不锈钢加湿器、加湿加热棒、水位控制器、电磁阀、三层过滤系统、连接软管、压缩机组成温度湿度综合试验箱加湿系统； 其中，所述的控制微机和温湿测试仪都选用常规型号；控制微机与温湿测试仪独立于综合环境加速贮存试验箱外，控制微机通过电源线以及采集卡与综合环境加速贮存试验箱相连接，温湿测试仪通过自带线与控制微机以及综合环境加速贮存试验箱相连接；设备与墙壁之间应预留空间。
2.根据权利要求1所述的一种电子设备综合环境加速贮存试验装置，其特征在于:所述的温度湿度综合试验箱，其箱壳外箱尺寸为130X160X180cm;内箱尺寸为100X100X100cm。
3.根据权利要求1所述的一种电子设备综合环境加速贮存试验装置，其特征在于:所述的该温度湿度综合试验箱的左上侧所设的两个引孔，其直径为40mm。
4.根据权利要求1所述的一种电子设备综合环境加速贮存试验装置，其特征在于:所述的该温度湿度试验箱箱体前侧的下部所设的补水箱，其容积为20升。
【文档编号】G01R31/00GK203479923SQ201320398054
【公开日】2014年3月12日 申请日期:2013年7月5日 优先权日:2013年7月5日
【发明者】姚军, 苏泉, 徐明鸽 申请人:北京航空航天大学