岩体样本精确粒度研磨装置制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种岩体样本精确粒度研磨装置，包括壳体以及与壳体配装的上盖，还包括设于壳体内的研磨机构，驱动研磨机构工作的驱动装置以及设于研磨机构外部的筛选装置；所述筛选装置包括网筛罩，所述网筛罩的底端连接网筛座，所述网筛座与壳体底口活动连接，该装置可以实现更精确的筛选，保证岩体样本颗粒大小达到要求后可及时分选出来，防止继续研磨产生的高温破坏岩体样本中的有机质，不影响实验结果的精确性，节省了人力和物力。
【专利说明】岩体样本精确粒度研磨装置【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种在岩体分析实验中用于精确研磨岩体样本的仪器，尤其是一种岩体样本精确粒度研磨装置，属实验仪器领域。
【背景技术】
[0002]岩体样本粒度研磨机是一种在岩体分析实验中用于研磨岩体样本颗粒的仪器，但是由于现有的岩体样本粒度研磨机在研磨岩体样本时无法精确的筛选，颗粒大小经过研磨达到要求后不能及时分选出来而继续参与研磨，研磨过程中产生的高温会破坏岩体样本中的有机质，从而对实验结构产生影响，并且浪费了人力和时间。
实用新型内容[0003]为了解决上述问题，本实用新型提出了一种岩体样本精确粒度研磨装置，它可以实现更精确的筛选，保证岩体样本颗粒大小达到要求后可及时分选出来，防止继续研磨产生的高温破坏岩体样本中的有机质,节省了人力和物力。
[0004]本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是:一种岩体样本精确粒度研磨装置，包括壳体以及与壳体配装的上盖，还包括设于壳体内的研磨机构，驱动研磨机构工作的驱动装置以及设于研磨机构外部的筛选装置；所述筛选装置包括网筛罩，所述网筛罩的底端连接网筛座，所述网筛座与壳体底口活动连接。
[0005]所述网筛座对应网筛罩的底口部位为密封结构。
[0006]当筛选装置与壳体连接时，所述网筛罩的顶端与上盖紧密相抵。
[0007]所述网筛罩和网筛座上的网孔大小相同。
[0008]所述研磨机构包括刀具，所述刀具安装于一刀轴上；所述刀具由周向均布在刀轴上的多片刀片组成。
[0009]所述驱动装置为一电机，所述电机设于上盖内，所述电机的输出轴与刀轴连接。
[0010]所述壳体的底口和网筛座的外周对应设有螺纹结构，两者旋转连接。
[0011]所述壳体的底口和网筛座的外周对应设有卡扣装置，两者弹性卡接。
[0012]该装置设有支架，能够支承在壳体的外部。
[0013]该装置的下部对应壳体的底口设有颗粒收集器。
[0014]本实用新型的有益效果是:一种岩体样本精确粒度研磨装置，它可以实现更精确的筛选，保证岩体样本颗粒大小达到要求后可及时分选出来，防止继续研磨产生的高温破坏岩体样本中的有机质，不影响实验结果的精确性，节省了人力和物力。
【专利附图】
【附图说明】
[0015]下面结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明。
[0016]附图1为一种岩体样本精确粒度研磨装置的结构示意图。
[0017]图中，1.电机，2.上盖，3.网筛罩，4.壳体，5.刀轴，6.支架，7.网筛座，8.刀具，9.颗粒收集器。
【具体实施方式】
[0018]在附图中，一种岩体样本精确粒度研磨装置，包括壳体4以及与壳体4配装的上盖2，还包括设于壳体4内的研磨机构，驱动研磨机构工作的驱动装置以及设于研磨机构外部的筛选装置；所述筛选装置包括网筛罩3，所述网筛罩3的底端连接网筛座7，所述网筛座7与壳体4底口活动连接。
[0019]所述网筛座7对应网筛罩3的底口部位为密封结构。
[0020]当筛选装置与壳体4连接时，所述网筛罩3的顶端与上盖2紧密相抵。
[0021]所述网筛罩3和网筛座7上的网孔大小相同。
[0022]所述研磨机构包括刀具8,所述刀具8安装于一刀轴5上；所述刀具8由周向均布在刀轴5上的多片刀片组成。
[0023]所述驱动装置为一电机1，所述电机I设于上盖2内，所述电机I的输出轴与刀轴5连接。
[0024]所述壳体4的底口和网筛座7的外周对应设有螺纹结构，两者旋转连接。
[0025]所述壳体4的底口和网筛座的外周对应设有卡扣装置，两者弹性卡接。
[0026]该装置设有支架6，能够支承在壳体4的外部。
[0027]该装置的下部对应壳体4的底口设有颗粒收集器9。
[0028]使用时，将壳体4安装于支架6上；根据实验对岩样颗粒大小的需求，确定网筛孔径的大小，从而选取合适的筛选装置，并将筛选装置与壳体4连接；向筛选装置内装入待研磨岩样，并将刀具8置于网筛罩3内，此时上盖2与壳体4密封,按动电机I开关，使刀具8旋转研磨岩样；一旦有符合所要求的粒径大小的岩样颗粒，即会及时从网筛罩3飞出，并通过网筛座7上的筛网孔落入颗粒收集器10内，防止继续研磨的过程中产生高温破坏岩样颗粒中的有机质，而网筛罩3底端密封的设计，可防止刀具8转动中产生的风力将颗粒收集器10内的颗粒吹散。
【权利要求】
1.一种岩体样本精确粒度研磨装置，包括壳体(4)以及与壳体(4)配装的上盖(2)，其特征是，还包括设于壳体(4)内的研磨机构，驱动研磨机构工作的驱动装置以及设于研磨机构外部的筛选装置；所述筛选装置包括网筛罩(3)，所述网筛罩(3)的底端连接网筛座(7)，所述网筛座(7)与壳体(4)底口活动连接。
2.根据权利要求1所述一种岩体样本精确粒度研磨装置，其特征是，所述网筛座(7)对应网筛罩(3)的底口部位为密封结构。
3.根据权利要求1或2所述一种岩体样本精确粒度研磨装置，其特征是，当筛选装置与壳体(4)连接时，所述网筛罩(3)的顶端与上盖(2)紧密相抵。
4.根据权利要求1或2所述一种岩体样本精确粒度研磨装置，其特征是，所述网筛罩(3)和网筛座(7)上的网孔大小相同。
5.根据权利要求1所述一种岩体样本精确粒度研磨装置，其特征是，所述研磨机构包括刀具(8)，所述刀具(8)安装于一刀轴(5)上；所述刀具(8)由周向均布在刀轴(5)上的多片刀片组成。
6.根据权利要求1所述一种岩体样本精确粒度研磨装置，其特征是，所述驱动装置为一电机(I)，所述电机(I)设于上盖(2)内，所述电机(I)的输出轴与刀轴(5)连接。
7.根据权利要求1所述一种岩体样本精确粒度研磨装置，其特征是，所述壳体(4)的底口和网筛座(7 )的外周对应设有螺纹结构，两者旋转连接。
8.根据权利要求1所述一种岩体样本精确粒度研磨装置，其特征是，所述壳体(4)的底口和网筛座的外周对应设有卡扣装置，两者弹性卡接。
9.根据权利要求1所述一种岩体样本精确粒度研磨装置，其特征是，该装置设有支架(6)，能够支承在壳体(4)的外部。
10.根据权利要求1所述一种岩体样本精确粒度研磨装置，其特征是，该装置的下部对应壳体(4)的底口设有颗粒收集器(9)。
【文档编号】G01N1/28GK203551352SQ201320656996
【公开日】2014年4月16日 申请日期:2013年10月24日 优先权日:2013年10月24日
【发明者】冯钰 , 周豪, 王健臣, 张建辉, 徐梦林 申请人:中国矿业大学