深孔扫描规结构的制作方法

文档序号:6205776阅读:319来源:国知局
深孔扫描规结构的制作方法
【专利摘要】本实用新型提供了一种深孔扫描规结构,可以简单地对小孔径深孔的跳动度进行检测,大大提高了检测效率和检测质量,其包括扫描规规体,所述扫描规规体内设置有传感器,所述扫描规规体内设置有测量杆,所述测量杆一端连接所述传感器,所述测量杆另一端连接活动测量头,其特征在于:所述测量杆通过斜面连接所述测量头,所述测量头通过压簧连接所述测量杆,所述测量头绕所述扫描规规体在一定角度里摆动,所述测量头上设置有凹槽,所述凹槽上设置有球形测量球。
【专利说明】深孔扫描规结构
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及测量检验工具的【技术领域】,具体为一种深孔扫描规结构。
【背景技术】
[0002]在对有一端开口的小孔径孔的跳动进行检测时,要对孔内两侧进行检测,由于孔径较小而且孔较深,普通的方法和设备对小孔径深孔的跳动度的检测较为困难,影响了小孔径深孔的检测质量和检测效率。

【发明内容】

[0003]针对上述问题,本实用新型提供了一种深孔扫描规结构,可以简单地对小孔径深孔的跳动度进行检测,大大提高了检测效率和检测质量。
[0004]其技术方案是这样的:一种深孔扫描规结构,其包括扫描规规体,所述扫描规规体内设置有传感器,所述扫描规规体内设置有测量杆,所述测量杆一端连接所述传感器,所述测量杆另一端连接活动测量头,其特征在于:所述测量杆通过斜面连接所述测量头,所述测量头通过压簧连接所述测量杆,所述测量头绕所述扫描规规体在一定角度里摆动,所述测量头上设置有凹槽,所述凹槽上设置有球形测量球。
[0005]其进一步特征在于:所述测量头通过销轴连接所述扫描规规体;所述斜面呈45度角;所述扫描规规体上对应所述测量杆设置有限位孔,所述限位孔上设置有限位螺栓,测量杆上设置有与限位螺栓配合的限位长槽,限位长槽的长度大于限位螺栓的直径。
[0006]本实用新型的上述结构中,测量杆通过斜面连接测量头,活动测量头通过压簧连接所述测量杆,测量头绕扫描规规体在一定角度里摆动,所述测量头上设置有凹槽,所述凹槽上设置有球形测量球,通过弹簧压迫测量头,测量头上的球形测量球紧贴孔内壁,扫描规规体旋转,测量球把孔内壁的跳动通过测量杆上的斜面传递给传感器,可以简单地对小孔径深孔的跳动度进行检测,大大提高了检测效率和检测质量。
【专利附图】

【附图说明】
[0007]图1为本实用新型深孔扫描规结构的主视结构图。
【具体实施方式】
[0008]见图1, 一种深孔扫描规结构,其包括扫描规规体I,扫描规规体I内设置有传感器2,扫描规规体I内设置有测量杆3,测量杆3 —端连接传感器2,测量杆3另一端过斜面连接活动测量头4,测量杆斜面呈45度角,测量头4通过销轴5连接扫描规规体1,测量头4通过压簧6连接测量杆3,测量头4绕扫描规规体I在一定角度里摆动,测量头4上设置有凹槽5,凹槽上设置有球形测量球7。
[0009]扫描规规体I上对应测量杆3设置有限位孔8,限位孔8上设置有限位螺栓9,测量杆3上设置有与限位螺栓9配合的限位长槽10,限位长槽10的长度大于限位螺栓9的直径,保证了测量杆3稳定地上下运动。
【权利要求】
1.一种深孔扫描规结构,其包括扫描规规体,所述扫描规规体内设置有传感器,所述扫描规规体内设置有测量杆,所述测量杆一端连接所述传感器,所述测量杆另一端连接活动测量头,其特征在于:所述测量杆通过斜面连接所述测量头,所述测量头通过压簧连接所述测量杆,所述测量头绕所述扫描规规体在一定角度里摆动,所述测量头上设置有凹槽,所述凹槽上设置有球形测量球。
2.根据权利要求1所述的一种深孔扫描规结构,其特征在于:所述测量头通过销轴连接所述扫描规规体。
3.根据权利要求1所述的一种深孔扫描规结构,其特征在于:所述斜面呈45度角。
4.根据权利要求1-3任何所述的一种深孔扫描规结构,其特征在于:所述扫描规规体上对应所述测量杆设置有限位孔,所述限位孔上设置有限位螺栓,测量杆上设置有与限位螺栓配合的限位长槽,限位长槽的长度大于限位螺栓的直径。
【文档编号】G01B21/00GK203572458SQ201320720989
【公开日】2014年4月30日 申请日期:2013年11月13日 优先权日:2013年11月13日
【发明者】蒋新芬 申请人:无锡麦铁精密机械制造有限公司
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