应用级联双包层光纤测量光纤非线性折射率系数装置制造方法
【专利摘要】本发明涉及一种应用级联双包层光纤测量光纤非线性折射率系数装置，包括信号光源、泵浦光源、波分复用器、单模光纤、双包层光纤、待测光纤和光谱仪；所述信号光源和泵浦光源分别通过单模光纤跳线连接波分复用器，所述待测光纤两端连接双包层光纤的一端，所述两个双包层光纤的另一端分别连接单模光纤，所述一个单模光纤通过单模光纤跳线连接波分复用器，另一个单模光纤通过单模光纤跳线连接光谱仪。本发明具有结构简单，易于集成，测量方便，灵敏度高，成本低廉等特点，可实现对掺杂光纤非线性折射率系数的测量。
【专利说明】应用级联双包层光纤测量光纤非线性折射率系数装置
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种应用级联双包层光纤测量光纤非线性折射率系数装置。
【背景技术】
[0002]近年来，光纤非线性效应应用越来越广泛，为了更好地发展光纤非线性设备，需要精确测量光纤非线性折射率系数。目前的测量方法，主要是基于Mach-Zehnder干涉仪来测量，主要有级联长周期光栅，级联热膨胀光纤，利用双芯光纤等方法，但是这些测量装置大都制作困难，结构复杂，价格较高。
【发明内容】
[0003]针对现有技术存在的缺陷，本发明的目的在于提供一种应用级联双包层光纤测量光纤非线性折射率系数装置，具有简结构简单，易于集成，测量方便，高灵敏度等特点。
[0004]为达到上述目的，本发明采用下述技术方案:
一种应用级联双包层光纤测量光纤非线性折射率系数装置，包括信号光源、泵浦光源、波分复用器、单模光纤、双包层光纤、待测光纤和光谱仪；所述信号光源和泵浦光源分别通过单模光纤跳线连接波分复用器，所述待测光纤两端连接双包层光纤的一端，所述两个双包层光纤的另一端分别连接单模光纤，所述一个单模光纤通过单模光纤跳线连接波分复用器，另一个单模光纤通过单模光纤跳线连接光谱仪。
[0005]本发明与现有技术相比较，具有如下显而易见的突出实质性特点和显著优点: 本发明基于双包层光纤，级联双包层光纤构成Mach-Zehnder干涉仪来测量光纤非线
性折射率系数，由于双包层光纤可利用传统的化学气相沉积法制作，可以降低费用，另外双包层光纤对外界环境(温度，压力等)敏感，这些优点使得这套测量装置结构简单，易于集成，测量方便，灵敏度高，成本低廉。
【专利附图】
【附图说明】
[0006]图1是本发明装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0007]本发明的实施例结合附图详述如下:
如图1所示，一种应用级联双包层光纤测量光纤非线性折射率系数装置，包括信号光源1、泵浦光源2、波分复用器3、单模光纤4、双包层光纤5、待测光纤6和光谱仪7 ;所述信号光源I和泵浦光源2分别通过单模光纤跳线连接波分复用器3，所述待测光纤6两端连接双包层光纤5的一端，所述两个双包层光纤5的另一端分别连接单模光纤4，所述一个单模光纤4通过单模光纤跳线连接波分复用器3，另一个单模光纤4通过单模光纤跳线连接光谱仪7。
[0008]本装置的操作原理如下:改变泵浦光源2光功率，光谱仪7测得的干涉条纹会发生漂移，通过测量干涉谱中谐振峰的漂移量Λ』，根据公式
【权利要求】
1.一种应用级联双包层光纤测量光纤非线性折射率系数装置，其特征在于，包括信号光源(I)、泵浦光源(2)、波分复用器(3)、单模光纤(4)、双包层光纤(5)、待测光纤(6)和光谱仪(7);所述信号光源(I)和泵浦光源(2)分别通过单模光纤跳线连接波分复用器(3)，所述待测光纤(6)两端连接双包层光纤(5)的一端，所述两个双包层光纤(5)的另一端分别连接单模光纤(4)，所述一个单模光纤(4)通过单模光纤跳线连接波分复用器(3)，另一个单模光纤(4 )通过单模光纤跳 线连接光谱仪(7 )。
【文档编号】G01M11/02GK103900796SQ201410107238
【公开日】2014年7月2日 申请日期:2014年3月21日 优先权日:2014年3月21日
【发明者】陈娜, 陈振宜, 孔晓辉, 石庆鹏, 商亚娜, 庞拂飞, 王廷云 申请人:上海大学