测试过程中的芯片检测方法及系统的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种测试过程中的芯片检测方法及系统。本发明实施例检测装置建立与芯片之间的连接；检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。本发明实施例可防止因不同批次的芯片的性能差异而造成使用该芯片的成品的性能差异。另外，本发明实施例不需使用高精度的内部振荡器也不需要改变内部振荡器的电路结构，有利于降低成本。
【专利说明】测试过程中的芯片检测方法及系统
【技术领域】
[0001]本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及测试过程中的芯片检测方法及系统。
【背景技术】
[0002]芯片中的时钟信号包括两种来源:外部振荡器、内部振荡器。外部振荡器的信号精度高、成本高、体积大，而内部振荡器精度低、成本低、体积小。
[0003]对于使用内部振荡器的芯片，由于制造工艺的不稳定，工作环境的差异等原因，在大规模生产该芯片的过程中，其内部振荡器产生的时钟频率会漂移，时钟精度因此不符合要求，而内部振荡器的时钟频率会直接影响芯片的性能，造成不同批次的产品性能出现差异，因此，在芯片大规模生产中，其内部振荡器时钟频率不符合要求，从而造成各批次芯片的性能差异的问题亟待解决。
[0004]上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。
【发明内容】
[0005]本发明的主要目的在于提供测试过程中的芯片检测方法及系统，旨在在检测过程中，对芯片的内部振荡器的时钟频率进行检测，以防止内部振荡器的时钟频率不符合要求从而造成各批次芯片的性能差异。
[0006]为实现上述目的，本发明实施例提供的测试过程中的芯片检测方法，包括以下步骤:
[0007]检测装置建立与芯片之间的连接；
[0008]检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；
[0009]检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。
[0010]优选地，所述检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率的步骤包括:
[0011]检测装置利用所述外部基准时间信号进行计时得到时间值；
[0012]检测装置接收芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值；
[0013]检测装置根据所述时间值和所述计数值，获取所述振荡器的时钟频率。
[0014]优选地，所述芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值，将所述计数值发送至检测装置的步骤包括:
[0015]芯片在检测到所述外部基准时间信号发生第一次变化时，开始对振荡器输出的时钟信号进行计数；
[0016]芯片在检测到所述外部基准时间信号发生第二次变化时，停止对振荡器输出的时钟信号进行计数，输出所述计数值至检测装置。[0017]优选地，所述检测装置发送外部基准时间信号至芯片，并利用外部基准时间信号进行计时得到时间值的步骤包括:
[0018]检测装置控制所述外部基准时间信号发生第一次变化，并开始计时；
[0019]检测装置控制所述外部基准时间信号发生第二次变化，并停止计时且得到所述时间值。
[0020]优选地，所述检测装置建立与芯片之间的连接的步骤之后包括:
[0021]检测装置获取外部时钟信号源发出的高精度的所述外部基准时间信号，并将所述外部基准时间信号提供给芯片。
[0022]本发明实施例进一步提供的测试过程中的芯片检测系统，包括检测装置，所述检测装置用于:
[0023]建立与芯片之间的连接；
[0024]在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；
[0025]判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。
[0026]优选地，所述检测装置还用于:
[0027]利用所述外部基准时间信号进行计时得到时间值；
[0028]接收芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值；
[0029]根据所述时间值和所述计数值，获取所述振荡器的时钟频率。
[0030]优选地，所述系统还包括芯片，所述芯片用于:
[0031]在检测到所述外部基准时间信号发生第一次变化时，开始对振荡器输出的时钟信号进行计数；
[0032]在检测到所述外部基准时间信号发生第二次变化时，停止对振荡器输出的时钟信号进行计数，输出所述计数值至检测装置。
[0033]优选地，所述检测装置还用于:
[0034]控制所述外部基准时间信号发生第一次变化，并开始计时；
[0035]控制所述外部基准时间信号发生第二次变化，并停止计时且得到所述时间值。
[0036]优选地，所述检测装置还用于:
[0037]获取外部基准时钟信号源发出的高精度的所述外部时钟信号，并将所述外部基准时钟信号提供给芯片。
[0038]本发明实施例检测装置建立与芯片之间的连接；检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。本发明实施例在测试使用芯片的成品的过程中，利用外部检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，对于振荡器的时钟频率不在预设频率范围内的芯片，即不符合要求的芯片，将其振荡器的时钟频率的频率参数进行调整，从而防止不同批次的芯片的性能差异而造成使用该芯片的成品的性能差异。另外，本发明实施例不需使用高精度的内部振荡器也不需要改变内部振荡器的电路结构，有利于降低成本。【专利附图】
【附图说明】
[0039]图1为本发明测试过程中的芯片检测方法第一实施例的流程示意图；
[0040]图2为本发明测试过程中的芯片检测方法第二实施例的流程示意图；
[0041]图3为图2测试过程中的芯片检测方法中外部基准时间信号和振荡器输出的时钟信号的波形示意图；
[0042]图4为本发明测试过程中的芯片检测系统一实施例的功能模块示意图。
[0043]本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
【具体实施方式】
[0044]应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
[0045]本发明提供一种测试过程中的芯片检测方法。
[0046]参照图1，图1为本发明测试过程中的芯片检测方法第一实施例的流程示意图。
[0047]在所述方法的第一实施例中，包括以下步骤:
[0048]步骤SOl，检测装置建立与芯片之间的连接；
[0049]步骤S02，检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；
[0050]在对使用芯片的成品进行测试的过程中，对芯片进行检测。首先，检测装置建立与芯片之间的连接，检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率，例如，检测装置对外部基准时间信号进行计数，同时对振荡器输出的时钟信号进行计数，在一段相同的时间内，得到外部基准时间信号的第一计数值和振荡器输出的时钟信号的第二计数值，外部基准时间信号的频率与振荡器输出的时钟信号的频率的比值为第一比值，第一计数值和振荡器输出的时钟信号的比值为第二比值，且第一比值与第二比值相等，其中外部基准时间信号的频率是已知的也是固定的，因此，可以计算得到振荡器输出的时钟信号的频率即振荡器的时钟频率。根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率的方法还可以是利用外部基准时间进行计时，同时对振荡器输出的时钟信号进行计数，根据得到的计时值和计数值计算振荡器的时钟频率。
[0051]步骤S03，检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内；
[0052]步骤S04，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内；若是，则停止执行。
[0053]检测装置根据获取的振荡器的时钟频率，判断振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内。其中预设频率范围是检测装置基于预设频率范围的历史数据设置的，或者是检测装置基于用户侧技术人员触发的设置指令设置的。
[0054]检测装置在判定振荡器的时钟频率不在预设频率范围内时，则调整时钟频率的频率参数，频率参数是指决定振荡器的时钟频率的参数。在对时钟频率的频率参数进行调整之后，将调整后的频率参数存储在芯片内，在判定振荡器的时钟频率在预设频率范围内时，则停止执行后续步骤。
[0055]芯片在每次被使用时，如芯片插接在电脑上时，芯片读取存储的调整后的频率参数，并基于频率参数并根据读取的频率参数配置振荡器的时钟频率。此时，振荡器的时钟频率在预设频率范围内。[0056]需要注意的是，调整后的频率参数存储在芯片中，如果不再改变频率参数，那么芯片在每次被使用时，配置的振荡器的时钟频率也不再改变。
[0057]本实施例检测装置建立与芯片之间的连接；检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。本实施例在测试使用芯片的成品的过程中，利用外部检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，对于振荡器的时钟频率不在预设频率范围内的芯片，即不符合要求的芯片，将其振荡器的时钟频率的频率参数进行调整，从而防止因不同批次的芯片的性能差异而造成使用该芯片的成品的性能差异。另外，本实施例不需使用高精度的内部振荡器也不需要改变内部振荡器的电路结构，有利于降低成本。
[0058]请再次参照图1，本发明一优选实施例中，所述检测装置建立与芯片之间的连接的步骤之后包括:
[0059]检测装置获取外部时钟信号源发出的高精度的所述外部基准时钟信号，并将所述外部基准时钟信号提供给芯片。
[0060]外部基准时间信号为与检测装置通信连接的时钟信号源发出的高精度时钟信号。检测装置获取外部时钟信号源发出的高精度的所述时钟信号，并提供给芯片，执行这一步骤之后，检测装置和芯片都获得了外部基准时钟信号。
[0061]由于振荡器的时钟频率是基于外部基准时间信号获取的，因此，外部基准时间信号的精度决定了获取的振荡器的时钟频率的准确性，外部基准时间信号的精度越高，获取的振荡器的时钟频率就越准确。另外，外部基准时间信号也可以是一段已知时长的时钟信号。
[0062]参照图2，图2为本发明测试过程中的芯片检测方法第二实施例的流程示意图。
[0063]在所述方法的第二实施例中，本实施例与第一实施例的区别在于，本实施例在第一实施例的基础上，所述检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率的步骤包括:
[0064]步骤S21，检测装置利用所述外部基准时间信号进行计时得到时间值；
[0065]步骤S22，检测装置接收芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值；
[0066]步骤S23，检测装置根据所述时间值和所述计数值，获取所述振荡器的时钟频率。
[0067]检测装置利用外部基准时间信号进行计时得到时间值，同时芯片对振荡器输出的时钟信号进行计数，经历一段时间后，检测装置可设置计时的时间，自动停止计时，也可以基于用户侧技术人员的指令同时停止计时得到时间值，在停止计时的同时，控制芯片停止计数，得到计数值，可以设置以振荡器输出的时钟信号的一个周期为单位计数，也可以设置以振荡器输出的时钟信号改变的次数为单位计数。根据得到的时间值和计数值，计算振荡器的时钟频率。例如，检测装置利用外部基准时间信号进行计时得到时间值，芯片对振荡器输出的时钟信号以时钟信号的一个周期为计数单位计数得到计数值，该计数值则为时间值代表的一段基准时间内，振荡器输出的时钟信号信号经历的周期的个数，将计数值除以时间值即为振荡器的时钟频率。
[0068]需要注意的是，时间值越长，振荡器的时钟频率的计算误差就越小，得到的振荡器的时钟频率的值就越准确。
[0069]本实施例检测装置利用外部基准时间信号计时得到的精确的时间值，芯片对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值可精确的计算出振荡器的时钟频率，且时间值越长，计算得到的振荡器的时钟频率越准确。
[0070]请再次参照图2，在本发明一优选实施例中，所述芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值，将所述计数值发送至检测装置的步骤包括:
[0071]芯片在检测到所述外部基准时间信号发生第一次变化时，开始对振荡器输出的时钟信号进行计数；
[0072]芯片在检测到所述外部基准时间信号发生第二次变化时，停止对振荡器输出的时钟信号进行计数，输出所述计数值至检测装置。
[0073]外部基准时间信号的波形可以是正弦波、余弦波、方波等，芯片在检测到外部基准时间信号发生第一次变化时，开始对振荡器输出的时钟信号进行计数，芯片实时检测外部基准时间信号的变化，若检测到外部基准时间发生第二次变化，则停止对振荡器输出的时钟信号进行计数，输出计数值至检测装置。需要注意的是，触发芯片开始和停止计数的条件并不限于次，芯片可以是在检测到外部基准时间信号发生第一次变化时开始计数，在检测到外部基准时间信号发生第四次变化时停止计数，或者是其他任何适用的条件。
[0074]芯片还可基于历史数据设置检测第一次变化和检测第二次变化的条件，也可基于用户侧技术人员触发的指令设置检测第一次变化和检测第二次变化的条件。
[0075]本实施例芯片在检测到所述外部基准时间信号发生第一次变化时，开始对振荡器输出的时钟信号进行计数；芯片在检测到所述外部基准时间信号发生第二次变化时，停止对振荡器输出的时钟信号进行计数，输出所述计数值至检测装置。本实施例可以实现芯片自动开始和停止计数，而不需用户手动控制，方便了用户的使用。
[0076]请再次参照图2，在本发明一优选实施例中，所述检测装置发送外部基准时间信号至芯片，并利用外部基准时间信号进行计时得到时间值的步骤包括:
[0077]检测装置控制所述外部基准时间信号发生第一次变化，并开始计时；
[0078]检测装置控制所述外部基准时间信号发生第二次变化，并停止计时且得到所述时间值。
[0079]检测装置控制外部基准时间信号的变化，以控制检测装置开始和停止计时，同时控制芯片开始和停止计数。检测装置或者用户侧技术人员可基于历史数据设置触发外部基准时间信号发生第一次变化和发生第二次变化的条件。因此，检测装置可以控制外部基准时间信号发生第一次变化和第二次变化的间隔时间。由于时间值越长，振荡器的时钟频率的计算误差就越小，检测装置可以设置外部基准时间信号发生第一次变化和第二次变化的间隔时间为一段适当长的时间。
[0080]本实施例检测装置控制所述外部基准时间信号发生第一次变化，并开始计时；检测装置控制所述外部基准时间信号发生第二次变化，并停止计时且得到所述时间值。本实施例可以实现检测装置自动开始和停止计时，且可控制芯片自动开始和停止计数，而不需用户手动控制，方便了用户的使用。
[0081]参照图3，图3为图2芯片生产过程中的检测方法中外部基准时间信号和振荡器输出的时钟信号的波形示意图。
[0082]下面举一个示例帮助理解。
[0083]假设外部基准时间信号存在高电平与低电平，因此呈现方波，且振荡器输出的时钟信号也存在高电平与低电平，因此也呈现为方波。芯片设置检测第一次变化的条件为外部基准时间信号从低电平变为高电平，检测第二次变化的条件为外部基准时间信号从高电平变为低电平。检测装置控制外部基准时间信号从高电平变为低电平，并开始计时，同时芯片检测到外部基准时间发生第一次变化，开始对振荡器输出的时钟信号以该时钟信号的一个周期为单位进行计数即计算时钟信号经历的周期数，检测装置控制外部基准时间信号从低电平变为高电平，并停止计时且得到时间值，同时芯片检测到外部基准时间发生第二次变化，停止对振荡器输出的时钟信号进行计数，输出计数值至检测装置。
[0084]需要注意的是，外部基准时间信号和振荡器输出的时钟信号不仅仅是方波，也可以是其他的波形，需要根据其具体的波形设计第一次变化和第二次变化的条件及对振荡器输出的时钟信号计数的单位。
[0085]本发明进一步提供一种测试过程中的芯片检测系统。
[0086]参照图4，图4为本发明测试过程中的芯片检测系统第一实施例的功能模块示意图。
[0087]在所述系统的第一实施例中，包括检测装置01，所述检测装置01用于:
[0088]建立与芯片02之间的连接；
[0089]在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；
[0090]在对使用芯片02的成品进行测试的过程中，对芯片02进行检测。首先，检测装置01建立与芯片02之间的连接，检测装置01在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率，例如，检测装置01对外部基准时间信号进行计数，同时对振荡器输出的时钟信号进行计数，在一段相同的时间内，得到外部基准时间信号的第一计数值和振荡器输出的时钟信号的第二计数值，外部基准时间信号的频率与振荡器输出的时钟信号的频率的比值为第一比值，第一计数值和振荡器输出的时钟信号的比值为第二比值，且第一比值与第二比值相等，其中外部基准时间信号的频率是已知的也是固定的，因此，可以计算得到振荡器输出的时钟信号的频率即振荡器的时钟频率。根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率的方法还可以是利用外部基准时间进行计时，同时对振荡器输出的时钟信号进行计数，根据得到的计时值和计数值计算振荡器的时钟频率。
[0091]判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片02内。
[0092]检测装置01根据获取的振荡器的时钟频率，判断振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内。其中预设频率范围是检测装置01基于预设频率范围的历史数据设置的，或者是检测装置01基于用户侧技术人员触发的设置指令设置的。
[0093]检测装置01在判定振荡器的时钟频率不在预设频率范围内时，则调整所述时钟频率的频率参数，频率参数是指决定振荡器的时钟频率的参数。在对时钟频率的频率参数进行调整之后，将调整后的频率参数存储在芯片02内，在判定振荡器的时钟频率在预设频率范围内时，则停止执行后续步骤。
[0094]芯片02在每次被使用时，如芯片02插接在电脑上时，芯片02读取存储的调整后的频率参数，并基于频率参数并根据读取的频率参数配置振荡器的时钟频率。此时，振荡器的时钟频率在预设频率范围内。
[0095]需要注意的是，调整后的频率参数存储在芯片02中，如果不再改变频率参数，那么芯片02在每次被使用时，配置的振荡器的时钟频率也不再改变。
[0096]本实施例检测装置01建立与芯片02之间的连接；检测装置01在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率；检测装置01判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片02内。本实施例在测试使用芯片02的成品的过程中，利用外部检测装置01判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，对于振荡器的时钟频率不在预设频率范围内的芯片02，即不符合要求的芯片02，将其振荡器的时钟频率的频率参数进行调整，从而防止因不同批次的芯片02的性能差异造成使用该芯片02的成品的性能差异。另外，本实施例不需使用高精度的内部振荡器也不需要改变内部振荡器的电路结构，有利于降低成本。
[0097]请再次参照图4，本发明一优选实施例中，所述检测装置01还用于:
[0098]获取外部时钟信号源发出的高精度的所述外部基准时钟信号，并将所述外部基准时钟信号提供给芯片02。
[0099]外部基准时间信号为与检测装置01通信连接的时钟信号源发出的高精度时钟信号。检测装置01获取外部时钟信号源发出的高精度的所述时钟信号，并提供给芯片02，执行这一步骤之后，检测装置01和芯片02都获得了外部基准时钟信号。
[0100]由于振荡器的时钟频率是基于外部基准时间信号获取的，因此，外部基准时间信号的精度决定了获取的振荡器的时钟频率的准确性，外部基准时间信号的精度越高，获取的振荡器的时钟频率就越准确。另外，外部基准时间信号也可以是一段已知时长的时钟信号。
[0101]请在此参照图4，本发明一优选实施例中，所述检测装置01还用于:
[0102]利用所述外部基准时间信号进行计时得到时间值；
[0103]接收芯片02根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值；根据所述时间值和所述计数值，获取所述振荡器的时钟频率。
[0104]检测装置01利用外部基准时间信号进行计时得到时间值，同时芯片02对振荡器输出的时钟信号进行计数，经历一段时间后，检测装置01可设置计时的时间，自动停止计时，也可以基于用户侧技术人员的指令同时停止计时得到时间值，在停止计时的同时，控制芯片02停止计数，得到计数值，可以设置以振荡器输出的时钟信号的一个周期为单位计数，也可以设置以振荡器输出的时钟信号改变的次数为单位计数。检测装置01根据得到的时间值和计数值，计算振荡器的时钟频率。例如，检测装置01利用外部基准时间信号进行计时得到时间值，芯片02对振荡器输出的时钟信号以时钟信号的一个周期为计数单位计数得到计数值，该计数值则为时间值代表的一段基准时间内，振荡器输出的时钟信号信号经历的周期的个数，检测装置01将计数值除以时间值即为振荡器的时钟频率。
[0105]需要注意的是，时间值越长，振荡器的时钟频率的计算误差就越小，得到的振荡器的时钟频率的值就越准确。
[0106]本实施例检测装置01利用外部基准时间信号计时得到的精确的时间值，芯片02对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值可精确的计算出振荡器的时钟频率，且时间值越长，计算得到的振荡器的时钟频率越准确。
[0107]请再次参照图4，在本发明一优选实施例中，所述系统还包括芯片02，所述芯片02用于:
[0108]在检测到所述外部基准时间信号发生第一次变化时，开始对振荡器输出的时钟信号进行计数；
[0109]在检测到所述外部基准时间信号发生第二次变化时，停止对振荡器输出的时钟信号进行计数，输出所述计数值至检测装置01。
[0110]外部基准时间信号的波形可以是正弦波、余弦波、方波等，芯片02在检测到外部基准时间信号发生第一次变化时，开始对振荡器输出的时钟信号进行计数，芯片02实时检测外部基准时间信号的变化，若检测到外部基准时间发生第二次变化，则停止对振荡器输出的时钟信号进行计数，输出计数值至检测装置01。需要注意的是，触发芯片02开始和停止计数的条件并不限于次，芯片02可以是在检测到外部基准时间信号发生第一次变化时开始计数，在检测到外部基准时间信号发生第四次变化时停止计数，或者是其他任何适用的条件。
[0111]芯片02还可基于历史数据设置检测第一次变化和检测第二次变化的条件，也可基于用户侧技术人员触发的指令设置检测第一次变化和检测第二次变化的条件。
[0112]本实施例芯片02在检测到所述外部基准时间信号发生第一次变化时，开始对振荡器输出的时钟信号进行计数；芯片02在检测到所述外部基准时间信号发生第二次变化时，停止对振荡器输出的时钟信号进行计数，输出所述计数值至检测装置01。本实施例可以实现芯片02自动开始和停止计数，而不需用户手动控制，方便了用户的使用。
[0113]请再次参照图4，在本发明一优选实施例中，所述检测装置01还用于:
[0114]控制所述外部基准时间信号发生第一次变化，并开始计时；
[0115]控制所述外部基准时间信号发生第二次变化，并停止计时且得到所述时间值。
[0116]检测装置01控制外部基准时间信号的变化，以控制检测装置01开始和停止计时，同时控制芯片02开始和停止计数。检测装置01或者用户侧技术人员可基于历史数据设置触发外部基准时间信号发生第一次变化和发生第二次变化的条件。因此，检测装置01可以控制外部基准时间信号发生第一次变化和第二次变化的间隔时间。由于时间值越长，振荡器的时钟频率的计算误差就越小，检测装置01可以设置外部基准时间信号发生第一次变化和第二次变化的间隔时间为一段适当长的时间。
[0117]本实施例检测装置01控制所述外部基准时间信号发生第一次变化，并开始计时；检测装置01控制所述外部基准时间信号发生第二次变化，并停止计时且得到所述时间值。本实施例可以实现检测装置01自动开始和停止计时，且可控制芯片02自动开始和停止计数，而不需用户手动控制，方便了用户的使用。
[0118]以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的【技术领域】，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
【权利要求】
1.一种测试过程中的芯片检测方法，其特征在于，包括以下步骤: 检测装置建立与芯片之间的连接； 检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率； 检测装置判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。
2.如权利要求1所述的测试过程中的芯片检测方法，其特征在于，所述检测装置在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率的步骤包括: 检测装置利用所述外部基准时间信号进行计时得到时间值； 检测装置接收芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值； 检测装置根据所述时间值和所述计数值，获取所述振荡器的时钟频率。
3.如权利要求2所述的测试过程中的芯片检测方法，其特征在于，所述芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值，将所述计数值发送至检测装置的步骤包括: 芯片在检测到所述外部基准时间信号发生第一次变化时，开始对振荡器输出的时钟信号进行计数； 芯片在检测到所述外部基准时间信号发生第二次变化时，停止对振荡器输出的时钟信号进行计数，输出所述计数值至检测装置。
4.如权利要求2或3所述的测试过程中的芯片检测方法，其特征在于，所述检测装置发送外部基准时间信号至芯片，并利用外部基准时间信号进行计时得到时间值的步骤包括: 检测装置控制所述外部基准时间信号发生第一次变化，并开始计时； 检测装置控制所述外部基准时间信号发生第二次变化，并停止计时且得到所述时间值。
5.如权利要求1-3中任一项所述的测试过程中的芯片检测方法，其特征在于，所述检测装置建立与芯片之间的连接的步骤之后包括: 检测装置获取外部时钟信号源发出的高精度的所述外部基准时间信号，并将所述外部基准时间信号提供给芯片。
6.一种测试过程中的芯片检测系统，其特征在于，包括检测装置，所述检测装置用于: 建立与芯片之间的连接； 在接收到检测指令时，根据外部基准时间信号获取振荡器的时钟频率； 判断所述振荡器的时钟频率是否在预设频率范围内，若否，则调整所述时钟频率的频率参数并将调整后的所述频率参数存储在芯片内。
7.如权利要求6所述的测试过程中的芯片检测系统，其特征在于，所述检测装置还用于: 利用所述外部基准时间信号进行计时得到时间值； 接收芯片根据所述外部基准时间信号对振荡器输出的时钟信号进行计数得到计数值； 根据所述时间值和所述计数值，获取所述振荡器的时钟频率。
8.如权利要求7所述的测试过程中的芯片检测系统，其特征在于，所述系统还包括芯片，所述芯片用于: 在检测到所述外部基准时间信号发生第一次变化时，开始对振荡器输出的时钟信号进行计数； 在检测到所述外部基准时间信号发生第二次变化时，停止对振荡器输出的时钟信号进行计数，输出所述计数值至检测装置。
9.如权利要求7或8所述的测试过程中的芯片检测系统，其特征在于，所述检测装置还用于: 控制所述外部基准时间信号发生第一次变化，并开始计时； 控制所述外部基准时间信号发生第二次变化，并停止计时且得到所述时间值。
10.如权利要求6-8中任一项所述的测试过程中的芯片检测系统，其特征在于，所述检测装置还用于: 获取外部基准时钟信号源发出的高精度的所述外部时钟信号，并将所述外部基准时钟信号提供给芯片。
【文档编号】G01R23/10GK104007313SQ201410193767
【公开日】2014年8月27日 申请日期:2014年5月8日 优先权日:2014年5月8日
【发明者】李国强, 吴大畏, 陈寄福 申请人:深圳市硅格半导体有限公司