基于密度梯度透光率法测试晶体密度连续分布的方法
【专利摘要】本发明公开了一种快速测定含能材料晶体密度连续分布的方法。通过利用密度梯度管使晶体样品按照密度的差异在密度梯度管不同的位置自然沉降并稳定，再通过标准密度浮子标定和校正不同高度的液体密度，然后利用安装在密度梯度管两侧的光源发生器和光源探测器上下同步扫描和数据采集，根据不同高度和区域的光强差异，计算出透光率和高度的关系曲线，进而准确的计算出晶体样品的密度连续分布曲线。以此判定不同晶体样品的密度分布情况。本发明的方法可以快速测定类似含能材料晶体密度的连续分布，定量表征各密度梯度下的样品数量，实现对晶体颗粒密度分布的定量测试。
【专利说明】基于密度梯度透光率法测试晶体密度连续分布的方法
【技术领域】
[0001] 本发明的实施方式涉及含能材料领域，更具体地，本发明的实施方式涉及一种基 于密度梯度透光率法测试晶体密度连续分布的方法
【背景技术】
[0002] 密度是固体颗粒材料的重要物性指标，其值大小取决于材料的物质组成和内部结 构形态，可直接影响材料的使用性能。对于含能材料，晶体颗粒密度不但影响炸药和推进剂 的爆轰能量，而且还与它们的安全性能密切相关。高性能武器弹药研究对于含能材料晶体 颗粒密度及密度分布的高精度测量提出了迫切需求。
[0003] 晶体颗粒密度是一个具有统计意义的参量，主要受晶体内部溶剂包藏、微孔、裂 纹、位错等缺陷影响。一般而言，相同组分材料所构成的晶体，密度越低，其中溶剂包藏、孔 洞、裂纹甚至晶格缺陷等晶体内部缺陷也就越多，安全性能越差，如HMX、RDX晶体颗粒密度 相差0. OOlg/cm3,冲击波感度变化10 %?20%。因此，准确测定含能材料的颗粒密度对炸 药晶体品质表征和安全性能预测具有重要意义。然而，对炸药安全性能影响最大的往往是 其中晶体缺陷较多，密度较低的少部分晶体，因此平均的炸药晶体密度很难准确反应炸药 晶体的安全性能，只有掌握炸药密度的分布状况才能为高性能武器弹药的研制提供可靠的 支撑。
[0004] 目前，固体颗粒密度测试的方法主要有液体比重瓶法、气体密度法、沉降浮选法和 密度梯度法。液体比重法和气体密度法只能获得样品的平均密度，该法精确度低且无法描 述颗粒的密度分布情况；沉降浮选法是将待测样品于不同密度的液体中反复沉降浮选、洗 涤过滤、干燥恒重，最后得到不同密度下的样品的质量分布，该法可在一定程度上描述样品 的密度分布，但测试过程繁琐，耗时长，劳动强度大，误差来源多，难以绘制一条精确、完整、 连续的密度分布曲线；密度梯度法是一种能够快速准确测定炸药晶体密度的新方法，但测 试者只能通过目测观察样品在密度梯度柱中的分布，难以定量表征各密度下的样品数量， 无法快速进行颗粒密度分布定量测试。因此，国内外还没有建立真正的颗粒密度分布定量 测试方法，还不能像粒度测试那样精确绘制颗粒密度连续分布曲线。研究一种可快速定量 表征各密度下的样品数量，获得连续密度分布曲线的方法显得尤为迫切。
【发明内容】
[0005] 本发明克服了现有技术的不足，提供一种准确快速测定含能材料晶体密度连续分 布，定量表征各密度下的样品数量，快速进行颗粒密度分布定量测试，得到密度分布曲线的 方法。
[0006] 为解决上述的技术问题，本发明的一种实施方式采用以下技术方案：
[0007] -种基于密度梯度透光率法测试晶体密度连续分布的方法，包含如下步骤：
[0008] A、配制浓度不同且连续分布的与待测晶体种类相同的晶体样品，分别测定不同浓 度的晶体样品的可见光透光率，得到晶体样品的透光率-浓度曲线，根据晶体样品的体积 将透光率-浓度曲线转化为透光率-质量含量曲线；
[0009] B、配制密度连续且呈上轻下重均匀分布的密度梯度柱；
[0010] C、称取待测晶体样品，将其缓慢加入密度梯度柱的上表面，使其自然下沉至稳定 停止在密度梯度柱中与其密度相等的位置；
[0011] D、向密度梯度柱投入密度均匀间隔分布的玻璃浮子，待其自然下沉至稳定停止在 密度梯度柱中与其密度相等的位置；
[0012] E、在密度梯度柱的前后两个视窗分别安装光源和光强接收装置，打开光源使其光 线透过密度梯度柱后被光强接收装置接收，测定密度梯度柱不同高度的透光率，从而得到 待测晶体样品在密度梯度柱中的透光率-高度曲线；利用玻璃浮子对光线吸收所产生的特 征信号，以每颗玻璃浮子产生吸收的中间位置为其高度对密度梯度柱不同高度的密度进行 标定，得到密度梯度柱的密度-高度曲线；
[0013] F、将步骤A的透光率-质量含量曲线和步骤E的透光率-高度曲线转化为待测晶 体样品的质量含量-高度曲线；
[0014] G、将步骤E的密度-高度曲线与步骤F的质量含量-高度曲线转化为质量含 量-密度曲线，即为待测晶体样品的密度连续分布曲线。
[0015] 本发明的步骤A是采用与待测晶体种类相同的晶体先制备出这种晶体的透光 率-质量含量曲线，然后将其作为这种晶体的透光率-质量含量曲线库，以供以后进行同类 晶体测试时作为数据库使用。透光率的检测方法同样是采用光源、光强检测分布了晶体的 密度梯度柱。
[0016] 由于本方法是测定晶体密度的连续分布曲线，因此在配置浓度不同的待测晶体样 品或其它相同种类晶体样品时，所提到的浓度实际上是晶体悬浮液的浓度。
[0017] 根据本发明的一种实施方式，所述密度梯度柱为单根密度梯度柱。用单根密度梯 度柱测试晶体密度连续分布曲线时，待测晶体样品和玻璃浮子都加入这一根密度梯度柱中 并分别测定各自的相关曲线。
[0018] 根据本发明的另一种实施方式，所述密度梯度柱为密度梯度阵列，所述密度梯度 阵列相互连通，各列相同位置的液体密度相同。用密度梯度阵列测试晶体密度连续分布曲 线时，可以将玻璃浮子加入其中的一根密度梯度柱中，其它的密度梯度柱中加待测晶体样 品而不加玻璃浮子，分别测定各自的相关曲线。
[0019] 本发明的测试方法要求密度梯度柱中的液体密度分布范围覆盖待测晶体样品密 度的分布区间，该液体密度的中间值位于待测晶体样品密度的集中分布区域内。如果密度 梯度柱内的液体的密度范围不能完全覆盖待测晶体样品的密度，那么就不能够测得准确的 晶体密度连续分布曲线，让密度梯度柱的液体密度中间值分布在待测晶体样品密度的集中 分布区域内也是为了保证本方法的准确性。
[0020] 本发明用来检测密度梯度柱透光率的光源是亮度均匀的平行光束或者面光源，或 者是在检测范围能够内步进移动从而扫描整个检测区域的小区域光束。平行光束或者面 光源的检测区域大，可以直接检测整个密度梯度柱，或者通过总检测次数较少的不同区域 的检测就可以获得整个密度梯度柱的透光率，而小区域光束需要经过连续的检测来获得整 个密度梯度柱的透光率，总之，不管采用哪种光束，都必须保证获得整个密度梯度柱的透光 率。
[0021] 本发明用来检测密度梯度柱透光率的光源是单色光或白光，其光斑大小不小于光 强接收装置的最大接收面积。使用彩色光不利于准确的检测透光率，且如果光斑大小小于 了光强接收装置的最大面积，则会导致光强接收装置检测不到光斑信号或者检测到的光斑 信号不准确，最终导致待测晶体样品的密度分布曲线不准确。
[0022] 根据本发明的一种实施方式，所述光源和光强接收装置通过同步电机控制而同时 上下移动。本发明可以采用多种类型的光源，比如小区域光源，而这种光源不能一次性检测 整个密度梯度柱的透光率，而光源和光强接收装置可以通过同步电机控制它们同时上下移 动，因此光源和光强接收装置是相对静止的，而两者相对于密度梯度柱来说是连续移动的， 因此能够检测到整个密度梯度柱的透光率。
[0023] 优选的，所述光强接收装置是智能线阵CCD相机、智能CCD面探测器。当然，本发 明的光强接收装置并不限定与这两种设备，其它的可见光探测器也可能满足本发明的使用 条件。
[0024] 本发明在测试密度梯度柱的透光率要求检测数据准确，因此不论使用的是智能线 阵CCD相机还是智能CCD面探测器或者其它可见光探测器，都要求它们的像素> 2048p，线 扫描速率>18000线。
[0025] 由于密度浮子是用来标定密度梯度柱不同高度所对应的密度的，所以要求玻璃 浮子的密度分布均匀，间隔合理，否则标定的密度梯度柱的密度-高度曲线会出现断裂或 不完整的现象，不利于后续的坐标转换，因此本发明要求所述玻璃浮子的密度分布范围为 1. 490g/cm3?2. 110g/cm3,密度分布相邻的两颗玻璃浮子之间的密度差为0. 0045g/cm3? 0· 0060g/cm3,扩展不确定度不大于0· 0003g/cm3。
[0026] 进一步的技术方案是，所述玻璃浮子在密度梯度柱中的高度按玻璃浮子对光线吸 收所产生的特征信号的中间位置为每颗玻璃浮子的高度。玻璃浮子的透光率与待测晶体样 品透光率、密度梯度柱液体透光率均不相同，因此在对其进行特征信号的检测时，透光率会 有等间距、形状相似且数量与已知玻璃浮子数量相等的波峰或波谷，因此可以将其特征信 号从其中分离出来，且由于玻璃浮子的光斑为圆形，因此采用其光斑的中间位置为其高度， 与其对应的密度作密度-高度曲线，因玻璃浮子在加入密度梯度柱后是自然下沉至稳定停 止在密度梯度柱中与其密度相等的位置，因此玻璃浮子的密度-高度曲线就能够反映密度 梯度柱不同高度的密度。
[0027] 与现有技术相比，本发明的有益效果之一是：本发明操作简单，在密度梯度法的基 础上，利用透光率法分析光线透光密度连续分布炸药样品光线吸收情况，从而得到炸药晶 体密度的分布曲线，定量表征各密度梯度下的样品数量，实现对晶体颗粒密度分布的定量 测试。
【专利附图】
【附图说明】
[0028] 图1为本发明的一个实施例的流程示意图。
[0029] 图2为本发明的装置示意图。
[0030] 图3为本发明玻璃浮子密度与高度校正曲线。
[0031] 图4为本发明两份不同晶体品质的HMX炸药样品密度分布曲线。
【具体实施方式】
[0032] 为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对 本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并 不用于限定本发明。
[0033] 图1是本发明一种实施方式的流程示意图，图1左侧获得透光率-质量含量曲线 部分即是本发明制备数据库的步骤，而待测晶体样品可测得光强-高度曲线，并转化为透 光率-高度曲线，然后可以将透光率-高度曲线和透光率-浓度曲线转化为浓度-高度曲 线，该浓度-高度曲线与玻璃浮子的密度-高度曲线可以转化为浓度-密度曲线，根据待测 晶体样品的体积，可以将该浓度-密度曲线转化为质量含量-密度曲线，该曲线就是待测晶 体的密度分布曲线。
[0034] 图2是本发明检测透光率的装置示意图，其中101是密度梯度柱，102是光源，103 是光强接收装置，104是同步电机，105是数据分析设备。密度梯度柱101中分布有待测晶 体样品和密度浮子，光源102射出的可见光透过密度梯度柱101在对侧被光强接收装置103 接收并传递给数据分析设备105进行数据分析并得到最终的曲线，在检测过程中，同步电 机104会控制光源102和光强接收装置103同步上下移动，从而达到检测整个密度梯度柱 101的目的。
[0035] 实施例1
[0036] 待测样品类型：HMX炸药晶体样品
[0037] (1)配置不同浓度的HMX炸药样品，测定其可见光的吸光率，得到透光率与炸药样 品浓度的校正曲线，然后根据晶体样品的体积将透光率-浓度曲线转化为透光率-质量含 量曲线；该步骤可只在首次进行，后面实验过程选择对应的炸药样品的透光率-浓度曲线 直接使用。某些炸药晶体样品的透光率-质量含量曲线是现有的，可以直接参考使用，无需 再进行测定。
[0038] (2)配制可同时测定多份HMX炸药样品密度连续分布的密度梯度柱阵列（共7 列），密度梯度阵列相互连通，各列相同位置的液体密度相同，整体密度液上轻下重均匀分 布，密度范围覆盖1. 885?1. 915g/cm3。
[0039] (3)利用电子天平称取待测HMX炸药样品，用轻液浸润后缓慢加入密度梯度阵列 第1、2、3、5、6、7列的上表面，使其缓慢下沉，至稳定，此时待测HMX炸药样品分散并停止在 密度梯度柱中与其密度相等的位置。
[0040] (4)从已校正的玻璃浮子中，取密度分别为1. 9103g/cm3、L 9055g/cm3、L 9003g/ Cm3、1.8948g/Cm3、L 8902g/Cm3的玻璃浮子，用轻液浸润后依次放入步骤（3)的密度梯度阵 列第4列的上表面，使其缓慢下沉至静止不动，此时玻璃浮子分散并停止在密度梯度柱中 与其密度相等的位置。
[0041] (5)将一白炽灯泡置于凹面镜的焦点处，使灯光经凹面镜反射后形成平行光束，照 射整个密度梯度阵列，在另一侧采用智能线阵C⑶相机（像素>2048p，线扫描速率>18000 线）对密度梯度阵列的每一列从底端到顶端进行扫描，得到每一列密度梯度柱所透过的光 线强度随高度的变化曲线，然后将其转化为待测HMX炸药样品的透光率-高度曲线。利用 玻璃浮子对光线吸收所产生的特征信号，以产生吸收的中间位置为每颗玻璃浮子的高度， 以其密度对高度作图，可得到密度与高度的线性关系（如图3所示）。从图中可以得到高 度-密度曲线（两者满足线性关系ρ = 2. 01734+8. 661E-4*H，线性相关系数R = 0. 9992， P表示密度，Η表示以密度梯度柱底端为参照的高度，E表示1(Γ5)，从而可得到密度梯度柱 中任意位置的密度。
[0042] (6)将步骤（1)的透光率-质量含量曲线和步骤（5)的透光率-高度曲线进行坐 标转换得到质量含量-高度曲线。
[0043] (7)将步骤（5)的高度-密度曲线和步骤（6)的质量含量-高度曲线进行坐标转 换得到质量含量-密度曲线，该质量含量-密度曲线便是ΗΜΧ样品的密度分布曲线。
[0044] 本发明制备密度梯度柱的密度液是溴化锌水溶液，由于密度梯度柱的密度液是呈 上轻下重连续分布的，因此密度梯度柱上端的溴化锌水溶液密度小（本领域称为轻液），密 度梯度柱下端的溴化锌水溶液密度大（本领域称为重液），在对晶体样品或者玻璃浮子等 进行浸润时，使用的是轻液，即密度小的溴化锌水溶液。浸润是为了防止炸药晶体或者玻璃 浮子等分散在密度梯度柱中产生气泡，因为产生的气泡会影响其密度，比如会使玻璃浮子 的密度变小，影响测试结果。
[0045] 其中不同晶体品质的两份ΗΜΧ炸药样品的密度分布曲线如图3所示。图3中，实 线表示品质较差的低品质ΗΜΧ样品密度曲线，其密度分布比较宽，说明该ΗΜΧ样品密度分布 不均匀，部分样品中含缺陷较多；实线表示高品质ΗΜΧ的样品密度曲线，可以看出绝大部分 样品密度均位于1.8981?1.9003g/cm 3之间，说明晶体的品质比较均一，所含缺陷情况也 基本一致。从图3两条线的对比可以很明显地区分不同品质的HMX样品。
[0046] 实施例2
[0047] 待测样品类型：RDX炸药晶体样品
[0048] (1)配置不同浓度的RDX炸药样品，测定其可见光的吸光率，得到透光率与炸药样 品浓度的校正曲线，然后根据晶体样品的体积将透光率-浓度曲线转化为透光率-质量含 量曲线；该步骤可只在首次进行，后面实验过程选择对应的炸药样品的透光率-浓度曲线 直接使用。
[0049] (2)配制密度连续分布的单根密度梯度柱，密度梯度柱内的整体密度液呈上轻下 重均匀分布，密度范围覆盖1. 885?1. 915g/cm3。
[0050] (3)利用电子天平称取待测RDX炸药晶体样品，用轻液浸润后缓慢加入密度梯度 柱的上表面，使其缓慢下沉，至稳定，此时待测RDX炸药晶样品分散并停止在密度梯度柱中 与其密度相等的位置。
[0051] (4)从已校正的玻璃浮子中，取密度分别为1. 8106g/cm3、l. 8050g/cm3、l. 8000g/ cm3、l. 7952g/cm3、l. 7899g/cm3的玻璃浮子，用轻液浸润后依次放入步骤（2)的密度梯度柱 的上表面，使其缓慢下沉至静止不动，此时玻璃浮子分散并停止在密度梯度柱中与其密度 相等的位置。
[0052] (5)将一平行光束照射密度梯度柱底端，在另一侧采用智能线阵CCD相机（像素 >2048p，线扫描速率>18000线）检测光束透过待测样品后的光强，光源与C⑶相机同步运 动，从底端到顶端逐步扫描，得到密度梯度柱所透过的光线强度随高度的变化曲线，然后将 其转化为待测RXD炸药晶体样品的透光率-高度曲线。利用玻璃浮子对光线吸收所产生 的特征信号，以产生吸收的中间位置为每颗玻璃浮子的高度，以其密度对高度作图，可得到 密度与高度的线性关系（两者满足线性关系P = 1.78464+0. 00106*H，线性相关系数R = 0.9992, P表示密度，Η表示以密度梯度柱底端为参照的高度），从而可得到密度梯度柱中 任意位置的密度。
[0053] (6)将步骤（1)的透光率-质量含量曲线和步骤（5)的透光率-高度曲线进行坐 标转换得到质量含量-高度曲线。
[0054] (7)将步骤（5)的高度-密度曲线和步骤（6)的质量含量-高度曲线进行坐标转 换得到质量含量-密度曲线，该质量含量-密度曲线便是RXD炸药晶体样品的密度分布曲 线。
[0055] 实施例3
[0056] 待测样品类型：CL_20炸药晶体样品
[0057] (1)配置不同浓度的CL-20炸药晶体样品，测定其可见光的吸光率，得到透光率 与炸药样品浓度的校正曲线，然后根据晶体样品的体积将透光率-浓度曲线转化为透光 率-质量含量曲线；该步骤可只在首次进行，后面实验过程选择对应的炸药样品的透光 率-浓度曲线直接使用。
[0058] (2)配制用于CL-20炸药样品密度连续分布测定的密度梯度柱阵列，可同时测定 12份CL-20样品的密度连续分布，密度梯度阵列相互连通，各列相同位置的液体密度相同， 整体密度液上轻下重均匀分布，密度范围不小于2. 015?2. 050g/cm3。
[0059] (3)利用电子天平称取待测CL-20炸药晶体样品，用轻液浸润后缓慢加入密度梯 度阵列中各密度梯度柱的上表面，使其缓慢下沉，至稳定，此时待测CL-20炸药晶体样品分 散并停止在密度梯度柱中与其密度相等的位置。
[0060] (4)从已校正的玻璃浮子中，取密度分别为2. 0451g/cm3、2. 0393g/cm3、2. 0347g/ Cm3、2.0254g/Cm3、2.0205g/cm 3的玻璃浮子，用轻液浸润后依次放入步骤（3)的密度梯度阵 列中间列的上表面，使其缓慢下沉至静止不动，此时玻璃浮子分散并停止在密度梯度柱中 与其密度相等的位置。
[0061] (5)将一平行光束照射整个密度梯度阵列，在另一侧采用智能线阵CCD相机（像素 >2048p，线扫描速率>18000线）测量每一列密度梯度柱所透过的光线强度随高度的变化曲 线，然后将其转化为待测CL-20炸药晶体样品的透光率-高度曲线。利用玻璃浮子对光线 吸收所产生的特征信号，以产生吸收的中间位置为每颗玻璃浮子的高度，以其密度对高度 作图，可得到密度与高度的线性关系（如图3所示）。从图中可以得到高度-密度曲线（两 者满足线性关系P = 2. 01734+8. 661E-4*H，线性相关系数R = 0. 9992, P表示密度，Η表 示以密度梯度管底端为参照的高度，Ε表示ΚΓ5)，从而可得到密度梯度柱中任意位置的密 度。
[0062] (6)将步骤（1)的透光率-质量含量曲线和步骤（5)的透光率-高度曲线进行坐 标转换得到质量含量-高度曲线。
[0063] (7)将步骤（5)的高度-密度曲线和步骤（6)的质量含量-高度曲线进行坐标转 换得到质量含量-密度曲线，该质量含量-密度曲线便是ΗΜΧ样品的密度分布曲线。
[〇〇64] 尽管这里参照本发明的多个解释性实施例对本发明进行了描述，但是，应该理解， 本领域技术人员可以设计出很多其他的修改和实施方式，这些修改和实施方式将落在本申 请公开的原则范围和精神之内。更具体地说，在本申请公开、附图和权利要求的范围内，可 以对主题组合布局的组成部件和/或布局进行多种变型和改进。除了对组成部件和/或布 局进行的变型和改进外，对于本领域技术人员来说，其他的用途也将是明显的。
【权利要求】
1. 一种基于密度梯度透光率法测试晶体密度连续分布的方法，其特征在于包含如下步 骤： A、 配制浓度不同且连续分布的与待测晶体种类相同的晶体样品，分别测定不同浓度的 晶体样品的可见光透光率，得到晶体样品的透光率-浓度曲线，根据晶体样品的体积将透 光率-浓度曲线转化为透光率-质量含量曲线； B、 配制密度连续且呈上轻下重均匀分布的密度梯度柱； C、 称取待测晶体样品，将其缓慢加入密度梯度柱的上表面，使其自然下沉至稳定停止 在密度梯度柱中与其密度相等的位置； D、 向密度梯度柱投入密度均匀间隔分布的玻璃浮子，待其自然下沉至稳定停止在密度 梯度柱中与其密度相等的位置； E、 在密度梯度柱的前后两个视窗分别安装光源和光强接收装置，打开光源使其光线透 过密度梯度柱后被光强接收装置接收，测定密度梯度柱不同高度的透光率，从而得到待测 晶体样品在密度梯度柱中的透光率-高度曲线；利用玻璃浮子对光线吸收所产生的特征 信号，以每颗玻璃浮子产生吸收的中间位置为其高度对密度梯度柱不同高度的密度进行标 定，得到密度梯度柱的密度-高度曲线； F、 将步骤A的透光率-质量含量曲线和步骤E的透光率-高度曲线转化为待测晶体样 品的质量含量-高度曲线； G、 将步骤E的密度-高度曲线与步骤F的质量含量-高度曲线转化为质量含量-密度 曲线，即为待测晶体样品的密度连续分布曲线。
2. 根据权利要求1所述的基于密度梯度透光率法测试晶体密度连续分布的方法，其特 征在于所述密度梯度柱为单根密度梯度柱或密度梯度阵列，所述密度梯度阵列相互连通， 各列相同位置的液体密度相同。
3. 根据权利要求1所述的基于密度梯度透光率法测试晶体密度连续分布的方法，其特 征在于所述密度梯度柱中的液体密度分布范围覆盖待测晶体样品密度的分布区间，该液体 密度的中间值位于待测晶体样品密度的集中分布区域内。
4. 根据权利要求1所述的基于密度梯度透光率法测试晶体密度连续分布的方法，其特 征在于所述光源是亮度均匀的平行光束或者面光源，或者是在检测范围能够内步进移动从 而扫描整个检测区域的小区域光束。
5. 根据权利要求1所述的基于密度梯度透光率法测试晶体密度连续分布的方法，其特 征在于所述光源为单色光或白光，其光斑大小不小于光强接收装置的最大接收面积。
6. 根据权利要求1所述的基于密度梯度透光率法测试晶体密度连续分布的方法，其特 征在于所述光源和光强接收装置通过同步电机控制而同时上下移动。
7. 根据权利要求1所述的基于密度梯度透光率法测试晶体密度连续分布的方法，其特 征在于所述光强接收装置是智能线阵CCD相机、智能CCD面探测器。
8. 根据权利要求7所述的基于密度梯度透光率法测试晶体密度连续分布的方法，其特 征在于所述智能线阵C⑶相机、智能C⑶面探测器的像素> 2048p，线扫描速率>18000线。
9. 根据权利要求1所述的基于密度梯度透光率法测试晶体密度连续分布的方法，其特 征在于所述玻璃浮子的密度分布范围为1. 490g/cm3?2. 110g/cm3,密度分布相邻的两颗玻 璃浮子之间的密度差为0. 〇〇45g/cm3?0. 0060g/cm3,扩展不确定度不大于0. 0003g/cm3。
10.根据权利要求1所述的基于密度梯度透光率法测试晶体密度连续分布的方法，其 特征在于所述玻璃浮子在密度梯度柱中的高度按玻璃浮子对光线吸收所产生的特征信号 的中间位置为每颗玻璃浮子的高度。
【文档编号】G01N9/24GK104089851SQ201410327882
【公开日】2014年10月8日 申请日期:2014年7月10日 优先权日:2014年7月10日
【发明者】张浩斌, 刘渝, 康彬, 孙杰, 姜燕, 徐瑞娟, 徐金江, 刘晓峰 申请人:中国工程物理研究院化工材料研究所